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LED芯片觀察(掃描電鏡)SEM失效分析
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2024-03-15 17:34:29
led失效分析-重點失效分析CNAS,CMA認證實驗室
服務(wù)范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅(qū)動電源。檢測標準● GB/T15651-1995半導體器件分立器件
2024-03-15 09:23:03
MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析功
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測試無法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專家團隊及先進
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如何推遲XilSEM掃描功能的開始？(二)
在 AMD Versal? 器件中, SEM 功能的實現(xiàn)發(fā)生了很大變化，整個解決方案基于 library 實現(xiàn)。下面我們一起看一下如何推遲 XilSEM 掃描功能的開始。
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首樣免費掃描電鏡SEM-EDS測試分析【博仕檢測】
【設(shè)備應(yīng)用】
SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對應(yīng)的電子能不同，來鑒別元素，通常與SEM結(jié)合使用，也就是說在SEM上安裝EDS附件，在
2024-03-01 18:59:58
透射電鏡TEM測試解剖芯片結(jié)構(gòu)：深入微觀世界的技術(shù)探索
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掃描電鏡的操作步驟及日常維護
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603MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析
; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測項目試驗類型試驗項??損分析X 射線透視、聲學掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數(shù)測試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
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掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應(yīng)用最廣泛的“神器”。可以說，幾乎每一個研究生都把自己最重要的科研經(jīng)歷花在了身上。今天的我們就來介紹一下掃描電鏡的原理和應(yīng)用。 電子顯微鏡利用電子產(chǎn)生圖像，類似于光學
2024-01-17 09:39:56146
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去除表面鈍化層、金屬化層和層間介質(zhì)后有時依然無法觀察到失效點，這時候就需要對芯片進行進一步處理，對于多層布線的芯片干法腐蝕或者濕法腐蝕來逐一去除，直至最后一層金屬化和介質(zhì)層。
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FIB剪
2024-01-02 17:08:51
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掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計量和過程控制的研究和先進制造中，我們在對半導體材料和結(jié)構(gòu)進行觀測時，常常會遇到充電效應(yīng)，本文討論了與樣品充電相關(guān)的一些問題以及減輕其影響的方法。
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第20講：DIPIPM?市場失效分析（2）
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如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號？ 頻譜分析儀是一種廣泛應(yīng)用于電子領(lǐng)域的儀器，用于觀察和分析信號的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測和排除信號中的雜散信號，確保設(shè)備的正常工作和無干擾的信號傳輸
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淺談失效分析—失效分析流程
▼關(guān)注公眾號：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產(chǎn)業(yè)鏈，復雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會面臨各種失效風險，筆者平時也會參與到失效分析中，這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530
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掃描電鏡的原理、優(yōu)勢、應(yīng)用領(lǐng)域你都知道嗎？
? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，是材料相關(guān)工作者和學者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37507
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USB脫落失效分析
的焊錫空洞。 2）SEM表面特征分析 #位置3： 測試結(jié)果：剝離面有應(yīng)力斷裂痕跡，PCB鎳層有裂紋。 ? #位置2： 測試結(jié)果：焊接面有較大的焊錫空洞，斷裂面有應(yīng)力斷裂痕跡。 ? 3）EDS成分分析 ? 測試結(jié)果：剝離面主要成分為Sn、Ni, 未發(fā)現(xiàn)異常元素。 4）切片斷面分析 #PCB側(cè)脫落點切片斷面
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蔡司掃描電鏡與X射線顯微鏡檢測介紹
蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學研究中的重要儀器，憑借其納米級分辨率，SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對生物超微結(jié)構(gòu)的認識，-些亞細胞結(jié)構(gòu)甚至是通過
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有一批現(xiàn)場儀表在某化工廠使用一年后，儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了，甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察，可以發(fā)現(xiàn)電阻電極邊緣出現(xiàn)了黑色結(jié)晶物質(zhì)，進一步分析
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LED貼膜屏靜態(tài)掃描和動態(tài)掃描有何區(qū)別？
LED貼膜屏靜態(tài)掃描和動態(tài)掃描有何區(qū)別？ LED貼膜屏靜態(tài)掃描和動態(tài)掃描是兩種不同的驅(qū)動方式，它們在顯示效果、功耗、刷新率、圖像質(zhì)量等方面存在一些區(qū)別。下面我將詳細介紹這兩種掃描方式，幫助你了解它們
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448LED燈帶失效分析
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因為銅腐蝕。據(jù)此情況，對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段，明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
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掃描電鏡能測出線寬的真實長度嗎？如何才能測準？
大部分掃描電鏡實驗室對于納米尺寸的準確測量，要求沒有那么嚴格，比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm，似乎不太重要
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如何利用FIB和SEM中的有源和無源電位襯度進行失效定位呢？
無源電位襯度（Passive Voltage Contrast，PVC）定位基于導電結(jié)構(gòu)的FIB或SEM圖像或多或少的亮度差異，可用于半導體電路的失效定位。
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有效減少掃描電鏡荷電效應(yīng)的幾種方法
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差示掃描量熱法熱分析方法
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蔡司掃描電鏡Sigma系列：掃描電子顯微鏡的用途原來這么多
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光耦失效的幾種常見原因及分析
將詳細分析光耦失效的幾種常見原因。 首先，常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件，它會發(fā)出光信號。常見的LED失效原因有兩種：老化和損壞。LED的使用壽命是有限的，長時間使用后會逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445
1445PCB失效分析技術(shù)概述
那么就要用到一些常用的失效分析技術(shù)。介于PCB的結(jié)構(gòu)特點與失效的主要模式，其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術(shù)，一旦使用了這兩種技術(shù)，樣品就破壞了，且無法恢復；另外由于制樣的要求，可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
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115九項PCB失效分析的技術(shù)總結(jié)
切片分析切片分析就是通過取樣、鑲嵌、切片、拋磨、腐蝕、觀察等一系列手段和步驟獲得 PCB 橫截面結(jié)構(gòu)的過程。
2023-11-16 16:31:56156
156一文帶您了解掃描電子顯微鏡EBSD技術(shù)的原理、采集及分辨率
EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù)，全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比，EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率，可以獲得亞微米級的晶體學數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48366
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SEM掃描電鏡中鎢燈絲與場發(fā)射的區(qū)別
相同點：都是電子槍即發(fā)射電子的裝置，都有陰極和陽極,陰極都是點源發(fā)射，陰極和陽極之間有直流高壓電場存在，高壓一般可調(diào)，用于控制電子的發(fā)射速度（能量），電子槍發(fā)射的電流強度很小，微安級別和納安級別，為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源，都需要高真空環(huán)境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優(yōu)劣:1、點源直徑不同及優(yōu)劣：鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成
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什么是FIB？FIB有哪些應(yīng)用？如何修改線路做FIB？FIB怎么做失效分析？FIB還能生長PAD？FIB案例有些？ FIB是Focused Ion Beam（聚焦離子束）的縮寫，是一種利用離子束刻蝕
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1668鎢燈絲掃描電鏡使用的一些注意事項
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國儀量子帶您全景回顧2023全國電鏡年會
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2023-11-01 08:25:46523
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2023-10-31 15:17:52249
249廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
廣東全自動SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，通過掃描樣品表面并利用電子信號生成圖像。它與傳統(tǒng)光學顯微鏡不同，能夠提供更高的放大倍數(shù)和更好的表面細節(jié)。以下是廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
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770高端新品發(fā)布！國產(chǎn)雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國電鏡年會
10月26日，2023年全國電子顯微學學術(shù)年會在東莞市召開。國儀量子在會議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X，開啟了國產(chǎn)高端電鏡
2023-10-29 08:25:471158
1158一文帶您了解場發(fā)射掃描電鏡
普通熱發(fā)射掃描電子顯微鏡相比，場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑，即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區(qū)形貌分析的首選。 2. 文書組成 場發(fā)射掃描電子顯微鏡由場發(fā)射電子槍、電子束推進器、聚光透
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你了解掃描電鏡的特點和結(jié)構(gòu)嗎
。 特點 制樣簡單、放大倍率可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實的三維效果等特點。對于導電材料，它們可以直接放入樣品室進行分析。對于導電性差或絕緣性差的樣品，需噴涂導電層。 基本結(jié)構(gòu) 從結(jié)構(gòu)上看，掃描電鏡主
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芯片粘接失效模式和芯片粘接強度提高途徑
芯片粘接質(zhì)量是電路封裝質(zhì)量的一個關(guān)鍵方面，它直接影響電路的質(zhì)量和壽命。文章從芯片粘接強度的失效模式出發(fā)，分析了芯片粘接失效的幾種類型，并從失效原因出發(fā)對如何在芯片粘接過程中提高其粘接強度提出了四種
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基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法
本文主要設(shè)計了用于封裝可靠性測試的菊花鏈結(jié)構(gòu)，研究了基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法，針對芯片偏移、ＲDL 分層兩個主要失效問題進行了相應(yīng)的工藝改善。經(jīng)過可靠性試驗對封裝的工藝進行了驗證，通過菊花鏈的通斷測試和阻值變化，對失效位置定位進行了相應(yīng)的失效分析。
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CD-SEM是怎樣測線寬呢？CD-SEM與普通SEM有哪些區(qū)別？
CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻譯過來是：特征尺寸掃描電子顯微鏡。
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電鏡常用元素分析方法：EDS、EELS、HAADF-STEM
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LGA封裝芯片焊接失效
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季豐電子新熱場電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像
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2023國產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會順利召開
（合肥）技術(shù)有限公司承辦的“2023國產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會”在合肥召開。來自中國科學院、北京大學、中南大學、中國農(nóng)科院、中國醫(yī)學科學院、浙江中醫(yī)藥大學等高校科研
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502各種材料失效分析檢測方法
失效分析是一門發(fā)展中的新興學科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進，產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。
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集成電路為什么要做失效分析？失效分析流程？
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。
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聚焦離子束FIBSEM切片測試【博仕檢測】
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標記以及TEM超薄片樣品的制備。
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蔡司掃描電鏡在第三代半導體領(lǐng)域的應(yīng)用成果
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集成電路失效分析
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芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過程中，芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800
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半導體失效分析? 半導體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
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736EDS面掃、線掃、點掃的應(yīng)用
能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實現(xiàn)形貌與成分的對照。它的工作原理是：當電子束掃描樣品時，不同元素被激發(fā)出來的x射線能量不同，通過探測這些特征X射線的能量與強度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241952
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鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實、細致的最少1500字的文
鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場儲存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133
2133國儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000
“在大規(guī)模成像場景中，常規(guī)掃描電鏡成像速度和自動化程度都無法滿足應(yīng)用需求。例如，在芯片結(jié)構(gòu)成像應(yīng)用中，需要在幾周內(nèi)完成數(shù)百平方毫米區(qū)域的連續(xù)拍攝；在人類腦圖譜研究中，需要對百億級神經(jīng)元進行高分辨成像
2023-08-09 08:29:23453
453蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學組成與宏觀物理或化學性質(zhì)之間的關(guān)系。光學顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351419
1419蔡司掃描電鏡下金剛石形貌
金剛石礦物的晶體結(jié)構(gòu)屬于等軸晶系同極鍵四面體結(jié)構(gòu)。碳原子位于四面體的角部和中心，具有高度的對稱性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接，距離為154pm。。常見的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應(yīng)用范圍非常廣泛，例如:工藝品和工業(yè)中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石，也是一種珍貴的寶石。中國也有制造鉆石的技術(shù)。需要注意的是，石墨和金剛石的物理性質(zhì)是完全不同的。鉆石有各種顏色，從無
2023-08-04 11:50:01458
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SEM5000交付中國農(nóng)科院作科所重大平臺中心
場發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國儀量子場發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國農(nóng)科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350
350蔡司掃描電鏡在半導體領(lǐng)域的應(yīng)用成果
掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56330
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半導體器件鍵合失效模式及機理分析
本文通過對典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當，以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機理；并提出了控制有缺陷器件裝機使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930
930蔡司熱場掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡
蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導電和不導電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650
650LED驅(qū)動電路圖分享 LED驅(qū)動電路的工作原理和失效機理分析
隨著市場需求的不斷增加，近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長。由于從事LED驅(qū)動研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術(shù)水平參 差不齊，研發(fā)出來的LED驅(qū)動電路質(zhì)量好壞不一。導致LED燈具的失效時常發(fā)生，阻礙了LED照明的市場推廣。
2023-07-25 09:12:046864
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微波GaAs功率芯片AuSn共晶焊接微觀組織結(jié)構(gòu)研究
摘要:文中采用Au80Sn20共晶焊料對GaAs功率芯片與MoCu基板進行焊接，分析了焊接溫度、摩擦次數(shù)等工藝參數(shù)對共晶焊接的影響，給出了GaAs芯片共晶焊的工藝參數(shù)控制要求，通過掃描電鏡
2023-07-15 14:01:421276
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蔡司場發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500
蔡司場發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無交叉光路設(shè)計，打破了傳統(tǒng)設(shè)計中電子束交叉三次發(fā)生能量擴散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無需
2023-07-14 16:26:59916
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幾種常見的關(guān)于SEM IP的沖突
SEM IP是一種比較特殊的IP。它的基本工作就是不停地后臺掃描檢測FPGA配置RAM中的數(shù)據(jù)
2023-07-10 16:40:23420
420EM科特 CUBE-Ⅱ臺式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別
EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務(wù)指南任意移動SEM設(shè)備。 EM
2023-07-05 15:24:02433
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關(guān)于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點分析
的高性能高效率，大樣品倉內(nèi)含5軸共心電動樣品臺，可更輕松地測量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產(chǎn)品優(yōu)勢 l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤 l無損樣品分析?? 無需切割即可分析樣品。例如PCB，半導體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38270
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SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用
等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實驗室圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相
2023-07-05 10:04:061995
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AMEYA360談蔡司場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列
近日，蔡司中國新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導體和集成電路、深海、航天、生命科學和考古學等熱門領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司
2023-07-04 15:39:24249
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集成電路封裝失效分析方法
集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學過程（失效機理），為集成電路封裝糾正設(shè)計、工藝改進等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生，提升
2023-06-21 08:53:40572
572場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)
今天三本精密儀器小編給您介紹場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品
2023-06-19 11:15:40813
813講一下失效分析中最常用的輔助實驗手段：亮點分析（EMMI）
EMMI：Emission microscopy 。與SEM，F(xiàn)IB，EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310
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LED數(shù)顯驅(qū)動芯片/數(shù)碼管驅(qū)動芯片VK1650,LED驅(qū)動、鍵盤掃描，8段4位，8級亮度控制
? 產(chǎn)品品牌：永嘉微電/VINKA 產(chǎn)品型號：VK1650 封裝形式：SOP16 產(chǎn)品年份：新年份? 概述： VK1650是一種帶鍵盤掃描電路接口的 LED?驅(qū)動控制專用芯片，內(nèi)部集成有數(shù)
2023-06-10 09:17:301657
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喜提儀器行業(yè)大獎！國儀量子場發(fā)射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎”
5月18日，2023第十六屆中國科學儀器發(fā)展年會(ACCSI2023)在北京雁棲湖國際會展中心盛大開幕，并頒發(fā)“儀器及檢測3i獎”。國儀量子自主研發(fā)的場發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
2023-05-30 17:19:16366
366LED驅(qū)動電源失效的原因分析
LED驅(qū)動電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機械力學性能、電氣絕緣性能和導熱性能，同時也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動電源的使用中，導致LED驅(qū)動電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!
2023-05-18 11:21:19851
851淺談抗靜電指標差的LED失效分析案例
紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu)，它兩個電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍綠光LED不一樣，所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423
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TVS二極管失效機理與失效分析
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通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678
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進口芯片失效怎么辦？做個失效分析查找源頭
芯片對于電子設(shè)備來說非常的重要，進口芯片在設(shè)計、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當下，生產(chǎn)對進口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴格。因此進口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來，那么進口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548
548rt_sem_control的使用場景是什么？
在信號量的api中有一個api: rt_sem_control ,目前只支持一個命令RT_IPC_CMD_RESET 即重置信號量值，在官方的demo中經(jīng)常看到這種用法rt_sem
2023-05-05 17:26:37
培訓通知｜國儀量子2023年第二期SEM線下應(yīng)用培訓班
課程簡介為持續(xù)給國儀量子SEM用戶提供高質(zhì)量的使用體驗，國儀量子電鏡事業(yè)部將搭建一個用戶與國儀量子應(yīng)用專家之間進行深入技術(shù)交流的平臺，定期開展在線和線下的應(yīng)用培訓課程。本次線下課程以小班形式進行教學
2023-04-21 09:20:47279
279半導體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹！
失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360
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失效分析和可靠性測試：為什么SAM現(xiàn)在是必不可少的設(shè)備
對所有制造材料進行100%全面檢查。 制造商測試實驗室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門，尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測計量技術(shù)已變得至關(guān)重要，現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實驗室測試和測量儀器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39925
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喜報！國儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺
場發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設(shè)計，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計，實現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時
2023-04-12 11:38:30572
572PCB失效分析技術(shù)總結(jié)
程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749
749北京大學先進光子集成公共平臺正式開放運行
該平臺擁有超凈間面積約300平方米，其中百級潔凈區(qū)50平米，配備了可完整涵蓋微加工需求的大、中、小型設(shè)備，包括電子束曝光機、掃描電鏡、磁控濺射儀、等離子刻蝕機、快速退火爐、精密貼片機、勻膠機、離子濺射儀、膜厚計、原子力顯微鏡、任意波形發(fā)生器、高速采樣示波器、信號分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
2023-04-10 11:24:06712
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工商網(wǎng)監(jiān)
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