RF抑制能力測量技術(shù)RF電波暗室測量裝置的詳細資料說明

　　GSM手機的隨處可見正導(dǎo)致不需要的RF信號的持續(xù)增加，如果電子電路沒有足夠的RF抑制能力，這些RF信號會導(dǎo)致電路產(chǎn)生的結(jié)果失真。為了確保電子電路可靠工作，對于電子電路RF抑制能力的測量已經(jīng)成為產(chǎn)品設(shè)計必不可少的一個環(huán)節(jié)。本文介紹了一種通用的RF抑制能力測量技術(shù)－RF電波暗室測量裝置，描述了它的組成和操作方式，并給出了實際測量結(jié)果的例子?，F(xiàn)在大多數(shù)蜂窩電話采用的無線技術(shù)是時分多址（TDMA），這種復(fù)用技術(shù)以217Hz的頻率對高頻載波進行通/斷脈沖調(diào)制。容易受到RF干擾的IC會對該載波信號進行解調(diào)，再生出217Hz及其諧波成分的信號。由于這些頻譜成分的絕大多數(shù)都落入音頻范圍，因此它們會產(chǎn)生不想要的聽得見的“嗡嗡”聲。由此可見，RF抑制能力較差的電路會對蜂窩電話的RF信號解調(diào)，并會產(chǎn)生不希望聽到的低頻噪音。為了測量產(chǎn)品的質(zhì)量，測試時需要把電路放在RF環(huán)境中測量，該RF環(huán)境要與正常操作時電路遇到的環(huán)境相當(dāng)。本文描述了一種通用的集成電路RF噪聲抑制能力測量技術(shù)。RF抑制能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下，該RF電平代表電路工作時可能受到的干擾強度。這樣就產(chǎn)生了一個標準化、結(jié)構(gòu)化的測試方法，使用這種方法能夠得到在質(zhì)量分析中可重復(fù)的有用結(jié)果。這樣的測試結(jié)果有助于IC選型，從而獲得最能夠抵抗RF噪聲的電路。可以將被測件（DUT）靠近正在工作的蜂窩電話，以測試其RF敏感度，但是，為了得到一個精確的、具有可重復(fù)性的試驗結(jié)果，需要采用一個固定的測量方法，在可重復(fù)的RF場內(nèi)測試DUT。解決方案是采用RF測試電波暗室，提供一個可精確控制的 RF場，其相當(dāng)于典型移動電話所產(chǎn)生的RF場。