老化測(cè)試是電源模塊測(cè)試的重要環(huán)節(jié)，是確保電源穩(wěn)定性和可靠性的重要手段。電源模塊老化測(cè)試就是對(duì)電源持續(xù)不斷滿(mǎn)負(fù)荷運(yùn)行的測(cè)試過(guò)程，判斷電源在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行下能否保持穩(wěn)定輸出。
2024-03-20 17:16:59
105 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《Hast老化試驗(yàn)測(cè)試.pdf》資料免費(fèi)下載
2024-03-13 15:42:38
0 安規(guī)測(cè)試是對(duì)開(kāi)關(guān)電源進(jìn)行電氣性能、安全性能等檢測(cè)，確保開(kāi)關(guān)電源符合規(guī)定并且安全可靠，為開(kāi)關(guān)電源的質(zhì)量把關(guān)。那么開(kāi)關(guān)電源安規(guī)測(cè)試有哪些測(cè)試要求和標(biāo)準(zhǔn)呢？
2024-03-11 14:57:12140 為了檢測(cè)和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能，高低溫老化測(cè)試是不可或缺的測(cè)試步驟。高低溫老化測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過(guò)程中的重要一環(huán)，電源模塊高低溫老化測(cè)試就是為了檢測(cè)電源模塊在高溫和低溫下是否可以正常工作。
2024-03-08 11:00:31122 逆變器是一種將直流電轉(zhuǎn)換為交流電的電子設(shè)備，廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能發(fā)電、風(fēng)能發(fā)電等領(lǐng)域。在逆變器的生產(chǎn)過(guò)程中，老化測(cè)試是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)。老化測(cè)試是指在一定的時(shí)間內(nèi)，對(duì)逆變器進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行測(cè)試，以模擬
2024-03-07 14:28:2091 
紫外發(fā)光二極管是指可發(fā)出波長(zhǎng)約400nm的近紫外光的發(fā)光二極管（led）。
2024-02-26 16:03:291263 
紫外可見(jiàn)光光度計(jì)是一種常用的實(shí)驗(yàn)儀器，用于測(cè)量物質(zhì)在紫外和可見(jiàn)光波段的吸光度。它廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)藥等領(lǐng)域的科研和實(shí)驗(yàn)室工作中。本文將詳細(xì)介紹紫外可見(jiàn)光光度計(jì)的使用步驟和注意事項(xiàng)。 第一步
2024-02-18 11:42:341276 什么是紫外線傳感器？它的結(jié)構(gòu)分類(lèi)有哪些？ 紫外線傳感器是一種能夠測(cè)量、檢測(cè)和監(jiān)測(cè)紫外線輻射的電子傳感器。紫外線屬于電磁波譜的一部分，波長(zhǎng)范圍在185納米到400納米之間。紫外線傳感器主要用于科學(xué)研究
2024-02-02 15:05:16221 汽車(chē)EMC測(cè)試項(xiàng)目是為了評(píng)估汽車(chē)電子設(shè)備在電磁環(huán)境下的抗干擾能力，以確保車(chē)輛的正常運(yùn)行和安全性。以下是關(guān)于汽車(chē)EMC測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)介紹，包括電磁兼容性測(cè)試、測(cè)試方法、測(cè)試要求和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
2024-01-31 14:32:09470 什么是晶體振蕩器老化？晶體振蕩器老化的原因 如何測(cè)量晶體振蕩器的老化？ 晶體振蕩器是一種以晶體諧振頻率為基準(zhǔn)在電子設(shè)備中產(chǎn)生穩(wěn)定時(shí)鐘信號(hào)的器件。然而，隨著時(shí)間的推移，晶體振蕩器會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)象，導(dǎo)致
2024-01-25 13:51:44174 晶振老化率影響及降低方法? 晶振老化率是指晶振在使用過(guò)程中逐漸失去性能或產(chǎn)生偏差的速率。晶振老化率的增加會(huì)導(dǎo)致頻率不準(zhǔn)確、抖動(dòng)增加、功耗增加等問(wèn)題，對(duì)于一些對(duì)時(shí)鐘要求較高的應(yīng)用來(lái)說(shuō)是不可接受的。然而
2024-01-24 15:40:29109 方案背景 近場(chǎng)測(cè)試非常適合產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段輻射發(fā)射的EMI預(yù)兼容測(cè)試。在EMC測(cè)試中，進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試時(shí)，通常天線離被測(cè)物EUT很遠(yuǎn)，進(jìn)行的都是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場(chǎng)輻射發(fā)射測(cè)試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我
2024-01-22 15:00:29175 
絕緣老化是指什么 老化原因 怎樣延緩絕緣老化? 絕緣老化是指絕緣材料在長(zhǎng)期使用過(guò)程中逐漸失去其原有性能，最終導(dǎo)致絕緣性能下降，不能滿(mǎn)足電器設(shè)備的工作要求。絕緣老化是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程，其原因可分為內(nèi)部
2023-12-29 11:03:22517 高溫老化測(cè)試，就如同電子產(chǎn)品的“煉獄”之旅。在這個(gè)過(guò)程中，產(chǎn)品被放置在一個(gè)模擬高溫惡劣環(huán)境的特殊設(shè)備——高溫老化試驗(yàn)箱中。試驗(yàn)箱能夠精確地控制溫度和濕度，以達(dá)到加速產(chǎn)品老化的效果。通過(guò)觀測(cè)產(chǎn)品在這種極端環(huán)境下的性能表現(xiàn)，工程師們可以評(píng)估其長(zhǎng)期使用的可靠性和潛在問(wèn)題。
2023-12-22 17:21:03415 
本測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用TP600多路功率溫度記錄儀制作的電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)可以同時(shí)對(duì)10組或更多電機(jī)進(jìn)行測(cè)試和老化試驗(yàn)。
2023-12-17 17:43:41143 
紫外線老化試驗(yàn)機(jī)在日常操作中會(huì)出現(xiàn)這樣或者那樣的問(wèn)題,下面艾思荔小編為大家具體介紹一下：一.紫外燈管點(diǎn)不亮。紫外線試驗(yàn)主要依靠紫外燈管來(lái)照射產(chǎn)品,所以紫外燈源很重要,為保障光源的穩(wěn)定性和均勻
2023-11-24 11:49:26355 
器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個(gè)項(xiàng)目，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目（測(cè)試項(xiàng)，試驗(yàn)條件，樣本量等）進(jìn)行了說(shuō)明。主要測(cè)試內(nèi)容分為器件性能測(cè)試、器件應(yīng)力測(cè)試和器件加速老化測(cè)試。
2023-11-10 17:47:27628 
如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化？ 集成電路芯片老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估芯片長(zhǎng)期使用后性能穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，人們對(duì)芯片的可靠性要求日益增高，因此老化測(cè)試
2023-11-10 15:29:05680 鋰離子電池老化的原因 鋰電池老化的影響 鋰離子電池（Lithium-ion battery）是一種常見(jiàn)的可充電電池，由于其高能量密度和長(zhǎng)周期壽命，廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、電動(dòng)車(chē)輛和儲(chǔ)能系統(tǒng)中。然而
2023-11-10 14:41:56975 電源模塊耐壓測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)及其規(guī)范是什么？要如何測(cè)試？ 電源模塊是電子設(shè)備中至關(guān)重要的部分，其耐壓測(cè)試是確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全性的重要環(huán)節(jié)。在進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)，需要遵循特定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，下面將詳細(xì)介紹電源模塊
2023-11-10 14:22:492052 什么是電源高壓測(cè)試？電源高壓測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)什么？如何進(jìn)行電源高壓測(cè)試？ 電源高壓測(cè)試是指對(duì)電源設(shè)備進(jìn)行高壓檢測(cè)，以驗(yàn)證其在額定工作條件下的安全性和可靠性。這項(xiàng)測(cè)試是為了確保電源設(shè)備在正常運(yùn)行過(guò)程中不會(huì)
2023-11-09 15:30:341118 開(kāi)關(guān)電源要如何測(cè)試？測(cè)試判斷的標(biāo)準(zhǔn)是什么？ 開(kāi)關(guān)電源是一種常見(jiàn)的電源供應(yīng)設(shè)備，用于將交流電轉(zhuǎn)換為穩(wěn)定的直流電。為了確保開(kāi)關(guān)電源的質(zhì)量和性能穩(wěn)定，對(duì)其進(jìn)行測(cè)試是非常重要的。下面將詳細(xì)介紹開(kāi)關(guān)電源的測(cè)試
2023-11-09 09:18:251648 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試？ 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過(guò)程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011120 開(kāi)關(guān)電源老化測(cè)試是檢測(cè)電源長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的重要測(cè)試方法。通過(guò)模擬開(kāi)關(guān)電源在實(shí)際工作環(huán)境(如高負(fù)荷、高溫等)中的長(zhǎng)時(shí)間使用，來(lái)驗(yàn)證其性能、穩(wěn)定性和可靠性。
2023-11-06 15:08:18302 
失效的情況，本文描述了汽車(chē)內(nèi)、外飾件材料、產(chǎn)生老化的原因，耐光老化的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求，以及如何在前期開(kāi)發(fā)對(duì)材料定義，和常見(jiàn)的一些減緩或者防止內(nèi)外飾件產(chǎn)生老化現(xiàn)象的措施。
2023-11-06 09:23:05259 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《紫外激光器的發(fā)展及應(yīng)用.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-10-31 11:12:310 精密推拉力測(cè)試機(jī)拉力剪切力測(cè)試儀參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)
2023-10-19 09:38:501 芯片老化測(cè)試的目的是為了評(píng)估芯片長(zhǎng)期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性，以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測(cè)試的內(nèi)容及注意事項(xiàng)，今天我們將分享如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化。
2023-10-16 15:49:32469 
PCBA（PrintedCircuitBoardAssembly，印刷電路板組裝）是現(xiàn)代電子產(chǎn)品中的核心組成部分。為確保其穩(wěn)定性、可靠性及長(zhǎng)期性能，老化測(cè)試成為其生產(chǎn)流程中的一個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文
2023-10-11 09:36:211152 
ESD和浪涌問(wèn)題往往是基帶工程師最頭疼的問(wèn)題，因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)苛，問(wèn)題神出鬼沒(méi)。特別是ESD問(wèn)題，沒(méi)有解決問(wèn)題的標(biāo)準(zhǔn)路徑，只能靠反復(fù)地構(gòu)思方案并驗(yàn)證。
想要盡量避免以上問(wèn)題，就必須選擇合適的防護(hù)器件，設(shè)計(jì)上做足防護(hù)措施。本文告訴你ESD和浪涌的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試方法，以及如何選擇TVS器件。
2023-10-09 12:18:282394 
紫外線老化試驗(yàn)箱又稱(chēng)紫外光耐候試驗(yàn)箱，紫外光老化測(cè)試機(jī)，耐光照試驗(yàn)箱，抗紫外線老化試驗(yàn)機(jī)，老化試驗(yàn)箱等等，雖然這一設(shè)備在名稱(chēng)方面各不相同，可它們的使用性能狀況卻是一樣的。為了使設(shè)備安全放心的為我們
2023-10-07 11:08:48200 
使這個(gè)問(wèn)題變得更加麻煩的是，根據(jù)工作溫度，觸發(fā)熱老化所需的時(shí)間可能長(zhǎng)達(dá)數(shù)百或數(shù)千小時(shí)，這超出了正常生產(chǎn)線測(cè)試的范圍。因此，如果未被發(fā)現(xiàn)，該問(wèn)題可能會(huì)導(dǎo)致潛在的現(xiàn)場(chǎng)故障問(wèn)題。
2023-10-04 16:17:00253 
有效的日常紫外線防護(hù)是一項(xiàng)技術(shù)挑戰(zhàn)。太陽(yáng)鏡構(gòu)成了當(dāng)前眼睛抵御紫外線的標(biāo)準(zhǔn)保護(hù)。澳大利亞太陽(yáng)鏡標(biāo)準(zhǔn)是常見(jiàn)的紫外線防護(hù)基準(zhǔn)，這些標(biāo)準(zhǔn)將315至400nm范圍內(nèi)的光定義為有害UVA
2023-09-26 08:17:48292 
、信息技術(shù)設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備、電源設(shè)備、電纜橋架、無(wú)線產(chǎn)品、電器附件等產(chǎn)品的光老化試驗(yàn)。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)DIN 75 220、JIS D0205、ISO 4892-2、ISO 48
2023-09-21 16:36:13
空氣質(zhì)量對(duì)我們的身體健康和生活質(zhì)量有著重要的影響，紫外線空氣凈化處理設(shè)備的使用也越來(lái)越普遍。紫外線傳感器作為空氣處理設(shè)備的重要組成部分，發(fā)揮著重要的作用。 紫外線是太陽(yáng)輻射的一種，紫外線可以促進(jìn)傷口
2023-09-21 10:14:35489 
對(duì)電源產(chǎn)品進(jìn)行老化測(cè)試是為了檢驗(yàn)和提高電源產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性和安全性，它是生產(chǎn)工藝流程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。老化測(cè)試可以幫助制造商確保其產(chǎn)品在各種工作條件下均能正常工作，從而提供高品質(zhì)的電源解決方案
2023-09-19 10:09:17811 
作者：屈工有話說(shuō) 對(duì)電源產(chǎn)品進(jìn)行老化測(cè)試是為了檢驗(yàn)和提高電源產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性和安全性，它是生產(chǎn)工藝流程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。老化測(cè)試可以幫助制造商確保其產(chǎn)品在各種工作條件下均能正常工作，從而
2023-09-19 10:07:03797 
氙燈老化試驗(yàn)機(jī)是科研生產(chǎn)過(guò)程中篩選配方優(yōu)化產(chǎn)品組成的重要手段，也是產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)的一項(xiàng)重要的內(nèi)容應(yīng)用材料如涂料，塑料，鋁塑板，以及汽車(chē)安全玻璃等產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)均要求做耐候試驗(yàn)。氙燈老化試驗(yàn)機(jī)模擬造成材料老化
2023-09-15 10:30:55421 
絕緣電阻測(cè)試儀是一種用于測(cè)量電氣設(shè)備絕緣狀況的儀器。它主要通過(guò)向設(shè)備施加高電壓，來(lái)檢測(cè)設(shè)備絕緣是否達(dá)到要求。本文將詳細(xì)介紹絕緣電阻測(cè)試儀的使用方法和標(biāo)準(zhǔn)。 一、使用方法 1. 準(zhǔn)備工作：將絕緣電阻
2023-09-13 11:16:479553 太陽(yáng)光模擬器是一種用于模擬太陽(yáng)光的設(shè)備，其在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，如太陽(yáng)能電池板測(cè)試、植物生長(zhǎng)研究等。而全光譜老化試驗(yàn)則是利用太陽(yáng)光模擬器對(duì)材料進(jìn)行老化試驗(yàn)的一種方法，旨在評(píng)估材料在太陽(yáng)光
2023-09-13 10:08:09439 
實(shí)現(xiàn)深紫外光通信的一個(gè)關(guān)鍵器件是深紫外光源。早期深紫外光源利用高壓汞燈實(shí)現(xiàn)，但汞燈的調(diào)制帶寬非常小，這嚴(yán)重影響了深紫光通信的傳輸速率。
2023-09-05 11:13:00484 
的標(biāo)準(zhǔn)。其中，最重要的標(biāo)準(zhǔn)是國(guó)際電氣規(guī)范（IEC）和中國(guó)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)（GB）。這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了過(guò)電壓保護(hù)器的測(cè)試方法和要求，包括電氣性能測(cè)試、操作可靠性測(cè)試、耐熱性能測(cè)試等方面。 電氣性能測(cè)試是過(guò)電壓保護(hù)器測(cè)試的重要環(huán)
2023-08-29 09:43:13569 針對(duì)NMC631體系軟包鋰離子電池在高溫循環(huán)
老化過(guò)程中的熱安全性進(jìn)行研究，待電池SOH分別衰減至100%、90%、以及80%時(shí)進(jìn)行絕熱放電產(chǎn)熱
測(cè)試、絕熱熱失控
測(cè)試、以及絕熱過(guò)充
測(cè)試，從多角度分析高溫
老化對(duì)電池?zé)岚踩阅艿挠绊憽?/div>
2023-08-28 10:09:42263 
BGA老化座中的BGA全稱(chēng)是BallGridArray(球柵陣列結(jié)構(gòu)的PCB)，它是集成電路采用有機(jī)載板的一種封裝法。那么這種老化座有什么優(yōu)勢(shì)呢?
?緊湊型設(shè)計(jì)，提高老化測(cè)試板容量
2023-08-22 13:32:03
臭氧老化試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于模擬和測(cè)試材料在臭氧環(huán)境下的老化性能的設(shè)備。這種設(shè)備廣泛應(yīng)用于橡膠、塑料、涂料等高分子材料的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。本文將介紹臭氧老化試驗(yàn)箱的基本原理、技術(shù)參數(shù)
2023-08-22 10:16:31539 
紫外輻射傳感器采用光電測(cè)探器，接收紫外光波電信號(hào)。該產(chǎn)品用來(lái)測(cè)量大氣中的太陽(yáng)紫外線輻射（UVAB波長(zhǎng)范圍）的精密儀器，與數(shù)據(jù)采集儀配合使用可提供公眾所關(guān)心的信息：UV指數(shù)、UV紅斑測(cè)量，UV對(duì)人體
2023-08-07 14:06:0391 
一種能夠在日光下工作而不受可見(jiàn)光干擾的紫外光探測(cè)器。日盲紫外探測(cè)器對(duì)可見(jiàn)光具有很低的響應(yīng)，在環(huán)境監(jiān)測(cè)、太陽(yáng)輻射測(cè)量、航天科學(xué)、太陽(yáng)能電池優(yōu)化和軍事應(yīng)用等領(lǐng)域都有重要的應(yīng)用。由于紫外光在很多領(lǐng)域中具有重要的研究和應(yīng)用價(jià)值，日盲紫外探測(cè)器的發(fā)展對(duì)于提高測(cè)量的精確性和可靠性具有重要意義。
2023-08-04 11:21:08762 
Simcenter Amesim電池老化參數(shù)辨識(shí)工具內(nèi)置于電池單體和電池包模型中，該工具基于老化經(jīng)驗(yàn)公式幫助用戶(hù)通過(guò)電池老化試驗(yàn)獲得描述電池老化的相關(guān)參數(shù)。
2023-08-03 14:57:26559 
精心設(shè)計(jì)的功能，可以直接使用，但如果產(chǎn)品沒(méi)有通過(guò)老化測(cè)試達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)，會(huì)影響工作使用壽命，如果買(mǎi)回的電源能在一段時(shí)間內(nèi)正常使用，就證明老化是合格的，可以用很長(zhǎng)時(shí)間。
2023-07-27 14:08:52363 1范圍GB/T16422的本部分規(guī)定了試樣在配有熒光紫外輻射，熱和水的試驗(yàn)設(shè)備中進(jìn)行暴露的試驗(yàn)方法，該方法用于模擬材料在實(shí)際使用環(huán)境中暴露于日光或窗玻璃過(guò)濾后日光下發(fā)生的自然老化效果。本部分適用于
2023-07-26 16:17:350 1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了色漆和清漆曝露在氙燈裝置及水、水蒸氣下的人工氣候老化試驗(yàn)程序。老化的結(jié)果可以通過(guò)比較涂層在老化前、老化過(guò)程中以及老化后所選定的參數(shù)來(lái)單獨(dú)評(píng)定本標(biāo)準(zhǔn)描述了一些最重要的參數(shù)，詳細(xì)
2023-07-26 14:48:170 紫外老化試驗(yàn)箱是一種用于模擬自然環(huán)境中的紫外線、濕度和溫度對(duì)材料老化影響的設(shè)備。它被廣泛用于研究材料的耐久性、性能和可靠性，是產(chǎn)品質(zhì)量控制和研發(fā)過(guò)程中不可或缺的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。上海和晟HS系列紫外老化
2023-07-20 11:20:01514 
“半導(dǎo)體激光器是光收發(fā)模塊核心器件，其穩(wěn)定性直接影響模塊的產(chǎn)品質(zhì)量，CoC老化測(cè)試是一種有效的剔除早期CoC產(chǎn)品失效的篩選方法。聯(lián)訊儀器CoC老化測(cè)試設(shè)備通過(guò)控制老化溫度，老化電流，老化時(shí)長(zhǎng)等測(cè)試
2023-07-20 00:00:00631 
Q A 問(wèn)： 陶瓷電容老化現(xiàn)象的影響 陶瓷電容 受到與介電晶體結(jié)構(gòu)變化有關(guān)的老化現(xiàn)象的影響，這種老化現(xiàn)象表現(xiàn)為介電材料初始燒制后電容和耗散因子的變化。與已建立的模式一致，EIA I類(lèi)介電材料受影響
2023-07-19 20:10:05581 
、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性，氣密性。散熱器PCT老化試
2023-07-19 09:25:29
老化測(cè)試最終的目的是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命，為生產(chǎn)商評(píng)估或預(yù)測(cè)試所生產(chǎn)的產(chǎn)品耐用性的好壞！
2023-07-04 15:56:591248 
老化測(cè)試座是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行測(cè)試的設(shè)備，具有以下幾個(gè)優(yōu)勢(shì)：
2023-07-01 16:38:24603 
適用于器件快速篩選、絕緣耐壓測(cè)試、直流安規(guī)模擬測(cè)試、靜電干擾模擬、高壓電壓表的功能,它將把關(guān)入庫(kù)產(chǎn)品質(zhì)量,鍛煉產(chǎn)品抗干擾、抗靜電的能力,降低產(chǎn)品返修率，是您原材料入庫(kù)、產(chǎn)品研發(fā)、測(cè)試、老化的得力助手
2023-07-01 15:57:42528 
凱智通微電子的IC老化測(cè)試座均采用優(yōu)質(zhì)材料原廠精工生產(chǎn)，采用翻蓋或是下壓彈片、探針結(jié)構(gòu)，探針為良好電氣導(dǎo)通性能的優(yōu)質(zhì)鈹金測(cè)試針，芯片定位快捷準(zhǔn)確，再結(jié)合性能良好的歐式插針，經(jīng)久耐用。良好的日常保養(yǎng)
2023-06-28 15:19:05539 /T?30549-2014《永磁交流伺服電動(dòng)機(jī)通用技術(shù)條件》的性能測(cè)試部分及參照其它國(guó)標(biāo)要求和各項(xiàng)伺服電機(jī)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),對(duì)伺服電機(jī)試驗(yàn)?zāi)康?、試?yàn)步驟和試驗(yàn)方法進(jìn)行型式驗(yàn)證測(cè)試。 試驗(yàn)項(xiàng)目： 絕緣電阻測(cè)試、空載試驗(yàn)、堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)、溫升試驗(yàn)、負(fù)載試驗(yàn)（效率、功率因數(shù)
2023-06-26 11:33:061830 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《使用ML8511紫外線傳感器Arduino的紫外線指數(shù)計(jì).zip》資料免費(fèi)下載
2023-06-26 10:36:210 【產(chǎn)品介紹】紫外老化試驗(yàn)箱適用于非金屬材料的耐陽(yáng)光和人工光源的老化試驗(yàn)。源采用8只額定功率為40W的紫外熒光燈作發(fā)光源。紫外線熒光燈管，分布在機(jī)器的兩側(cè)，每側(cè)各4只（有UVA-340和UVB-313
2023-06-14 15:20:45250 
一、產(chǎn)品名稱(chēng) 紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī)/紫外光耐氣候試驗(yàn)箱/紫外老化試驗(yàn)箱 二、產(chǎn)品概述 該系列產(chǎn)品適用于非金屬材料的耐陽(yáng)光和人工光源的老化試驗(yàn)；包括3類(lèi)：UV－A波長(zhǎng)為
2023-06-09 17:13:36
為保證出貨質(zhì)量，公司要求對(duì)目前公司的驅(qū)動(dòng)器需要上功率老化，但是公司的產(chǎn)品功率等級(jí)不一樣，沒(méi)有合適的負(fù)載和老化方式，請(qǐng)教大神們有沒(méi)有合適的老化方式。
2023-06-06 10:47:55
、染料等褪色或變色。幾年來(lái)，測(cè)試抗老化和光穩(wěn)定性的各種各樣的方法都被應(yīng)用過(guò)，現(xiàn)在大部分研究者使用自然曝露方法：Q－Surn氙弧燈或QUV加速老化試驗(yàn)設(shè)備。自然曝露
2023-06-06 10:43:23498 
芯片測(cè)試治具是一種用于芯片測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)芯片的功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試和性能測(cè)試，它可以幫助電子工程師驗(yàn)證芯片的性能和可靠性，實(shí)現(xiàn)芯片的精確測(cè)試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453 各類(lèi)電子電器，電工電子電器1000小時(shí)高溫老化試驗(yàn)怎么進(jìn)行辦理
2023-05-27 11:03:50855 高溫老化房 老化箱 老化柜系列設(shè)備是各種高溫老化實(shí)驗(yàn)中，常用設(shè)備之一，適用于電子儀器儀表、材料、電工、車(chē)輛、金屬、電子產(chǎn)品、顯示器、液晶屏、LED顯示屏及各種電子元器件在溫度環(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能
2023-05-24 09:06:05869 ? ? ? 今天小編來(lái)說(shuō)說(shuō)端子拉脫力測(cè)試的正確方法及拉脫力標(biāo)準(zhǔn)： 1.目的 該步驟詳細(xì)描述了關(guān)于測(cè)試拉脫力的標(biāo)準(zhǔn)方法。 該測(cè)試只是檢查壓線腳的機(jī)械性能而不能檢查其電性能。 2.設(shè)備 1.測(cè)量壓接高度
2023-05-23 10:09:583113 
負(fù)載箱、負(fù)荷箱、假負(fù)載和老化柜實(shí)際上是同一臺(tái)測(cè)試設(shè)備的不同名稱(chēng)。負(fù)載箱是一種測(cè)試設(shè)備，主要用于測(cè)試和維護(hù)發(fā)電機(jī)、不間斷電源、電力傳輸設(shè)備。它的使用避免了備用機(jī)組或電源啟動(dòng)故障造成的經(jīng)濟(jì)損失，也為新機(jī)
2023-05-15 16:27:031016 
嚴(yán)格的測(cè)試，老化測(cè)試就是其中之一。高溫試驗(yàn)箱老化測(cè)試的模塊電源可以保證產(chǎn)品質(zhì)量，使用戶(hù)在使用過(guò)程中降低故障概率，延長(zhǎng)使用壽命。在生產(chǎn)模塊電源的過(guò)程中，有些問(wèn)題是肉眼
2023-05-12 11:25:30695 
本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際電工委員會(huì)IEC60326-2：1990《印制板第2部分：測(cè)試方法》及其第一次修正案IEC326-2AMD1：1992，其技術(shù)內(nèi)容和編排格式上與之等效。本標(biāo)準(zhǔn)涉及印制板的測(cè)試方法，其引用的文件、規(guī)定的技術(shù)參數(shù)和所采用的試驗(yàn)方法先進(jìn)、合理，符合我國(guó)國(guó)情。
2023-05-10 09:12:260 平面材料的電磁屏蔽效能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T30142-2013平面型電磁屏蔽材料屏蔽效能測(cè)量方法本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了10kHz頻率范圍內(nèi)平面材料的電磁屏蔽效能測(cè)量方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于電磁屏蔽織物，電磁屏蔽金屬網(wǎng)
2023-05-05 09:51:581631 
使用溫度計(jì)算和阿倫尼烏斯方程了解電阻和放大器的老化行為，以了解電阻漂移、電阻穩(wěn)定性和運(yùn)算放大器漂移。 之前，我們討論了高溫加速老化方法，該方法使用相對(duì)較短的測(cè)試持續(xù)時(shí)間來(lái)評(píng)估電子元件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性
2023-05-03 09:56:002680 
在這篇文章中，我們將討論直流紫外線殺菌燈鎮(zhèn)流器電路的結(jié)構(gòu)，該電路可用于通過(guò)12V直流電源驅(qū)動(dòng)任何標(biāo)準(zhǔn)的20瓦紫外線燈。
2023-04-29 17:21:007151 
嚴(yán)格的測(cè)試，老化測(cè)試就是其中之一。高溫試驗(yàn)箱老化測(cè)試的模塊電源可以保證產(chǎn)品質(zhì)量，使用戶(hù)在使用過(guò)程中降低故障概率，延長(zhǎng)使用壽命。在生產(chǎn)模塊電源的過(guò)程中，有些問(wèn)題是肉眼
2023-04-25 16:12:44479 
老化房，又叫燒機(jī)房，是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦
2023-04-17 15:33:50713 
USB數(shù)據(jù)線檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)有那些？USB數(shù)據(jù)線UL62368-1安全報(bào)告 USB數(shù)據(jù)線是否合格，是由質(zhì)檢部門(mén)嚴(yán)格按規(guī)范檢測(cè)合格才可以出貨的，對(duì)于USB數(shù)據(jù)線檢測(cè)也是有行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的，一般從機(jī)械性能、老化測(cè)試
2023-04-17 10:40:4316165 
PCBA測(cè)試老化板的方法是什么？
2023-04-14 15:22:57
一、氙燈耐氣候老化試驗(yàn)箱可模擬全陽(yáng)光光譜通過(guò)將材料曝露在紫外線（UV），可見(jiàn)光和紅外光下，對(duì)材料的耐光性進(jìn)行測(cè)定。它采用經(jīng)過(guò)過(guò)濾處理的氙弧燈來(lái)產(chǎn)生與陽(yáng)光具有zui大吻合性的全陽(yáng)光光譜。采用合理
2023-04-13 09:43:11328 
瑞豐恒Expert III355紫外激光器高速無(wú)毛刺切割塑料實(shí)力與顏值并存，瑞豐恒10W紫外激光器無(wú)愧為塑料切割的高手為什么如此多塑料切割企業(yè)選擇了使用瑞豐恒355nm紫外激光器？紫外激光器是瑞豐恒
2023-04-11 15:09:07
和其他電氣設(shè)備一樣，電力電容器的使用壽命也是有限的。隨著電力電容器使用時(shí)間的不斷增長(zhǎng)，電力電容器會(huì)逐漸老化。但是電力電容器在運(yùn)行時(shí)，會(huì)受到過(guò)電壓、過(guò)電流、過(guò)溫等因素的影響，電力電容器就會(huì)出現(xiàn)熱老化
2023-04-10 15:22:58892 壓敏電阻是目前應(yīng)用范圍最廣泛的電子元件之一，在應(yīng)用的過(guò)程中，壓敏電阻老化的問(wèn)題是其最大的缺點(diǎn)，將會(huì)嚴(yán)重干擾系統(tǒng)的正常安全工作,本文將介紹壓敏電阻的防老化方法，能夠幫助工程師有效解決壓敏電阻的老化情況
2023-04-10 09:40:09413 
得產(chǎn)品更安全、可靠！ 常見(jiàn)的電子產(chǎn)品老化溫度要求： 網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)測(cè)試溫度在40℃~50℃左右 變頻器老化測(cè)試溫度在55℃左右 電能表老化測(cè)試溫度在70℃~80℃左右 車(chē)用電子產(chǎn)品老化測(cè)試溫度在55℃左右 電池電源、充電器、種類(lèi)儀器儀表老
2023-04-04 15:02:562649 
一、氙燈耐氣候老化試驗(yàn)箱可模擬全陽(yáng)光光譜通過(guò)將材料曝露在紫外線（UV），可見(jiàn)光和紅外光下，對(duì)材料的耐光性進(jìn)行測(cè)定。它采用經(jīng)過(guò)過(guò)濾處理的氙弧燈來(lái)產(chǎn)生與陽(yáng)光具有zui大吻合性的全陽(yáng)光光譜。采用合理
2023-03-29 14:27:06297 
電子元器件老化是指電子元器件在使用過(guò)程中，由于環(huán)境溫度、濕度、電壓、電流、紫外線等因素的影響，使元器件的性能發(fā)生變化，從而影響元器件的使用壽命。電子元器件老化的主要表現(xiàn)有：電容器的容量變小，電阻
2023-03-28 16:16:201429 Altings的測(cè)試結(jié)果顯示，與采用LG電子WOLED技術(shù)的產(chǎn)品不同，使用QD-OLED技術(shù)的三星電子和索尼的電視在測(cè)試開(kāi)始后2個(gè)月內(nèi)發(fā)生了老化現(xiàn)象。
2023-03-27 14:52:14705 為了定量描述老化機(jī)理，對(duì)電極不同位置采樣組裝半電池并進(jìn)行了電化學(xué)測(cè)試實(shí)驗(yàn)。如圖7（a）所示，實(shí)線的數(shù)據(jù)來(lái)自循環(huán)開(kāi)始時(shí)的電池電極，代表陰極和陽(yáng)極電極的實(shí)測(cè)電位曲線，虛線來(lái)自容量衰減到80%后的電池。
2023-03-27 11:34:292962 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，LED車(chē)規(guī)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
2023-03-24 14:07:1111 高低溫老化房也稱(chēng)呼其為高低溫試驗(yàn)室，包括了高溫試驗(yàn)，低溫試驗(yàn)及溫度變化測(cè)試，主要是檢測(cè)產(chǎn)品在經(jīng)過(guò)多種溫度變化后其性能指標(biāo)是否有受影響，高溫是否會(huì)出現(xiàn)溶化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象
2023-03-23 14:16:00490 高溫老化房用于評(píng)估確定電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化和產(chǎn)品表面高溫老化的環(huán)境條件下的儲(chǔ)存適應(yīng)性和使用的儲(chǔ)存適應(yīng)性，作為環(huán)境試驗(yàn)中的主要檢測(cè)設(shè)備，老化房憑借其高精度、高穩(wěn)定性、多功能性，以及便于升級(jí)
2023-03-23 10:36:00550 
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