通過分析失效器件來推斷失效環(huán)境

一前言

在浪涌和靜電的過壓防護(hù)中，使用TVS管已經(jīng)是一個非常普遍的解決方式，有時候在前期測試沒有什么問題，但是在實(shí)際使用中會因?yàn)閭€別TVS管失效導(dǎo)致產(chǎn)品異常的情況。這個問題如果只是去模擬失效環(huán)境來驗(yàn)證，問題復(fù)現(xiàn)概率極低，此時我們可以通過分析失效器件來推斷失效環(huán)境。

二案例

產(chǎn)品使用一段時間出現(xiàn)異常，經(jīng)過排查確認(rèn)為充電口TVS管防護(hù)失效短路，將失效品在X-RAY下可看到晶圓已經(jīng)擊穿失效。

內(nèi)部晶圓有明顯擊穿

這種情況已經(jīng)基本知道因?yàn)殡娦阅軗舸┚A導(dǎo)致產(chǎn)品失效，但是還不清楚擊穿點(diǎn)貫穿大?。ㄟ@對推斷失效環(huán)境很重要），將異常品去掉塑封觀察晶圓。

晶圓邊緣有擊穿點(diǎn)

通過去除塑封體可以清楚看到晶圓正反兩面擊穿破碎點(diǎn)在邊緣，且貫穿點(diǎn)較小，這種現(xiàn)象一般是超出器件本身承受能力但是并沒有過大，因此擊穿點(diǎn)在邊緣薄弱處。此TVS標(biāo)稱功率為400W，隨機(jī)取19PCS驗(yàn)證器件承受能力。

器件浪涌功率測試

器件標(biāo)稱功率為400W，通過單獨(dú)器件測試可以得出：

（1）器件均能達(dá)到標(biāo)稱的400W，有余量。

（2）器件的余量不是固定的，會有差異。

由此分析認(rèn)為，客戶產(chǎn)品失效在使用一段時間后出現(xiàn)，超出器件所承受的能量處于破壞的臨界值，但是器件本身因?yàn)榱粲杏嗔浚У漠a(chǎn)品推斷為余量較低的產(chǎn)品，改善對策可以把器件余量加大，將器件更換為600W的TVS管。

三總結(jié)

產(chǎn)品因?yàn)門VS失效異常很多時候沒法準(zhǔn)確模擬出失效環(huán)境，但是基于現(xiàn)有的失效產(chǎn)品來分析可以通過器件本身的信息來推斷失效的大致原因，這對于需要快速確定問題避免更多的損失非常有幫助。

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原文標(biāo)題：基于TVS管分析產(chǎn)品失效環(huán)境

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審核編輯：湯梓紅