汽車中蓬勃發(fā)展的電子內(nèi)容已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了許多創(chuàng)新,以幫助提高汽車的安全性和舒適性,同時(shí)優(yōu)化汽車的總體成本。這使得芯片的設(shè)計(jì)具有高集成度和增加的嵌入式存儲(chǔ)器內(nèi)容,允許在單個(gè)器件中實(shí)現(xiàn)多種功能。然而,汽車電子的快速增長(zhǎng)在制造,維護(hù)方面帶來(lái)了多重挑戰(zhàn)。 ,以及對(duì)此類系統(tǒng)的支持。由于惡劣的環(huán)境和物理空間限制,汽車電子元件應(yīng)設(shè)計(jì)為具有極高的可靠性,并且易于支持和維護(hù)。另一個(gè)挑戰(zhàn)是通過(guò)顯著提高制造產(chǎn)量來(lái)實(shí)現(xiàn)這些大批量產(chǎn)品的較低規(guī)模經(jīng)濟(jì),而制造產(chǎn)量主要由芯片內(nèi)的嵌入式存儲(chǔ)器控制。
據(jù)SAE(汽車工程師協(xié)會(huì))報(bào)道,汽車中的電子內(nèi)容正在增長(zhǎng),到2010年接近40%的汽車成本將在電子產(chǎn)品中。典型的汽車電子設(shè)備包括多個(gè)電子控制單元(ECU),以解決從發(fā)動(dòng)機(jī)管理,排放和安全控制到駕駛員信息系統(tǒng)(例如儀表板儀表和導(dǎo)航控制)的各種功能。電子設(shè)備的安全性和可靠性至關(guān)重要,因?yàn)樗鼈冊(cè)趷毫拥沫h(huán)境條件下運(yùn)行 - 40至300℃。這種性能需要強(qiáng)大的設(shè)計(jì)和制造流程,以確保在極端條件下運(yùn)行。
汽車行業(yè)在電子子系統(tǒng)的設(shè)計(jì),制造和服務(wù)方面面臨著多重挑戰(zhàn)。設(shè)計(jì)和制造工程團(tuán)隊(duì)在保持最高質(zhì)量的產(chǎn)品的同時(shí),面臨著最小化設(shè)計(jì)和制造測(cè)試成本的相互矛盾的要求。對(duì)幾個(gè)電子模塊的有限訪問(wèn)給維修技術(shù)人員帶來(lái)了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)并增加了維護(hù)成本。
BIST 在過(guò)去十年中,芯片設(shè)計(jì)人員已開(kāi)始采用結(jié)構(gòu)化測(cè)試方法來(lái)解決其中的一些挑戰(zhàn)。內(nèi)置自測(cè)試(BIST)是許多大型設(shè)計(jì)中部署的關(guān)鍵測(cè)試方法之一,用于測(cè)試芯片內(nèi)的邏輯和嵌入式存儲(chǔ)器。它涉及在設(shè)計(jì)中嵌入BIST邏輯,以自動(dòng)生成測(cè)試并驗(yàn)證設(shè)計(jì)是否存在制造缺陷,從而避免完全外部測(cè)試生成。
在汽車電子生命周期的每個(gè)階段進(jìn)行經(jīng)濟(jì)性測(cè)試至關(guān)重要BIST,在制造過(guò)程中可以大大降低測(cè)試成本。 BIST在最小化維護(hù)開(kāi)銷方面也有助于該領(lǐng)域。例如,ECU可以被編程為定期運(yùn)行自檢(由嵌入式BIST供電),可以在控制面板上進(jìn)行監(jiān)控。這避免了訪問(wèn)每個(gè)ECU的需要,其中一些ECU可能位于難以到達(dá)的汽車區(qū)域。
隨著汽車電子技術(shù)的復(fù)雜化,增加了越來(lái)越多的智能,為儀表板帶來(lái)了更多信息。這意味著增加電子產(chǎn)品中的嵌入式存儲(chǔ)器內(nèi)容由于嵌入式存儲(chǔ)器會(huì)極大地影響芯片的整體良率,因此必須采用強(qiáng)大的測(cè)試和修復(fù)方法,以便以最佳的產(chǎn)量生產(chǎn)出高質(zhì)量的芯片。
備件
備件b》在存儲(chǔ)器中獲得產(chǎn)量提高的一種方法是在制造維修期間使用冗余或備用元件。從歷史上看,嵌入式存儲(chǔ)器已經(jīng)可以自我測(cè)試但不可修復(fù)。對(duì)于給定的存儲(chǔ)器,可以使用足夠的量和適當(dāng)類型的冗余元件來(lái)修復(fù)嵌入式存儲(chǔ)器。但是,確定適合給定內(nèi)存的內(nèi)容需要內(nèi)存設(shè)計(jì)知識(shí)和所考慮的過(guò)程節(jié)點(diǎn)的故障歷史信息。
僅此一項(xiàng)是一項(xiàng)挑戰(zhàn),但提供正確的冗余元素并不完全解決這個(gè)問(wèn)題。了解如何檢測(cè)和定位內(nèi)存缺陷并分配冗余元素需要制造缺陷分布知識(shí)。借助嵌入式邏輯,我們可以通過(guò)冗余測(cè)試和修復(fù)存儲(chǔ)器,從而提高制造良率。
-
芯片
+關(guān)注
關(guān)注
452文章
50027瀏覽量
419842 -
嵌入式
+關(guān)注
關(guān)注
5054文章
18917瀏覽量
300996 -
BIST
+關(guān)注
關(guān)注
1文章
15瀏覽量
13070
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
評(píng)論