0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

MOSFET的低開關(guān)損耗在集成電路中應(yīng)用

MDD辰達(dá)半導(dǎo)體 ? 來(lái)源:MDD辰達(dá)半導(dǎo)體 ? 作者:MDD辰達(dá)半導(dǎo)體 ? 2022-11-28 15:53 ? 次閱讀

MOSFET特征

在功率半導(dǎo)體器件中,MOSFET以高速、低開關(guān)損耗、低驅(qū)動(dòng)損耗在各種功率變換,特別是高頻功率變換中起著重要作用。在低壓領(lǐng)域,MOSFET沒有競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手,但隨著MOSFET的耐壓提高,導(dǎo)通電阻隨之成倍增長(zhǎng),MOSFET耐壓和導(dǎo)通電阻的正比增長(zhǎng),制造者和應(yīng)用者不得不以成倍的成本來(lái)解決MOSFET電壓與電流間的矛盾。即便如此,平面高壓MOSFET在額定結(jié)溫下的導(dǎo)通電阻仍居高不下,耐壓500V以上的MOSFET 的額定結(jié)溫、額定電流條件下的導(dǎo)通電阻很高,耐壓800V以上的導(dǎo)通電阻更是高得驚人,導(dǎo)通損耗占MOSFET總損耗的2/3-4/5,使應(yīng)用受到極大限制。

MOSFET的低開關(guān)損耗在集成電路中應(yīng)用

MOSFET有兩大類型:N溝道和P溝道。在功率系統(tǒng)中,MOSFET可被看成電氣開關(guān)。例如N溝道MOSFET的柵極和源極間加上正電壓時(shí),當(dāng)VGS電壓達(dá)到MOSFET的開啟電壓時(shí),MOSFET導(dǎo)通等同開關(guān)導(dǎo)通,有IDS通過,實(shí)現(xiàn)功率轉(zhuǎn)換。而MOSFET開關(guān)頻率則受柵源電壓頻率控制,從而實(shí)現(xiàn)頻率轉(zhuǎn)換。低開啟的MOSFET的開啟電壓,僅需要零點(diǎn)幾伏,開啟電流也僅幾毫安,導(dǎo)通損耗非常低,因此常用于大規(guī)模集成電路。

MOSFET頻率特征在開關(guān)電源中應(yīng)用

在開關(guān)電源結(jié)構(gòu)中,交流電經(jīng)防雷單元,防輻射濾波單元等電路后進(jìn)入橋堆整流,在整流輸出端得到約交流電壓的1.4倍的直流電壓,經(jīng)高頻變壓器初級(jí)繞組,到MOSFET漏級(jí),柵極則受驅(qū)動(dòng)芯片或可調(diào)頻的驅(qū)動(dòng)電路控制而高頻開關(guān)導(dǎo)通,產(chǎn)生高頻脈沖的漏源電流,從而在高頻變壓器的次級(jí)繞組中產(chǎn)生的感應(yīng)電流經(jīng)高頻整流后為負(fù)載供電,高頻變壓器次繞組中產(chǎn)生的電壓與繞組匝數(shù)相關(guān)。因此,改變開關(guān)電源電路中元器件規(guī)格和高頻變壓器的結(jié)構(gòu)和型號(hào),可為不同場(chǎng)合、不同功率的電路供電。

cba0cf46-6eca-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

高壓MOSFET系列

cbac6360-6eca-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

cbb8dd52-6eca-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

公司簡(jiǎn)介

MDD是國(guó)內(nèi)少數(shù)采用了“Fabless+封裝測(cè)試”模式的半導(dǎo)體品牌,15年的行業(yè)深耕,一直專注于半導(dǎo)體領(lǐng)域。在科技研發(fā)與創(chuàng)新的基礎(chǔ)上,積累了厚實(shí)的研發(fā)設(shè)計(jì)能力,同時(shí)還建立全流程的封裝測(cè)試產(chǎn)線(涵蓋封裝測(cè)試、成品測(cè)試等多項(xiàng))。為客戶提供MOSFET、SiC、功率二極管整流橋等高品質(zhì)的半導(dǎo)體分立器件產(chǎn)品

MDD致力滿足客戶高品質(zhì)需求,目前產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于汽車電子新能源、工控、電源、家電、照明、安防、網(wǎng)通、消費(fèi)電子等多個(gè)領(lǐng)域,并具有UL、RoHS和REACH等多項(xiàng)認(rèn)證,可為客戶提供可靠、優(yōu)質(zhì)和定制化的半導(dǎo)體解決方案商。

自成立以來(lái),MDD 先后在國(guó)內(nèi)外斬獲百余項(xiàng)的專利與榮譽(yù),業(yè)務(wù)覆蓋全球40多個(gè)國(guó)家,同時(shí)享有國(guó)內(nèi)外各電子領(lǐng)域企業(yè)的良好口碑。

審核編輯 :李倩

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 集成電路
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5371

    文章

    11250

    瀏覽量

    359770
  • MOSFET
    +關(guān)注

    關(guān)注

    142

    文章

    7002

    瀏覽量

    212253
  • 開關(guān)電源
    +關(guān)注

    關(guān)注

    6433

    文章

    8244

    瀏覽量

    479152
  • MDD
    MDD
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    45

    瀏覽量

    381

原文標(biāo)題:05

文章出處:【微信號(hào):MDD辰達(dá)行電子,微信公眾號(hào):MDD辰達(dá)半導(dǎo)體】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    半導(dǎo)體集成電路的應(yīng)用

    本文旨在剖析這個(gè)半導(dǎo)體領(lǐng)域的核心要素,從最基本的晶體結(jié)構(gòu)開始,逐步深入到半導(dǎo)體集成電路的應(yīng)用。
    的頭像 發(fā)表于 10-18 14:24 ?135次閱讀

    影響MOSFET開關(guān)損耗的因素

    MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)的開關(guān)損耗是電子工程中一個(gè)關(guān)鍵的性能參數(shù),它直接影響到電路的效率、熱設(shè)計(jì)和可靠性。
    的頭像 發(fā)表于 09-14 16:11 ?345次閱讀

    差分探頭測(cè)量開關(guān)損耗的應(yīng)用

    開關(guān)損耗是電力電子設(shè)備的一個(gè)重要性能指標(biāo),它直接影響到設(shè)備的效率和熱管理。差分探頭作為一種高精度的測(cè)量工具,開關(guān)損耗的測(cè)量中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。本文將介紹差分探頭的基本原理,探討其
    的頭像 發(fā)表于 08-09 09:47 ?212次閱讀
    差分探頭<b class='flag-5'>在</b>測(cè)量<b class='flag-5'>開關(guān)損耗</b><b class='flag-5'>中</b>的應(yīng)用

    深度學(xué)習(xí)算法集成電路測(cè)試的應(yīng)用

    隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,集成電路(IC)的復(fù)雜性和集成度不斷提高,對(duì)測(cè)試技術(shù)的要求也日益增加。深度學(xué)習(xí)算法作為一種強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和模式識(shí)別工具,集成電路測(cè)試領(lǐng)域展現(xiàn)出了巨大的應(yīng)用潛
    的頭像 發(fā)表于 07-15 09:48 ?583次閱讀

    如何使用示波器測(cè)量電源開關(guān)損耗

    電源開關(guān)損耗是電子電路中一個(gè)重要的性能指標(biāo),它反映了開關(guān)器件開關(guān)過程中產(chǎn)生的能量損失。準(zhǔn)確測(cè)量電源開關(guān)
    的頭像 發(fā)表于 05-27 16:03 ?826次閱讀

    具有跨導(dǎo)保護(hù)和開關(guān)損耗的3A 120V半橋驅(qū)動(dòng)器UCC27282數(shù)據(jù)表

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《具有跨導(dǎo)保護(hù)和開關(guān)損耗的3A 120V半橋驅(qū)動(dòng)器UCC27282數(shù)據(jù)表.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 03-26 10:09 ?0次下載
    具有跨導(dǎo)保護(hù)和<b class='flag-5'>低</b><b class='flag-5'>開關(guān)損耗</b>的3A 120V半橋驅(qū)動(dòng)器UCC27282數(shù)據(jù)表

    反激CCM模式的開通損耗和關(guān)斷損耗詳解

    開關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),開關(guān)損耗測(cè)試對(duì)于器件評(píng)估非常關(guān)鍵,但很多工程師對(duì)開關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上。電源工程師們都知道開關(guān)MOS
    的頭像 發(fā)表于 01-20 17:08 ?2965次閱讀
    反激CCM模式的開通<b class='flag-5'>損耗</b>和關(guān)斷<b class='flag-5'>損耗</b>詳解

    使用Cauer網(wǎng)絡(luò)仿真熱行為與對(duì)開關(guān)損耗影響的評(píng)估

    過去,仿真的基礎(chǔ)是行為和具有基本結(jié)構(gòu)的模型,它們主要適用于簡(jiǎn)單集成電路技術(shù)中使用的器件。但是,當(dāng)涉及到功率器件時(shí),這些簡(jiǎn)單的模型通常無(wú)法預(yù)測(cè)與為優(yōu)化器件所做的改變相關(guān)的現(xiàn)象?,F(xiàn)在,通過引入物理和可
    的頭像 發(fā)表于 12-29 16:02 ?1490次閱讀
    使用Cauer網(wǎng)絡(luò)仿真熱行為與對(duì)<b class='flag-5'>開關(guān)損耗</b>影響的評(píng)估

    新型溝槽SiC基MOSFET器件研究

    SiC具有高效節(jié)能、穩(wěn)定性好、工作頻率高、能量密度高等優(yōu)勢(shì),SiC溝槽MOSFET(UMOSFET)具有高溫工作能力、開關(guān)損耗導(dǎo)通損耗
    的頭像 發(fā)表于 12-27 09:34 ?1079次閱讀
    新型溝槽SiC基<b class='flag-5'>MOSFET</b>器件研究

    SIC MOSFET電路的作用是什么?

    MOSFET的基本結(jié)構(gòu)。SIC MOSFET是一種由碳化硅材料制成的傳導(dǎo)類型晶體管。與傳統(tǒng)的硅MOSFET相比,SIC MOSFET具有更高的遷移率和擊穿電壓,以及更低的導(dǎo)通電阻和
    的頭像 發(fā)表于 12-21 11:27 ?1357次閱讀

    碳化硅MOSFET在數(shù)據(jù)中心能源管理的應(yīng)用

    數(shù)據(jù)中心通常依靠高頻功率轉(zhuǎn)換來(lái)有效地分配和管理電力,而SiC MOSFET具有開關(guān)損耗和快速開關(guān)速度,可實(shí)現(xiàn)高頻操作。
    的頭像 發(fā)表于 12-06 18:26 ?854次閱讀

    SiC MOSFET 和Si MOSFET寄生電容高頻電源損耗對(duì)比

    SiC MOSFET 和Si MOSFET寄生電容高頻電源損耗對(duì)比
    的頭像 發(fā)表于 12-05 14:31 ?661次閱讀
    SiC <b class='flag-5'>MOSFET</b> 和Si <b class='flag-5'>MOSFET</b>寄生電容<b class='flag-5'>在</b>高頻電源<b class='flag-5'>中</b>的<b class='flag-5'>損耗</b>對(duì)比

    使用SiC MOSFET時(shí)如何盡量降低電磁干擾和開關(guān)損耗

    使用SiC MOSFET時(shí)如何盡量降低電磁干擾和開關(guān)損耗
    的頭像 發(fā)表于 11-23 09:08 ?878次閱讀
    使用SiC <b class='flag-5'>MOSFET</b>時(shí)如何盡量降低電磁干擾和<b class='flag-5'>開關(guān)損耗</b>

    如何平衡MOSFET提高電源效率的優(yōu)化方案

    MOSFET 的選擇關(guān)乎效率,設(shè)計(jì)人員需要在其傳導(dǎo)損耗開關(guān)損耗之間進(jìn)行權(quán)衡。傳導(dǎo)損耗發(fā)生在在 MOSFET 關(guān)閉期間,由于電流流過導(dǎo)通電阻
    發(fā)表于 11-15 16:12 ?406次閱讀
    如何平衡<b class='flag-5'>MOSFET</b>提高電源效率的優(yōu)化方案

    同步buck電路的mos自舉驅(qū)動(dòng)可以降低mos的開關(guān)損耗嗎?

    ,廣泛應(yīng)用于電源供應(yīng)、機(jī)器人控制、電動(dòng)車控制等領(lǐng)域。同步Buck電路,MOS開關(guān)管起到了關(guān)鍵的作用,其開關(guān)速度和
    的頭像 發(fā)表于 10-25 11:45 ?930次閱讀