JTAG功能及系統(tǒng)設(shè)計(jì)

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　　JTAG也是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容)，主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試。現(xiàn)在多數(shù)的高級(jí)器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時(shí)鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 相關(guān)JTAG引腳的定義為：TCK為測(cè)試時(shí)鐘輸入;TDI為測(cè)試數(shù)據(jù)輸入，數(shù)據(jù)通過(guò)TDI引腳輸入JTAG接口;TDO為測(cè)試數(shù)據(jù)輸出，數(shù)據(jù)通過(guò)TDO引腳從JTAG接口輸出;TMS為測(cè)試模式選擇，TMS用來(lái)設(shè)置JTAG接口處于某種特定的測(cè)試模式;TRST為測(cè)試復(fù)位，輸入引腳，低電平有效。GND

　　TI還定義了一種叫SBW-JTAG的接口，用來(lái)在引腳較少的芯片上通過(guò)最少的利用引腳實(shí)現(xiàn)JTAG接口，它只有兩條線，SBWTCK，SBWTDIO。實(shí)際使用時(shí)一般通過(guò)四條線連接，VCC，SBWTCK，SBWTDIO，GND，這樣就可以很方便的實(shí)現(xiàn)連接，又不會(huì)占用大量引腳。

　　JTAG最初是用來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試的,基本原理是在器件內(nèi)部定義一個(gè)TAP(Test Access Port測(cè)試訪問(wèn)口)通過(guò)專用的JTAG測(cè)試工具對(duì)內(nèi)部節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。JTAG測(cè)試允許多個(gè)器件通過(guò)JTAG接口串聯(lián)在一起，形成一個(gè)JTAG鏈，能實(shí)現(xiàn)對(duì)各個(gè)器件分別測(cè)試?，F(xiàn)在，JTAG接口還常用于實(shí)現(xiàn)ISP(In-System Programmable;在線編程)，對(duì)FLASH等器件進(jìn)行編程。

　　JTAG編程方式是在線編程，傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中先對(duì)芯片進(jìn)行預(yù)編程后再裝到板上因此而改變，簡(jiǎn)化的流程為先固定器件到電路板上，再用JTAG編程，從而大大加快工程進(jìn)度。JTAG接口可對(duì)PSD芯片內(nèi)部的所有部件進(jìn)行編程。