利用FPGA可重復(fù)編程的特性，通過脫機(jī)配置，建立BIST邏輯，即使由于線路被操作系統(tǒng)的重新配置而令BIST結(jié)構(gòu)消失，可測性也可實(shí)現(xiàn)。本文給出一種基于BIST利用ORCA（Optimized
2018-11-28 09:02:00
4021 
如下圖所示：左邊是普通寄存器，右邊是可掃描寄存器，D端前面加一個二選一的MUX，選擇端是scan_enable，為1時選擇SI端，為0時選擇D端。
2023-09-15 10:10:371762 
。為什么還會有2.4GHz的本振信號呢？是我理解錯了，還是我測試錯了？我測試的頻譜圖如附件所示。一張是使能BIST的，一張是不使能BIST的。附件Screen_0061.png83.6 KBScreen_0062.png82.9 KB
2018-08-01 09:10:10
BOARD EVALUATION SCAN90004
2023-03-30 11:45:02
SCAN921025 - 30-80 MHz 10 Bit Bus LVDS Serializer and Deserializer with IEEE 1149.1 (JTAG) and at-speed BIST - National Semiconductor
2022-11-04 17:22:44
SCAN921025H - High Temperature 20-80 MHz 10 Bit Bus LVDS SerDes with IEEE 1149.1 (JTAG) and at-speed BIST - National Semiconductor
2022-11-04 17:22:44
SCAN921226 - 30-80 MHz 10 Bit Bus LVDS Serializer and Deserializer with IEEE 1149.1 (JTAG) and at-speed BIST - National Semiconductor
2022-11-04 17:22:44
SCAN921226HSM - High Temperature 20-80 MHz 10 Bit Bus LVDS SerDes with IEEE 1149.1 (JTAG) and at-speed BIST - National Semiconductor
2022-11-04 17:22:44
SCAN921260 X6 1:10 Deserializer with IEEE 1149.1 (JTAG) and at-speed BIST datasheet (Rev. F)
2022-11-04 17:22:44
SCAN921821 Dual 18-Bit Serializer w/Pre-emph, IEEE 1149.1 JTAG & At-Speed BIST datasheet (Rev. C)
2022-11-04 17:22:44
SCAN926260 - Six 1 to 10 Bus LVDS Deserializers with IEEE 1149.1 and At-Speed BIST - National Semiconductor
2022-11-04 17:22:44
SCAN926260 Six 1-10 Bus LVDS Deserializers w/IEEE 1149.1 & At-Speed BIST datasheet (Rev. H)
2022-11-04 17:22:44
SCAN926260TUF - Six 1 to 10 Bus LVDS Deserializers with IEEE 1149.1 and At-Speed BIST - National Semiconductor
2022-11-04 17:22:44
SCAN926260TUFX - Six 1 to 10 Bus LVDS Deserializers with IEEE 1149.1 and At-Speed BIST - National Semiconductor
2022-11-04 17:22:44
SCAN928028 8 Channel 10:1 Serializer with IEEE 1149.1 and At-Speed BIST datasheet (Rev. F)
2022-11-04 17:22:44
AD9361 BIST功能驗(yàn)證相關(guān)事項(xiàng)想請問各位大拿，AD9361 BIST功能驗(yàn)證是用于驗(yàn)證收發(fā)通道的鏈路部分，而數(shù)據(jù)接口部分是不是驗(yàn)證不到？當(dāng)前調(diào)試過程中出現(xiàn)的問題是：配置模式FDD 1R1T
2021-09-14 22:29:00
ad9361初始化完成后使用bist模式測試ad9361的收發(fā)鏈路功能是否正確。配置寄存器0x3F4的值為0x5B時即連接到RX Dataport端口時，使用vivado下的ILA抓取輸入端rx波形
2019-11-17 23:03:17
模塊。測試中，使能ENSM進(jìn)入FDD狀態(tài)，切換BIST灌入Tx Chain (etc. SPIWrite 03F453)，F(xiàn)PGA內(nèi)部抓取接收信號，可以看到IQ正弦波，但是質(zhì)量很差，類似噪聲。后面我調(diào)節(jié)
2019-01-08 11:09:07
M0 在使用時有兩個scan IO 接口，分別為.SE.RSTBYPASS這兩個IO在芯片scan mode下需要做特別處理嗎？我們能否把它當(dāng)成普通的數(shù)字IP直接進(jìn)行top級的scan 呢？謝謝！如果進(jìn)行top級的scan,能否把這里的SE置0， RSTBYPASS也置0？
2022-08-22 15:20:07
雖然可測性設(shè)計(jì)(DFT)與內(nèi)置自檢(BIST)技術(shù)已在SoC(系統(tǒng)級芯片)設(shè)計(jì)中受到廣泛關(guān)注，但仍然只是被看作“后端”的事。實(shí)際上，這些技術(shù)在器件整個設(shè)計(jì)周期中都非常重要，可以保證產(chǎn)品測試錯誤覆蓋率
2011-12-15 09:53:14
邊界掃描測試 為了對電路板級的邏輯和連接進(jìn)行測試，工業(yè)界和學(xué)術(shù)界提出了一種邊界掃描的設(shè)計(jì)，邊界掃描主要是指對芯片管腳與核心邏輯之間的連接進(jìn)行掃描。掃描路徑設(shè)計(jì)(Scan Design) 掃描路徑
2011-12-15 09:35:34
嗨，我試圖在ISE / SDK 14.6下編譯BIST的13.4版本，但是我遇到了一些與丟失文件和目錄有關(guān)的錯誤。我想知道其他人是否已經(jīng)移植了BIST源代碼。至少我想知道你將如何繼續(xù)這項(xiàng)任務(wù)。所以，如果你有任何想法，我想聽聽他們。問候，KT
2020-03-17 10:22:01
你好，我沒有意識到有一種方法可以運(yùn)行工廠加載到QSIP中的測試。一位同事在上面加載了一個XmWorks文件，現(xiàn)在我無法使用以前的BIST。有沒有辦法重置為默認(rèn)值或您是否會發(fā)送新的下載？謝謝，克里斯
2019-09-12 10:46:39
我們現(xiàn)在正在評估 S32K BIST 功能，當(dāng) sw 調(diào)用 apiBist_Run() 以啟動 bist 時，但 mcu 重置。它發(fā)生在 Bist
2023-04-14 07:09:06
/ src / subdir.mk似乎是原因。在“C_SRCS + =”部分中：“../src/pcap.c \ / C：/zc706_bist/zc706_bist
2020-04-08 09:52:55
封裝功能測試，覆蓋1-1200管腳的各種封裝形式BGA、QFP、PGA、PLCC、TSSOP、DIP等。 IC功能測試服務(wù)：利用BOUNDARY SCAN（邊界掃描）測試設(shè)備提供各種常用芯片的直流功能
2009-07-21 11:40:36
s32g274a的板子支持BIST嗎？如果板子支持，如何在 s32g274a 上使用在線 BIST？
2023-04-20 07:15:26
嗨，我正在使用帶有DTM固件的BlueNRG-2芯片。它通過SPI連接到主處理器STM32。該藍(lán)牙設(shè)備在外圍設(shè)備中起作用（某些傳感器）。 廣告工作正常：作為主設(shè)備的另一個設(shè)備接收ADV_IND
2018-09-26 17:50:33
你好任何人都可以解釋為什么四種 DDR 驗(yàn)證 BIST 測試類型無法執(zhí)行并且顏色編碼指示“…………測試腳本中的錯誤”？我能夠成功執(zhí)行 DDR 驗(yàn)證階段和其他四種 DDR 驗(yàn)證測試類型（DMA 測試
2023-04-06 08:54:58
問題如題：在SimpleBLEObserver和 SimpleBLECentral的范例工程中，都沒有找到設(shè)置LE_Scan_Window和LE_Scan_Interval這兩個參數(shù)的語句，是有缺
2020-03-17 09:11:19
在BIST測試中，其他測試通過了閃存測試，失敗的信息是 - 初始化時失敗 - 閃存測試失?。?）可以任何人告訴我為什么，謝謝！
2020-05-05 08:42:01
你好我正在嘗試在SP605評估板上運(yùn)行BIST。我沒有改變緊湊型閃存內(nèi)容。我按照“Xilinx Spartan-6 FPGA SP605評估套件UG525入門指南”中的說明進(jìn)行了跳線設(shè)置。但是當(dāng)我按
2019-07-22 13:25:24
幾個月的研究，我們沒有設(shè)法取悅他，他告訴我們只是對故障覆蓋做一些測試。這是我們需要采用BIST設(shè)計(jì)并在VHDL（我們認(rèn)為）中實(shí)現(xiàn)并測試它的文檔。這是文件。歡迎任何想法或幫助/解決！BIST.doc 1848 KB
2020-04-23 09:55:03
大家好，我只是想運(yùn)行Digilent Xilinx Spartan-6（Atlys_Demo_BIST）附帶的初始測試程序。所以我連接電源和HDMI插頭（HDMI當(dāng)然）并啟動電路板，沒有任何反應(yīng)
2019-07-24 14:24:18
前面一期的公眾號文章“讓你徹底理解DFT”幫助大家理解了DFT所解決的問題。一句話來概括之就是：借助特定的輔助性設(shè)計(jì)，產(chǎn)生高效率的結(jié)構(gòu)性測試向量以檢測生產(chǎn)制造過程中引入芯片中的各種物理缺陷。Scan
2016-06-14 14:20:20
設(shè)計(jì)，例如壓縮／解壓、無線模塊、網(wǎng)絡(luò)模塊等。而一塊SoC芯片的功能可能是多個獨(dú)立模塊的總和。另外，芯片的制造需要經(jīng)歷化學(xué)、冶金、光學(xué)等工藝過程，在這些過程中可能引入物理缺陷導(dǎo)致其不能正常工作。因此對芯片的測試
2019-09-20 07:09:28
怎么實(shí)現(xiàn)基于LFSR優(yōu)化的BIST低功耗設(shè)計(jì)？
2021-05-13 06:21:01
引言大多數(shù)IC設(shè)計(jì)工程師都了解數(shù)字BIST的工作原理。它用一個LFSR（線性反饋移位寄存器）生成偽隨機(jī)的位模式，并通過臨時配置成串行移位寄存器的觸發(fā)器，將這個位模式加到待測電路上。數(shù)字BIST亦用
2019-07-19 06:18:30
你好，我無法在我的Ubuntu 14.04 [.2] 64位桌面上運(yùn)行BIST程序（如xtp242中所指定）。以下是我所做的一些事情： - 從Xilinx購買了Xilinx Zynq-7000
2019-10-08 10:58:00
通過FPGA進(jìn)行并口的時序控制，寄存器已經(jīng)成功讀寫，官方文檔上BIST相關(guān)寄存器 BIST Control設(shè)置使能，并將計(jì)時器賦值，輸入和通道寄存器也設(shè)置，直接讀取BIST I/Q Path
2018-08-18 07:04:30
請教一下各位，剛剛開始搞ad9361，ad9361 bist測試rx port只需要配置0x3f4寄存器就可以嗎？還需要配置其他寄存器嗎？如何配置?0x3f4配置為0x5b,如何測試rx port是否正常？現(xiàn)在通過示波器抓rx port data上沒有任何波形。
2018-08-16 06:58:45
您好，我正在使用 S32K344 評估 S32K BIST 功能。調(diào)用Bist_Run(BIST_SAFETYBOOT_CFG)時遇到hard fault，如圖。它發(fā)生
2023-04-20 06:44:58
The SCAN921260 integrates six deserializer devices into asingle chip. The SCAN921260 can
2009-10-13 10:01:52
24 The SCAN921821 is a dual channel 18-bit serializer featuringsignal conditioning, boundary SCAN
2009-10-13 10:03:3010 The SCAN926260 integrates six 10-bit deserializer devicesinto a single chip. The SCAN926260 can
2009-10-13 10:05:048 The SCAN928028 integrates eight serializer devices into asingle chip. The SCAN928028 can
2009-10-13 10:07:1019 The SCAN25100 is a 2457.6, 1228.8, and 614.4 Mbps serializer/deseralizer (SerDes) for high-speed
2009-10-14 08:40:0717 The SCAN12100 is a 1228.8 and 614.4 Mbps serializer/deseralizer(SerDes) for high-speed
2009-10-14 08:44:3717 摘要：針對某SOC中嵌入的8KSRAM模塊，討論了基于MarchC-算法的BIST電路的設(shè)計(jì)。根據(jù)SRAM的故障模型和測試算法的故障覆蓋率，研究了測試算法的選擇、數(shù)據(jù)背景的產(chǎn)生，并完成了基于Ma
2010-04-26 15:18:3029 介紹了用于IP核測試的內(nèi)建自測試方法(BIST)和面向測試的IP核設(shè)計(jì)方法，指出基于IP核的系統(tǒng)芯片(SOC) 的測試、驗(yàn)證以及相關(guān)性測試具有較大難度，傳統(tǒng)的測試和驗(yàn)證方法均難以滿足
2010-12-13 17:09:1110 在BIST（內(nèi)建自測試）過程中，線性反饋移位寄存器作為測試矢量生成器，為保障故障覆蓋率，會產(chǎn)生很長的測試矢量，從而消耗了大量功耗。在分析BIST結(jié)構(gòu)和功耗模型的基礎(chǔ)上，針
2010-12-23 15:35:110 黑盒測試與白盒測試區(qū)別
黑盒測試 黑盒測試也稱功能測試或數(shù)據(jù)驅(qū)動測試，它是在已知產(chǎn)品所應(yīng)具有的功能，通
2008-10-22 12:40:028981 基于BIST的編譯碼器IP核測
隨著半導(dǎo)體工藝的發(fā)展，片上系統(tǒng)SOC已成為當(dāng)今一種主流技術(shù)。基于IP復(fù)用的SOC設(shè)計(jì)是通過用戶自定義邏輯(UDL)和連線將IP核整合
2008-12-27 09:25:39794 
低功耗的BIST偽隨
2011-01-10 10:47:0634 通常我們在設(shè)計(jì)芯片的同時，可以根據(jù)芯片本身的特征，額外地把可測性電路設(shè)計(jì)(Design For Testability)在芯片里。談到可測性的電路設(shè)計(jì)，內(nèi)建自測試(BIST)和基于掃描Scan—Based)的電路設(shè)計(jì)
2011-06-10 10:13:452119 
數(shù)字BIST的工作原理：用一個LFSR(線性反饋移位寄存器)生成偽隨機(jī)的位模式，并通過臨時配置成串行移位寄存器的觸發(fā)器，將這個位模式加到待測電路上。
2011-11-23 15:24:272428 
衡量電機(jī)發(fā)熱程度是用“溫升”而不是用“溫度”。電機(jī)測試中涉及到溫度的測試主要時溫升測試及環(huán)境溫度測試，兩者是既有區(qū)別又有聯(lián)系的關(guān)系。
2016-06-03 09:23:353768 
基于功能復(fù)用的抗老化BIST設(shè)計(jì)_梁華國
2017-01-07 16:00:430 低成本BIST映射電路的設(shè)計(jì)與優(yōu)化_張玲
2017-01-07 21:39:442
3 使用Testcompress 實(shí)現(xiàn)EDT壓縮scan chain
4 使用Testcompress 產(chǎn)生測試DC/ACpattern，同時產(chǎn)生測試驗(yàn)證的Testbench
2017-10-26 16:01:3634653 
隨著FPGA在現(xiàn)代電子系統(tǒng)中應(yīng)用的不斷增多．FPGA的測試技術(shù)也得到非常快的發(fā)展。其中，內(nèi)建白測試（BIST）的方法已經(jīng)成為一種主流的解決方案。BIST方法一般來說可以分為兩大類，一類是離線BIST
2017-11-08 14:21:461 本文開始介紹了什么是耐壓測試和介紹進(jìn)行耐壓測試的原因以及直流與交流耐壓測試的比較，其次介紹了絕緣測試的特性，最后介紹了絕緣和耐壓的區(qū)別以及區(qū)分了耐壓測試與絕緣測試的區(qū)別。
2018-04-03 09:30:10103243 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供TI(ti)SCAN921821相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊，更有SCAN921821的引腳圖、接線圖、封裝手冊、中文資料、英文資料，SCAN921821真值表，SCAN921821管腳等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2018-10-16 11:16:58
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2018-10-16 11:16:58
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2018-10-16 11:16:58
內(nèi)置自測（BIST），曾經(jīng)保留用于復(fù)雜的數(shù)字芯片，現(xiàn)在可以在許多具有相對少量數(shù)字內(nèi)容的設(shè)備中找到。
2019-04-12 14:14:282466 
到巨大的數(shù)字系統(tǒng)級芯片設(shè)計(jì)中。雖然片上內(nèi)置自測（BIST）與環(huán)回操作相結(jié)合是昂貴的自動測試設(shè)備（ATE）的廣泛采用的替代方案，但其高速模擬部分的故障覆蓋率較差，嚴(yán)重影響整體產(chǎn)品現(xiàn)在，一種稱為無矢量測試的方法正在出現(xiàn)，它提供了兩種方法中的最佳方法：片上I/O BIST的成本效益與基于ATE的信號完
2023-11-10 16:57:23270 邊界掃描測試（Boundary scan）是為了解決印制電路板（PCB）上芯片與芯片之間的互連測試而提出的一種解決方案。它與內(nèi)部掃描有明顯的區(qū)別，前者是在電路的輸入/輸出端口增加掃描單元，并將這些
2020-04-13 17:31:1610213 
α測試和β測試的區(qū)別
2020-06-29 11:22:4925177 靜態(tài)測試，動態(tài)測試的區(qū)別：程序是否運(yùn)行。
2020-08-19 17:13:588475 文主要探討了用全掃描結(jié)構(gòu)（FULL SCAN METHOD）來實(shí)現(xiàn)數(shù)字電路可測性設(shè)計(jì)（DESIGN FOR TEST）的原理與方法。其中涉及到掃描結(jié)構(gòu)（SCAN）的算法依據(jù)、電路的基本結(jié)構(gòu)、測試矢量
2021-03-26 14:48:1822 arp-scan.zip
2022-05-05 09:51:255 LBIST (Logic build-in-self test), 邏輯內(nèi)建自測試。和MBIST同理，在關(guān)鍵邏輯上加上自測試電路，看看邏輯cell有沒有工作正常。BIST總歸會在芯片里加入自測試邏輯，都是成本。
2022-08-29 15:33:302169 的BIST簽名檢查敏感，后者可以檢測單個比特錯誤。同樣的數(shù)字接口檢查可以在生產(chǎn)測試車間執(zhí)行，也可以在現(xiàn)場的系統(tǒng)級自檢中執(zhí)行。
2023-02-01 15:36:14997 接著上文，MCU
芯片設(shè)計(jì)了mbist、
scan chain之后，功能仿真失?。?/div>
2023-02-20 09:35:15955 [摘要] T-Scan系統(tǒng)能精確記錄咬合接觸的時間、 力量、 面積和動態(tài)分析咬合接觸情況， 自問世以來通過產(chǎn)品的
不斷更新與發(fā)展， 使其更好地運(yùn)用于口腔臨床和科研工作中。 本文就 T-Scan 系統(tǒng)的特點(diǎn)和臨床應(yīng)用作一綜述。
[關(guān)鍵詞] T-Scan 系統(tǒng)； 咬合接觸； 咬合分析； 臨床應(yīng)用
2022-04-01 15:59:511925 
AI芯片和SoC芯片都是常見的芯片類型，但它們之間有些區(qū)別。本文將介紹AI芯片和SoC芯片的區(qū)別。
2023-08-07 17:38:192103 模擬到數(shù)字的信號不可控，需要和數(shù)字registered outputs mux一下提高test coverage。關(guān)鍵詞是registered output！ 這個技巧俗稱scan loopback。
2023-12-08 11:24:40533 
FPGA芯片和普通芯片在多個方面存在顯著的區(qū)別。
2024-03-14 17:27:34223 已全部加載完成
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