KGD是用于描述準(zhǔn)備用于多芯片組件（MCM）的集成電路，當(dāng)wafer生產(chǎn)完成，生產(chǎn)良率在90%以上，剩下的那10%經(jīng)過測(cè)試合格者，即為KGD，用于描述使IC達(dá)到全面要求狀態(tài)的過程。