評(píng)估Minitab 中的測(cè)量過(guò)程研究（EMP研究）

如果你有完成的或者計(jì)劃進(jìn)行流程改進(jìn)工作，那么您可能會(huì)問(wèn)自己是否真的獲得了足夠精確的度量。在使用數(shù)據(jù)做出有關(guān)調(diào)整和資源分配的關(guān)鍵決策之前，您必須信任您的數(shù)據(jù)。測(cè)量系統(tǒng)分析（MSA）泛指估計(jì)和評(píng)估測(cè)量系統(tǒng)中的變化量。 一個(gè)類型是電磁脈沖研究（EMP），也稱為惠勒方法。EMP代表評(píng)估測(cè)量過(guò)程。EMP研究評(píng)估了兩種測(cè)量偏差來(lái)源:

·可重復(fù)性:當(dāng)同一操作員在相同的條件下，使用相同的量具多次測(cè)量同一部件時(shí)所觀察到的變化。

·再現(xiàn)性：當(dāng)?不同的操作人員?在相同的條件下使用相同的量具多次測(cè)量同一部件時(shí)所觀察到的變化。

根據(jù)重復(fù)性和再現(xiàn)性，EMP研究對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行了分類，從一級(jí)的最佳評(píng)級(jí)到四級(jí)的最差評(píng)級(jí)不等。實(shí)際上，這些等級(jí)解釋了測(cè)量系統(tǒng)如何很好地檢測(cè)過(guò)程平均值至少3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差的變化。如果測(cè)量系統(tǒng)可以檢測(cè)到這樣的變化，那么測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)該對(duì)其他過(guò)程改進(jìn)活動(dòng)有用。例如，許多控制圖使用偏離總體平均值3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差以上的子組平均值作為特殊原因影響過(guò)程的信號(hào)。

例如，一個(gè)消費(fèi)品制造商監(jiān)控谷物包裝盒的填充重量。制造商希望確保不同測(cè)量的差異足夠小，以便他們可以使用其他過(guò)程改進(jìn)分析。EMP研究的結(jié)果有助于確定測(cè)量系統(tǒng)是否可接受以及如何改進(jìn)測(cè)量系統(tǒng)。

測(cè)量系統(tǒng)可以接受嗎？

EMP統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)為測(cè)量系統(tǒng)提供了分類。在這些結(jié)果中，分類是一級(jí)。團(tuán)隊(duì)可以確信測(cè)量系統(tǒng)足夠好，可以用于其他過(guò)程改進(jìn)活動(dòng)。

測(cè)量系統(tǒng)如何改進(jìn)？

EMP研究還包括您可以用來(lái)決定何時(shí)優(yōu)先改進(jìn)測(cè)量系統(tǒng)的信息。平均范圍分析（ANOMR）和主效應(yīng)分析（ANOME）顯示了相對(duì)于過(guò)程變化而言再現(xiàn)性較低的地方。在這個(gè)ANOMR中，操作員B一致性低于其他兩個(gè)操作員。提高操作員B的一致性將改善測(cè)量系統(tǒng)。

在本例ANOME中，不同的操作員傾向于測(cè)量比彼此更高或更低的值。使不同操作員的平均測(cè)量值更接近的改進(jìn)將改進(jìn)測(cè)量系統(tǒng)。

信任您的數(shù)據(jù)

要對(duì)數(shù)據(jù)采取行動(dòng)，你需要相信數(shù)據(jù)是正確的。Minitab統(tǒng)計(jì)軟件中的EMP研究使您能夠了解您的測(cè)量系統(tǒng)是否可接受以及如何改進(jìn)您的測(cè)量系統(tǒng)。當(dāng)您評(píng)估測(cè)量的精度時(shí)，您可以相信接下來(lái)的一切都是由您可以信任的數(shù)據(jù)構(gòu)建而成的。

審核編輯 黃宇