復(fù)旦微MCU之IEC60730 Class B軟件庫

IEC 60730安全標(biāo)準(zhǔn)定義了多測(cè)試和診斷方法，確保面向家用電器的嵌入式控制硬件和軟件的安全運(yùn)行，為了實(shí)現(xiàn)功能安全，必須消除系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)產(chǎn)生危害的風(fēng)險(xiǎn)。

適用設(shè)備分類

IEC 60730標(biāo)準(zhǔn)涵蓋了交流電器的機(jī)械、電氣、電子、EMC和交流電器的異常操作，其中為電子控制器軟件定義了三種類別：

Class A: Not intended to be relied upon for the safety of the equipment. (如房間恒溫器、濕度控制、照明控制、計(jì)時(shí)器、開關(guān)等)

Class B: To prevent unsafe operation of the controlled equipment. (如洗衣機(jī)Keil uVision 5工程移植方法、洗碗機(jī)、烘干機(jī)、冰箱、智能炊具等)

Class C: To prevent special hazards. (如自動(dòng)燃燒器控制、封閉的熱水器的熱切斷等)

IEC60730 Class B

復(fù)旦微MCU提供的IEC60730 Class B軟件庫包括一系列測(cè)試用例，為用戶提供了快速集成IEC 60730測(cè)試的途徑，可以顯著減少開發(fā)工作、時(shí)間和成本，幫助大型電器市場(chǎng)的自動(dòng)化控制制造商滿足IEC60730 Class B規(guī)范。目前，該軟件庫支持的芯片系列有：FM33LC0系列，F(xiàn)M33LG0系列。

IEC60730 Class B軟件庫包含：?jiǎn)?dòng)時(shí)測(cè)試，運(yùn)行時(shí)測(cè)試。

啟動(dòng)時(shí)測(cè)試內(nèi)容：CPU寄存器自檢，程序計(jì)數(shù)器PC自檢，F(xiàn)lash內(nèi)容完整性校驗(yàn)，RAM功能自檢，系統(tǒng)時(shí)鐘和中斷自檢；

運(yùn)行時(shí)測(cè)試內(nèi)容：CPU部分寄存器自檢，F(xiàn)lash內(nèi)容完整性校驗(yàn)，RAM功能分塊自檢，棧上溢下溢檢測(cè)，系統(tǒng)時(shí)鐘和中斷自檢。

部分檢測(cè)功能可通過修改宏定義值進(jìn)行開關(guān)和配置。

變量存儲(chǔ)方式：源碼+反碼校驗(yàn)，存儲(chǔ)在一對(duì)相鄰的獨(dú)立區(qū)域內(nèi)。測(cè)試運(yùn)行出現(xiàn)異常時(shí)，軟件庫提供統(tǒng)一的錯(cuò)誤處理函數(shù)，便于用戶對(duì)錯(cuò)誤進(jìn)行處理。

下圖為IEC60730 Class B軟件庫的文件結(jié)構(gòu)：

該軟件庫需占用一些外設(shè)和Flash、RAM空間，用戶可能會(huì)在集成軟件庫過程中遇到問題時(shí)使用串口或IO口來指示當(dāng)前測(cè)試狀態(tài)和調(diào)試，因此用戶在MCU選型時(shí)需要考慮自身產(chǎn)品使用的資源和保證軟件庫用以完成任務(wù)的資源。

軟件庫的設(shè)計(jì)理念：底層實(shí)現(xiàn)和應(yīng)用分離。所有底層操作相關(guān)代碼均被放置在platform文件夾下的（[芯片系列]_impl.c/.h）中，用戶可修改各函數(shù)實(shí)現(xiàn)來調(diào)整軟件庫使用的資源。

來源：復(fù)微MCU愛好者天地