NI STS系統(tǒng)的常規(guī)保養(yǎng)維護(hù)和基本操作介紹

NI于2014年推出的NI STS，基于實(shí)驗(yàn)室儀表級(jí)別精度的模塊化儀器，同時(shí)滿足測(cè)試精度和量產(chǎn)測(cè)試覆蓋率的需求。NI STS是基于模塊化儀器的PXI平臺(tái)，因此，NI STS可以不斷擴(kuò)展以滿足日益增多以及定制化的測(cè)試需求。

圖1. NI 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部架構(gòu)

NI STS 具有統(tǒng)一的測(cè)試平臺(tái)—— PXI 平臺(tái)，可根據(jù)設(shè)計(jì)檢驗(yàn)到生產(chǎn)測(cè)試而隨時(shí)調(diào)整、讓設(shè)計(jì)與測(cè)試部門輕松共用資料，進(jìn)而降低成本。此外，PXI 平臺(tái)開放式與模塊化的設(shè)計(jì)，使您可以獲得更強(qiáng)大的計(jì)算能力及更豐富的儀器資源，進(jìn)一步提升半導(dǎo)體測(cè)試效率。

NI不斷在PXI平臺(tái)上提供最頂尖的儀器技術(shù)來滿足半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的測(cè)試任務(wù)。在這樣的平臺(tái)下，在實(shí)驗(yàn)室和產(chǎn)線中內(nèi)部構(gòu)造基本一致。在實(shí)驗(yàn)室中使用到的高性能的儀器在產(chǎn)線中依然可以使用，并加入如分選機(jī)（Handler）/探針（Prober）的集成、標(biāo)準(zhǔn)Docking（包括Soft Dock/Hard Dock）、待測(cè)彈簧探針連接、STDF數(shù)據(jù)報(bào)表生成和系統(tǒng)校準(zhǔn)等特性，可輕松集成到生產(chǎn)測(cè)試滿足半導(dǎo)體產(chǎn)線測(cè)試的要求。

同樣在實(shí)驗(yàn)室和量產(chǎn)測(cè)試使用統(tǒng)一開發(fā)環(huán)境LabVIEW和測(cè)試管理執(zhí)行軟件TestStand，可最大化復(fù)用實(shí)驗(yàn)室中的代碼，減少數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)（Correlation）時(shí)間，進(jìn)一步提升半導(dǎo)體測(cè)試效率。

圖 2. FT 測(cè)試

為了幫助半導(dǎo)體工程師更好的使用NI STS，小編特意為大家準(zhǔn)備了STS 系列培訓(xùn)教程（有詳細(xì)視頻講解哦），今天先講從“STS Test Head”開始~

NI STS使用培訓(xùn)系列目錄

① STS Test Head

NI STS 是一系列用于半導(dǎo)體特性分析和生產(chǎn)的硬件/軟件產(chǎn)品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 組成。T1、T2和 T4 的主要區(qū)別在于它們的尺寸以及它們可容納的 18 插槽 NI PXI 機(jī)箱的數(shù)量（T1 - 一個(gè) PXI 機(jī)箱;T2 - 兩個(gè) PXI 機(jī)箱;T4 - 四個(gè) PXI 機(jī)箱）。本節(jié)介紹了 T1、T2 和 T4 的I/O和控件。本視頻展示了 NI STS 輸入和輸出面板及其在測(cè)試單元內(nèi)集成的功能。

② STS Operator Interface

本章介紹了在STS上運(yùn)行測(cè)試的流程。OI（操作員界面）由多個(gè)控件和顯示框組成，它們用于配置測(cè)試站、輸入批次信息、執(zhí)行測(cè)試以及查看良率、分bin信息和測(cè)試結(jié)果。

③ Tester Admins

本章提供了創(chuàng)建可啟動(dòng) USB 驅(qū)動(dòng)器的參考指南以及使用 Acronis Image 工具加載 STS 控制器鏡像的過程。由于 OI 是客戶端高度定制的操作員界面，因此我們還介紹了如何修改工廠的默認(rèn) STS 操作員界面并滿足客戶的特定需求。

④ Handlers and Probers

STS 可以Soft docking 或 Hard docking接到分選機(jī)和探針測(cè)試臺(tái)。每種類型的 STS 都由標(biāo)準(zhǔn)通信接口和Docking 接口所組成。NI 已與幾乎所有在大多數(shù)工廠中發(fā)現(xiàn)的常見Handler and Prober對(duì)接過。以下視頻介紹了分選機(jī)和探針測(cè)試臺(tái)驅(qū)動(dòng)程序的配置過程，并介紹如何在操作員界面配置模擬分選機(jī)。

⑤ Tester Maintenance

本章——測(cè)試機(jī)維護(hù)介紹了 NI STS 系統(tǒng)的常規(guī)保養(yǎng)維護(hù)和基本操作。NI STS 維護(hù)軟件是一套軟件工具，使用戶能夠維護(hù)、監(jiān)控、檢修并校準(zhǔn) NI 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)。大多數(shù)測(cè)試維護(hù)操作可以使用 NI 維護(hù)軟件進(jìn)行。

⑥ Test Program Development and Debug

本章介紹了 STS 測(cè)試程序架構(gòu)、TestStand、TestStand半導(dǎo)體模塊 （TSM） 以及客戶在標(biāo)準(zhǔn) Semi ATE 平臺(tái)期望的其它組件/功能。引腳編程、分 bin、Digital Pattern編輯器等相關(guān)主題也可在本節(jié)中找到。

STS Test Head

NI STS 是一系列用于半導(dǎo)體特性分析和生產(chǎn)的硬件/軟件產(chǎn)品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 組成。

圖 3. STS Configurations

T1、T2和 T4 的主要區(qū)別在于它們的尺寸以及它們可容納的18 插槽 NI PXI 機(jī)箱的數(shù)量（T1- 一個(gè) PXI 機(jī)箱;T2 - 兩個(gè) PXI 機(jī)箱;T4 - 四個(gè) PXI 機(jī)箱）。
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