手機(jī)攝像頭模組/顯示屏幕為什么需要進(jìn)行測試？

手機(jī)攝像頭模組和顯示屏是手機(jī)中非常重要的組件。在生產(chǎn)過程中，這些組件需要進(jìn)行測試來確保它們的質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。首先，測試可以檢查這些組件是否正常工作，并且能夠拍攝出清晰度高、顏色鮮艷的照片或者視頻，以及顯示屏幕是否能夠呈現(xiàn)出良好的圖像效果。其次，測試也可以檢查這些組件在不同環(huán)境下的表現(xiàn)。

最新研發(fā)的彈片微針模組能針對攝像頭及顯示屏連接器作功能測試。我們的BTB彈片微針模組，相比傳統(tǒng)的POGO PIN探針模式，針對公母座的測試，優(yōu)勢也會更大。
1、blade pin是大電流模組，最高可承受高達(dá)30A的額定電流，包容1-30A之間的電流，完美應(yīng)對復(fù)雜的測試環(huán)境與要求。而傳統(tǒng)的pogo pin過流能力差，僅為1A。
2、blade pin的pitch可取值范圍大，在0.1mm-0.4mm，最小間距可達(dá)0.1mm！而pogo pin的pitch可取值范圍小，僅在0.3mm-0.4mm，無法應(yīng)對多樣化的測試要求
3、 blade pin的平均使用壽命高達(dá)20W次，是pogo pin的四倍！傳統(tǒng)pogo pin的平均使用壽命僅為5W次，無法應(yīng)對高頻率的測試要求，更換次數(shù)頻繁，拖慢測試進(jìn)度。
4、 blade pin采用的是彈片結(jié)構(gòu)，體化成型后期加硬鍍金處理，接觸形狀和整體高度很容易按照客戶要求制作，測試較為穩(wěn)定。而傳統(tǒng)pogo pin的探針結(jié)構(gòu)易導(dǎo)致斷針、卡pin等不穩(wěn)定的現(xiàn)象發(fā)生，進(jìn)而影響測試效率，拖慢測試進(jìn)度。

審核編輯黃宇