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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測量儀表>設(shè)計測試>探針卡簡化測試和替換流程

探針卡簡化測試和替換流程

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2022-06-24 18:15:41583

晶圓探針測試主要設(shè)備有哪些

晶圓探針測試也被稱為中間測試(中測),是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測試的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費用。
2022-08-09 09:21:103833

使用兩探針及四探針方法測得的電阻率差異

以上6種粉末材料在使用兩種測試方法測得的電阻率均隨壓力的增大而呈現(xiàn)遞減趨勢,且趨勢一致(如圖2左圖)。取90MPa壓強下的電阻率值進行對比分析,GR/LFP/LRM/PBF/LCO四探針測試結(jié)果均小于兩探針測試結(jié)果
2022-09-22 11:52:273307

探針卡類型介紹

探針卡是由探針(probe pin)、電子元件(component)、線材(wire)與印刷電路板(PCB)組成的一種測試接口,根據(jù)不同的情況,還會有電子元件、補強板(Stiffener)等的需求,主要對裸芯進行測試,即wafer level測試。
2022-10-17 17:44:421781

ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)的測試流程

單插入測試,以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試,從而降低測試成本,簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。
2022-11-30 09:39:21530

使用PLTS去嵌方法和探針校準(zhǔn)片SLOT校準(zhǔn)測試結(jié)果對比

測試一:先將網(wǎng)分與線纜校準(zhǔn)后,然后連接兩個探針測試DUT,將兩個探針的S參數(shù)、兩個探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出,然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S參數(shù)去嵌,得到單獨DUT的S參數(shù)。
2022-12-08 15:55:424893

如何保養(yǎng)測試探針

在ICT或者FCT測試中,治具上的探針總歸會測試到一定的壽命時候變得臟污,造成測試不通,通常的情況下也許探針本身的彈性和力量還是比較好的狀態(tài),但是因為臟污的存在造成針頭和被測試物的接觸形成很大的電阻
2022-12-28 10:15:321811

探針是如何工作的

測試探針工作在測試夾具板上,與安裝的探針針套相配合。探針通過壓縮到工作行程與PCB上的元件接觸,然后接觸器將PCB信號從探針傳到安裝在接收板上的終端。 根據(jù)零件的不同,夾具設(shè)計人員可以選擇相應(yīng)的探針
2022-12-30 09:49:141197

淺談晶圓探針測試的目的 晶圓探針測試主要設(shè)備

晶圓探針測試也被稱為中間測試(中測),是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測試的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費用。
2023-01-04 16:11:501579

如何使用探針測試大電流

隨著集成電路的快速發(fā)展,許多電氣和汽車應(yīng)用都采用了大電流功能。如何安全有效地測試這類產(chǎn)品正在成為一個新的挑戰(zhàn)。 我們還開發(fā)了大電流測試探針,通常用于測試大型充放電設(shè)備。 從參數(shù)特性來看,要傳遞的電流
2023-01-10 08:40:052010

什么是探針卡?有哪些類型呢?

探針卡(Probe card)或許很多人沒有聽過,但看過關(guān)于,也就是晶圓測試方面文章的人應(yīng)該不會陌生,其中就有提到過探針卡。
2023-02-27 17:48:492326

一個自動化的測試流程

一個自動化的測試流程。
2023-05-04 17:48:400

半導(dǎo)體晶圓測試探針卡與LTCC/HTCC的聯(lián)系

晶圓測試的方式主要是通過測試機和探針臺的聯(lián)動,在測試過程中,測試機臺并不能直接對待測晶圓進行量測,而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885

晶圓測試設(shè)備的“指尖”——探針

探針卡是半導(dǎo)體晶圓測試過程中需要使用的重要零部件,被認(rèn)為是測試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測試電流、測試機臺有所不同,針對不同的芯片都需要有定制化的探針
2023-05-08 10:38:273459

晶圓測試設(shè)備的指尖—探針

晶圓測試的方式主要是通過測試機和探針臺的聯(lián)動,在測試過程中,測試機臺并不能直接對待測晶圓進行量測,而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142363

Multisim中測試探針的使用

Multisim的虛擬測試儀器中還有電流探針,模擬鉗式電流表,其原理是電流互感器原理。與傳統(tǒng)電流表不一樣,鉗式電流表不需要串聯(lián)接入電路中,而只需要將其前端的鉗子(電流夾)打開,使得待測電流導(dǎo)線與鉗子相互環(huán)繞,利用變壓器變電流的原理測量電流。其特點就是可以實現(xiàn)在線測量。
2023-05-18 11:26:007281

LTCC/HTCC基板在晶圓測試探針卡中的應(yīng)用

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上,主要可分成IC設(shè)計、晶圓制程、晶圓測試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測試,就是對晶圓上的每顆晶粒進行電性特性檢測,以檢測和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來了解一下半導(dǎo)體晶圓測試的核心耗材——探針卡,以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。
2023-05-26 10:56:55732

穎崴科技:芯片測試探針卡新工廠預(yù)計年底完工

據(jù)《經(jīng)濟日報》報道,芯片測試設(shè)備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示:“為生產(chǎn)用于半導(dǎo)體測試探針芯片,將于今年年底在臺元科技園區(qū)建設(shè)新工廠。將擴大現(xiàn)有生產(chǎn)能力?!崩^新工廠啟動之后,預(yù)計明年將以探針卡業(yè)績加倍為目標(biāo)。
2023-06-15 10:31:42633

供應(yīng)電連ECT品牌Mini RF Test Cable Series(測試探針測試線纜)

供應(yīng)電連ECT品牌Mini RF Test Cable Series(測試探針測試線纜)
2022-03-02 11:40:11786

如何正確選擇合適的RF射頻測試探針

了解RF射頻測試座的用途及如何選擇合適的測試探針
2023-02-24 11:03:171032

供應(yīng)5代IPEX座射頻測試探針

5代IPEX天線座專用測試探針,同時兼容4代天線座。 使用壽命大于10000次。 測試性能穩(wěn)定。
2023-03-15 14:19:04869

美能四探針電阻測試儀的智能操作軟件

近年來,隨著電池廠商對太陽能電池生產(chǎn)的要求越來越高,在生產(chǎn)中太陽能電池的效率和性能也愈發(fā)重要。為了更好的判斷太陽能電池的效率和性能是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn),「美能光伏」研發(fā)了美能四探針電阻測試儀,可對
2023-08-26 08:36:01331

教你怎么使用R&S的網(wǎng)分,去嵌探針測試影響

"去嵌"是一種高頻測試中常用的技術(shù),旨在消除測量中探針或連接線等外部元件的影響,以便更準(zhǔn)確地測量被測試器件的性能。
2023-08-28 15:39:241153

高頻探針-鎢針

制造工藝:制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常,鎢粉與其他金屬粉末混合,然后通過拉拔機械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度,以滿足高頻測試的要求。
2023-09-15 17:04:07529

通過RA MCU和微型ROS簡化機器人設(shè)計流程

通過RA MCU和微型ROS簡化機器人設(shè)計流程
2023-10-24 17:55:26232

射頻測試探針推薦

針對目前主流使用的RF射頻測試座與USS天線插座進行射頻測試時如何匹配合適的射頻探針進行選型推薦,歡迎交流合作。
2021-10-11 17:21:0336

淺析DRAM測試和檢查設(shè)計方案

 DRAM測試發(fā)生在晶圓探針和封裝測試。最終組裝的封裝、終端系統(tǒng)要求和成本考慮推動了測試流程,包括ATE要求和相關(guān)測試內(nèi)容。
2023-11-22 16:52:11909

便攜式光伏組件測試儀,簡化測試流程,提升光伏能源效率

便攜式光伏組件測試簡化光伏組件測試流程,提高測試效率。它基于光伏效應(yīng)原理,通過測量輸出電流和電壓變化來計算光伏組件的輸出功率和效率。測試儀小巧便攜,操作簡單,高可靠,在光伏能源行業(yè)中發(fā)揮重要作用。
2023-12-14 14:48:51309

探針卡設(shè)計之MLO介紹

作為芯片晶圓測試階段的重要工具之一,探針卡在不斷更新迭代。為滿足更高需求的晶圓測試,針卡類型也逐漸從懸臂針卡向垂直針卡升級。
2024-01-25 10:29:21662

換流器的工作原理 換流器類型和應(yīng)用

換流器的工作原理 換流器類型和應(yīng)用? 換流器是一種電力裝置,用于將電流的頻率、相數(shù)或電壓等參數(shù)從一種形式轉(zhuǎn)換為另一種形式。它在現(xiàn)代電力系統(tǒng)中起到了非常重要的作用,廣泛應(yīng)用于電力變換、電能傳輸和消費
2024-02-01 11:32:29452

探針測試臺工作原理 探針測試臺為嘛測試會偏大?

探針測試臺是一種用于測試集成電路(IC)的設(shè)備,工作原理是將待測試的IC芯片安裝在測試座上,然后通過探針接觸到芯片的引腳,以測試芯片的功能和性能。在測試過程中,探針測試臺會生成一系列的測試信號,通過
2024-02-04 15:14:19234

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