測試和檢查包括董事會資格認證的多個方面。電氣測試和EMC測試對于評估功能以及符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和FCC規(guī)則至關(guān)重要。人造板還需要通過環(huán)境測試,以確保產(chǎn)品安全,耐用且合規(guī)。沒有人愿意生產(chǎn)一批板子,只是發(fā)現(xiàn)它們已腐蝕或不符合RoHS要求。
在下一批成品PCB到達辦公室或倉庫之前,您需要確保其符合重要的行業(yè)安全標(biāo)準(zhǔn)并且功能齊全。經(jīng)驗豐富的CM使用適當(dāng)?shù)脑O(shè)備可以執(zhí)行這些測試,以及在制造過程中進行更多測試。
電子產(chǎn)品的環(huán)境測試有哪些內(nèi)容?
環(huán)境測試不僅限于高溫和高濕度測試。一系列環(huán)境測試可以包括沖擊,振動和機械測試。這些測試應(yīng)根據(jù)IEC 60068環(huán)境測試標(biāo)準(zhǔn)進行。這些測試旨在確保新產(chǎn)品在極端溫度和濕度下以及在操作環(huán)境中存儲或運輸時都可以生存。
高度加速的測試
加速測試包括高度加速壽命測試(HALT)和高度加速應(yīng)力篩選(HASS)。這些測試評估設(shè)備在受控環(huán)境中的可靠性,包括高溫,高濕以及設(shè)備通電時的振動/沖擊測試。目的是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的情況。在測試過程中,將在模擬環(huán)境中監(jiān)視產(chǎn)品。電子設(shè)備的環(huán)境測試通常包括在一個小的環(huán)境室內(nèi)進行測試。
產(chǎn)品工程師有時不愿接受HALT / HASS結(jié)果,因為施加在系統(tǒng)上的壓力可能過高。換句話說,它們可能會超出產(chǎn)品預(yù)期環(huán)境中的那些值。這導(dǎo)致許多工程師拒絕修復(fù)在HALT / HASS測試中發(fā)現(xiàn)的已知問題,而只是因為這些相同的問題導(dǎo)致以后的產(chǎn)品故障。經(jīng)驗豐富的CM通常可以確定簡單的設(shè)計和組裝更改,從而可以大大延長新產(chǎn)品的使用壽命。
濕度和腐蝕
許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中,因此對PCB可靠性的常見測試是吸水測試。在這種類型的測試中,將PCB放在濕度受控的環(huán)境室內(nèi)之前和之后進行稱重。任何吸收到板上的水都會增加板的重量,并且任何重大的重量變化都將導(dǎo)致失格。
在運行期間進行這些測試時,裸露的導(dǎo)體不應(yīng)在潮濕的環(huán)境中腐蝕。當(dāng)銅帶到一定電位時,它很容易氧化,這就是為什么裸露的銅通常鍍有抗氧化合金的原因。一些示例包括ENIG,ENIPIG,HASL,鎳金和鎳。
熱沖擊和循環(huán)
熱測試通常與濕度測試分開進行。這些測試涉及反復(fù)更改電路板溫度并檢查熱膨脹/收縮如何影響可靠性。在熱沖擊測試中,使用2腔系統(tǒng)將電路板在兩個極端溫度之間快速移動。寒冷溫度通常低于冰點,而高溫通常高于基材的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(約130°C以上)。使用單個腔室進行熱循環(huán),溫度以每分鐘10°C的溫度從一個極端變化到另一個極端。
在這兩種測試中,電路板都會隨著溫度變化而膨脹或收縮。在膨脹過程中,高應(yīng)力將施加在導(dǎo)體和焊點上,這會加速產(chǎn)品的使用壽命并允許識別機械故障點。
老化測試
老化測試需要長時間對組件施加極端的電壓和溫度。這旨在檢測早期的組件故障,從而提高通過測試的組件構(gòu)建的任何設(shè)計的可靠性。這需要繪制隨時間變化的組件故障率,從而形成浴缸形曲線。老化是使用預(yù)期的極端運行條件來檢測早期組件故障的公認慣例。該測試方案通常持續(xù)48到168小時。
振動測試
振動測試設(shè)置可能會非常昂貴,并且只有在您尋求低頻/振幅振動測試時,成本才會增加。汽車,航空航天或工業(yè)設(shè)備的大批量生產(chǎn)可受益于振動測試。鑒于此設(shè)備的高昂成本,并非所有CM都具有這種功能。但是,經(jīng)驗豐富的小批量CM可以為可能愿意執(zhí)行這些測試的較大制造商提供推薦。最初對測試的投入可能是巨大的,但是他們提供的見識可以使產(chǎn)品的壽命延長10倍。
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