各位大爺覺得可靠性測(cè)試有沒有必要做？
2016-07-07 17:25:55
問題，加以修改后再進(jìn)行下一步驟的測(cè)試。通過提高產(chǎn)品的可操作界限及破壞界限，從而達(dá)到提升可靠性的目的。2、HASS應(yīng)用HASS的目的是要在極短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)批量生產(chǎn)的成品是否存在生產(chǎn)質(zhì)量上的隱患，該試驗(yàn)包括
2015-08-04 17:38:43
測(cè)試專家開發(fā)了《電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試實(shí)務(wù)》培訓(xùn)課程。本課程涉及測(cè)試項(xiàng)目的選擇、測(cè)試用例設(shè)計(jì)、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試儀器和測(cè)試工裝設(shè)計(jì)、測(cè)試管理、可測(cè)試性設(shè)計(jì)等幾方面的內(nèi)容，適用于項(xiàng)目經(jīng)理、系統(tǒng)工程師、測(cè)試
2011-03-28 22:33:18
可靠性試驗(yàn)分類方法及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 1.如可靠性測(cè)試以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn);2.可靠性試驗(yàn)以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn);3.
2017-01-20 09:59:00
和電子輔料等可靠性應(yīng)用場(chǎng)景方面具有專業(yè)的檢測(cè)、分析和試驗(yàn)能力，可為各研究院所、高校、企業(yè)提供產(chǎn)品的可靠性檢測(cè)、失效分析、老化測(cè)試等一體化服務(wù)。本中心目前擁有各類可靠性檢測(cè)分析儀器，其中包括
2018-06-04 16:13:50
固有的可靠性因素，而且還取決于用戶所選擇的工作條件、實(shí)裝條件、環(huán)境及其它各種使用條件等。使用不當(dāng)是造成失效的主要原因之一。通過對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、裝配、調(diào)試、測(cè)試、試驗(yàn)和保管等各方面的使用要求，盡量做到保持器件
2011-11-24 16:28:03
設(shè)計(jì)(使用冗余技術(shù))，使用故障診斷技術(shù)等。可靠性主要包括電路可靠性及元器件的選型有必要時(shí)用一定儀器檢測(cè)。可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施
2015-08-04 11:04:27
測(cè)試檢驗(yàn)的人員）；電子企業(yè)的質(zhì)量工程師（經(jīng)理），采購(gòu)工程師（經(jīng)理），可靠性工程師（經(jīng)理），和設(shè)計(jì)人員（側(cè)重于了解電子組件可靠性設(shè)計(jì)）。五、課程提綱： 第一章《電子元器件選型與可靠性應(yīng)用》1、器件選型
2010-08-27 08:25:03
，就首先要對(duì)完成各項(xiàng)工作所制定的工作標(biāo)準(zhǔn)，明確控制參數(shù)或項(xiàng)目，制定驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)或容許偏差范圍。最有效的控制是激勵(lì)工作人員能自覺根據(jù)工作標(biāo)準(zhǔn)和控制要求進(jìn)行自我控制，這將比來自外部的各種控制更有效。2．可靠性
2009-05-24 16:49:57
可靠性是我們?cè)陂_展電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中常常繞不開的問題。例如，客戶需要我們提供相關(guān)的可靠性預(yù)計(jì)報(bào)告，客戶需要我們的產(chǎn)品提供相應(yīng)的可靠性試驗(yàn)報(bào)告，或者企業(yè)內(nèi)部需要控制產(chǎn)品質(zhì)量，制定了一系列的可靠性工作
2017-12-08 10:47:19
當(dāng)組件上板后進(jìn)行一系列的可靠性驗(yàn)證，可靠性驗(yàn)證過程中產(chǎn)品失效時(shí)，透過板階整合失效分析能快速將失效接口找出，宜特協(xié)助客戶厘清真因后能快速改版重新驗(yàn)證來達(dá)到產(chǎn)品通過驗(yàn)證并如期上市。 透過板階整合失效分析
2018-08-28 16:32:38
如果基于GaN的HEMT可靠性的標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試方法迫在眉睫，那么制造商在幫助同時(shí)提供高質(zhì)量GaN器件方面正在做什么？ GaN高電子遷移率晶體管（HEMT）由于其極高的耐高溫性和高功率密度而在半導(dǎo)體行業(yè)中
2020-09-23 10:46:20
qualification recipe）即可。由于長(zhǎng)期的業(yè)界經(jīng)驗(yàn)和可靠性模型的驗(yàn)證，人們現(xiàn)在可以接受將基于標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試用于硅材料的做法，不過也有例外的情況。功率金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管
2018-09-10 14:48:19
的問題，可靠性解決的是一段時(shí)間以后的問題。Quality的問題解決方法往往比較直接，設(shè)計(jì)和制造單位在產(chǎn)品生產(chǎn)出來后，通過簡(jiǎn)單的測(cè)試就可以知道產(chǎn)品性能是否達(dá)到SPEC的要求，這種測(cè)試在IC的設(shè)計(jì)和制造單位就可以
2019-11-23 09:59:07
、15min關(guān)的循環(huán)測(cè)試到壽命終了，對(duì)LED產(chǎn)品的測(cè)量顯然不現(xiàn)實(shí)。因此有必要對(duì)LED產(chǎn)品采用加速老化壽命試驗(yàn)[1]，同時(shí)，也應(yīng)當(dāng)測(cè)試LED的熱學(xué)特性、環(huán)境耐候性、電磁兼容抗擾度等與壽命和可靠性密切相關(guān)
2015-08-04 17:42:14
LabVIEW開發(fā)的測(cè)試環(huán)境要如何驗(yàn)證自身的可靠性呢？這個(gè)環(huán)境是用來測(cè)試汽車儀表用的，可是不能保證環(huán)境自身的可靠性，那么測(cè)試的結(jié)果也就沒有意義了。請(qǐng)高人指點(diǎn)下~??！
2017-09-26 08:07:49
可靠性是另一關(guān)注的重點(diǎn)。目前，環(huán)球儀器SMT工藝實(shí)驗(yàn)室正在進(jìn)行的另一個(gè)項(xiàng)目就是堆疊裝配可靠性研究。從目前采用跌落測(cè)試的研究結(jié)果來看，失效主要發(fā)生在兩層元件之間的連接。位置主要集中在元件角落處
2018-09-06 16:24:30
本文就SiC-MOSFET的可靠性進(jìn)行說明。這里使用的僅僅是ROHM的SiC-MOSFET產(chǎn)品相關(guān)的信息和數(shù)據(jù)。另外，包括MOSFET在內(nèi)的SiC功率元器件的開發(fā)與發(fā)展日新月異，如果有不明之處或希望
2018-11-30 11:30:41
進(jìn)行半導(dǎo)體元器件的評(píng)估時(shí)，電氣/機(jī)械方面的規(guī)格和性能當(dāng)然是首先要考慮的，而可靠性也是非常重要的因素。尤其是功率元器件是以處理較大功率為前提的，更需要具備充分的可靠性。SiC-SBD的可靠性SiC作為
2018-11-30 11:50:49
費(fèi)舍爾科技有限公司，專注與環(huán)境與可靠性試驗(yàn)設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售，產(chǎn)品有：鹽霧試驗(yàn)箱、高低溫（交變）濕熱試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、紫外光耐氣候試驗(yàn)箱、氙燈耐氣候試驗(yàn)箱、臭氧老化試驗(yàn)箱、熱老化試驗(yàn)
2008-09-22 16:46:32
知道這些基本元器件、部件的可靠性和由其構(gòu)成的系統(tǒng)的可靠性的關(guān)系。 描述基本元器件、部件的可靠性的基本數(shù)據(jù)可由生產(chǎn)廠家提供、或通過試驗(yàn)獲得、或通過實(shí)際觀察的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)或經(jīng)驗(yàn)得到?；驹?b class="flag-6" style="color: red">器件、部件的可靠性
2016-09-03 15:47:58
、軍事、電子等軍工工業(yè)，隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代，隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展，可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中，可靠性工程得到迅速發(fā)展！1965年，美國(guó)頒發(fā)了《系統(tǒng)與設(shè)備
2020-07-03 11:09:11
1952年3月便提出了具有深遠(yuǎn)影響的建議；研究成果首先應(yīng)用于航天、軍事、電子等軍工工業(yè)，隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代，隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展，可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中
2020-07-03 11:18:02
基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的可靠性測(cè)試方法企業(yè)設(shè)計(jì)的可靠性測(cè)試方法
2021-03-08 07:55:20
、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)。可靠性六大實(shí)驗(yàn)的分工與職責(zé)不同，各有所能，為人們服務(wù)的目的、對(duì)象、適用時(shí)機(jī)都不同（見下表）。名字職責(zé)目的適用對(duì)象適用時(shí)機(jī)環(huán)境應(yīng)力篩選ESS發(fā)現(xiàn)和排除不良元器件、制造工藝
2019-07-23 18:29:15
軍用電子元器件二篩，二次篩選試驗(yàn)，進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)
按性質(zhì)分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
單片GaN器件集成驅(qū)動(dòng)功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
；可靠性測(cè)試記錄。 (2)最大的系統(tǒng)集成最大的系統(tǒng)集成可以最大限度簡(jiǎn)化系統(tǒng)構(gòu)成，有助于減少系統(tǒng)硬件失誤概率。最大的系統(tǒng)集成應(yīng)具備：依靠器件解決的思想；單片機(jī)選擇實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的最大包容；0EM 的支持。 2．
2021-01-11 09:34:49
可靠性設(shè)計(jì)是單片機(jī)應(yīng)甩系統(tǒng)設(shè)計(jì)必不可少的設(shè)計(jì)內(nèi)容。本文從現(xiàn)代電子系統(tǒng)的可靠性出發(fā)，詳細(xì)論述了單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性特點(diǎn)。提出了芯片選擇、電源設(shè)計(jì)、PCB制作、噪聲失敏控制、程序失控回復(fù)等集合硬件系統(tǒng)
2021-02-05 07:57:48
`疊層電感磁珠可靠性實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目有哪些？`
2011-10-16 19:34:50
。G.Cassanelli對(duì)大功率白光LED的早期突然失效進(jìn)行了試驗(yàn)分析，認(rèn)為電極Ag與封裝材料中的硫磺反應(yīng)生成Ag2S，從而增大電阻以至完全開路造成器件的失效。從可靠性的一般觀點(diǎn)認(rèn)為，在LED器件中觀察到的大部分失效機(jī)制
2011-08-19 08:41:03
為了FPGA保證設(shè)計(jì)可靠性, 需要重點(diǎn)關(guān)注哪些方面？
2019-08-20 05:55:13
如何克服ACS測(cè)試系統(tǒng)和SMU的可靠性測(cè)試挑戰(zhàn)？
2021-05-11 06:11:18
摘 要 本文針對(duì)目前嵌入式軟件設(shè)計(jì)可靠性測(cè)試用例的手段主要依靠手工分析，沿用傳統(tǒng)的軟件測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法進(jìn)行，不能夠滿足可靠性測(cè)試用例設(shè)計(jì)的基本要求的問題，設(shè)計(jì)了一套行之有效的可靠性測(cè)試用例自動(dòng)生成
2021-10-27 06:10:28
什么是微波功率晶體管？如何提高微波功率晶體管可靠性？
2021-04-06 09:46:57
如何采用功率集成模塊設(shè)計(jì)出高能效、高可靠性的太陽(yáng)能逆變器？
2021-06-17 06:22:27
。因此，硬件可靠性設(shè)計(jì)在保證元器件可靠性的基礎(chǔ)上，既要考慮單一控制單元的可靠性設(shè)計(jì)，更要考慮整個(gè)控制系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)。
2021-01-25 07:13:16
當(dāng)今社會(huì)，市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)日益激烈，品牌企業(yè)之間競(jìng)爭(zhēng)的焦點(diǎn)不僅局限在產(chǎn)品的功能與外觀，產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性越來越受到市場(chǎng)和客戶的重視。安博檢測(cè)股份近年來加大對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的投入，配備了各種環(huán)境測(cè)試設(shè)備。通過
2018-12-04 18:12:47
提高PCB設(shè)備可靠性的技術(shù)措施：方案選擇、電路設(shè)計(jì)、電路板設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、元器件選用、制作工藝等多方面著手，具體措施如下： （1）簡(jiǎn)化方案設(shè)計(jì)。方案設(shè)計(jì)時(shí)，在確保設(shè)備滿足技術(shù)、性能指標(biāo)的前提下，應(yīng)盡
2018-09-21 14:49:10
強(qiáng)度測(cè)試、彎曲測(cè)試等，將傳統(tǒng)對(duì)于電子元器件著重于電性與環(huán)境溫濕度關(guān)聯(lián)度的試驗(yàn)范疇，擴(kuò)展到應(yīng)力與機(jī)構(gòu)，做一個(gè)先期驗(yàn)證。為了滿足車用「板階(Board Level)」客戶需求，建置相關(guān)設(shè)備能良，并結(jié)合車用芯片與車用系統(tǒng)，可提供您完整的可靠性驗(yàn)證環(huán)境。
2018-09-06 16:56:38
)，都在考驗(yàn)著汽車電子產(chǎn)品的可靠性。本文簡(jiǎn)單整理出汽車電子產(chǎn)品相關(guān)的環(huán)境可靠性試驗(yàn)條件，以提供給廣大客戶參考。 目前世界范圍內(nèi)，針對(duì)汽車電子產(chǎn)品有很多環(huán)境可靠性測(cè)試方面的要求及標(biāo)準(zhǔn)，而常用的標(biāo)準(zhǔn)主要有ISO
2016-02-23 21:22:20
幫幫忙。一般汽車車燈的可靠性標(biāo)準(zhǔn)要求是怎么樣的？像高溫測(cè)試是測(cè)多少度多久的。像前大燈和霧燈，尾燈這類的
2014-05-05 23:27:49
試驗(yàn)，電壓暫降測(cè)試，騷擾功率試驗(yàn)，電磁抗擾試驗(yàn)室，射頻測(cè)試，電磁場(chǎng)輻射試驗(yàn)，抗繞度試驗(yàn)，電瞬態(tài)干擾試驗(yàn)，插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測(cè)試：
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)，加速壽命試驗(yàn)（halt），環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ess），可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，可靠性鑒定試驗(yàn)，可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
滿足電工電子產(chǎn)品型式試驗(yàn)項(xiàng)目要求，致力于為各電氣產(chǎn)業(yè)廠商提供專業(yè)可靠的電工電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試、改進(jìn)服務(wù)。 測(cè)試中心遵循CNAS-CL01/ISO 17025《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)》建立科學(xué)規(guī)范
2016-01-18 10:42:33
淺談手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn) 本文關(guān)鍵字: 手機(jī) 環(huán)境可靠性 本文簡(jiǎn)要介紹了手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn)的目的、內(nèi)容，在試驗(yàn)中容易出現(xiàn)的故障，指出了目前在手機(jī)環(huán)境可靠性測(cè)試中存在的問題。1 引言 隨著社會(huì)
2009-11-13 22:31:55
，壓力，太陽(yáng)輻射，砂塵，淋雨等。受試產(chǎn)品應(yīng)根據(jù)其未來的使用環(huán)境條件及受影響程度對(duì)試驗(yàn)項(xiàng)目進(jìn)行甄選，一般應(yīng)考察10個(gè)以上環(huán)境應(yīng)力。而可靠性試驗(yàn)由于要進(jìn)行綜合模擬，只將綜合環(huán)境應(yīng)力（溫度，濕度，振動(dòng)）與電
2022-01-13 14:03:37
不同的產(chǎn)品，為了達(dá)到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法。可靠性試驗(yàn)有多種分類方法.1. 如以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)；2. 以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命
2015-08-04 17:34:26
電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)，不看肯定后悔
2021-05-12 06:11:07
不同以及原材料及工藝流程不同時(shí)，其失效機(jī)理就不一定相同，因而可靠性篩選的條件也應(yīng)有所不同。因此，必須針對(duì)各種具體產(chǎn)品進(jìn)行大量的可靠性試驗(yàn)和篩選摸底試驗(yàn)，從而掌握產(chǎn)品失效機(jī)理與篩選項(xiàng)目間的關(guān)系。元器件篩選方案
2016-11-17 22:41:33
情況下的穩(wěn)定運(yùn)行能力以評(píng)估可靠性。測(cè)試方法a、額定電壓輸入，用雙蹤示波器測(cè)試輸入電壓波形合過壓保護(hù)信號(hào)，輸入電壓從限功率點(diǎn)加5v跳變?yōu)?00v，從示波器上讀出過壓保護(hù)前300v的周期數(shù)n，作為以下試驗(yàn)
2018-10-30 14:55:06
，器件環(huán)境受到機(jī)箱內(nèi)其他器件散熱的影響，一般器件環(huán)境溫度比整機(jī)環(huán)境溫度要高。第二，大家能回想到本次演講開頭的第三個(gè)問題，詳情查閱《器件環(huán)境溫度與負(fù)荷特性曲線的常見錯(cuò)誤》。誤區(qū)5：電子可靠性跟機(jī)械、軟件
2016-11-14 19:59:32
`電路可靠性設(shè)計(jì)與測(cè)試 [hide][/hide]`
2011-07-25 09:06:47
就可以做設(shè)計(jì)呢，難道僅僅是因?yàn)槲覀兊腻e(cuò)誤不會(huì)死人？于是，針對(duì)這個(gè)現(xiàn)象，專門開發(fā)了《電路可靠性設(shè)計(jì)與元器件選型》這門培訓(xùn)課程，為一線的產(chǎn)品開發(fā)工程師、質(zhì)量工程師、技術(shù)管理者、測(cè)試工程師等提供針對(duì)性的思維
2010-04-26 22:05:30
就可以做設(shè)計(jì)呢，難道僅僅是因?yàn)槲覀兊腻e(cuò)誤不會(huì)死人？于是，針對(duì)這個(gè)現(xiàn)象，專門開發(fā)了《電路可靠性設(shè)計(jì)與元器件選型》這門培訓(xùn)課程，為一線的產(chǎn)品開發(fā)工程師、質(zhì)量工程師、技術(shù)管理者、測(cè)試工程師等提供針對(duì)性的思維
2010-04-26 22:11:44
就可以做設(shè)計(jì)呢，難道僅僅是因?yàn)槲覀兊腻e(cuò)誤不會(huì)死人？于是，針對(duì)這個(gè)現(xiàn)象，專門開發(fā)了《電路可靠性設(shè)計(jì)與元器件選型》這門培訓(xùn)課程，為一線的產(chǎn)品開發(fā)工程師、質(zhì)量工程師、技術(shù)管理者、測(cè)試工程師等提供針對(duì)性的思維
2010-04-26 22:20:16
更多的人參與進(jìn)來，更廣泛的理解和應(yīng)用。2、電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范包括降額設(shè)計(jì)（降額參數(shù)和降額因子）、熱設(shè)計(jì)（熱設(shè)計(jì)計(jì)算、熱設(shè)計(jì)測(cè)試、熱器件選型）、電路安全性設(shè)計(jì)規(guī)范、EMC
2010-04-26 22:16:16
泛的理解和應(yīng)用。2、電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范包括降額設(shè)計(jì)（降額參數(shù)和降額因子）、熱設(shè)計(jì)（熱設(shè)計(jì)計(jì)算、熱設(shè)計(jì)測(cè)試、熱器件選型）、電路安全性設(shè)計(jì)規(guī)范、EMC設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)（布局布線、接地
2010-04-26 22:18:35
設(shè)計(jì)呢，難道僅僅是因?yàn)槲覀兊腻e(cuò)誤不會(huì)死人？于是，針對(duì)這個(gè)現(xiàn)象，專門開發(fā)了《電路可靠性設(shè)計(jì)與元器件選型》這門培訓(xùn)課程，為一線的產(chǎn)品開發(fā)工程師、質(zhì)量工程師、技術(shù)管理者、測(cè)試工程師等提供針對(duì)性的思維方法
2009-12-04 14:32:45
設(shè)計(jì)規(guī)范電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范包括降額設(shè)計(jì)（降額參數(shù)和降額因子）、熱設(shè)計(jì)（熱設(shè)計(jì)計(jì)算、熱設(shè)計(jì)測(cè)試、熱器件選型）、電路安全性設(shè)計(jì)規(guī)范、EMC設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)（布局布線、接地、阻抗匹配、加工工藝）、可用性
2009-12-18 16:29:17
，設(shè)計(jì)時(shí)需要謹(jǐn)慎確認(rèn)該器件在我們電路中的靜態(tài)工作點(diǎn)。 誤區(qū)7：可維修性跟我無關(guān) 電子產(chǎn)品可靠性工作的目的是什么?是賺錢。賺錢靠什么?開源和節(jié)流，開源難，節(jié)流易，不要總想著從材料費(fèi)上省，材料費(fèi)省了，維修費(fèi)
2018-02-27 09:58:15
接插件）?，F(xiàn)在狀態(tài)是PCB板基本功能都已測(cè)試都過?，F(xiàn)在公司讓小弟做PCB板硬件可靠性方面的工作（證明電路板可靠度，如果不可靠的話找到薄弱環(huán)節(jié)）.現(xiàn)在電路板的數(shù)量不多（3-5塊），大批量做可靠性實(shí)驗(yàn)不太
2017-02-22 09:49:18
特性與產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間、低應(yīng)力作用下表現(xiàn)出來的特性是一致的。對(duì)13種不同應(yīng)力的篩選結(jié)果調(diào)查表明， 溫度循環(huán)是最有效的篩選， 其次是隨機(jī)振動(dòng)。因此， 將溫度試驗(yàn)平臺(tái)與振動(dòng)試驗(yàn)平臺(tái)做為可靠性強(qiáng)化測(cè)試平臺(tái)（圖1）。 維庫(kù)PDF下載：硅壓力傳感器的可靠性強(qiáng)化試驗(yàn).rar
2018-11-05 15:37:57
我想問一下高速電路設(shè)計(jì)，是不是只要做好電源完整性分析和信號(hào)完整性分析，就可以保證系統(tǒng)的穩(wěn)定了。要想達(dá)到高的可靠性，要做好哪些工作?。吭诰W(wǎng)上找了好久，也沒有找到關(guān)于硬件可靠性的書籍。有經(jīng)驗(yàn)的望給點(diǎn)提示。
2015-10-23 14:47:17
（AEC-Q101）的要求提高到77片。HTRB、HVH3TRB、TC、AC/PCT、IOL、HTGB試驗(yàn)是驗(yàn)證器件可靠性的主要項(xiàng)目： HTRB（高溫反偏測(cè)試） HTRB是分立器件可靠性最重要的一個(gè)試驗(yàn)
2023-02-28 16:59:26
產(chǎn)品可靠性是指，在一定條件下產(chǎn)品無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。線束端子可靠性試驗(yàn)即是評(píng)估端子滿足電氣連接可靠性的能力。本文主要談?wù)劧俗?b class="flag-6" style="color: red">可靠性測(cè)試試驗(yàn)的具體內(nèi)容及意義。 端子可靠性試驗(yàn)涉及
2021-01-12 16:24:16
本帖最后由 testest 于 2020-5-17 20:51 編輯
芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC)& MSL試驗(yàn)
2020-05-17 20:50:12
芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL
2020-04-26 17:03:32
剛剛接觸PCBA可靠性，感覺和IC可靠性差異蠻大，也沒有找到相應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。請(qǐng)問大佬們?cè)谧鯬CBA可靠性時(shí)是怎么做的，測(cè)試條件是根據(jù)什么設(shè)定？
2023-02-15 10:21:14
急求幫助 硬件設(shè)計(jì)說明中的可靠性設(shè)計(jì)包含哪些？現(xiàn)在需要整理項(xiàng)目的一些文檔，關(guān)于可靠性設(shè)計(jì)要提供哪些文檔一頭霧水，求前輩指點(diǎn)一下！不勝感激！
2020-04-08 03:04:58
車載電子設(shè)備可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目匯總一、綜述汽車的控制系統(tǒng)是以高端電子設(shè)備為基礎(chǔ)，因此電子控制設(shè)備的可靠性對(duì)整車的可靠性起主導(dǎo)作用。一般來說，使用環(huán)境會(huì)影響到電子設(shè)備和單元的耐久性以及操作性能。因此
2022-01-12 08:07:28
我選用的一款Nor FLASH芯片 ，型號(hào) PC28F00BP30EF，工業(yè)級(jí)，適應(yīng)溫度為-40~85攝氏度，而由于項(xiàng)目要求，篩選試驗(yàn)低溫使用-45攝氏度進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，實(shí)驗(yàn)正常，情況篩選完成后元器件的可靠性是否能夠得到保障？若篩選實(shí)驗(yàn)通過 ，后續(xù)不再超溫使用，是否存在問題？
2019-05-04 22:30:37
；C、功能要求應(yīng)用的環(huán)境，特別是溫度、濕度、腐蝕性等，決定了哪些自身的失效機(jī)理會(huì)發(fā)生作用，而連接器功能的要求，決定了怎樣的失效程度是允許的。 了解連接器的可靠性，一般會(huì)對(duì)連接器進(jìn)行各種測(cè)試，測(cè)試一般
2018-02-26 13:19:23
封裝可靠性最重要的可靠性測(cè)試，也是進(jìn)行器件壽命模型建立和壽命評(píng)估的根本。服務(wù)范圍車規(guī)級(jí)功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計(jì)產(chǎn)品。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
服務(wù)范圍橫向科研技術(shù)?持和服務(wù)、軌道交通、核電、裝備領(lǐng)域板卡失效分析、可靠性壽命試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行。檢測(cè)項(xiàng)目基于壽命特征分析的板卡壽命及剩余壽命研究：l 板卡X-ray
2024-03-15 17:27:02
LED產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)與應(yīng)用
本文主要站在LED制造者或使用者的立場(chǎng)來探討對(duì)應(yīng)不同的使用環(huán)境與場(chǎng)所，較具有效益的可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目以及這些試驗(yàn)的
2009-12-11 21:46:47
1338 本文闡述了一種電機(jī)用功率 VDMOS 器件的可靠性試驗(yàn)方案和試驗(yàn)過程。對(duì)不同驅(qū)動(dòng)電壓下VDMOS器件所能承受的最人供電電壓進(jìn)行了測(cè)試，分別在輕、重負(fù)載下對(duì)器件進(jìn)行不同驅(qū)動(dòng)電壓的電
2011-07-22 11:32:57
37 本文首先介紹了可靠性測(cè)試的概念與分類，其次介紹了壽命測(cè)試屬于可靠性測(cè)試及其作用，最后介紹了有效的壽命測(cè)試項(xiàng)目及壽命試驗(yàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
2018-05-14 09:40:4616177 
技術(shù)條件規(guī)定的項(xiàng)目進(jìn)行可靠性試驗(yàn)。此外還需要逐批或按一定期限進(jìn)行可靠性抽樣試驗(yàn)。通過對(duì)產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)可以了解產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定程度。若因原材料質(zhì)量較差或工藝流程失控等原因造成產(chǎn)品質(zhì)量下降，在產(chǎn)品的可靠性
2018-06-28 18:38:50718 端子線檢查一般涉及以下項(xiàng)目：插拔力試驗(yàn)、耐久性試驗(yàn)、絕緣電阻試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、冷熱沖擊試驗(yàn)、混合氣體腐蝕試驗(yàn)等。
端子線可靠性測(cè)試項(xiàng)目有哪些？
端子線的具體測(cè)試項(xiàng)目如下
2023-01-06 14:31:431172 
本測(cè)試設(shè)備可對(duì)大功率IGBT器件進(jìn)行功率循環(huán)耐久性試驗(yàn)，以確認(rèn)IGBT器件承受結(jié)溫波動(dòng)的能力，通過試驗(yàn)前后各種電參數(shù)變化判斷IGBT器件內(nèi)部制造工藝可靠性及器件的使用壽命，用于研究電力電子
2023-02-23 09:48:244 功率器件可靠性
2023-08-07 14:51:532 ? 走進(jìn)龍騰實(shí)驗(yàn)室 功率器件可靠性試驗(yàn)測(cè)試項(xiàng)目系列專題（一） ? 可靠性實(shí)驗(yàn)室介紹 ? 龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心，專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測(cè)、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評(píng)估，公司
2023-09-12 10:23:45698 
電子元器件可靠性測(cè)試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目，同時(shí)也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可靠性測(cè)試項(xiàng)目有機(jī)械沖擊測(cè)試、高溫存儲(chǔ)測(cè)試、溫度循壞測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-10-11 14:49:05350 
芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試？ 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011122 可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容，確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多，測(cè)試方法多樣，常見的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52748 
器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個(gè)項(xiàng)目，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目（測(cè)試項(xiàng)，試驗(yàn)條件，樣本量等）進(jìn)行了說明。主要測(cè)試內(nèi)容分為器件性能測(cè)試、器件應(yīng)力測(cè)試和器件加速老化測(cè)試。
2023-11-10 17:47:27628 
半導(dǎo)體可靠性測(cè)試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測(cè)試項(xiàng)目包括多種測(cè)試方法和技術(shù)，以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計(jì)規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測(cè)試的詳細(xì)
2023-12-20 17:09:04697
電子發(fā)燒友App
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論