四線制測(cè)電阻有何優(yōu)勢(shì)？與二線制測(cè)電阻有何區(qū)別？

前言

四線測(cè)試法被認(rèn)為是目前為止最好的消除引線電阻引入誤差（或?qū)⑵浣抵磷钚〉模┑臏y(cè)試方案。那么，四線測(cè)試法有何優(yōu)勢(shì)？它的原理是什么？與二線制測(cè)電阻有何區(qū)別？它又是如何被應(yīng)用在線束電阻測(cè)試中呢？今天Aigtek就帶大家具體聊聊。

四線制測(cè)電阻電路圖

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二線制測(cè)電阻

對(duì)于線纜測(cè)試來說，最早使用的是雙線制測(cè)試法，一般來說，雙線制測(cè)試法由于測(cè)試目標(biāo)的電阻值遠(yuǎn)大于測(cè)試儀器的內(nèi)阻和連接導(dǎo)線的電阻值，因此雙線測(cè)試法是一種非常有效，也非常經(jīng)濟(jì)的測(cè)試方法。

二線制測(cè)電阻電路圖

但傳統(tǒng)的雙線測(cè)試法在測(cè)試電阻的時(shí)候，測(cè)得阻值除了被測(cè)對(duì)象的電阻之外，還包含外加激勵(lì)源的內(nèi)阻、系統(tǒng)內(nèi)阻、連接導(dǎo)線電阻和電壓表的內(nèi)阻，當(dāng)被測(cè)電阻阻值較小時(shí)，這些電阻對(duì)被測(cè)對(duì)象的電阻是有很大影響的，有時(shí)甚至失去了測(cè)試的意義，這是雙線測(cè)試法的最大弊端，為避免雙線測(cè)試法的弊端，四線制測(cè)電阻方法應(yīng)運(yùn)而生。

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四線制測(cè)電阻

四線制，我們也可以稱為四端點(diǎn)測(cè)量技術(shù)、開爾文測(cè)量法，是一種電子線路中的阻抗測(cè)量法，主要用于電阻阻值的精確測(cè)量。

四線制測(cè)電阻原理圖

四線制電阻測(cè)量法分為單電橋和雙電橋，先有單電橋，逐漸發(fā)展為雙電橋，（如圖）在被測(cè)電阻兩端引出四根引線，從而構(gòu)成四線制，這樣可以減小線路電阻對(duì)被測(cè)電阻的影響。在上圖中，雖然系統(tǒng)中仍然存在Rs Rl Rc，但電壓表的接入方式由并聯(lián)改為了串聯(lián)，由于電壓表的內(nèi)阻很大，近似認(rèn)為是開路，所以其內(nèi)阻的影響可以忽略。所以由上圖可得到：

由于電壓表近似看作開路狀態(tài)，所以可以認(rèn)為是

這樣近似處理不會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果帶來明顯影響，于是有

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四線制測(cè)量?jī)?yōu)點(diǎn)

● 導(dǎo)線電阻產(chǎn)生的電壓差幾乎為零，不影響電壓測(cè)量結(jié)果。

● 由于僅有極小部分的電流(小到可忽略)流經(jīng)伏特計(jì)，故也不影響電流測(cè)量結(jié)果。

● 待測(cè)電阻為低電阻，同樣可精準(zhǔn)測(cè)量。

Aigtek安泰電子ATX-3000S系列線束測(cè)試儀可進(jìn)行二線制、四線制電阻測(cè)試，通斷，耐壓，絕緣電阻測(cè)試：

●測(cè)試精度高

檔位為1Ω時(shí)，其電阻測(cè)量分辨率可達(dá)0.0001Ω

●測(cè)試點(diǎn)數(shù)多

擁有多達(dá)4096測(cè)試點(diǎn)，通道可快速平滑擴(kuò)展，測(cè)試高效；

●功能強(qiáng)大

通斷、耐壓、絕緣電阻、二線制、四線制電阻測(cè)試，能高效準(zhǔn)確的剔除短路、斷路、誤配線等不合格產(chǎn)品，可以說是一機(jī)功能頂所有；

●智能自學(xué)習(xí)

數(shù)據(jù)對(duì)比分析、自動(dòng)記錄測(cè)試報(bào)告、智能化測(cè)試軟件、大型數(shù)據(jù)庫(kù)，智能MAX；

●高壓檢測(cè)自動(dòng)復(fù)位，測(cè)試安全可靠

5寸多點(diǎn)式電容觸摸屏+win10操作系統(tǒng)，操作便捷，科技感十足。

以上就是本期關(guān)于四線制/二線制測(cè)電阻原理的全部介紹，如有疑問或者想看的視頻內(nèi)容主題，歡迎各位工程師在文末給我們留言，未來我們也將為廣大工程師伙伴們獻(xiàn)上更多優(yōu)質(zhì)干貨及行業(yè)資訊，敬請(qǐng)期待哦~