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晶振的分類及其主要參數(shù)

2017年05月26日 16:51 網(wǎng)絡(luò)整理 作者: 用戶評論(0

  晶振是晶體振蕩器的簡稱。晶體振蕩器是指從一塊石英晶體上按一定方位角切下薄片(簡稱為晶片),石英晶體諧振器,簡稱為石英晶體或晶體、晶振;而在封裝內(nèi)部添加IC組成振蕩電路的晶體元件稱為晶體振蕩器。其產(chǎn)品一般用金屬外殼封裝,也有用玻璃殼、陶瓷或塑料封裝的。

  

  晶振有著不同使用要求及特點(diǎn),通分為以下幾類:普通晶振、溫補(bǔ)晶振、壓控晶振、溫控晶振等。在測試和使用時(shí)所供直流電源應(yīng)沒有足以影響其準(zhǔn)確度的紋波含量,交流電壓應(yīng)無瞬變過程。測試儀器應(yīng)有足夠的精度,連線合理布置,將測試及外圍電路對晶振指標(biāo)的影響降至最低。

  晶振的分類

  根據(jù)晶振的功能和實(shí)現(xiàn)技術(shù)的不同,可以將晶振分為以下四類:

 ?。?) 恒溫晶體振蕩器(以下簡稱OCXO)

  這類型晶振對溫度穩(wěn)定性的解決方案采用了恒溫槽技術(shù),將晶體置于恒溫槽內(nèi),通過設(shè)置恒溫工作點(diǎn),使槽體保持恒溫狀態(tài),在一定范圍內(nèi)不受外界溫度影響,達(dá)到穩(wěn)定輸出頻率的效果。這類晶振主要用于各種類型的通信設(shè)備,包括交換機(jī)、SDH傳輸設(shè)備、移動通信直放機(jī)、GPS接收機(jī)、電臺、數(shù)字電視及軍工設(shè)備等領(lǐng)域。根據(jù)用戶需要,該類型晶振可以帶壓控引腳。OCXO的工作原理如下圖3所示:

  晶振的分類及其主要參數(shù)

  圖3恒溫晶體振蕩器原理框圖

  OCXO的主要優(yōu)點(diǎn)是,由于采用了恒溫槽技術(shù),頻率溫度特性在所有類型晶振中是最好的,由于電路設(shè)計(jì)精密,其短穩(wěn)和相位噪聲都較好。主要缺點(diǎn)是功耗大、體積大,需要5分鐘左右的加熱時(shí)間才能正常工作等。我公司生產(chǎn)的此類晶振的典型指標(biāo)如下:

  晶振的分類及其主要參數(shù)

  (2) 溫度補(bǔ)償晶體振蕩器(以下簡稱TCXO)。

  其對溫度穩(wěn)定性的解決方案采用了一些溫度補(bǔ)償手段,主要原理是通過感應(yīng)環(huán)境溫度,將溫度信息做適當(dāng)變換后控制晶振的輸出頻率,達(dá)到穩(wěn)定輸出頻率的效果。傳統(tǒng)的TCXO是采用模擬器件進(jìn)行補(bǔ)償,隨著補(bǔ)償技術(shù)的發(fā)展,很多數(shù)字化補(bǔ)償大TCXO開始出現(xiàn),這種數(shù)字化補(bǔ)償?shù)腡CXO又叫DTCXO,用單片機(jī)進(jìn)行補(bǔ)償時(shí)我們稱之為MCXO,由于采用了數(shù)字化技術(shù),這一類型的晶振再溫度特性上達(dá)到了很高的精度,并且能夠適應(yīng)更寬的工作溫度范圍,主要應(yīng)用于軍工領(lǐng)域和使用環(huán)境惡劣的場合。在廣大研發(fā)人員的共同努力下,我公司自主開發(fā)出了高精度的MCXO,其設(shè)計(jì)原理和在世界范圍都是領(lǐng)先的,配以高度自動化的生產(chǎn)測試系統(tǒng),其月產(chǎn)可以達(dá)到5000只,其設(shè)計(jì)原理如圖4。

  晶振的分類及其主要參數(shù)

  圖4 MCXO數(shù)字溫補(bǔ)晶振原理框圖

  這類型晶振的典型的應(yīng)用指標(biāo)如下:

  晶振的分類及其主要參數(shù)

  (3) 普通晶體振蕩器(SPXO)

  這是一種簡單的晶體振蕩器,通常稱為鐘振,其工作原理為圖3中去除“壓控”、“溫度補(bǔ)償”和“AGC”部分,完全是由晶體的自由振蕩完成。這類晶振主要應(yīng)用于穩(wěn)定度要求不高的場合。

  (4) 壓控晶體振蕩器(VCXO)

  這是根據(jù)晶振是否帶壓控功能來分類,帶壓控輸入引腳的一類晶振叫VCXO,以上三種類型的晶振都可以帶壓控端口。

  晶振的主要參數(shù)

  1、頻率準(zhǔn)確度:

  在標(biāo)稱電源電壓、標(biāo)稱負(fù)載阻抗、基準(zhǔn)溫度(25℃)以及其他條件保持不變,晶體振蕩器的頻率相對與其規(guī)定標(biāo)稱值的最大允許偏差,即(fmax-fmin)/f0;

  2、溫度穩(wěn)定度:

  其他條件保持不變,在規(guī)定溫度范圍內(nèi)晶體振蕩器輸出頻率的最大變化量相對于溫度范圍內(nèi)輸出頻率極值之和的允許頻偏值,即(fmax-fmin)/(fmax+fmin);

  3、頻率調(diào)節(jié)范圍:

  通過調(diào)節(jié)晶振的某可變元件改變輸出頻率的范圍。

  4、調(diào)頻(壓控)特性:

  包括調(diào)頻頻偏、調(diào)頻靈敏度、調(diào)頻線性度。

  ①調(diào)頻頻偏:壓控晶體振蕩器控制電壓由標(biāo)稱的最大值變化到最小值時(shí)輸出頻率差。

 ?、谡{(diào)頻靈敏度:壓控晶體振蕩器變化單位外加控制電壓所引起的輸出頻率的變化量。

  ③調(diào)頻線性度:是一種與理想直線(最小二乘法)相比較的調(diào)制系統(tǒng)傳輸特性的量度。

  5、負(fù)載特性:

  其他條件保持不變,負(fù)載在規(guī)定變化范圍內(nèi)晶體振蕩器輸出頻率相對于標(biāo)稱負(fù)載下的輸出頻率的最大允許頻偏。

  6、電壓特性:

  其他條件保持不變,電源電壓在規(guī)定變化范圍內(nèi)晶體振蕩器輸出頻率相對于標(biāo)稱電源電壓下的輸出頻率的最大允許頻偏。

  7、雜波:

  輸出信號中與主頻無諧波(副諧波除外)關(guān)系的離散頻譜分量與主頻的功率比,用dBc表示。

  8、諧波:

  諧波分量功率Pi與載波功率P0之比,用dBc表示。

  9、頻率老化:

  在規(guī)定的環(huán)境條件下,由于元件(主要是石英諧振器)老化而引起的輸出頻率隨時(shí)間的系統(tǒng)漂移過程。通常用某一時(shí)間間隔內(nèi)的頻差來量度。對于高穩(wěn)定晶振,由于輸出頻率在較長的工作時(shí)間內(nèi)呈近似線性的單方向漂移,往往用老化率(單位時(shí)間內(nèi)的相對頻率變化)來量度。

  10、日波動:

  指振蕩器經(jīng)過規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間后,每隔一小時(shí)測量一次,連續(xù)測量24小時(shí),將測試數(shù)據(jù)按S=(fmax-fmin)/f0式計(jì)算,得到日波動。

  11、開機(jī)特性:

  在規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間內(nèi),振蕩器頻率值的最大變化,用V=(fmax-fmin)/f0表示。

  12、相位噪聲:

  短期穩(wěn)定度的頻域量度。用單邊帶噪聲與載波噪聲之比£(f)表示,£;(f)與噪聲起伏的頻譜密度Sφ(f)和頻率起伏的頻譜密度Sy(f)直接相關(guān),由下式表示:

  f2S(f)=f02Sy(f)=2f2£;(f)

  f—傅立葉頻率或偏離載波頻率;f0—載波頻率。

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( 發(fā)表人:王增濤 )

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