、15min關(guān)的循環(huán)測試到壽命終了，對LED產(chǎn)品的測量顯然不現(xiàn)實(shí)。因此有必要對LED產(chǎn)品采用加速老化壽命試驗(yàn)[1]，同時(shí)，也應(yīng)當(dāng)測試LED的熱學(xué)特性、環(huán)境耐候性、電磁兼容抗擾度等與壽命和可靠性密切相關(guān)
2015-08-04 17:42:14
、白熾燈、熒光燈等傳統(tǒng)照明燈具的唯一產(chǎn)品?！薄 ?.將led燈具放置在一個(gè)-15℃的環(huán)境下 測試方法：點(diǎn)燈測試后，通過繼電器控制燈具在此環(huán)境下進(jìn)行沖擊測試; 測試設(shè)置為：點(diǎn)燈20s、熄燈20s，循環(huán)
2015-08-04 17:40:32
000 h.所以LED 燈照明裝置能否應(yīng)用推廣的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一是其驅(qū)動(dòng)電源問題，筆者就提高大功率（ 100 ~ 200 W） 驅(qū)動(dòng)電源的可靠性從如下兩大方面進(jìn)行了探討?！ ? 防水及降溫處理 大功率LED
2019-06-01 15:47:32
是LED照明燈具的核心組件之一，其性能和可靠性直接決定了LED照明燈具的使用效果和壽命。為了能夠更好地應(yīng)用在LED照明燈具中，在LED驅(qū)動(dòng)電源的研發(fā)或者生產(chǎn)階段，需要采用合適的測試方案對LED驅(qū)動(dòng)電源各項(xiàng)...
2021-12-27 06:49:53
可靠性試驗(yàn)分類方法及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 1.如可靠性測試以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場試驗(yàn);2.可靠性試驗(yàn)以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn);3.
2017-01-20 09:59:00
當(dāng)組件上板后進(jìn)行一系列的可靠性驗(yàn)證，可靠性驗(yàn)證過程中產(chǎn)品失效時(shí)，透過板階整合失效分析能快速將失效接口找出，宜特協(xié)助客戶厘清真因后能快速改版重新驗(yàn)證來達(dá)到產(chǎn)品通過驗(yàn)證并如期上市。 透過板階整合失效分析
2018-08-28 16:32:38
和電子輔料等可靠性應(yīng)用場景方面具有專業(yè)的檢測、分析和試驗(yàn)能力，可為各研究院所、高校、企業(yè)提供產(chǎn)品的可靠性檢測、失效分析、老化測試等一體化服務(wù)。本中心目前擁有各類可靠性檢測分析儀器，其中包括
2018-06-04 16:13:50
、ESD和雷擊試驗(yàn)等〕等?！“?b class="flag-6" style="color: red">試驗(yàn)的性質(zhì)劃分：可分為工程試驗(yàn)和統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)兩大類。工程試驗(yàn)包括環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)和可靠性增長試驗(yàn)。統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)包括可靠性鑒定〔驗(yàn)證〕試驗(yàn)和可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)。元器件失效分析 失效
2011-11-24 16:28:03
、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)?！「鶕?jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的，可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測定試驗(yàn)。可靠性測定試驗(yàn)是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn)，通常用來提供可靠性
2015-08-04 11:04:27
：試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)介紹、試驗(yàn)順序和試驗(yàn)步驟對產(chǎn)品的影響、試驗(yàn)應(yīng)力、嚴(yán)酷等級對產(chǎn)品的影響、可靠性試驗(yàn)的驗(yàn)收、驗(yàn)證試驗(yàn)中如何確定試驗(yàn)應(yīng)力4、環(huán)境應(yīng)力對產(chǎn)品的影響：溫度應(yīng)力對產(chǎn)品的影響、濕度對產(chǎn)品的影響、機(jī)械應(yīng)力
2010-08-27 08:25:03
[size=***4pt]課程介紹：實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)的過程中有兩大難題，其中之一就是如何在實(shí)驗(yàn)室樣機(jī)階段就能把潛在的隱患激發(fā)出來，不要讓用戶成為我們的測試工程師。為了解決此問題，我公司組織多位資深
2011-03-28 22:33:18
HALT & HASS是由美國軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6個(gè)月甚至1年的新產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)縮短至一周，且在這
2015-08-04 17:38:43
標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)等做為生產(chǎn)制造依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)。可靠性標(biāo)準(zhǔn)是依據(jù)科學(xué)，經(jīng)過長期工程實(shí)踐和試驗(yàn)驗(yàn)證的可靠性管理與技術(shù)經(jīng)驗(yàn)的總結(jié)。貫徹執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)是減少可靠性投資，提高產(chǎn)品可靠性起點(diǎn)，縮短可靠性增長周期的重要途徑
2009-05-24 16:49:57
可靠性是我們在開展電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中常常繞不開的問題。例如，客戶需要我們提供相關(guān)的可靠性預(yù)計(jì)報(bào)告，客戶需要我們的產(chǎn)品提供相應(yīng)的可靠性試驗(yàn)報(bào)告，或者企業(yè)內(nèi)部需要控制產(chǎn)品質(zhì)量，制定了一系列的可靠性工作
2017-12-08 10:47:19
; 二是驗(yàn)證產(chǎn)品在規(guī)定條件下的使用壽命、貯存壽命是否達(dá)到規(guī)定的要求。兩個(gè)最有效的壽命試驗(yàn)項(xiàng)目 高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和加速壽命試驗(yàn)(ALT) 是產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)中運(yùn)用的最有效的兩種可靠性試驗(yàn)技術(shù)
2015-08-04 11:20:27
驗(yàn)證產(chǎn)品在規(guī)定條件下的使用壽命、貯存壽命是否達(dá)到規(guī)定的要求。兩個(gè)最有效的壽命試驗(yàn)項(xiàng)目 高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和加速壽命試驗(yàn)(HALT) 是產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)中運(yùn)用的最有效的兩種可靠性試驗(yàn)技術(shù)。高加速
2015-08-04 11:16:41
應(yīng)力結(jié)合進(jìn)行試驗(yàn)?？梢?，可靠性試驗(yàn)所選用的環(huán)境應(yīng)力數(shù)量比環(huán)境試驗(yàn)少得多。環(huán)境應(yīng)力量值選用準(zhǔn)則：環(huán)境試驗(yàn)基本采用極值條件，用嚴(yán)酷代替溫和，即采用產(chǎn)品在壽命周期內(nèi)可能遇到的最極端的環(huán)境條件作為試驗(yàn)條件。許多試驗(yàn)
2022-01-13 14:03:37
的白皮書：《一套證明GaN產(chǎn)品可靠性的綜合方法》。 與應(yīng)用相關(guān)的合格標(biāo)準(zhǔn)特別重要。雖然JEDEC明確規(guī)定需要進(jìn)行動(dòng)態(tài)測試，但它并未規(guī)定條件，也未列出在我們這個(gè)行業(yè)不斷演進(jìn)的應(yīng)用和材料集。我們的大多數(shù)
2018-09-10 14:48:19
質(zhì)量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說是IC產(chǎn)品的生命，好的品質(zhì)、長久的耐力往往就是一顆優(yōu)秀IC產(chǎn)品的競爭力所在。Quality就是產(chǎn)品性能的測量，它回答了一個(gè)
2019-11-23 09:59:07
質(zhì)量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說是IC產(chǎn)品的生命，好的品質(zhì)、長久的耐力往往就是一顆優(yōu)秀IC產(chǎn)品的競爭力所在。Quality就是產(chǎn)品性能的測量，它回答了一個(gè)
2019-11-26 16:59:02
LabVIEW開發(fā)的測試
環(huán)境要如何
驗(yàn)證自身的
可靠性呢？這個(gè)
環(huán)境是用來測試汽車儀表用的，可是不能保證
環(huán)境自身的
可靠性，那么測試的結(jié)果也就沒有意義了。請高人指點(diǎn)下~?。?/div>
2017-09-26 08:07:49
批次性特點(diǎn)；2）芯片在高溫爆裂，可能是芯片受潮或者是封裝的原因（芯片內(nèi)部金屬導(dǎo)線無損傷，硅晶片被損壞）。3）芯片在長期處于高溫（模擬熱帶地區(qū)環(huán)境）狀態(tài)下其性能的變化情況，需進(jìn)行可靠性測試。求助：1）應(yīng)該對該ＳＤＲＡＭ芯片，怎么樣進(jìn)行可靠性測試，采用什么方式和手段（經(jīng)濟(jì)便宜型）。
2012-07-27 01:00:25
，僅供參考。下面言歸正傳。JEITA ED-4701是稱為“半導(dǎo)體器件的環(huán)境和耐久性試驗(yàn)方法”的標(biāo)準(zhǔn)，是用來進(jìn)行工業(yè)及消費(fèi)電子的半導(dǎo)體評估的試驗(yàn)方法。在日本國內(nèi)是通用的標(biāo)準(zhǔn)。也就是說，從上述可靠性數(shù)據(jù)可以看出
2018-11-30 11:50:49
費(fèi)舍爾科技有限公司，專注與環(huán)境與可靠性試驗(yàn)設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售，產(chǎn)品有：鹽霧試驗(yàn)箱、高低溫（交變）濕熱試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、紫外光耐氣候試驗(yàn)箱、氙燈耐氣候試驗(yàn)箱、臭氧老化試驗(yàn)箱、熱老化試驗(yàn)
2008-09-22 16:46:32
、軍事、電子等軍工工業(yè)，隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代，隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展，可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中，可靠性工程得到迅速發(fā)展！1965年，美國頒發(fā)了《系統(tǒng)與設(shè)備
2020-07-03 11:09:11
講解了TVS管的可靠性指標(biāo)以及TVS管可靠性的驗(yàn)證方法，包括測試法驗(yàn)證TVS管和理論計(jì)算法驗(yàn)證TVS管。資深失效分析工程師陸玉鳳女士陸玉鳳女士，是中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)理學(xué)碩士，高級工程師，從事電子產(chǎn)品失效
2019-01-22 17:16:18
簡介這篇文章闡述了一種被飛思卡爾使用的高功率射頻功放的熱測量方法。半導(dǎo)體器件的可靠性和器件的使用溫度有很大的關(guān)系，因此，建立使用了高功率器件的系統(tǒng)的可靠性模型，這些高功率器件的精確的溫度特性非常關(guān)鍵。
2019-06-27 07:52:25
工程是減少壽命費(fèi)用的重要工具，可靠性工廠得到進(jìn)一步發(fā)展，更嚴(yán)格、更符合實(shí)際、更有效的設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被采用，帶動(dòng)了失效研究和分析技術(shù)的快速發(fā)展。90年代以后，可靠性工程從軍工企業(yè)發(fā)展到民用電子信息產(chǎn)業(yè)、交通
2020-07-03 11:18:02
，以驗(yàn)證選擇的方法。使用者同時(shí)須有可迅速取得的設(shè)備、運(yùn)用合適的方法，以進(jìn)行例行性的重新校準(zhǔn)工作。本文將簡述儀器設(shè)計(jì)架構(gòu)，并概述所運(yùn)用的測量方法。
2019-05-31 07:51:04
一個(gè)月、或者一段時(shí)間以后是否還能滿足客戶要求？這就需要可靠性，這就是可靠性的本質(zhì)和內(nèi)涵、價(jià)值所在。我們可以把質(zhì)量形象當(dāng)成產(chǎn)品壽命初期形成的一個(gè)產(chǎn)品縮影/快照，而可靠性像是產(chǎn)品經(jīng)過日復(fù)一日的使用后，凝聚
2017-12-08 10:53:45
基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)的可靠性測試方法企業(yè)設(shè)計(jì)的可靠性測試方法
2021-03-08 07:55:20
通過ESS、環(huán)境鑒定試驗(yàn)之后，技術(shù)狀態(tài)已經(jīng)固化。可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)RAT驗(yàn)證批生產(chǎn)的產(chǎn)品可靠性是否保持在規(guī)定的水平。電子產(chǎn)品、電氣、機(jī)電、光電和電化學(xué)產(chǎn)品和成敗型產(chǎn)品。產(chǎn)品批生產(chǎn)階段。壽命試驗(yàn)LT驗(yàn)證產(chǎn)品
2019-07-23 18:29:15
可靠性的研討 *提高系統(tǒng)可靠性的途徑；*改善電子系統(tǒng)的使用環(huán)境降低元器件的環(huán)境溫度常用壽命分布分析的參數(shù)方法：參數(shù)分布的選擇、常用壽命分布分析、參數(shù)模型的分析；常用壽命分布分析的非參數(shù)方法：估計(jì)可靠度
2011-05-03 11:22:06
軍用電子元器件二篩，二次篩選試驗(yàn)，進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)
按性質(zhì)分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
產(chǎn)值正不斷急遽成長，然而，若要讓照明光源完全從傳統(tǒng)的白熾燈泡照明方式轉(zhuǎn)換為LED照明，在產(chǎn)品特性上仍有些亟待解決的問題存在，其中，業(yè)界研發(fā)重點(diǎn)尤以LED燈的高演色性與高可靠性為主，以下將分別就業(yè)者針對
2014-01-24 15:57:20
單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的設(shè)計(jì)包括功能性設(shè)計(jì)、可靠性設(shè)計(jì)和產(chǎn)品化設(shè)計(jì)。其中，功能性是基礎(chǔ)，可靠性是保障，產(chǎn)品化是前途。因此，從事單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)開發(fā)工作的設(shè)計(jì)人員必須掌握可靠性設(shè)計(jì)。 一、可靠性與可靠性設(shè)計(jì)1．
2021-01-11 09:34:49
的可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)和軟件系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)的解決方法?？晒﹩纹瑱C(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的開發(fā)人員借鑒與參考。單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的設(shè)計(jì)包括功能性設(shè)計(jì)、可靠性設(shè)計(jì)和產(chǎn)品化設(shè)計(jì)。其中，功能性是基礎(chǔ)，可靠性是保障，產(chǎn)品化是前途。因此，從事單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)開發(fā)工作的設(shè)計(jì)人員必須掌握可靠性設(shè)計(jì)。
2021-02-05 07:57:48
可靠性的研討 *提高系統(tǒng)可靠性的途徑；*改善電子系統(tǒng)的使用環(huán)境降低元器件的環(huán)境溫度常用壽命分布分析的參數(shù)方法：參數(shù)分布的選擇、常用壽命分布分析、參數(shù)模型的分析；常用壽命分布分析的非參數(shù)方法：估計(jì)可靠度
2011-05-15 11:19:26
高可靠性系統(tǒng)設(shè)計(jì)包括使用容錯(cuò)設(shè)計(jì)方法和選擇適合的組件，以滿足預(yù)期環(huán)境條件并符合標(biāo)準(zhǔn)要求。本文專門探討實(shí)現(xiàn)高可靠性電源的半導(dǎo)體解決方案，這類電源提供冗余、電路保護(hù)和遠(yuǎn)程系統(tǒng)管理。本文將突出顯示，半導(dǎo)體技術(shù)的改進(jìn)和新的安全功能怎樣簡化了設(shè)計(jì)，并提高了組件的可靠性。
2019-07-25 07:28:32
半導(dǎo)體器件的可靠性分析大都是圍繞其壽命來表征的，因此大都是壽命試驗(yàn)與失效機(jī)理分析相結(jié)合來進(jìn)行的。由于LED的理論壽命長達(dá)十萬小時(shí)，通常一般的壽命試驗(yàn)需要很長的時(shí)間，當(dāng)試驗(yàn)結(jié)束了，所選用的產(chǎn)品也該荒廢
2011-08-19 08:41:03
高可靠性系統(tǒng)設(shè)計(jì)包括使用容錯(cuò)設(shè)計(jì)方法和選擇適合的組件，以滿足預(yù)期環(huán)境條件并符合標(biāo)準(zhǔn)要求。本文專門探討實(shí)現(xiàn)高可靠性電源的半導(dǎo)體解決方案，這類電源提供冗余、電路保護(hù)和遠(yuǎn)程系統(tǒng)管理。本文將突出顯示，半導(dǎo)體技術(shù)的改進(jìn)和新的安全功能怎樣簡化了設(shè)計(jì)，并提高了組件的可靠性。
2021-03-18 07:49:20
的各種電氣基礎(chǔ)設(shè)施和市電電網(wǎng)公共設(shè)施。2.LED照明器件及系統(tǒng)的可靠性首先，什么是可靠性？其定義為——產(chǎn)品在規(guī)定的條件和規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，完成規(guī)定的功能的能力。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)代化的操作機(jī)器、工程裝備
2014-10-13 09:50:07
、生程過程、生產(chǎn)工藝、選用的材料、質(zhì)量控制及其是否正確應(yīng)用有關(guān)，在這諸多因素中，當(dāng)推結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是首要的。它在產(chǎn)品的固有可靠性中起決定性作用。因此，在研制設(shè)計(jì)的每一階段，或在可靠性增長試驗(yàn)中，都應(yīng)特別注意
2019-07-10 08:04:30
的可靠性通用技術(shù)要求。2.為巖土工程儀器的產(chǎn)品質(zhì)量控制、可靠性增長，提供科學(xué)技術(shù)依據(jù)。3.巖土工程的可靠性描述、建模、預(yù)計(jì)、指標(biāo)分配及指標(biāo)系列劃分、試驗(yàn)驗(yàn)證、故障判定等提供行業(yè)指導(dǎo)性技術(shù)文件。 基本原則
2020-10-30 07:18:06
使用各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備模擬氣候環(huán)境中的溫度，以及濕度變化等情況，加速激發(fā)產(chǎn)品在使用環(huán)境中可能發(fā)生的失效，來驗(yàn)證其是否達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中的預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)，為產(chǎn)品提供整體進(jìn)行評估，以確定產(chǎn)品可靠性壽命
2018-12-04 18:12:47
計(jì)標(biāo)準(zhǔn)化、規(guī)范化。國內(nèi)外大量事實(shí)已證明了這一點(diǎn)，產(chǎn)品設(shè)計(jì)應(yīng)采用模塊化設(shè)計(jì)方法。 （2）采用模塊和標(biāo)準(zhǔn)部件。模塊和標(biāo)準(zhǔn)部件是經(jīng)過大量試驗(yàn)和廣泛使用后證明為高可靠性的產(chǎn)品，因而能充分消除設(shè)備的缺陷和隱患，也為
2014-10-20 15:09:29
隨著傳統(tǒng)的機(jī)械開關(guān)的使用，用戶使用電容傳感器接口的經(jīng)驗(yàn)直接與各種工作條件下（可靠性）接觸傳感器的響應(yīng)（靈敏度）方式相關(guān)。 當(dāng)今為開發(fā)高質(zhì)量、可靠電容傳感器接口所采用的通用電容傳感器模擬前端測量方法有哪些呢？
2019-08-23 07:59:54
與機(jī)電產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)同步進(jìn)行。因此，設(shè)計(jì)人員必須明確可靠性設(shè)計(jì)的目的并掌握可靠性設(shè)計(jì)的方法。下面僅對機(jī)電產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行部分簡要探討。
2011-03-10 14:32:20
板階 (BLR) 車電可靠性驗(yàn)證iST宜特可提供汽車電子及零部件一站式整合驗(yàn)證服務(wù)。車用電子測試不僅著重于產(chǎn)品壽命測試，更重要的是，將產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及產(chǎn)品組裝質(zhì)量觀念，帶入試驗(yàn)中，例如推拉力測試、錫球接合
2018-09-06 16:56:38
)兩種模式，其目的確認(rèn)產(chǎn)品在受到外在彎曲應(yīng)力作用環(huán)境下，其元器件焊點(diǎn)及材料結(jié)構(gòu)等，所能忍受的彎曲深度及負(fù)荷力量大小。失效模式循環(huán)式彎曲試驗(yàn)(Cyclic Bending)，目的是驗(yàn)證產(chǎn)品耐疲勞能力
2018-09-20 15:06:08
)，都在考驗(yàn)著汽車電子產(chǎn)品的可靠性。本文簡單整理出汽車電子產(chǎn)品相關(guān)的環(huán)境可靠性試驗(yàn)條件，以提供給廣大客戶參考。 目前世界范圍內(nèi)，針對汽車電子產(chǎn)品有很多環(huán)境可靠性測試方面的要求及標(biāo)準(zhǔn)，而常用的標(biāo)準(zhǔn)主要有ISO
2016-02-23 21:22:20
使用、隨時(shí)移動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)的環(huán)境，而且根據(jù)產(chǎn)品安裝位置不同，必須承受的環(huán)境應(yīng)力條件也相差很大。因此，汽車電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)要求非常高，必須經(jīng)過各種苛刻環(huán)境實(shí)驗(yàn)的考驗(yàn)，確保產(chǎn)品在預(yù)期的壽命內(nèi)能夠正常工作，這也
2016-12-26 13:55:50
Management System)。iST宜特可提供汽車電子及零部件整合驗(yàn)證服務(wù)。車用電子測試不僅著重于產(chǎn)品壽命測試，更重要的是，將產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及產(chǎn)品組裝質(zhì)量觀念，帶入試驗(yàn)中，例如推拉力測試、錫球接合強(qiáng)度測試
2018-11-20 15:47:25
試驗(yàn)，電壓暫降測試，騷擾功率試驗(yàn)，電磁抗擾試驗(yàn)室，射頻測試，電磁場輻射試驗(yàn)，抗繞度試驗(yàn)，電瞬態(tài)干擾試驗(yàn)，插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測試：
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)，加速壽命試驗(yàn)（halt），環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ess），可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，可靠性鑒定試驗(yàn)，可靠性增長試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
的設(shè)計(jì)和使用環(huán)境進(jìn)行可靠性預(yù)計(jì)，未考慮影響產(chǎn)品可靠性的其他關(guān)鍵因素，例如工藝、制造、篩選、管理等，預(yù)計(jì)的結(jié)果表達(dá)的是設(shè)計(jì)的可靠性，而非現(xiàn)場可靠性。在充分認(rèn)識到Bell-core-SR332方法的缺陷后，依據(jù)
2019-06-19 08:24:45
的使用壽命具有很大的影響，而設(shè)計(jì)缺陷是無法通過后期的生產(chǎn)工藝來進(jìn)行彌補(bǔ)的，因此設(shè)計(jì)的可靠性非常重要。HALT試驗(yàn)是驗(yàn)證產(chǎn)品設(shè)計(jì)可靠性的重要手段，通過施加相應(yīng)的環(huán)境應(yīng)力來加速暴露產(chǎn)品的缺陷或薄弱環(huán)節(jié)，使
2016-01-18 10:42:33
手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn)的目的 產(chǎn)品可靠性是設(shè)計(jì)和制造出來的，但必須通過試驗(yàn)予以驗(yàn)證。在手機(jī)的研制階段，為了保證手機(jī)具有一定的可靠性水平或提高手機(jī)的可靠性，要通過可靠性增長試驗(yàn)暴露手機(jī)的缺陷，進(jìn)而進(jìn)行分析
2009-11-13 22:31:55
不同的產(chǎn)品，為了達(dá)到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法。可靠性試驗(yàn)有多種分類方法.1. 如以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場試驗(yàn)；2. 以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命
2015-08-04 17:34:26
電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)，不看肯定后悔
2021-05-12 06:11:07
，開拓了旨在研究失效機(jī)理的可靠性物理這門新的學(xué)科，發(fā)展了失效模式、影響及危害性分析和故障樹兩種有效的分析方法。這些方法的使用，為提高元器件篩選的有效性和準(zhǔn)確性提供了強(qiáng)大的理論工具。失效一般分為現(xiàn)場失效
2016-11-17 22:41:33
售價(jià)高出兩倍！雖然這類UPS設(shè)計(jì)比較容易，成本也較低， 但“潛在的”更換電池則成本很高?！ ‰姵丶y波電流影響電池可靠性 理想情況下，為了延長UPS電池壽命， 應(yīng)讓電池總保持在“浮”充電或恒壓充狀態(tài)
2018-09-26 17:28:52
濾波器,接地,線路板,電磁波,可靠性設(shè)計(jì)方法,屏蔽體【DOI】：CNKI:SUN:JDXZ.0.2010-03-006【正文快照】：A接地電子設(shè)備的廣泛應(yīng)用和發(fā)展,必然導(dǎo)致它們在其周圍空間
2010-04-26 16:12:24
電路可靠性設(shè)計(jì)要注意什么_電路可靠性設(shè)計(jì)誤區(qū)-華強(qiáng)pcb 電路設(shè)計(jì)不僅有很多技巧，同樣也存在很多誤區(qū)。本文將介紹電路穩(wěn)定性設(shè)計(jì)當(dāng)中的十個(gè)誤區(qū)?！ ≌`區(qū)1：產(chǎn)品故障=產(chǎn)品不可靠 產(chǎn)品
2018-02-27 09:58:15
、動(dòng)力機(jī)械、生物醫(yī)學(xué)、氣象、地質(zhì)以及地震測量等領(lǐng)域中， 成為當(dāng)今發(fā)展高新技術(shù)裝備不可缺少的電子產(chǎn)品。而硅壓阻式壓力傳感器的一些參數(shù)隨環(huán)境應(yīng)力的改變而發(fā)生變化， 為了使產(chǎn)品在使用過程中的可靠性有保障， 盡早
2018-11-05 15:37:57
、壽命試驗(yàn)、篩選試驗(yàn)、現(xiàn)場使用試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)五大類。 對于半導(dǎo)體企業(yè)，進(jìn)行可靠性試驗(yàn)是提升產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段。在進(jìn)行工業(yè)級產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證時(shí)，通常選取樣品數(shù)為22?；景雽?dǎo)體將樣本數(shù)按照汽車級
2023-02-28 16:59:26
產(chǎn)品可靠性是指，在一定條件下產(chǎn)品無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。線束端子可靠性試驗(yàn)即是評估端子滿足電氣連接可靠性的能力。本文主要談?wù)劧俗?b class="flag-6" style="color: red">可靠性測試試驗(yàn)的具體內(nèi)容及意義?！ 《俗?b class="flag-6" style="color: red">可靠性試驗(yàn)涉及
2021-01-12 16:24:16
結(jié)構(gòu)及產(chǎn)品組裝質(zhì)量觀念，帶入試驗(yàn)中，例如推拉力測試、錫球接合強(qiáng)度測試、彎曲測試等，將傳統(tǒng)對于電子元器件著重于電性與環(huán)境溫濕度關(guān)聯(lián)度的試驗(yàn)范疇，擴(kuò)展到應(yīng)力與機(jī)構(gòu)，做一個(gè)先期驗(yàn)證。
2018-08-27 14:47:58
產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及產(chǎn)品組裝質(zhì)量觀念，帶入試驗(yàn)中，例如推拉力測試、錫球接合強(qiáng)度測試、彎曲測試等，將傳統(tǒng)對于電子元器件著重于電性與環(huán)境溫濕度關(guān)聯(lián)度的試驗(yàn)范疇，擴(kuò)展到應(yīng)力與機(jī)構(gòu)，做一個(gè)先期驗(yàn)證。
2018-09-06 17:05:17
。服務(wù)范圍各類裝備、航空航天產(chǎn)品、汽車、家電、電工電子產(chǎn)品、電子元器件、儀器儀表的整機(jī)及其結(jié)構(gòu)件、組件。檢測標(biāo)準(zhǔn)● GJB 150.8-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 淋
2023-09-21 16:30:05
服務(wù)內(nèi)容廣電計(jì)量是國內(nèi)沖擊試驗(yàn)能力較完善的權(quán)威檢測認(rèn)證服務(wù)機(jī)構(gòu)之一，配備了（1~35）t振動(dòng)臺、機(jī)械沖擊臺、沖擊響應(yīng)譜試驗(yàn)臺、跌落試驗(yàn)臺、輕量級沖擊機(jī)、中量級沖擊試驗(yàn)臺，可滿足國標(biāo)、國軍標(biāo)、美軍標(biāo)
2023-09-21 16:40:57
服務(wù)范圍橫向科研技術(shù)?持和服務(wù)、軌道交通、核電、裝備領(lǐng)域板卡失效分析、可靠性壽命試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行。檢測項(xiàng)目基于壽命特征分析的板卡壽命及剩余壽命研究：l 板卡X-ray
2024-03-15 17:27:02
LED產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)與應(yīng)用
本文主要站在LED制造者或使用者的立場來探討對應(yīng)不同的使用環(huán)境與場所，較具有效益的可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目以及這些試驗(yàn)的
2009-12-11 21:46:47
1338 可靠性試驗(yàn)指為分析評價(jià)產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的所有試驗(yàn)。廣義地講，任何與產(chǎn)品故障或故障效應(yīng)有關(guān)的試驗(yàn)都可以被認(rèn)為是可靠性試驗(yàn)。在新產(chǎn)品的開發(fā)過程中，調(diào)試、發(fā)現(xiàn)問題、改
2011-05-26 17:38:41
0 針對某型火箭第三級發(fā)動(dòng)機(jī)尾噴管姿態(tài)控制的電動(dòng)伺服機(jī)構(gòu)可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)方法開展研究，采用Weibull分布模型確定了電動(dòng)伺服系統(tǒng)的可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)的試驗(yàn)時(shí)間，同時(shí)在對電動(dòng)伺服系統(tǒng)任務(wù)階段的環(huán)境應(yīng)力和工作
2018-03-27 10:37:291 本文首先介紹了可靠性測試的概念與分類，其次介紹了壽命測試屬于可靠性測試及其作用，最后介紹了有效的壽命測試項(xiàng)目及壽命試驗(yàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
2018-05-14 09:40:4616177 
時(shí)間；(6)確定試驗(yàn)條件，包括環(huán)境條件、工作條件和負(fù)載條件以及試品的初始狀態(tài)；(7)根據(jù)產(chǎn)品的性能，規(guī)定應(yīng)測量的參數(shù)及相應(yīng)的測量方法和測量周期；(8)制定故障分類及判斷的準(zhǔn)則；(9)規(guī)定需記錄的項(xiàng)目
2018-06-28 18:38:50718 關(guān)于環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)之間關(guān)系的緊密性已毋庸置疑，可他們在研究目的、選取的環(huán)境應(yīng)力數(shù)量、選取環(huán)境應(yīng)力所需值標(biāo)準(zhǔn)、試驗(yàn)類型、試驗(yàn)時(shí)間、試驗(yàn)終止判據(jù)這6點(diǎn)方面上存在著顯著不同。
2021-05-19 14:42:371406 一般來說為了評價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)，是為預(yù)測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況
2023-05-20 09:16:021010 
無人機(jī)作為高科技產(chǎn)品，其環(huán)境可靠性是其重要性能之一。為了保證無人機(jī)在各種極端環(huán)境下正常工作，在無人機(jī)研制和生產(chǎn)過程中，需要進(jìn)行一系列環(huán)境可靠性試驗(yàn)。
首先，無人機(jī)需要進(jìn)行溫度環(huán)境試驗(yàn)。該試驗(yàn)
2023-04-17 15:39:22568 
芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測試？ 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測試是評估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011123 國家電網(wǎng)：在就地化保護(hù)入網(wǎng)檢測中，首次引入可靠性試驗(yàn)，驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)水平和壽命指標(biāo)。在關(guān)于新型一、二次設(shè)備（例如：電子式互感器）的科研項(xiàng)目中，增加了可靠性驗(yàn)證和壽命評估等相關(guān)研究課題。
2023-11-13 16:32:04453 
環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別
2023-12-08 09:31:46303 
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