芯片測(cè)試工具之ATECLOUD-IC系統(tǒng)如何測(cè)試電源芯片的穩(wěn)壓反饋？

在一些電源芯片或穩(wěn)壓芯片中，通常內(nèi)部都會(huì)有穩(wěn)壓反饋電路，這些電路可以將輸入電壓通過內(nèi)部調(diào)整后輸出一個(gè)穩(wěn)定的輸出電壓，以滿足電路中的穩(wěn)定電源需求。也就是說(shuō)芯片的穩(wěn)壓反饋就是內(nèi)部穩(wěn)壓反饋電路中的電壓。

芯片穩(wěn)壓反饋的原理

穩(wěn)壓反饋電路通過比較輸出電壓與參考電壓之間的差值，來(lái)控制輸出穩(wěn)定電壓的大小。當(dāng)輸出電壓偏高時(shí)，反饋電路會(huì)通過調(diào)整內(nèi)部的電路，降低輸出電壓；當(dāng)輸出電壓偏低時(shí)，反饋電路會(huì)提高輸出電，以使其穩(wěn)定在設(shè)定好的電壓范圍內(nèi)。

芯片穩(wěn)壓反饋的測(cè)試

電源芯片的穩(wěn)壓反饋測(cè)試是相對(duì)簡(jiǎn)單的項(xiàng)目，因?yàn)橐话愕碾娫葱酒头€(wěn)壓芯片都會(huì)直接把穩(wěn)壓電路封裝好通過FB引腳與外界相連，所以測(cè)試先平的穩(wěn)壓反饋只需使用萬(wàn)用表測(cè)量FB端的電壓值即可。

電源芯片穩(wěn)壓反饋的測(cè)試需要一臺(tái)多通道直流電源和一臺(tái)數(shù)字萬(wàn)用表，測(cè)試之前需要使用直流電源給芯片的VIN和EN端輸入電壓和電流，保證芯片正常啟動(dòng)，之后只需要在FB端口接入數(shù)字萬(wàn)用表，測(cè)出FB端口的輸出電壓，此時(shí)萬(wàn)用表測(cè)出的電壓值即為該芯片的穩(wěn)壓反饋電壓。

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試穩(wěn)壓反饋

使用系統(tǒng)測(cè)試芯片的穩(wěn)壓反饋時(shí)，具體步驟基本與手動(dòng)相同，不過因?yàn)樾枰\(yùn)行軟件與儲(chǔ)存數(shù)據(jù)，所以相比手動(dòng)測(cè)試來(lái)說(shuō)會(huì)多出一個(gè)邊緣計(jì)算設(shè)備硬件，通過邊緣計(jì)算設(shè)備可以將電腦和測(cè)試儀器硬件連接到同一局域網(wǎng)之內(nèi)就可以進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試了。

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)只需通過電腦打開瀏覽器登陸ATECLOUD的網(wǎng)址與賬號(hào)，即可進(jìn)入方案界面，在項(xiàng)目搭建界面通過指令拓展完成穩(wěn)壓反饋的方案搭建之后，就可以通過方案運(yùn)行界面一鍵進(jìn)行測(cè)試，方案一次搭建終身使用，方案的搭建過程只需5-10分鐘，而整個(gè)測(cè)試過程則只需5-10秒即可完成，同時(shí)可以直接采集儀器上的參數(shù)與指標(biāo)，免去人工讀取與記錄的過程。

軟件測(cè)試穩(wěn)壓反饋中最為核心的便是測(cè)試項(xiàng)目的搭建，ATCLOUD-IC采用的是拖拽文字指令的形式，我們會(huì)提前將儀器的操作指令封裝到系統(tǒng)中，用戶使用時(shí)直接拖拽即可，平時(shí)手動(dòng)如何測(cè)試，就選擇對(duì)于的指令，即使沒有編程經(jīng)驗(yàn)的工程師也能輕松上手，同時(shí)項(xiàng)目一次搭建，終身使用，后續(xù)不同規(guī)格、不同參數(shù)的芯片測(cè)試，只需調(diào)整參數(shù)即可，可以提升測(cè)試效率500%，可以幫助企業(yè)極大的減少學(xué)習(xí)成本與人力成本，從而為企業(yè)降本增效提供助力。

審核編輯 黃宇