LED CHIP IQC檢驗規(guī)范

LED CHIP IQC檢驗規(guī)范

1. 目的
1.1 制訂LED Chip FQC檢驗規(guī)范。
1.2 訂定成品入庫批允收程序，以確保產(chǎn)品品質(zhì)達一定水準。 2. 范圍
本公司生產(chǎn)之所有LED產(chǎn)品均屬之。

3. 內(nèi)容
3.1 檢驗測試項目
3.1.1 光電性檢驗
3.1.2 外觀檢驗
3.1.3 數(shù)值標示檢驗。

3.2 抽樣計畫（片數(shù)定義：晶片片數(shù)）

3.2.1 依「產(chǎn)品檢驗抽樣計劃」(WI-20-0101) 抽片執(zhí)行檢驗。
3.2.2 光電特性檢驗（VFH、VFL、IV）
（1）抽樣位置：分頁片邊緣4顆，分頁片內(nèi)圍6顆，均勻取樣。
（2）抽樣數(shù)量：每片10顆。
（3）每片抽樣數(shù)，每一顆不良，則列一個缺點。
3.2.3 外觀檢驗
（1）PS TYPE不良晶粒＞2ea／sheet，列入一個缺點。
（2）NS TYPE或PS TYPE分頁面積最長距離＜6.5 cm者，不良晶粒＞5ea／sheet，且＞10 ea／wafer 列入一個缺點。
（3）缺點項目之限樣標準由制造、FQC兩單位共同製作，作為人員檢驗之依據(jù)。 3.3 缺點等級代字
3.3.1 主要缺點代字：MA（Major）。
3.3.2 次要缺點代字：MI（Minor）。

3.4 參考文件
3.4.1 本公司產(chǎn)品目錄規(guī)格書
3.4.2 研發(fā)工程產(chǎn)品測試分類規(guī)格
3.4.3 其他相關(guān)之品質(zhì)文件

4. 光電特性檢驗
4.1 順向電壓VFH
4.1.1 依特定之額定電流點測，須低于規(guī)格上限。
4.1.2 規(guī)格上限應參考測試分類規(guī)格及GaP、GaAsP、ALGAAs產(chǎn)品T/S前測站?作業(yè)指導書。
4.1.3 缺點等級：MA

4.2 順向電壓VFL
4.2.1 依特定之額定電流點測，須高于規(guī)格下限，低于上限。
4.2.2 規(guī)格：GaP≧1.5V，GaAsP≧1.3V，ALGAAs (1.25≦VFL≦1.5V)，IR (0.70~1.0 V)。
4.2.3 缺點等級：MI

4.3 亮度Iv / Po
4.3.1 依特定之額定電流點測，須高于規(guī)格下限。
4.3.2 規(guī)格下限應參考測試分類規(guī)格及各產(chǎn)品T/S前測站作業(yè)指
4.3.3 導書判定。
4.3.4 缺點等級：MA

5. 外觀檢驗﹙共同標準﹚

6. 數(shù)值標示檢驗