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基于計算機(jī)技術(shù)實現(xiàn)熱阻測試系統(tǒng)的設(shè)計

電子設(shè)計 ? 來源:微計算機(jī)信息 ? 作者:何紹木,何紀(jì)法,周 ? 2020-12-08 10:40 ? 次閱讀

1.引言

熱阻可以反映芯片、焊接層和管殼的燒結(jié)或粘結(jié)等質(zhì)量問題,熱阻特性對晶體管的可靠性有著至關(guān)重要的影響。利用晶體管ΔVbe參數(shù)與熱阻在一定條件下滿足某種數(shù)學(xué)關(guān)系式,通過測量晶體管ΔVbe參數(shù)間接地測試熱阻參數(shù),具有測量效率高、成本低、對器件無損傷等優(yōu)點,但是晶體管熱特性具有復(fù)雜、敏感及不穩(wěn)定的特點。要達(dá)到實用需要的測量精度有較大的難度,目前,國外已研制出原理性的熱阻測試系統(tǒng)。國內(nèi)市場迫切需要性價比較高的晶體管測試篩選設(shè)備。

本系統(tǒng)能對功率雙極型晶體管 (NPN 和 PNP 型) 測量瞬態(tài)熱阻和穩(wěn)態(tài)熱阻,還能測試二極管和發(fā)光管熱阻。通過加載測試條件到測試系統(tǒng),根據(jù)晶體管的熱阻特性反映的溫度變化,在計算機(jī)屏幕上顯示測量數(shù)據(jù),并根據(jù)測試結(jié)果進(jìn)行快速篩選。系統(tǒng)具有接觸檢測和震蕩探測功能,以防止接觸不良和震蕩造成的溫度測量錯誤,系統(tǒng)還具有防雪崩的自我保護(hù)電路,可用作測量安全工作區(qū)SOA (safe operating area),以提高了測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性。

2.熱阻測試技術(shù)

晶體管的熱阻一般由芯片熱阻、芯片管座接觸熱阻和管殼熱阻組成。生產(chǎn)中與芯片燒結(jié)有關(guān)的芯片管座接觸熱阻最難以控制,燒結(jié)不好,會使管座芯片熱阻大大增加,使用中會由于結(jié)溫過高而導(dǎo)致器件失效。

晶體管在脈沖工作狀態(tài)下的熱阻為結(jié)溫升值與耗散脈沖功率幅值之比。對功率晶體管通常以殼溫作為溫度參考點,其表達(dá)式為:θjc=(Tj-Tc)/P,其中Tj為芯片結(jié)溫,Tc為殼溫,P為脈沖功率。熱阻測量歸結(jié)為對脈沖功耗P、Tc殼溫及結(jié)溫Tj的測量,顯然晶體管的結(jié)溫Tj無法進(jìn)行直接測量。為此,利用發(fā)射結(jié)的正向壓降Vbe與結(jié)溫Tj在一定的范圍內(nèi)有很好的線性關(guān)系:ΔVbe =M·ΔTj,其中M為溫敏參數(shù),這一關(guān)系被用作測量晶體管器件熱阻的物理基礎(chǔ),而測量ΔVbe需要設(shè)定以下幾個主要參數(shù),它們分別是Vcb(C,B極間電壓);Ie(加載電流);Im (感應(yīng)電流);Pt(功率時間);Dt(延遲時間);upper limit(上限);lower limit(下限)。由于各個生產(chǎn)廠家在工藝上的一些差別,有時雖為同一型號的管子,但屬于不同廠家的產(chǎn)品,施加的脈沖功率、測試時間及選擇的溫敏參數(shù)都有所不同。

3.測試系統(tǒng)構(gòu)架

熱阻測試系統(tǒng)的基本構(gòu)架是計算機(jī)通過軟件控制精密模擬數(shù)字電路,實現(xiàn)對被測器件的條件施加→結(jié)果采樣→篩選→計算→比較→判別等一系列程序控制,完成對被測器件電參數(shù)的自動測試,每次測試的全過程小于0.2秒。系統(tǒng)主要有模擬多路板、數(shù)字多路板、ADC板、Im 板、Ie板和Vcb板組成,如圖1所示。

基于計算機(jī)技術(shù)實現(xiàn)熱阻測試系統(tǒng)的設(shè)計

4.Δvbe測試流程圖

ΔVbe是晶體管的一個重要參數(shù),它與晶體管的熱阻有一個定量的線性關(guān)系,它反映了晶體管的功耗能力,對晶體管的封裝工藝及失效分析有著重要的指導(dǎo)意義,對ΔVbe測試流程如下圖2所示。

5.軟件功能實現(xiàn)模塊

系統(tǒng)軟件設(shè)計則是使用visual C++語言和匯編語言二者相結(jié)合完成的,軟件功能實現(xiàn)模塊有:

1、戶管理模塊,程序運(yùn)行時需要確定用戶的身份,用戶類型有操作員、維護(hù)員、工程師、系統(tǒng)管理員。操作員權(quán)限是運(yùn)行測試程序;維護(hù)員權(quán)限是測試儀器的自檢和校準(zhǔn);工程師權(quán)限是編輯測試程序;系統(tǒng)管理員具有全部權(quán)限。

2、編輯模塊,用于器件選擇、分類設(shè)置、調(diào)試、建立測試程序,初始測試程序的界面如圖3所示:

3、運(yùn)行模塊,根據(jù)用戶的參數(shù)設(shè)置,對器件進(jìn)行測試,并將測試結(jié)果和數(shù)據(jù)顯示在計算機(jī)屏幕上。

4、其它模塊,有系統(tǒng)工具、篩選模塊、打印模塊等。系統(tǒng)工具,具有自檢校準(zhǔn)儀器,用于對熱阻測試系統(tǒng)的自檢、校準(zhǔn)、磁場測試;篩選模塊,可根據(jù)用戶設(shè)置的篩選條件,對器件進(jìn)行不同測試,將測試結(jié)果發(fā)送到篩選機(jī);打印模塊,可根據(jù)預(yù)先設(shè)置,將測試結(jié)果和數(shù)據(jù)以相應(yīng)格式打印,供分析和存檔。

責(zé)任編輯:gt

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