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微觀特征輪廓尺寸測(cè)量:光學(xué)3D輪廓儀、共焦顯微鏡與臺(tái)階儀的應(yīng)用

中圖儀器 ? 2024-06-05 09:38 ? 次閱讀

隨著科技進(jìn)步,顯微測(cè)量?jī)x器以滿足日益增長(zhǎng)的微觀尺寸測(cè)量需求而不斷發(fā)展進(jìn)步。多種高精度測(cè)量?jī)x器被用于微觀尺寸的測(cè)量,其中包括光學(xué)3D表面輪廓儀(白光干涉儀)、共聚焦顯微鏡和臺(tái)階儀。有效評(píng)估材料表面的微觀結(jié)構(gòu)和形貌,從而指導(dǎo)生產(chǎn)過(guò)程、優(yōu)化產(chǎn)品性能。

光學(xué)3D表面輪廓儀(白光干涉儀)

光學(xué)3D表面輪廓儀是一種利用白光干涉原理進(jìn)行非接觸式測(cè)量的高精度儀器。它通過(guò)分析反射光的干涉模式來(lái)重建表面的三維形貌。

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非接觸無(wú)損測(cè)量,超高縱向分辨率,測(cè)量從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面。測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,典型結(jié)果包括:

表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,臺(tái)階高度,錐角等等);

幾何特征(關(guān)鍵孔徑尺寸,曲率半徑,特征區(qū)域的面積和體積,特征圖形的位置和數(shù)量等等)。

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光學(xué)3D表面輪廓儀廣泛應(yīng)用于對(duì)器件表面質(zhì)量要求超高的光學(xué)加工、半導(dǎo)體制造與封裝、超精密加工、3C產(chǎn)業(yè)鏈等,同時(shí)在航空航天、國(guó)防工業(yè)以及科學(xué)研究等領(lǐng)域也存在普遍使用。它能以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。

共聚焦顯微鏡

共聚焦顯微鏡以共軛共焦技術(shù)為基礎(chǔ)研制而成的用于樣品表面3D微觀形貌檢測(cè)的精密光學(xué)儀器。

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非接觸式無(wú)損檢測(cè)方式,復(fù)雜結(jié)構(gòu)的大角度形貌測(cè)量能力,優(yōu)異的橫向分辨率,低反射率表面的適應(yīng)性強(qiáng)。

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共聚焦顯微鏡廣泛應(yīng)用于對(duì)器件表面質(zhì)量要求非常高的光伏太陽(yáng)能、半導(dǎo)體封裝、激光加工、光學(xué)膜材、3C產(chǎn)業(yè)鏈等高端制造業(yè),同時(shí)在航空航天、國(guó)防工業(yè)以及科學(xué)研究等領(lǐng)域也存在普遍使用。

臺(tái)階儀

臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器,主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。

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臺(tái)階儀應(yīng)用場(chǎng)景適應(yīng)性,廣泛用于半導(dǎo)體、太陽(yáng)能光伏、光學(xué)加工、MEMS器件、微納材料制備等各行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的工業(yè)企業(yè)與高校院所等科研單位,對(duì)被測(cè)樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無(wú)特殊要求。

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在實(shí)際應(yīng)用中,選擇合適的測(cè)量?jī)x器需要綜合考慮樣品的性質(zhì)、測(cè)量需求和精度要求。通過(guò)合理利用這些先進(jìn)的測(cè)量技術(shù),可以有效提升微觀特征輪廓尺寸測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。

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