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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測(cè)量?jī)x表>根據(jù)CANDT測(cè)試項(xiàng)來(lái)驗(yàn)證測(cè)試總線輸入電壓限值

根據(jù)CANDT測(cè)試項(xiàng)來(lái)驗(yàn)證測(cè)試總線輸入電壓限值

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2009-07-09 15:19:2114

PXI總線在試飛測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用

本文簡(jiǎn)要介紹了PXI總線應(yīng)用于試飛測(cè)試的優(yōu)勢(shì),并通過(guò)兩個(gè)實(shí)例,介紹了 PXI總線在試飛測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用。飛行試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)是測(cè)量和分析飛行試驗(yàn)對(duì)象各種信息的軟、硬件集合
2009-07-15 11:10:3518

基于LXI的多總線融合的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

面對(duì)現(xiàn)代高技術(shù)武器裝備對(duì)測(cè)試領(lǐng)域提出的嚴(yán)峻考驗(yàn),分析了當(dāng)今主流軍用測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的不足,以LXI 為基礎(chǔ)提出了一種多總線融合的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。重點(diǎn)論述了不同總線
2009-09-17 11:03:3911

IEC61000-3-2 諧波電流發(fā)射限值(設(shè)備輸入每相低于

IEC61000-3-2 諧坡電流發(fā)射限值(設(shè)備輸入每相低于或等于16A)測(cè)試目的及應(yīng)用場(chǎng)合該標(biāo)準(zhǔn)主要針對(duì)對(duì)注入公共供電系統(tǒng)中諧波電流的限制主要目的是要在標(biāo)準(zhǔn)適用的范圍內(nèi)和
2009-10-08 08:49:3375

基于LXI 的多總線融合的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

面對(duì)現(xiàn)代高技術(shù)武器裝備對(duì)測(cè)試領(lǐng)域提出的嚴(yán)峻考驗(yàn),分析了當(dāng)今主流軍用測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的不足,以LXI 為基礎(chǔ)提出了一種多總線融合的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。重點(diǎn)論述了不同總線
2009-12-12 15:37:5516

VMM驗(yàn)證方法在AXI總線系統(tǒng)中的實(shí)現(xiàn)

VMM驗(yàn)證方法在AXI總線系統(tǒng)中的實(shí)現(xiàn):本文基于中科院計(jì)算所某項(xiàng)目實(shí)際工作,介紹如何利用高級(jí)驗(yàn)證語(yǔ)言、驗(yàn)證基本庫(kù)、以及成熟的驗(yàn)證模型,快速建立可隨機(jī)產(chǎn)生測(cè)試向量、向量場(chǎng)
2009-12-14 09:26:5532

基于PXI及GPIB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

通過(guò)使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備來(lái)代替大量專用測(cè)試設(shè)備,不僅可以降低成本,而且可以有效的提高測(cè)試效率。介紹了基于PXI總線和GP IB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),從硬件和軟件兩個(gè)方面詳細(xì)
2010-08-25 15:25:2432

一種基于電壓比較器襯底噪聲的測(cè)試方法

  論述了一種測(cè)試混合信號(hào)集成電路襯底噪聲波形的方法采用電壓比較器利用襯底電壓對(duì)比   較器狀態(tài)的影響對(duì)噪聲作出統(tǒng)計(jì)測(cè)試根據(jù)測(cè)試結(jié)果重建噪聲波形設(shè)計(jì)了一
2010-08-29 16:08:4614

電源電壓測(cè)試方法

電源測(cè)試分為輸出指標(biāo)測(cè)試及保護(hù)特性測(cè)試兩大部分.輸出指標(biāo)特性測(cè)試根據(jù)設(shè)計(jì)指標(biāo),測(cè)試輸入不同的輸入電壓的狀況下,改變輸出電源的負(fù)載狀況,同時(shí)測(cè)試輸出端口電壓,進(jìn)行計(jì)
2010-10-24 01:32:5170

無(wú)線標(biāo)簽(RFID)設(shè)計(jì)驗(yàn)證測(cè)試建議書

一、RFID概述 ... 3 二.射頻識(shí)別技術(shù)原理分析 3 三、安捷倫科技 RFID測(cè)試解決方案. 5 (一)RFID Tag 測(cè)試參考連接... 5 (二)RFID Reader測(cè)試參考連接. 5 (三)Agilent RFID 設(shè)計(jì)驗(yàn)證
2010-11-24 09:59:5029

電壓比較器VIO的開(kāi)環(huán)測(cè)試

電壓比較器VIO的開(kāi)環(huán)測(cè)試 輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱比較器)一個(gè)重要的電性能參數(shù),GB/T 6798-1996中,將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定
2010-01-15 17:57:471790

汽車CAN/LIN總線測(cè)試流程和測(cè)試工具解析

汽車CAN/LIN總線測(cè)試流程和測(cè)試工具解析 汽車CAN/LIN總線系統(tǒng)測(cè)試的關(guān)鍵是測(cè)試流程、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試工具,掌握專業(yè)的總線分析和測(cè)試工具的使用技
2010-03-19 10:44:488041

高速串行總線的常用測(cè)試碼型

  本文討論了高速串行鏈路中常用的測(cè)試碼型偽隨機(jī)碼流的原理,以及不同的測(cè)試碼型對(duì)物理層測(cè)試結(jié)果的影響。   高速串行總線的常用測(cè)試碼型   在當(dāng)今的
2011-01-04 10:40:193862

微處理器芯片的驗(yàn)證測(cè)試分析

驗(yàn)證測(cè)試 技術(shù)是驗(yàn)證芯片設(shè)計(jì)正確與否的重要環(huán)節(jié),不僅向設(shè)計(jì)者及時(shí)反饋了有效的信息以盡早發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤,改進(jìn)設(shè)計(jì),并能減低測(cè)試成本和生產(chǎn)測(cè)試提供有效保證。該問(wèn)提出了一種有效
2011-06-29 17:53:1641

總線兼容的板級(jí)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

由于不同板卡的總線接口不同,對(duì)板卡的測(cè)試也需要多種測(cè)試系統(tǒng),因此成本較高。針對(duì)以上問(wèn)題,設(shè)計(jì)了一種能兼容多種總線的板級(jí)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。介紹了系統(tǒng)的硬件構(gòu)建方法和工
2011-08-01 15:35:010

集成運(yùn)放輸入失調(diào)電壓VIO的測(cè)試

集成運(yùn)放輸入失調(diào)電壓VIO的測(cè)試 失調(diào)電壓VIO ,即室溫及標(biāo)準(zhǔn)電源電壓下,運(yùn)放兩輸入端間信號(hào)為零時(shí),為使輸出為零,在輸入端加的補(bǔ)償電壓。 下圖為失調(diào)電壓測(cè)試電路:
2011-09-10 23:38:50118

實(shí)用的汽車電子CAN總線開(kāi)發(fā)測(cè)試方案

是否還在因?yàn)闆](méi)有高端CAN 測(cè)試儀器,無(wú)法進(jìn)行CAN 總線開(kāi)發(fā)而發(fā)愁?今天告訴你:CAN 卡同樣能讓你玩轉(zhuǎn)汽車CAN 總線開(kāi)發(fā)測(cè)試。CAN 總線多用于汽車領(lǐng)域,在CAN 總線的開(kāi)發(fā)測(cè)試階段,需要
2016-10-18 14:55:5219

IC測(cè)試技術(shù)--設(shè)計(jì)驗(yàn)證

IC測(cè)試技術(shù)--設(shè)計(jì)驗(yàn)證,可以下來(lái)看看。
2016-12-14 21:50:0353

高速信號(hào)完整性測(cè)試驗(yàn)證技術(shù)

高速信號(hào)完整性測(cè)試驗(yàn)證技術(shù)
2017-01-14 02:53:5923

基于IEEE1500標(biāo)準(zhǔn)的IP核測(cè)試殼的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證

基于IEEE1500標(biāo)準(zhǔn)的IP核測(cè)試殼的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證_馮燕
2017-01-07 19:00:3923

詳解CAN總線一致性測(cè)試的中的DLC測(cè)試

CAN總線作為應(yīng)用非常廣泛的現(xiàn)場(chǎng)總線,保證CAN總線一致性非常重要,DLC作為CAN幀的一部分,它的正確與否直接影響到總線通信。那么DLC代表什么?它的功能是什么?如何測(cè)試驗(yàn)證其正確性?
2018-12-16 09:27:5118407

CAN一致性測(cè)試系統(tǒng)之地偏移測(cè)試

測(cè)試用于檢驗(yàn)組件的可靠運(yùn)轉(zhuǎn)情況,比如一個(gè)組件的電源由蓄電池和發(fā)動(dòng)機(jī)雙路提供,電源電壓可能不一致,導(dǎo)致地偏移發(fā)生,為了檢測(cè)CAN信號(hào)能否正常通信,可以使用ZLG致遠(yuǎn)電子的CANDT一致性測(cè)試系統(tǒng)。
2018-12-05 17:16:389744

自動(dòng)駕駛測(cè)試驗(yàn)證技術(shù)有哪些

自動(dòng)駕駛在落地之前必須要經(jīng)過(guò)測(cè)試驗(yàn)證其技術(shù)的安全性,那么自動(dòng)駕駛技術(shù)該如何測(cè)試驗(yàn)證呢?本文就帶大家探討一下當(dāng)前自動(dòng)駕駛測(cè)試技術(shù)都有哪些?
2018-12-19 10:41:025657

探討一下CAN節(jié)點(diǎn)輸入電壓閾值測(cè)試

為了提高測(cè)試效率,節(jié)約人工成本,同時(shí)提高測(cè)試的準(zhǔn)確度,避免人工測(cè)量統(tǒng)計(jì)誤差,ZLG致遠(yuǎn)電子推出了CAN一致性測(cè)試系統(tǒng),CANDT以ISO11898標(biāo)準(zhǔn)為核心,圍繞國(guó)內(nèi)主流新能源主機(jī)廠CAN總線測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為主要依據(jù),測(cè)試功能滿足物理層、鏈路層、應(yīng)用層的測(cè)試需求。
2018-12-19 11:21:117483

ISO16750-2測(cè)試-交流疊加電壓測(cè)試

交流疊加電壓測(cè)試使用設(shè)備: 測(cè)試儀器:掃頻信號(hào)發(fā)生器+功率放大器; 監(jiān)測(cè)儀器:示波器 波形監(jiān)控驗(yàn)證:以Upp=1V為例:
2020-03-13 15:07:009480

隱性/顯性通信電壓閾值的測(cè)試為什么重要

為什么廠家在產(chǎn)品投入使用前,都必須要進(jìn)行CAN節(jié)點(diǎn)DUT的輸入電壓閾值測(cè)試呢?因?yàn)镃AN總線設(shè)計(jì)規(guī)范對(duì)于CAN節(jié)點(diǎn)的輸入電壓閾值有著嚴(yán)格的規(guī)定,若不符合規(guī)范,則組網(wǎng)后容易出現(xiàn)各節(jié)點(diǎn)間出現(xiàn)通信故障。
2020-12-26 02:33:311379

can總線測(cè)試基礎(chǔ)

can總線測(cè)試基礎(chǔ)
2022-08-02 10:00:587

什么是PCBA測(cè)試的ICT測(cè)試?

對(duì)數(shù)字IC,采用Vector(向量)測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量,激勵(lì)輸入向量,測(cè)量輸出向量,通過(guò)實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。如:與非門的測(cè)試對(duì)模擬IC的測(cè)試,可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流,測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出,當(dāng)作功能塊測(cè)試
2022-09-07 10:01:464922

總線測(cè)試工具CANOE的使用指南

CANOE可謂是常用的總線測(cè)試工具之一,不管是總線開(kāi)發(fā)工程師還是測(cè)試工程師,甚至是駐場(chǎng)工程師,都對(duì)它很熟悉。
2022-10-10 15:26:193911

配電系統(tǒng)數(shù)據(jù)中心測(cè)試驗(yàn)證方案

整個(gè)過(guò)程專注于測(cè)試、驗(yàn)證主要設(shè)備和系統(tǒng)在安裝、運(yùn)行、維護(hù)過(guò)程是否符合設(shè)計(jì)及用戶的要求,包含施工工藝檢查,設(shè)備、系統(tǒng)功能及性能驗(yàn)證測(cè)試,單系統(tǒng)驗(yàn)證測(cè)、綜合系統(tǒng)驗(yàn)證測(cè)試、認(rèn)證工作。
2022-10-12 10:58:56518

LMZ31710EVM測(cè)試輸入電壓回彈研究

LMZ31710EVM測(cè)試輸入電壓回彈研究
2022-11-01 08:26:320

電源特性測(cè)試測(cè)試哪些方面?電源特性自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)NSAT-8000介紹

假設(shè)電源適配器廠家對(duì)電源適配器進(jìn)行了很合理的測(cè)試驗(yàn)證工作,那么電源適配器輸出的電壓應(yīng)該是個(gè)穩(wěn)定的電源輸出。那么對(duì)于一些小型設(shè)備而言,電源測(cè)試就主要測(cè)試設(shè)備電源端的測(cè)試工作。下面納米軟件
2022-12-28 17:48:40835

測(cè)試對(duì)象的輸出阻抗和電壓計(jì)的輸入阻抗對(duì)測(cè)試值的影響

約有 0.01%的誤差。為了測(cè)試時(shí)不受輸出阻抗的影響,需要用到輸入阻抗較大的電壓計(jì)。一般的數(shù)字萬(wàn)用表的話,100V量程以及1000V量程約10MΩ,10V以下的量程可以選擇10MΩ或10GΩ以上
2023-01-12 14:44:281504

LMZ31710EVM測(cè)試輸入電壓回彈研究

在實(shí)際測(cè)試LMZ31710的評(píng)估板默認(rèn)配置時(shí),輸入12V,輸出1.8V,帶10A負(fù)載,會(huì)遇到輸出電壓重啟的問(wèn)題。這種重啟的問(wèn)題是由于輸入電壓回升導(dǎo)致反復(fù)觸發(fā)欠壓保護(hù)開(kāi)啟電壓導(dǎo)致的。本文主要針對(duì)輸入
2023-04-04 09:44:57504

電磁兼容限值、電壓變化、電壓波動(dòng)、閃爍限值的解決方法

摘要: 電磁兼容 限值 電壓變化 電壓波動(dòng) 閃爍限值 下述限值適用: Pst值不大于1.0;Plt值不大于0.65;在電壓變化期間 d(t)值超過(guò)3.3%的時(shí)間不大于500ms;相對(duì)穩(wěn)態(tài)電壓變化 dc不超過(guò)3.3% ;最大相對(duì)電壓變化Dmax不超過(guò): ...
2023-04-25 09:59:311221

基于UVM驗(yàn)證環(huán)境開(kāi)發(fā)測(cè)試流程

驗(yàn)證環(huán)境用戶需要?jiǎng)?chuàng)建許多測(cè)試用例來(lái)驗(yàn)證一個(gè)DUT的功能是否正確,驗(yàn)證環(huán)境開(kāi)發(fā)者應(yīng)該通過(guò)以下方式提高測(cè)試用例的開(kāi)發(fā)效率
2023-06-09 11:11:22568

可重用的驗(yàn)證組件中構(gòu)建測(cè)試平臺(tái)的步驟

本文介紹了從一組可重用的驗(yàn)證組件中構(gòu)建測(cè)試平臺(tái)所需的步驟。UVM促進(jìn)了重用,加速了測(cè)試平臺(tái)構(gòu)建的過(guò)程。 首先對(duì) 測(cè)試平臺(tái)集成者(testbench integrator) 和 測(cè)試編寫者(test
2023-06-13 09:14:23326

ic驗(yàn)證是封裝與測(cè)試么?

ic驗(yàn)證是封裝與測(cè)試么?? IC驗(yàn)證是現(xiàn)代電子制造過(guò)程中非常重要的環(huán)節(jié)之一,它主要涉及到芯片產(chǎn)品的驗(yàn)證、測(cè)試、批量生產(chǎn)以及質(zhì)量保證等方面。 IC驗(yàn)證包含兩個(gè)重要的環(huán)節(jié),即芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證和芯片生產(chǎn)驗(yàn)證
2023-08-24 10:42:13464

如何計(jì)算電源芯片輸入電壓范圍?電源芯片輸入電壓測(cè)試規(guī)范是什么?

電源芯片測(cè)試貫穿著研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過(guò)程的始終,目的就是為了通過(guò)反復(fù)檢測(cè)來(lái)確保電源芯片的性能、質(zhì)量和可靠性,保證正常工作運(yùn)行。電源芯片測(cè)試涉及到許多測(cè)試項(xiàng)目,并且有著具體的測(cè)試規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)和方法。本文納米軟件將介紹電源芯片輸入電壓范圍的測(cè)試規(guī)范。
2023-10-19 15:15:41476

汽車總線設(shè)計(jì)和測(cè)試的好方法

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《汽車總線設(shè)計(jì)和測(cè)試的好方法.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-10-20 11:16:210

電源模塊輸入緩慢變動(dòng)如何測(cè)試?具體方法是什么?

輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試是電源模塊測(cè)試項(xiàng)目之一,其目的是為了驗(yàn)證當(dāng)輸入電壓偏低情形發(fā)生時(shí),待測(cè)品能夠自我保護(hù),而且不會(huì)被損壞。用納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源模塊輸入電壓緩慢變動(dòng),解決傳統(tǒng)測(cè)試程序繁瑣、速度慢、效率低難點(diǎn)。
2023-10-23 15:00:05308

車輛LIN總線仿真測(cè)試服務(wù)

,能為您的車輛電子系統(tǒng)提供性能與運(yùn)行保障,幫助您高效完成系統(tǒng)集成設(shè)計(jì)與項(xiàng)目的快速開(kāi)發(fā)。 一、LIN總線仿真測(cè)試服務(wù)的作用和價(jià)值 1.虹科LIN仿真測(cè)試服務(wù)是指 LIN仿真測(cè)試是一種用于驗(yàn)證測(cè)試LIN總線系統(tǒng)的方法,這種測(cè)試通常需要使用仿
2023-10-30 10:38:44297

如何解決電壓測(cè)試遇到的問(wèn)題

在IC的測(cè)試中,電壓測(cè)試是所有測(cè)試參數(shù)中最為常見(jiàn)的一種參數(shù),尤其是模擬芯片的測(cè)試,電壓測(cè)試更顯常見(jiàn)及重要,如:LDO、LED驅(qū)動(dòng)、音頻功放、運(yùn)放、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)等很多類型的模擬芯片都含有電壓參數(shù)的測(cè)試
2023-10-30 11:39:36423

電源模塊的電壓輸入緩慢變動(dòng)如何測(cè)試?

測(cè)試電壓輸入緩慢變動(dòng)的目的是什么?電源模塊的電壓輸入緩慢變動(dòng)如何測(cè)試? 測(cè)試電壓輸入緩慢變動(dòng)的目的是確保電源模塊在不同輸入電壓情況下的穩(wěn)定性和可靠性。這種測(cè)試可以模擬實(shí)際應(yīng)用中的電網(wǎng)電壓波動(dòng)或其他
2023-11-09 15:30:43376

電壓調(diào)整率是什么?電壓調(diào)整率測(cè)試方法

電壓調(diào)整率是什么?電壓調(diào)整率測(cè)試方法 電壓調(diào)整率是指電源在負(fù)載突變時(shí),輸出電壓由不穩(wěn)定狀態(tài)恢復(fù)到穩(wěn)定狀態(tài)所需的時(shí)間。電源的電壓調(diào)整率是評(píng)估其響應(yīng)速度和穩(wěn)定性的重要指標(biāo),對(duì)于保證電源的正常工作和負(fù)載
2023-11-10 15:26:201586

高精度基準(zhǔn)電壓測(cè)試方法有哪些

方法和技術(shù)手段。 校準(zhǔn)和驗(yàn)證是使用高精度基準(zhǔn)電壓源進(jìn)行測(cè)試的重要步驟。在實(shí)際應(yīng)用中,高精度基準(zhǔn)電壓源通常需要經(jīng)過(guò)定期的校準(zhǔn)與驗(yàn)證,以確保其輸出的電壓信號(hào)符合預(yù)期的準(zhǔn)確程度。校準(zhǔn)是通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)電壓源進(jìn)行比對(duì),確定
2023-11-27 17:11:00313

SD NAND?可靠性驗(yàn)證測(cè)試

SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試的重要性SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試至關(guān)重要。通過(guò)檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性,確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn),可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽(yù),減少維修成本,確保
2023-12-14 14:29:34164

紋波電壓的正確測(cè)試方法

 過(guò)大的紋 波電壓對(duì)受電設(shè)備會(huì)造成不良影響,在設(shè)計(jì)制作樣品時(shí),我們要測(cè)試驗(yàn)證電源的輸出紋波電壓是否符合設(shè)計(jì)要求,但是往往 由于測(cè)試方法不對(duì),造成測(cè)試偏差比較大,下面我們介紹紋波電壓的正確測(cè)試方法。
2023-12-15 10:59:50678

汽車總線設(shè)計(jì)及測(cè)試寶典

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2023-12-25 09:59:511

fpga驗(yàn)證測(cè)試的區(qū)別

FPGA驗(yàn)證測(cè)試在芯片設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)過(guò)程中都扮演著重要的角色,但它們各自有著不同的側(cè)重點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景。
2024-03-15 15:03:26103

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