0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

低溫?zé)o壓燒結(jié)銀對(duì)鍍層的四點(diǎn)要求

sharex ? 來源:sharex ? 作者:sharex ? 2023-11-25 13:50 ? 次閱讀

低溫?zé)o壓燒結(jié)銀對(duì)鍍層的四點(diǎn)要求

對(duì)于AMB基板、DBC基板以及底板來說,銅或鋁表面在空氣中會(huì)發(fā)生氧化,形成的氧化物薄膜會(huì)阻礙與低溫?zé)Y(jié)銀之間的原子擴(kuò)散和金屬鍵的形成,降低連接強(qiáng)度。為避免基板表面的氧化,提升與互連材料之間的連接強(qiáng)度,需要對(duì)基板進(jìn)行金屬鍍層處理。AS9376低溫?zé)o壓燒結(jié)銀對(duì)鍍層要求有以下四點(diǎn)

1、擴(kuò)散層穩(wěn)定

AMB基板、DBC基板以及散熱器表面的金屬鍍層通常具有基板與互連材料之間的熱導(dǎo)通、機(jī)械連接和電氣連接這三個(gè)功能。需要形成金屬鍍層與基板之間的原子擴(kuò)散,形成原子結(jié)合。該連接需要在AS系列燒結(jié)銀互連過程中穩(wěn)定,需要在可靠性測試:比如溫度循環(huán)測試,高低溫測試等測試中保持高剪切強(qiáng)度的連接,并且具有較低的界面熱阻。

2、潤濕性好

隨著第三代半導(dǎo)體器件向高溫、大功率方向的發(fā)展,AMB基板、DBC基板以及散熱器表面的金屬鍍層需要滿足高結(jié)溫可靠性的要求。需要對(duì)互連材料具有良好的潤濕性,來形成無空洞連接層。金屬鍍層表面需要避免產(chǎn)生氧化物或氮化物,避免底層的元素?cái)U(kuò)散到表面造成污染。

3、電阻和熱阻盡量低

導(dǎo)電和導(dǎo)熱性能需要具有盡量低的界面電阻和界面熱阻,來保證良好的導(dǎo)電和導(dǎo)熱性能;

4、金屬間化合物盡量少

需要盡量避免產(chǎn)生金屬間化合物。金屬間化合物一般為脆性,三元金屬間化合物比二元金屬間化合物更脆,易導(dǎo)致可靠性問題。如不能避免,需要盡量形成較薄的、不連續(xù)的金屬間化合物層。

低溫?zé)Y(jié)銀焊膏AS系列,具有低溫?zé)Y(jié),高溫服役的特點(diǎn),AS9376無壓燒結(jié)銀具有:低溫?zé)Y(jié),較高的熔點(diǎn),熱導(dǎo)率高,導(dǎo)電率好和高可靠性等性能,可以應(yīng)用于耐高溫芯片的互聯(lián)。

低溫?zé)o壓燒結(jié)銀可以實(shí)現(xiàn)高強(qiáng)度的低溫?zé)Y(jié)銀的互連,可以無需額外的熱壓設(shè)備,大大降低生產(chǎn)成本,這對(duì)于拓展燒結(jié)銀互連材料和技術(shù)具有非常重要的理論和應(yīng)用價(jià)值。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 半導(dǎo)體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    334

    文章

    26641

    瀏覽量

    212636
  • DBC
    DBC
    +關(guān)注

    關(guān)注

    2

    文章

    54

    瀏覽量

    7729
  • AMB
    AMB
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    21

    瀏覽量

    5983
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    低溫燒結(jié)在射頻通訊上的5大應(yīng)用,除此之外,燒結(jié)還有哪些應(yīng)用呢?歡迎補(bǔ)充

    **低溫燒結(jié)在射頻通訊上的5大應(yīng)用 SHAREX善仁新材推出在射頻通訊領(lǐng)域的
    發(fā)表于 09-29 16:26

    燒結(jié)AS9378火爆的六大原因

    低溫燒結(jié)AS9378近年來在電子材料領(lǐng)域迅速崛起,其火爆程度令人矚目。這款采用納米技術(shù)和低溫燒結(jié)工藝的高性能材料,憑借其獨(dú)特的優(yōu)勢在眾多應(yīng)
    的頭像 發(fā)表于 09-20 17:27 ?168次閱讀

    燒結(jié)選購指南:新能源車的核心材料之一

    AS9375燒結(jié)系列
    的頭像 發(fā)表于 07-15 11:27 ?250次閱讀

    燒結(jié)VS有燒結(jié):誰更勝一籌?

    及其合金在電子、電力、航空航天等眾多領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用。為了提高材料的物理和機(jī)械性能,常采用燒結(jié)工藝進(jìn)行材料制備。燒結(jié)工藝根據(jù)施加壓力的不同,可分為
    的頭像 發(fā)表于 07-13 09:05 ?845次閱讀
    <b class='flag-5'>無</b><b class='flag-5'>壓</b><b class='flag-5'>燒結(jié)</b><b class='flag-5'>銀</b>VS有<b class='flag-5'>壓</b><b class='flag-5'>燒結(jié)</b><b class='flag-5'>銀</b>:誰更勝一籌?

    150度燒結(jié)用于功率器件,提升效率降低成本

    150度燒結(jié)用于功率器件,提升效率降低成本 全球燒結(jié)的領(lǐng)導(dǎo)者善仁新材不斷超越自己,革新自
    的頭像 發(fā)表于 05-23 20:25 ?225次閱讀

    封裝的力量:納米技術(shù)引領(lǐng)未來電子

    隨著科技的飛速發(fā)展,電子設(shè)備的性能和功能日益強(qiáng)大,對(duì)封裝技術(shù)的要求也越來越高。納米封裝互連技術(shù)作為一種新興的封裝技術(shù),以其獨(dú)特的優(yōu)勢在電子封裝領(lǐng)域嶄露頭角。本文將詳細(xì)介紹納米
    的頭像 發(fā)表于 05-16 10:12 ?645次閱讀
    <b class='flag-5'>無</b><b class='flag-5'>壓</b>封裝的力量:納米<b class='flag-5'>銀</b>技術(shù)引領(lǐng)未來電子

    TPAK SiC優(yōu)選解決方案:有燒結(jié)+銅夾Clip燒結(jié)

    TPAK SiC優(yōu)選解決方案:有燒結(jié)+銅夾Clip燒結(jié)
    的頭像 發(fā)表于 04-25 20:27 ?507次閱讀
    TPAK SiC優(yōu)選解決方案:有<b class='flag-5'>壓</b><b class='flag-5'>燒結(jié)</b><b class='flag-5'>銀</b>+銅夾Clip<b class='flag-5'>無</b><b class='flag-5'>壓</b><b class='flag-5'>燒結(jié)</b><b class='flag-5'>銀</b>

    基于低溫焊料的真空燒結(jié)工藝研究

    功率芯片載體裝配工藝中應(yīng)用廣泛。傳統(tǒng)的手工燒結(jié)方式具有熔融時(shí)間長、生產(chǎn)效率低、可靠性差等缺點(diǎn),通過對(duì)基于銦鉛低溫焊料的真空燒結(jié)工藝的助焊劑選取、焊料厚度和尺寸、工裝夾具設(shè)計(jì)、真空
    的頭像 發(fā)表于 03-19 08:44 ?678次閱讀
    基于<b class='flag-5'>低溫</b>焊料的真空<b class='flag-5'>燒結(jié)</b>工藝研究

    燒結(jié)原理、燒結(jié)工藝流程和燒結(jié)膏應(yīng)用

    燒結(jié)原理、燒結(jié)工藝流程和燒結(jié)膏應(yīng)用
    的頭像 發(fā)表于 01-31 16:28 ?2929次閱讀
    <b class='flag-5'>燒結(jié)</b><b class='flag-5'>銀</b>原理、<b class='flag-5'>銀</b><b class='flag-5'>燒結(jié)</b>工藝流程和<b class='flag-5'>燒結(jié)</b><b class='flag-5'>銀</b>膏應(yīng)用

    晶圓級(jí)封裝用半燒結(jié)漿粘接工藝

    共讀好書 李志強(qiáng) 胡玉華 張巖 翟世杰 (中國電子科技集團(tuán)公司第五十五研究所) 摘要: 選取了一種半燒結(jié)漿進(jìn)行粘接工藝研究,通過剪切強(qiáng)度測試和空洞率檢測確定了合適的點(diǎn)膠工藝參數(shù),并進(jìn)行了紅外熱阻
    的頭像 發(fā)表于 01-17 18:09 ?753次閱讀
    晶圓級(jí)封裝用半<b class='flag-5'>燒結(jié)</b>型<b class='flag-5'>銀</b>漿粘接工藝

    IGBT模塊燒結(jié)工藝引線鍵合工藝研究

    方法,分別驗(yàn)證并優(yōu)化了燒結(jié)和銅引線鍵合的工藝參數(shù),分析了襯板鍍層對(duì)燒結(jié)層和銅線鍵合界面強(qiáng)度的影響,最后對(duì)試制的模塊進(jìn)行浪涌能力和功率循環(huán)壽命測試。結(jié)果顯示?,?與普通模塊相比?,?搭
    的頭像 發(fā)表于 12-20 08:41 ?1549次閱讀
    IGBT模塊<b class='flag-5'>銀</b><b class='flag-5'>燒結(jié)</b>工藝引線鍵合工藝研究

    燒結(jié)AS9377的參數(shù)誰知道?

    燒結(jié)AS9377的參數(shù)誰知道?
    發(fā)表于 12-17 16:11

    選擇燒結(jié)的經(jīng)驗(yàn)總結(jié)

    選擇燒結(jié)的經(jīng)驗(yàn)總結(jié)
    的頭像 發(fā)表于 12-17 15:46 ?1198次閱讀
    選擇<b class='flag-5'>燒結(jié)</b><b class='flag-5'>銀</b>的經(jīng)驗(yàn)總結(jié)

    燒結(jié)漿粘接工藝在晶圓封裝的應(yīng)用

    摘要:選取了一種半燒結(jié)漿進(jìn)行粘接工藝研究,通過剪切強(qiáng)度測試和空洞率檢測確定了合適的點(diǎn)膠工藝參數(shù),并進(jìn)行了紅外熱阻測試和可靠性測試。結(jié)果表明,該半燒結(jié)
    的頭像 發(fā)表于 12-04 08:09 ?1129次閱讀
    半<b class='flag-5'>燒結(jié)</b>型<b class='flag-5'>銀</b>漿粘接工藝在晶圓封裝的應(yīng)用

    低溫燒結(jié)對(duì)鍍層點(diǎn)要求

    低溫燒結(jié)對(duì)鍍層
    的頭像 發(fā)表于 11-25 10:55 ?987次閱讀
    <b class='flag-5'>低溫</b><b class='flag-5'>無</b><b class='flag-5'>壓</b><b class='flag-5'>燒結(jié)</b><b class='flag-5'>銀</b>對(duì)<b class='flag-5'>鍍層</b>的<b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>點(diǎn)</b><b class='flag-5'>要求</b>