0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

GaN中 (C_N) 缺陷的非輻射俘獲系數(shù)計(jì)算(上)

鴻之微 ? 來(lái)源:鴻之微 ? 2023-05-25 09:17 ? 次閱讀

DASP (Defect and Dopant ab-initio Simulation Package)是一款半導(dǎo)體缺陷和雜質(zhì)性質(zhì)的第一性原理計(jì)算模擬軟件包,該軟件包能針對(duì)輸入的半導(dǎo)體晶體結(jié)構(gòu),基于材料基因組數(shù)據(jù)庫(kù)和第一性原理軟件包,自動(dòng)計(jì)算并輸出半導(dǎo)體的熱力學(xué)穩(wěn)定性,缺陷和雜質(zhì)形成能及離化能級(jí),半導(dǎo)體樣品中缺陷、雜質(zhì)和載流子濃度及費(fèi)米能級(jí),關(guān)鍵缺陷和雜質(zhì)誘導(dǎo)的光致發(fā)光譜、載流子輻射和非輻射俘獲截面及少子壽命。

針對(duì)任一半導(dǎo)體,DASP軟件可以計(jì)算給出如下性質(zhì):熱力學(xué)穩(wěn)定性、元素化學(xué)勢(shì)空間的穩(wěn)定范圍、缺陷(含雜質(zhì),下同)形成能、缺陷轉(zhuǎn)變能級(jí)、各生長(zhǎng)條件下的費(fèi)米能級(jí)、載流子和缺陷濃度、缺陷的光致發(fā)光譜、缺陷對(duì)載流子的俘獲截面、輻射和非輻射復(fù)合速率等。

本期將給大家介紹DASP GaN中 (C_N) 缺陷的非輻射俘獲系數(shù)計(jì)算 5.6 的內(nèi)容。

5.6. GaN中缺陷的非輻射俘獲系數(shù)計(jì)算

使用CDC模塊計(jì)算非輻射俘獲系數(shù)前,需要確保以下幾點(diǎn):

(1)DEC模塊已經(jīng)計(jì)算完成(可以跳過(guò)DDC的計(jì)算),且dasp.in中l(wèi)evel為3,(C_N)缺陷的初態(tài)與末態(tài)結(jié)構(gòu)已完成了HSE泛函的結(jié)構(gòu)優(yōu)化。

(2)根據(jù)形成能關(guān)系圖,確定深能級(jí)的缺陷,并得到相應(yīng)的轉(zhuǎn)變能級(jí)位置。

(3)選定要計(jì)算的載流子非輻射俘獲過(guò)程。

對(duì)于GaN中的(C_N)缺陷,我們想要計(jì)算 從-1價(jià)到0價(jià)的空穴非輻射俘獲過(guò)程,缺陷能級(jí)的能帶序號(hào)是256,由于GaN的VBM存在三重簡(jiǎn)并,相應(yīng)的能帶序號(hào)是253、254、255,此處采用序號(hào)為253的能級(jí),因?yàn)樵撃芗?jí)與缺陷能級(jí)之間的電聲耦合常數(shù)最大(實(shí)際使用中,可以選擇不同能級(jí)多次運(yùn)行本模塊獲知相應(yīng)的電聲耦合常熟大?。?。采用默認(rèn)的勢(shì)能面擬合方法,因此在``dasp.in``中寫(xiě)入以下信息

f5425cf4-fa7d-11ed-90ce-dac502259ad0.png

使用命令dasp5執(zhí)行CDC模塊。等待期間無(wú)需額外操作。

在HSE泛函優(yōu)化的初態(tài)和末態(tài)結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)上,CDC模塊會(huì)分析兩個(gè)結(jié)構(gòu)在廣義坐標(biāo)下的差異 (ΔQ),并沿著該方向線性地產(chǎn)生一系列結(jié)構(gòu)。

在目錄/cdc/C_N1/Nonrad_calc/_q-1_to_q0_/initial_state與目錄/cdc/C_N1/Nonrad_calc/_q-1_to_q0_/final_state中均會(huì)出現(xiàn)以下多個(gè)靜態(tài)計(jì)算的目錄:

f57d233e-fa7d-11ed-90ce-dac502259ad0.png

此外,在目錄/cdc/C_N1/Nonrad_calc/_q-1_to_q0_/final_state/el_ph中產(chǎn)生以下多個(gè)用于計(jì)算電聲耦合常數(shù)的靜態(tài)計(jì)算目錄:

f59577a4-fa7d-11ed-90ce-dac502259ad0.png

完成上述計(jì)算后,CDC模塊可以根據(jù)產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)及對(duì)應(yīng)的缺陷形成能大小得到初態(tài)與末態(tài)下的有效聲子能量、聲子波函數(shù)以及末態(tài)的黃-里斯因子(Huang-Rhys factor)以及用于估算非輻射俘獲系數(shù)的(δ)函數(shù)的高斯展寬(gaussian smearing)和索莫菲因子(sommerfeld factor),還可以獲得該缺陷初態(tài)與末態(tài)的一維位形圖,輸出為圖片ccdiagram.png,如下所示。

f5a83a24-fa7d-11ed-90ce-dac502259ad0.png

GaN中缺陷C_N1從-1價(jià)到0價(jià)的一維位形圖。

最后,CDC模塊會(huì)根據(jù)超胞體積、載流子有效質(zhì)量等數(shù)據(jù)結(jié)合非輻射俘獲系數(shù)的公式計(jì)算輸出室溫下該系數(shù)的大小,并在目錄/cdc下輸出nonradiative_rate.dat文件和圖片coefficient.png,如下所示,其中給出了非輻射俘獲系數(shù)隨溫度的變化。可以看到,與[Phys. Rev. B 90, 075202 (2014)]中的Fig. 5基本一致(由于本例中0/-轉(zhuǎn)變能級(jí)略大,因此俘獲系數(shù)略?。?。

f5c61f62-fa7d-11ed-90ce-dac502259ad0.png

GaN中缺陷C_N1從-1價(jià)到0價(jià)空穴俘獲系數(shù)隨溫度的變化關(guān)系。





審核編輯:劉清

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • GaN
    GaN
    +關(guān)注

    關(guān)注

    19

    文章

    1896

    瀏覽量

    72340
  • DASP
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    16

    瀏覽量

    7244
  • HSE
    HSE
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    17

    瀏覽量

    9434
  • DCDC模塊
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    10

    瀏覽量

    8549

原文標(biāo)題:產(chǎn)品教程丨GaN中 (C_N) 缺陷的非輻射俘獲系數(shù)計(jì)算(上)

文章出處:【微信號(hào):hzwtech,微信公眾號(hào):鴻之微】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    C陷阱與缺陷

    程序員繞過(guò)編程過(guò)程的陷阱和障礙。C陷阱與缺陷共分為8章,分別從詞法分析、語(yǔ)法語(yǔ)義、連接、庫(kù)函數(shù)、預(yù)處理器、可移植性缺陷等幾個(gè)方面分析了C
    發(fā)表于 09-25 09:51

    專業(yè)的輻射檢測(cè)方法是什么

    ?! ?b class='flag-5'>輻射系數(shù)值的測(cè)量:在真空中與周圍箱壁進(jìn)行輻射換熱的、散熱為已知的試驗(yàn)樣品表面溫度的測(cè)量,若采用一個(gè)表面輻射系數(shù)已知和尺寸大小接近于待試
    發(fā)表于 07-18 11:52

    為什么GaN會(huì)在射頻應(yīng)用脫穎而出?

    方形,通過(guò)兩個(gè)晶格常數(shù)(圖中標(biāo)記為a 和c)來(lái)表征。GaN 晶體結(jié)構(gòu)在半導(dǎo)體領(lǐng)域,GaN 通常是高溫下(約為1,100°C)在異質(zhì)基板(射頻應(yīng)用
    發(fā)表于 08-01 07:24

    《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》GaN 基板的表面處理

    蝕刻導(dǎo)致的等離子體誘導(dǎo)的損壞。CL 強(qiáng)度的惡化被認(rèn)為是由輻射復(fù)合位點(diǎn)的產(chǎn)生引起的,這些位點(diǎn)可能是源自干蝕刻機(jī)械效應(yīng)(如離子轟擊)的點(diǎn)缺陷網(wǎng)絡(luò)。最后,對(duì)于 CMP 和 ICP 干蝕刻要解決的當(dāng)前問(wèn)題已經(jīng)
    發(fā)表于 07-07 10:26

    氮化鎵晶體管GaN的概述和優(yōu)勢(shì)

    ,Panasonic的新HD-GIT - 橫截面  電子俘獲和電流崩塌在沒(méi)有特定技術(shù)對(duì)策的情況下,GaN GiT晶體管遭受電子俘獲問(wèn)題。一般而言,這些效應(yīng)與晶體管的負(fù)電荷區(qū)域的積累有
    發(fā)表于 02-27 15:53

    求助,關(guān)于放大器噪聲系數(shù)計(jì)算的問(wèn)題求解

    我下載三篇關(guān)于講放大器噪聲系數(shù)計(jì)算的文檔,卻發(fā)現(xiàn)針對(duì)同一種正相放大電路,噪聲系數(shù)計(jì)算有三種結(jié)果?請(qǐng)懂的朋友幫我解答一下。 在《N高頻行動(dòng)速
    發(fā)表于 11-17 10:57

    輻射換熱的計(jì)算

    輻射換熱的計(jì)算:兩物體間的輻射換熱除與表面溫度,表面輻射物性,還與兩物體表面的幾何形狀、大小、相對(duì)位置等幾何因素有關(guān),這種因素常用角系數(shù)來(lái)考
    發(fā)表于 07-06 07:20 ?40次下載

    一文解析DASP CdTe的本征缺陷計(jì)算

    針對(duì)任一半導(dǎo)體,DASP軟件可以計(jì)算給出如下性質(zhì):熱力學(xué)穩(wěn)定性、元素化學(xué)勢(shì)空間的穩(wěn)定范圍、缺陷(含雜質(zhì),下同)形成能、缺陷轉(zhuǎn)變能級(jí)、各生長(zhǎng)條件下的費(fèi)米能級(jí)、載流子和缺陷濃度、
    發(fā)表于 04-05 10:16 ?711次閱讀

    ZnGeP2的本征缺陷計(jì)算輻射俘獲系數(shù)計(jì)算CDC)

    針對(duì)任一半導(dǎo)體,DASP軟件可以計(jì)算給出如下性質(zhì):熱力學(xué)穩(wěn)定性、元素化學(xué)勢(shì)空間的穩(wěn)定范圍、缺陷(含雜質(zhì),下同)形成能、缺陷轉(zhuǎn)變能級(jí)、各生長(zhǎng)條件下的費(fèi)米能級(jí)、載流子和缺陷濃度、
    的頭像 發(fā)表于 05-11 16:37 ?826次閱讀
    ZnGeP2的本征<b class='flag-5'>缺陷</b><b class='flag-5'>計(jì)算</b>(<b class='flag-5'>非</b><b class='flag-5'>輻射</b><b class='flag-5'>俘獲</b><b class='flag-5'>系數(shù)</b><b class='flag-5'>計(jì)算</b>CDC)

    DASP雙鈣鈦礦材料穩(wěn)定性的快速計(jì)算預(yù)測(cè)

    針對(duì)任一半導(dǎo)體,DASP軟件可以計(jì)算給出如下性質(zhì):熱力學(xué)穩(wěn)定性、元素化學(xué)勢(shì)空間的穩(wěn)定范圍、缺陷(含雜質(zhì),下同)形成能、缺陷轉(zhuǎn)變能級(jí)、各生長(zhǎng)條件下的費(fèi)米能級(jí)、載流子和缺陷濃度、
    的頭像 發(fā)表于 05-16 10:39 ?490次閱讀
    DASP雙鈣鈦礦材料穩(wěn)定性的快速<b class='flag-5'>計(jì)算</b>預(yù)測(cè)

    基于DASP ZnGeP2的本征缺陷計(jì)算

    針對(duì)任一半導(dǎo)體,DASP軟件可以計(jì)算給出如下性質(zhì):熱力學(xué)穩(wěn)定性、元素化學(xué)勢(shì)空間的穩(wěn)定范圍、缺陷(含雜質(zhì),下同)形成能、缺陷轉(zhuǎn)變能級(jí)、各生長(zhǎng)條件下的費(fèi)米能級(jí)、載流子和缺陷濃度、
    的頭像 發(fā)表于 05-16 17:22 ?597次閱讀
    基于DASP ZnGeP2的本征<b class='flag-5'>缺陷</b><b class='flag-5'>計(jì)算</b>

    雙鈣鈦礦材料穩(wěn)定性的快速計(jì)算預(yù)測(cè)

    ,基于材料基因組數(shù)據(jù)庫(kù)和第一性原理軟件包,自動(dòng)計(jì)算并輸出半導(dǎo)體的熱力學(xué)穩(wěn)定性,缺陷和雜質(zhì)形成能及離化能級(jí),半導(dǎo)體樣品缺陷、雜質(zhì)和載流子濃度及費(fèi)米能級(jí),關(guān)鍵
    的頭像 發(fā)表于 05-23 14:11 ?585次閱讀
    雙鈣鈦礦材料穩(wěn)定性的快速<b class='flag-5'>計(jì)算</b>預(yù)測(cè)

    DASP 雙鈣鈦礦材料穩(wěn)定性的快速計(jì)算預(yù)測(cè)

    針對(duì)任一半導(dǎo)體,DASP軟件可以計(jì)算給出如下性質(zhì):熱力學(xué)穩(wěn)定性、元素化學(xué)勢(shì)空間的穩(wěn)定范圍、缺陷(含雜質(zhì),下同)形成能、缺陷轉(zhuǎn)變能級(jí)、各生長(zhǎng)條件下的費(fèi)米能級(jí)、載流子和缺陷濃度、
    的頭像 發(fā)表于 05-24 10:15 ?542次閱讀
    DASP 雙鈣鈦礦材料穩(wěn)定性的快速<b class='flag-5'>計(jì)算</b>預(yù)測(cè)

    DASP GaN (C_N) 缺陷輻射俘獲系數(shù)計(jì)算

    ,基于材料基因組數(shù)據(jù)庫(kù)和第一性原理軟件包,自動(dòng)計(jì)算并輸出半導(dǎo)體的熱力學(xué)穩(wěn)定性,缺陷和雜質(zhì)形成能及離化能級(jí),半導(dǎo)體樣品缺陷、雜質(zhì)和載流子濃度及費(fèi)米能級(jí),關(guān)鍵
    的頭像 發(fā)表于 05-26 10:49 ?700次閱讀
    DASP <b class='flag-5'>GaN</b><b class='flag-5'>中</b> (<b class='flag-5'>C_N</b>) <b class='flag-5'>缺陷</b>的<b class='flag-5'>非</b><b class='flag-5'>輻射</b><b class='flag-5'>俘獲</b><b class='flag-5'>系數(shù)</b><b class='flag-5'>計(jì)算</b>

    基于GAN的零缺陷樣本產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)

    缺陷檢測(cè)是工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程的關(guān)鍵環(huán)節(jié),其檢測(cè)結(jié)果的好壞直接影響著產(chǎn)品的質(zhì)量。而在現(xiàn)實(shí)場(chǎng)景,但產(chǎn)品瑕疵率非常低,甚至是沒(méi)有,缺陷樣本的不充足使得需要深度學(xué)習(xí)
    的頭像 發(fā)表于 06-26 09:49 ?1014次閱讀
    基于<b class='flag-5'>GAN</b>的零<b class='flag-5'>缺陷</b>樣本產(chǎn)品表面<b class='flag-5'>缺陷</b>檢測(cè)