0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

將Safety_iec60730b移植到MIMXRT1060環(huán)境中

li1756686189 ? 來源:嵌入式 MCU ? 作者:嵌入式 MCU ? 2022-12-28 13:58 ? 次閱讀

IEC 60730安全標(biāo)準(zhǔn)定義了確保針對(duì)家用電器的嵌入式控制硬件和軟件安全運(yùn)行的測(cè)試和診斷方法。為了實(shí)現(xiàn)功能安全,有必要消除系統(tǒng)故障導(dǎo)致的所有危險(xiǎn)。

IEC 60730標(biāo)準(zhǔn)將適用設(shè)備分為三類:

A類:不用于設(shè)備安全;B類:防止受控設(shè)備的不安全操作;C類:防止特殊危險(xiǎn)

NXP提供IEC 60730安全B級(jí)庫,幫助家電市場(chǎng)的自動(dòng)控制制造商滿足IEC 60730 B級(jí)規(guī)范,測(cè)試通過VDE和UL認(rèn)證。

MCU自檢包括

CPU寄存器和程序計(jì)數(shù)器-檢查卡滯狀態(tài)

模擬I/O測(cè)試-檢查模擬參考(GND、VREF和帶隙)的轉(zhuǎn)換值

數(shù)字I/O測(cè)試-檢查數(shù)字I/O功能(開路、對(duì)GND、VCC和其他I/O短路)

TSI測(cè)試-檢查選定電極的轉(zhuǎn)換值

時(shí)鐘測(cè)試-檢查振蕩器頻率

WDOG測(cè)試-檢查WDOG超時(shí)/時(shí)鐘功能

固定內(nèi)存-檢查內(nèi)存CRC

可變存儲(chǔ)器-檢查片上RAM是否存在異常

CPU堆棧測(cè)試-檢查應(yīng)用程序堆棧溢出和下溢情況

將safety_iec60730b庫移植到RT1060 MDK項(xiàng)目。將MIMXRT1060 SDK里面包含safety_iec60730b 軟件中間件。

60526a76-8674-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

在MCUXpresso SDK中就可以找到例子safety_iec60730b example"SDK_2_10_1_EVK-MIMXRT1060oardsevkmimxrt1060demo_appssafety_iec60730b"

606b7700-8674-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

比較直接的鏈接如下(www.nxp.com/iec60730),里面有IEC60730B Safety library for CM7 version 4.1,在鏈接中找到 EVK-MIMXRT1060,直接點(diǎn)擊打開就可以進(jìn)入到SDK的下載界面,然后添加IEC60730B Safety Library就可以下載到參考例程代碼了。

IEC 60730 Safety Standard for Household Appliances | NXP Semiconductors

60982d22-8674-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

60a60eec-8674-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • mcu
    mcu
    +關(guān)注

    關(guān)注

    146

    文章

    16790

    瀏覽量

    349318
  • 嵌入式
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5052

    文章

    18908

    瀏覽量

    300699
  • 硬件
    +關(guān)注

    關(guān)注

    11

    文章

    3161

    瀏覽量

    66003
  • 移植
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    375

    瀏覽量

    28072

原文標(biāo)題:將Safety_iec60730b 移植到 MIMXRT1060環(huán)境中

文章出處:【微信號(hào):嵌入式 MCU,微信公眾號(hào):嵌入式 MCU】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    IEC60730的相關(guān)資料推薦

    現(xiàn)在很多的產(chǎn)品都需要過IEC60730的標(biāo)準(zhǔn),在產(chǎn)品設(shè)計(jì)的時(shí)候,工程師就應(yīng)該很好的考慮你的軟硬件要求。那么IEC60730到底是什么呢,我們先來原版資料看一下,一張圖就看...
    發(fā)表于 11-11 06:56

    MIMXRT1060-EVKB出現(xiàn)硬件故障怎么解決?

    MIMXRT1060-EVKB 出現(xiàn)硬故障
    發(fā)表于 04-21 07:08

    是否可以在S32K3上實(shí)施IEC 60730軟件B類?

    我們很樂意在下一代產(chǎn)品中使用 S32K3。我們的一些現(xiàn)有客戶要求產(chǎn)品符合 IEC 60730 軟件 B 類標(biāo)準(zhǔn)。 是否可以在 S32K3 上實(shí)施 IEC
    發(fā)表于 05-06 07:47

    IEC60730 Class B

    IEC60730-1 applies to automatic electrical controls in association with equipmentfor household
    發(fā)表于 09-12 10:38 ?12次下載

    IEC60730-2-2

    IEC60730-2-2 standard
    發(fā)表于 09-12 11:00 ?36次下載
    <b class='flag-5'>IEC60730</b>-2-2

    【實(shí)驗(yàn)111】DS18B20環(huán)境溫度監(jiān)控

    HL配套C實(shí)驗(yàn)例程DS18B20環(huán)境溫度監(jiān)控,配合開發(fā)板學(xué)習(xí)效果更好。
    發(fā)表于 04-11 17:14 ?18次下載

    IEC60730 CLASS B 代碼安全認(rèn)證 MCU自檢

    前言做一個(gè)項(xiàng)目,UL認(rèn)證時(shí),需要MCU做各種自檢來保證產(chǎn)品安全。關(guān)于IEC60730家用電器的制造商必須采取措施,以確保其產(chǎn)品的安全和可靠地運(yùn)行,以符合國際電氣公司的IEC60730標(biāo)準(zhǔn)
    發(fā)表于 10-25 15:21 ?37次下載
    <b class='flag-5'>IEC60730</b> CLASS <b class='flag-5'>B</b> 代碼安全認(rèn)證 MCU自檢

    Holtek MCU UL/IEC 60730認(rèn)證對(duì)策

    本文根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),考慮芯片實(shí)際情況,推薦利于用戶通過 IEC 60730 認(rèn)證的一些對(duì)策,同 時(shí)解釋 IEC 60730 對(duì)應(yīng)的條款、測(cè)試的內(nèi)容,幫助用戶更清晰地了解
    發(fā)表于 06-26 11:54 ?12次下載
    Holtek MCU UL/<b class='flag-5'>IEC</b> <b class='flag-5'>60730</b>認(rèn)證對(duì)策

    HT32 UL/IEC 60730-1 Class B安全測(cè)試庫使用指南

    本文描述了用于 IEC 60730-1 Class B 認(rèn)證的 Holtek HT32 STL 的功能、環(huán)境、系統(tǒng)架構(gòu)和使 用方法。HT32 STL 適用于幾乎所有的 HT32 Co
    發(fā)表于 06-26 10:20 ?8次下載
    HT32 UL/<b class='flag-5'>IEC</b> <b class='flag-5'>60730</b>-1 Class <b class='flag-5'>B</b>安全測(cè)試庫使用指南

    AN038 Keil環(huán)境關(guān)于IEC60730 Flash自檢的CRC校驗(yàn)批處理添加方法

    AN038 Keil環(huán)境關(guān)于IEC60730 Flash自檢的CRC校驗(yàn)批處理添加方法
    發(fā)表于 02-23 19:10 ?3次下載
    AN038 Keil<b class='flag-5'>環(huán)境</b><b class='flag-5'>中</b>關(guān)于<b class='flag-5'>IEC60730</b> Flash自檢的CRC校驗(yàn)批處理添加方法

    AN039 eclipse環(huán)境關(guān)于IEC60730 Flash自檢的CRC校驗(yàn)批處理添加方法

    AN039 eclipse環(huán)境關(guān)于IEC60730 Flash自檢的CRC校驗(yàn)批處理添加方法
    發(fā)表于 02-27 18:18 ?0次下載
    AN039 eclipse<b class='flag-5'>環(huán)境</b><b class='flag-5'>中</b>關(guān)于<b class='flag-5'>IEC60730</b> Flash自檢的CRC校驗(yàn)批處理添加方法

    AN071基于IAR環(huán)境下RISC-V內(nèi)核IEC60730認(rèn)證庫移植

    AN071基于IAR環(huán)境下RISC-V內(nèi)核IEC60730認(rèn)證庫移植
    發(fā)表于 03-01 18:51 ?1次下載
    AN071基于IAR<b class='flag-5'>環(huán)境</b>下RISC-V內(nèi)核<b class='flag-5'>IEC60730</b>認(rèn)證庫<b class='flag-5'>移植</b>

    MIMXRT1060 EVK JTAG接口修改方法

    MIMXRT1060 EVK是NXP官方基于MIMXRT1062DVL6A芯片的開發(fā)板,該開發(fā)板帶有板載的CMSIS-DAP的仿真器,也留出了可以外接外部仿真器的20腳JTAG口。芯片
    的頭像 發(fā)表于 05-04 10:48 ?1137次閱讀
    <b class='flag-5'>MIMXRT1060</b> EVK JTAG接口修改方法

    復(fù)旦微MCU之IEC60730 Class B軟件庫

    復(fù)旦微MCU之IEC60730 Class B軟件庫
    的頭像 發(fā)表于 09-26 16:58 ?1252次閱讀
    復(fù)旦微MCU之<b class='flag-5'>IEC60730</b> Class <b class='flag-5'>B</b>軟件庫

    復(fù)旦微MCU通過IEC/UL 60730 B類家電功能安全認(rèn)證

    書,幫助客戶消除系統(tǒng)故障導(dǎo)致的安全風(fēng)險(xiǎn),使終端產(chǎn)品達(dá)到IEC60730-1:2013+A1:2015+A2:2020和UL60730-1:2021全球安全認(rèn)證B
    的頭像 發(fā)表于 02-19 12:33 ?602次閱讀
    復(fù)旦微MCU通過<b class='flag-5'>IEC</b>/UL <b class='flag-5'>60730</b> <b class='flag-5'>B</b>類家電功能安全認(rèn)證