快速集成USB測試套件以快速開始驗證

當(dāng)今設(shè)計的SoC日益復(fù)雜，驗證復(fù)雜性呈指數(shù)級增長，這不僅是由于設(shè)計的復(fù)雜性，也是由于協(xié)議的復(fù)雜性。由于陡峭的學(xué)習(xí)曲線，新興的新協(xié)議使其更加困難。編寫測試用例以涵蓋整個協(xié)議成為 3-4 人年的工作，適用于 USB、PCIe 和以太網(wǎng)等復(fù)雜協(xié)議。Synopsys 提供 System Verilog/UVM 源代碼測試套件來驗證復(fù)雜的協(xié)議。提供源代碼，測試可以擴(kuò)展，并輕松定制。通過使用 Synopsys 測試套件快速啟動驗證并加速覆蓋收斂，您可以節(jié)省工作量和時間。在這篇博客中，我們將概述USB測試套件，重點是易于集成和使用。

USB VIP 測試套件為一種類型的 USB DUT 提供了一個通用的測試平臺。例如，有一個用于設(shè)備 DUT 的通用測試平臺tb_dut_usb_device和一個用于主機(jī) DUT 的通用測試平臺tb_dut_usb_host。還提供了針對其他可能類型的USB DUT的不同測試平臺。連接到設(shè)備 VIP 的主機(jī) DUT 的測試平臺提供主機(jī)驅(qū)動程序，用于將數(shù)據(jù)對象轉(zhuǎn)換為特定于 DUT 的 API 序列。還有一個用于通用 xHCI 寄存器模型和內(nèi)存操作的 xHCI 驅(qū)動程序，例如創(chuàng)建命令 TRB 并將其寫入命令環(huán)、按命令門鈴并觀察命令完成事件 TRB。連接到主機(jī) VIP 的設(shè)備 DUT 的測試平臺提供了一個設(shè)備驅(qū)動程序，用于將數(shù)據(jù)對象轉(zhuǎn)換為特定于 DUT 的 API 序列。

與 DUT 的預(yù)期連接是使用頂部模塊中的特定“連接參數(shù)”實現(xiàn)的?？梢栽跍y試平臺中運(yùn)行預(yù)期的“連接類型”的測試。特定測試通過配置對象配置測試平臺環(huán)境。測試平臺級環(huán)境（TB_Env）基本上由兩個子環(huán)境組成：Host_Env和Device_Env，也是TB_Env級虛擬序列器和TB_Env級序列集合。主機(jī)/設(shè)備環(huán)境由主機(jī)/Device_Env級虛擬序列器和主機(jī)/Device_Env級序列集合組成。因此，在TB_Env級別編寫的序列可以面向主機(jī)/Device_Env級別的虛擬序列器。此主機(jī)/Device_Env級別的虛擬排序器由usb_transfer_sequencer、usb_service_sequencer和virtual_usb_sequencer組成。在主機(jī)/設(shè)備驅(qū)動程序中，接收的傳輸/服務(wù)要么使用 xHCI 模型（主機(jī) DUT 作為 USB 控制器）進(jìn)行處理，要么可以重定向到連接到 VIP 代理的排序器的主機(jī)/Device_Env中的virtual_usb_sequencer，傳輸/服務(wù)的處理由 VIP 完成。

要將 Synopsys USB VIP 測試套件集成到 DUT 中，使用以下 SystemVerilog 接口：

應(yīng)用程序接口 – 此接口使用 AXI/AHB 接口對控制器執(zhí)行 CSR（讀/寫），并對內(nèi)存進(jìn)行 DMA 訪問 （_mem）。

設(shè)備/主機(jī)接口 – 這是將 USB VIP 連接到 DUT 的 USB 接口。

設(shè)備特定接口 – 驅(qū)動程序使用此接口輪詢 DUT 的中斷、事件和狀態(tài)，從而控制 USB 測試套件驅(qū)動程序。

下圖是具有以下設(shè)置的USB控制器DUT測試平臺示例：

被測器類型：USB 設(shè)備

DUT 包括 PHY：否

應(yīng)用界面：安巴AXI

USB 2.0 接口：{UTMI|ULPI} 和 USB 3.0 接口：{PIPE3}

USB 測試套件 VIP 與 DUT 集成

除 USB 測試套件外，Synopsys 還提供適用于各種總線、接口和內(nèi)存協(xié)議的測試套件。所有測試套件都易于集成和使用，并作為擴(kuò)展和自定義的源代碼提供。

審核編輯：郭婷