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晶圓制造工藝流程及常用名詞解釋

北京中科同志科技股份有限公司 ? 2024-10-23 11:34 ? 次閱讀

在現(xiàn)代電子工業(yè)中,晶圓(Wafer)作為半導(dǎo)體芯片的基礎(chǔ)材料,其制造過程復(fù)雜且精細(xì),直接決定了最終芯片的性能和質(zhì)量。晶圓制造工藝流程涵蓋了從原材料準(zhǔn)備到最終產(chǎn)品測試的一系列步驟,每個環(huán)節(jié)都至關(guān)重要。本文將詳細(xì)介紹晶圓制造的典型工藝流程,并對一些常用名詞進(jìn)行解釋。

一、晶圓制造工藝流程

晶圓制造工藝流程大致可以分為以下幾個主要階段:材料準(zhǔn)備、晶體生長或晶圓制備、晶圓制造和分揀、封裝、終測。

1.材料準(zhǔn)備

晶圓制造的第一步是準(zhǔn)備高純度的硅材料。硅是地殼中第二豐富的元素,通常以二氧化硅(SiO?)的形式存在。為了獲得用于制造晶圓的單晶硅,需要經(jīng)過多個步驟,包括砂子的熔煉、提純和晶體生長。

硅熔煉:將砂子中的二氧化硅轉(zhuǎn)化為硅金屬。這一過程通常涉及高溫熔煉,通過化學(xué)方法去除雜質(zhì),得到高純度的電子級硅(EGS)。電子級硅的平均純度要求每一百萬個硅原子中最多只有一個雜質(zhì)原子。

2.晶體生長或晶圓制備

拉晶(Crystal Pulling):在特定的溫度和環(huán)境下,將摻雜的多晶硅熔煉后,使用單晶硅“種子”緩慢旋轉(zhuǎn)并向上提拉,形成單晶硅錠。單晶錠的直徑由溫度和提取速度決定。

晶圓切片(Wafer Slicing):使用精密的鋸片將單晶硅錠切割成薄片,即晶圓。這些薄片厚度均勻,表面光滑,是后續(xù)加工的基礎(chǔ)。

晶圓研磨、侵蝕(Wafer Lapping, Etching):切割后的晶圓表面可能不平整,需要通過旋轉(zhuǎn)研磨機(jī)和氧化鋁漿料進(jìn)行機(jī)械研磨,使其表面平整、平行。然后,在氮化酸或乙酸溶液中蝕刻晶圓,去除微觀裂紋或表面損傷,并通過一系列高純度RO/DI水浴清洗。

硅片拋光、清洗(Wafer Polishing and Cleaning):在化學(xué)和機(jī)械拋光過程中,晶圓表面進(jìn)一步被拋光至鏡面效果。拋光過程包括多個步驟,使用不同粒度的拋光漿料和RO/DI水進(jìn)行清洗。最后,使用特定的化學(xué)溶液去除有機(jī)雜質(zhì)和顆粒,形成超干凈的表面。

晶片外延加工(Wafer Epitaxial Processing):在某些情況下,需要在晶圓表面生長一層單晶硅薄膜。氣相外延(VPE)是一種常用的方法,通過化學(xué)反應(yīng)在晶圓表面沉積一層新的單晶硅層。這一層通常具有不同的電活性摻雜劑濃度,以滿足特定器件的需求。

3.晶圓制造和分揀

晶圓制造是半導(dǎo)體器件制造的核心環(huán)節(jié),涉及多個復(fù)雜的工藝步驟,包括薄膜沉積、光刻、蝕刻、離子注入等。

薄膜沉積(Thin Film Deposition):在晶圓表面形成各種薄膜是制造半導(dǎo)體器件的基礎(chǔ)。這些薄膜可以是絕緣體、半導(dǎo)體或?qū)w,通過化學(xué)氣相沉積(CVD)、物理氣相沉積(PVD)等方法生長或沉積。例如,SiO?薄膜常作為絕緣層,而多晶硅薄膜則用于制作晶體管柵極。

光刻(Photolithography):光刻是圖形化工藝的核心步驟,通過光刻膠和掩模版將設(shè)計好的電路圖案轉(zhuǎn)移到晶圓表面。光刻膠是一種光敏材料,在紫外光照射下發(fā)生化學(xué)反應(yīng),形成與掩模版圖案相對應(yīng)的圖形。隨后,通過蝕刻去除未被光刻膠保護(hù)的區(qū)域,形成所需的電路結(jié)構(gòu)。

蝕刻(Etching):蝕刻是去除晶圓表面材料以形成特定圖形的過程。根據(jù)使用的化學(xué)物質(zhì)或等離子體,蝕刻可分為濕法蝕刻和干法蝕刻。濕法蝕刻使用化學(xué)溶液去除材料,而干法蝕刻則通過等離子體進(jìn)行物理或化學(xué)蝕刻。

離子注入(Ion Implantation):離子注入是改變晶圓表面電特性的重要工藝。通過加速摻雜原子的離子束轟擊晶圓表面,將雜質(zhì)原子注入到晶圓內(nèi)部,形成所需的摻雜層。注入后的晶圓通常需要進(jìn)行退火處理,以修復(fù)損傷并激活摻雜原子。

4.封裝

封裝是將制造好的芯片與外部環(huán)境隔離并保護(hù)起來的過程。封裝不僅保護(hù)芯片免受物理損傷和化學(xué)腐蝕,還提供了與外部電路連接的接口。封裝過程包括芯片切割、引線鍵合、封裝體成型和測試等步驟。

芯片切割:將晶圓切割成單個的芯片。這一步通常在晶圓測試完成后進(jìn)行,以確保只有合格的芯片被用于封裝。

引線鍵合:將芯片上的焊盤與外部引腳或封裝體內(nèi)的金屬線連接起來。引線鍵合通常使用金線或鋁線,通過熱壓或超聲波焊接實現(xiàn)。

封裝體成型:將芯片和引線封裝在塑料、陶瓷或金屬等材料中,形成完整的封裝體。封裝體不僅保護(hù)芯片免受外界環(huán)境的影響,還提供了穩(wěn)定的機(jī)械支撐和電連接。

5.終測

終測是對封裝后的芯片進(jìn)行全面測試的過程,以確保其性能和質(zhì)量符合設(shè)計要求。終測通常包括功能測試、可靠性測試和參數(shù)測試等多個環(huán)節(jié)。通過終測,可以篩選出不合格的芯片,確保只有合格的芯片被用于最終產(chǎn)品。

二、常用名詞解釋

晶圓(Wafer):圓形的高純度硅片,是半導(dǎo)體芯片制造的基礎(chǔ)材料。

單晶硅(Monocrystalline Silicon):具有完整晶格結(jié)構(gòu)的硅材料,用于制造高質(zhì)量的半導(dǎo)體器件。

多晶硅(Polycrystalline Silicon):由許多小單晶顆粒組成的硅材料,常用于制造晶體管的柵極和電阻器等元件。

光刻膠(Photoresist):一種光敏材料,用于光刻工藝中將電路圖案轉(zhuǎn)移到晶圓表面。

掩模版(Mask):具有特定圖案的透明板或金屬板,用于光刻過程中將圖案投影到晶圓表面。

化學(xué)氣相沉積(CVD):一種在襯底表面形成薄膜的化學(xué)方法,通過熱分解或化學(xué)反應(yīng)將氣體化合物沉積在襯底上。

物理氣相沉積(PVD):一種通過物理過程(如蒸發(fā)或濺射)將材料沉積到襯底上的方法。

濕法蝕刻(Wet Etching):使用化學(xué)溶液去除晶圓表面材料的方法。

干法蝕刻(Dry Etching):使用等離子體或反應(yīng)離子束等物理或化學(xué)方法去除晶圓表面材料的方法。

離子注入(Ion Implantation):通過加速摻雜原子的離子束轟擊晶圓表面,將雜質(zhì)原子注入到晶圓內(nèi)部以改變其電特性的方法。

退火(Annealing):將晶圓加熱到高溫并保持一段時間,以修復(fù)離子注入等工藝造成的損傷并激活摻雜原子的過程。

通過了解晶圓制造的工藝流程和常用名詞,我們可以更好地理解半導(dǎo)體芯片的生產(chǎn)過程和技術(shù)細(xì)節(jié)。隨著科技的不斷發(fā)展,晶圓制造技術(shù)也在不斷進(jìn)步和創(chuàng)新,為電子工業(yè)的發(fā)展提供了強(qiáng)大的支撐。

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