一文詳細了解TH2851系列阻抗分析儀

TH2851系列阻抗分析儀是常州同惠電子采用當前先進的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，為國產(chǎn)阻抗測試儀器的最新高度。

TH2851系列阻抗分析儀徹底顛覆了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統(tǒng)，實現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測試更智能、更簡便。

TH2851系列阻抗分析儀也徹底超越了國外同類儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷；中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單。

快達2.5ms的測試速度、及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

A. 高精度

自動平衡電橋技術的應用，得以在10Hz-130MHz頻率、1mΩ-100M的阻抗范圍內(nèi)都能達到理想的測量精度，其中最高精度達0.08%，遠遠高于射頻反射測量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡分析儀的精度。

B. 高穩(wěn)定性和高一致性

下圖是在速度5、測試頻率1MHz，測量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

C. 高速度

D. 10.1寸大屏，四種測量參數(shù)，讓細節(jié)一覽無遺

10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標、LAN、VGA/HDMI接口，帶來的是無以倫比的操作便捷性。

大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來絕不擁擠和雜亂，同時可以顯示四種測量參數(shù)，四種測量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數(shù)

E. 增強的列表掃描功能

可以最多設置1601點的列表掃描，每個點可以單獨設置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

F. 強大的分析圖形界面

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最多通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

G.分段掃描功能

最多可以4通道同時顯示，每個通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個掃描周期內(nèi)，設置不同的頻率分段進行掃描，掃描時可設置不同的電平及偏置，掃描結果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個頻率段參數(shù)的掃描需求。

如晶體諧振器需要測試標稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描共呢個可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測量，無需掃描不相關頻率。

H.強大的光標分析能力

TH2851系列精密阻抗分析儀具有強大的光標分析能力，可以通過光標實現(xiàn)如下功能：

1. 讀取測量結果的數(shù)值（作為絕對數(shù)值或者相對于參考點的相對值）

2. 查找曲線上的特定點（光標查找）

3. 分析曲線測量結果，計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)

4. 使用光標值修改掃描范圍以及縱坐標縮放

TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個光標，包括了參考光標。

每個光標有一個激勵值（坐標系 X 軸對應的數(shù)值）和響應值（坐標系 Y 軸對應的數(shù)值）。

光標查找功能允許搜索下列條件測量點：最大值、最小值

峰谷值： 峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標左側最近的峰谷值、光標右側最近的峰谷值、多重峰谷值

目標值： 距離光標最近的目標值、光標左側最近的目標值、光標右側最近的目標值、多重目標值

G.強大的圖形分析功能

1） 曲線分選功能

可以對掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測試值進行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。

2）等效電路分析測試

現(xiàn)實生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。

可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實際測量的阻抗曲線進行對比，還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

3） 晶體振蕩器分析

對壓電陶瓷等晶體進行測量以及性能分析，測量計算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質因數(shù)等重要參數(shù)。

4） 曲線軌跡對比

曲線軌跡對比用于對被測件進行連續(xù)測量，所有曲線顯示在同一個坐標系中。由下列兩種應用：

a) 針對多種不同被測件

對比不同測量條件下的曲線軌跡

設置不同的頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值

b) 針對同一個被測件

對比同一個條件下測量的多次測量結果重復性

設置不同頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值。

F.標配附件

F.選配附件

審核編輯：湯梓紅