在多器件測(cè)試情況下，例如涉及老化的測(cè)試，我們要在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)同時(shí)測(cè)量多個(gè)部件。驅(qū)動(dòng)DUT通常需要連續(xù)的電流，但是多個(gè)光學(xué)探測(cè)器可以通過(guò)開(kāi)關(guān)系統(tǒng)復(fù)用一個(gè)電流計(jì)。用戶可以根據(jù)所測(cè)電流的動(dòng)態(tài)量程選擇合適的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)和電流計(jì)。
多LED器件測(cè)試可以選擇多種類型的開(kāi)關(guān)。例如，3706型開(kāi)關(guān)/萬(wàn)用表具有6個(gè)開(kāi)關(guān)模塊插槽，因此它最多可支持576個(gè)復(fù)用通道或者2688個(gè)矩陣交叉點(diǎn)。與2600A系列儀器類似，它也內(nèi)置了板載TSP和TSP-Link設(shè)備間通信/觸發(fā)總線，利用這套總線可以快速而方便地將這些儀器集成到一個(gè)系統(tǒng)中。這種集成支持緊密同步的儀器間操作，并且能夠讓它們?cè)谝粋€(gè)測(cè)試腳本的控制下進(jìn)行操作。圖3給出了具有一個(gè)光電二極管通道的三LED器件測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。
圖3：采用可擴(kuò)展2602A數(shù)字源表通道構(gòu)建LED陣列測(cè)試系統(tǒng)的模塊圖
最大限度減少LED測(cè)試誤差
LED生產(chǎn)測(cè)試中的常見(jiàn)測(cè)量誤差源包括引線電阻、漏電流、靜電干擾和光干擾，但是結(jié)自熱是最重要的誤差源之一。對(duì)結(jié)發(fā)熱最敏感的兩種測(cè)試是正向電壓測(cè)試和漏電流測(cè)試。當(dāng)半導(dǎo)體結(jié)發(fā)熱時(shí)，電壓將會(huì)下降，更重要的是，在恒壓測(cè)試過(guò)程中漏電流會(huì)增大。因此，在不影響測(cè)量精度或穩(wěn)定性的情況下盡可能縮短測(cè)試時(shí)間是非常重要的。
具有板載測(cè)試腳本引擎的智能儀器能夠簡(jiǎn)化配置測(cè)量前器件的持溫時(shí)間(soak time)以及采集輸入信號(hào)的時(shí)間。在保溫時(shí)間內(nèi)所有的電路電容在測(cè)量開(kāi)始前穩(wěn)定下來(lái)。測(cè)量積分時(shí)間取決于電源線周期數(shù)(NPLC)。如果輸入電源是60Hz，那么1NPLC測(cè)量就需要1/60秒，即16.667ms。積分時(shí)間決定了ADC采集輸入信號(hào)的時(shí)間，它要在測(cè)量速度和精度之間進(jìn)行折中。
VF測(cè)試的典型保溫時(shí)間從不到幾百微秒到5毫秒，IL測(cè)試的保溫時(shí)間從5到20毫秒。通過(guò)利用這些極短的測(cè)試時(shí)間，就能夠減少由于結(jié)發(fā)熱導(dǎo)致的誤差。此外，通過(guò)執(zhí)行一系列測(cè)試并只檢驗(yàn)測(cè)試時(shí)間，可以對(duì)結(jié)發(fā)熱的特征進(jìn)行分析。
為了進(jìn)一步縮短測(cè)試時(shí)間，減少結(jié)自熱效應(yīng)，2600A系列儀器支持脈沖操作。在這種模式下，它們能夠在指定的周期內(nèi)在輸出端產(chǎn)生精密的信號(hào)源。1微秒的脈寬分辨率能夠精確控制器件的加電時(shí)間。這類儀器在脈沖操作模式下還能夠輸出大大超出其直流能力的電流值。例如，2602A在6V下能夠輸出3A的直流電流。而在脈沖模式下，它能夠在20V下輸出10A的電流。