1 問題點(diǎn)
試驗(yàn)過程中,發(fā)生誤讀率過高的異常:
結(jié)合實(shí)測經(jīng)驗(yàn),分析德國RFID復(fù)合設(shè)備誤判Inlay的情況可分為兩種:①將良品錯(cuò)誤判定為壞Inlay剔除;②將壞Inlay誤判為良品未能正常剔除。即如圖1所示,0號(hào)、2號(hào)和3號(hào)Inlay(均為良品)存在誤排現(xiàn)象;1號(hào)(壞Inlay)不能正常剔除。
圖1:模擬Inlay在Melzer設(shè)備上運(yùn)動(dòng)情況
情況①需考慮:增大讀寫器天線輻射功率;增加讀寫器判定Inlay好壞的讀取次數(shù);調(diào)節(jié)天線與Inlay的相對(duì)位置;增加復(fù)合設(shè)備的判定時(shí)間窗口(后經(jīng)驗(yàn)證為Duration參數(shù)的設(shè)定值);增加Delay參數(shù)的設(shè)置值等。情況②時(shí)我們需做相反方向考慮。遠(yuǎn)望谷讀寫器測試主要問題:復(fù)合設(shè)備高速運(yùn)行情況下,圖1中1號(hào)壞Inlay不能正常剔除。按照以上思路調(diào)節(jié)讀寫器、復(fù)合設(shè)備各參數(shù)及調(diào)節(jié)天線與Inlay相對(duì)位置均NG。
2 原因分析
經(jīng)探討分析可知:讀寫器測試所遇問題的原因,較大可能為德國RFID復(fù)合設(shè)備判定時(shí)間窗口與讀寫器輸出電平時(shí)間窗口匹配問題。即在復(fù)合設(shè)備判定時(shí)間窗口內(nèi),Reader若能輸出穩(wěn)定的高電平或低電平,復(fù)合設(shè)備即可判定該Inlay為良品或劣品,并做屏幕打印、裁切等處理??梢姡喝艚鉀Q1號(hào)壞Inlay不能正常剔除或降低復(fù)合設(shè)備誤讀誤排現(xiàn)象,首先需確定復(fù)合設(shè)備的判定時(shí)間窗口(需考慮傳感器信號(hào)的時(shí)間窗口和Trigger的時(shí)間窗口);其次控制Reader輸出信號(hào)的時(shí)間窗口(Reader程序的編寫)匹配Melzer設(shè)備的判定時(shí)間窗口。
(1)寫新程序,分別提取傳感器的時(shí)間窗口、Trigger時(shí)間窗口和Reader輸出信號(hào)的時(shí)間窗口,并尋求復(fù)合設(shè)備中Delay參數(shù)與Duration參數(shù)設(shè)置與以上時(shí)間窗口的直接關(guān)系。此部分測試需用帶有Maker的假Inlay進(jìn)行測試,模擬Inlay全為良品時(shí)不同速度情況下各信號(hào)拉高和拉低的時(shí)刻。(2)結(jié)合讀寫器輸出信號(hào)的時(shí)間窗口,分析及確定判定讀寫器輸出為有效信號(hào)的波形(如圖2所示)。四種情況分別為:讀寫器檢測到Trigger信號(hào)到來時(shí)立刻拉高電平,保持一段時(shí)間后在Trigger時(shí)間復(fù)合設(shè)備窗口結(jié)束前拉低電平(包含上升沿及下降沿);讀寫器檢測到Trigger信號(hào)到來時(shí)立刻拉高電平,保持較長時(shí)間且在Trigger時(shí)間窗口結(jié)束后拉低電平(只包含上升沿);讀寫器檢測到Trigger信號(hào)到來時(shí)立刻拉低電平,保持較長時(shí)間且在Trigger時(shí)間窗口結(jié)束后拉高電平(只包含下降沿);在Trigger時(shí)間窗口內(nèi)一直保持高電平。(3)模擬壞Inlay無規(guī)律排列在良品Inlay中的情況,測試新程序下復(fù)合設(shè)備能否正常剔除劣品。此部分需用真Inlay測試,且模擬情況如圖2所示。
圖2 壞Inlay無規(guī)律出現(xiàn)情況模擬
注:“√”表示可識(shí)讀的Inlay;“×”表示扣掉芯片的Inlay。
3 測試及數(shù)據(jù)分析
(1)通過對(duì)傳感器及Trigger時(shí)間窗口的提取,我們可以確定復(fù)合設(shè)備給出Trigger信號(hào)的時(shí)間窗口在傳感器信號(hào)的時(shí)間窗口之內(nèi),如途圖3所示;
圖3 實(shí)測傳感器與Trigger信號(hào)的時(shí)間窗口
(2)設(shè)置Delay和Duration參數(shù)為不同數(shù)值,測試不同速度下時(shí)間窗口的長度,測試記錄的數(shù)據(jù)如表2所示,其中:t0-4表示Trigger信號(hào)在傳感器拉高電平后做出相同動(dòng)作的時(shí)間段,t4-5表示Trigger的時(shí)間窗口,t0-2表示傳感器信號(hào)的時(shí)間窗口。
圖4 傳感器和Trigger信號(hào)的時(shí)間窗口
注:t的單位為秒(s)
可見:分析t4-5發(fā)現(xiàn)Trigger的時(shí)間窗口因設(shè)備運(yùn)行速度的變化而改變,且大于等于Duration參數(shù)的設(shè)置值;t0-4=Basetime+Delay,當(dāng)設(shè)備中Transponder相關(guān)參數(shù)設(shè)定不變時(shí),Basetime為某一定值,此時(shí)約為110ms。
(3)針對(duì)測試計(jì)劃二,我們以五百枚假Inlay為一組進(jìn)行測試,測試數(shù)據(jù)如表圖5所示。
圖5 四種情況下Melzer設(shè)備誤排Inlay的測試
分析以上測試結(jié)果可知:在Trigger時(shí)間窗口內(nèi),讀寫器若有高電平輸出,復(fù)合設(shè)備即可判定該Inlay為良品;針對(duì)情況四,我們共測試三組,誤排數(shù)量為0,可見,讀寫器輸出的高電平若能覆蓋Trigger的時(shí)間窗口,復(fù)合設(shè)備誤判Inlay的情況可以大大改善。
(4)結(jié)合以上測試內(nèi)容,且經(jīng)過多次的測試及優(yōu)化新程序,我們認(rèn)為最理想的選擇是以傳感器信號(hào)到來作為讀寫器拉升信號(hào)的基點(diǎn),以Trigger信號(hào)的結(jié)束作為讀寫器拉低信號(hào)的基點(diǎn),如圖6所示。
圖6 讀寫器拉高及拉低電平的最佳基點(diǎn)選擇
4 解決方案
通過增加復(fù)合設(shè)備信號(hào)線的每枚inlay的下降沿作為讀寫器判斷參考終止點(diǎn),通過設(shè)定一定判斷的時(shí)間區(qū)間,并開發(fā)對(duì)應(yīng)的讀寫器程序達(dá)到準(zhǔn)確檢知的目的
5 測試結(jié)果
上述測試,共計(jì)4722枚inlay,共計(jì)誤排27枚,在千分之5.7左右,其中讀到但在時(shí)間窗口之外的誤排數(shù)量為20枚,約有千分之4左右,將有效判斷時(shí)間加上之后問題得到階段性成功。
責(zé)任編輯:ct
評(píng)論
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