在做仿真的時候往往會去做代碼覆蓋率和功能覆蓋率的分析,來保證仿真是做的比較充分完備的。
2024-01-03 12:34:26472 。但是對質(zhì)量沒有把握的芯片能夠交付使用嗎?這些問題的答案對產(chǎn)品的成功非常重要。 為了確保一定的測試覆蓋率以及盡可能縮短產(chǎn)品測試時間, 圖3:DFT分析、BIST掃描和邊界掃描應(yīng)該與新的SoC集成電路
2011-12-15 09:53:14
dft可測試性設(shè)計,前言可測試性設(shè)計方法之一:掃描設(shè)計方法可測試性設(shè)計方法之二:標(biāo)準(zhǔn)IEEE測試訪問方法可測試性設(shè)計方法之三:邏輯內(nèi)建自測試可測試性設(shè)計方法之四:通過MBIST測試寄存器總結(jié)...
2021-07-22 09:10:42
GPIO輸入完成按鍵掃描的操作過程是怎樣的
2022-02-08 07:29:04
`概述: 現(xiàn)在,您可以在幾秒鐘內(nèi)測試和限定DWDM組件,而不是傳統(tǒng)方法所要求的幾分鐘甚至幾小時。專為需要最快和最高分辨率波長測量的DWDM組件測試應(yīng)用而設(shè)計, Vidia掃描可調(diào)諧激光源使您能夠以窄
2019-04-03 11:27:04
1.PLC工作過程示意圖 2.PLC工作過程介紹 自診斷:每次掃描程序前對PLC及其系統(tǒng)作一次自檢,異常則(ERROR)報警燈亮 通信請求:PLC檢測是否有與計算機、編程器的通信請求
2021-02-20 11:47:15
如何實現(xiàn)使用中斷執(zhí)行掃描 CSX,放棄使用循環(huán)掃描 CSX 的示例,這種方法可行嗎?
2024-01-19 08:29:39
,就能利用較少的測試矢量達(dá)到較大的測試覆蓋率。 結(jié)構(gòu)測試法假設(shè)在芯片內(nèi)插入有DFT功能,而且要求嚴(yán)格遵守設(shè)計規(guī)則中的測試規(guī)則。采用這種方法的開發(fā)人員必須延長其時間進(jìn)度,將添加和驗證DFT以及運行ATPG
2009-10-13 17:30:46
在systemverilog中,對于一個covergroup來說,可能會有多個instance,我們可能需要對這些instance覆蓋率進(jìn)行操作?! ≈槐4鎐overgroup type的覆蓋率
2023-03-21 14:24:14
允許開發(fā)者獲取設(shè)備 MAC 地址的權(quán)限了,如果在開發(fā)過程中,需要用到設(shè)備的 MAC 地址信息,可以通過底層修改廣播數(shù)據(jù),將設(shè)備的 MAC 地址存放在廣播數(shù)據(jù)中的廠商數(shù)據(jù)里面,這樣,我們在掃描的時候
2018-04-08 17:15:18
仿真VCO時候,開關(guān)電容陣列中開關(guān)電容的值取30fF,子帶呈現(xiàn)不規(guī)律變化。當(dāng)取100fF時,子帶才呈現(xiàn)比特位控制那樣規(guī)律變化,但這樣子帶覆蓋率會存在問題。求遇到過同樣問題的大神解答下!感謝!
2021-06-25 06:19:25
您好,我對Coverage Analyst有疑問。我使用的是Coverage Analyst版本5.21p。覆蓋率分析師完成覆蓋率報告確定(html文件),但我對報告中顯示的結(jié)果有疑問: - 覆蓋率
2019-01-07 16:06:45
在做RTL仿真驗證時,覆蓋率收集往往是我們在驗證中需要注意的地方,本篇就SpinalHDL中的驗證覆蓋率收集做一個簡單說明。sbt配置在SpinalHDL里進(jìn)行仿真驗證時,我們的待測試代碼會生
2022-06-24 15:56:45
的。方法3主要是使用全O和全1兩個背景數(shù)來移位展開的,與MARCH-G算法相比獲得的故障覆蓋率稍微低些,但使用了較少的地址單元。這里我們把方法3中的背景數(shù)稱為“種子”。以地址線為8根的RAM為例,種子分別
2017-06-28 11:25:02
有客戶反應(yīng),XR系列MCU在連接進(jìn)行掃描附近AP時,掃描不出所需要的AP,但第二次或者第三次就能掃描出來了。當(dāng)mcu執(zhí)行掃描動作時,掃描不出所需要的ap時,可以通過哪些方法來改善這種情況。
2021-12-29 06:00:37
基于掃描的DFT方法掃描設(shè)計的基本原理是什么?掃描設(shè)計測試的實現(xiàn)過程是怎樣的?基于掃描的DFT對芯片測試的影響有哪些?
2021-05-06 09:56:36
的矩陣鍵盤掃描模塊占用CPU 時間很少;2)可以實現(xiàn)雙鍵盤同時工作;3)誤判、漏判率低;4)反應(yīng)速度快,能夠處理組合鍵。測試結(jié)果表明,該方案滿足設(shè)計要求。該模塊以按鍵的放開控制按鍵編碼輸出,因此在鍵按下一
2021-06-25 07:00:00
等功能,而且系統(tǒng)的體積小,測試時與電路板的連接線少,雖然由于測試點有限, 不能提供100%的故障覆蓋率,但該系統(tǒng)仍能夠為維修人員對含邊界掃描器件電路板的快速 維修提供有效支持?! ”疚淖髡邉?chuàng)新點是:將邊界
2018-09-10 16:28:11
邊界掃描是什么原理?如何利用FPGA作為載體來實現(xiàn)邊界掃描故障診斷儀的SOPC系統(tǒng)?
2021-04-12 06:07:03
在邊界掃描機制引入電路設(shè)計的前提下,如何增加板級互連的故障診斷覆蓋率?
2021-04-26 06:37:15
提高DFT設(shè)計測試覆蓋率的有效方法是什么
2021-05-07 06:37:41
改善5G覆蓋率的方法
2020-12-15 07:52:51
我有34970a。我用它來監(jiān)控夜間隨機和未知的冷凍機故障。如果我打開掃描儀,數(shù)據(jù)將在早上覆蓋。冰箱很遙遠(yuǎn),可能幾天都看不到它。每小時收集大約10,800點。接下來,我將34970a的功率與冷凍功率
2018-09-27 15:42:49
代碼執(zhí)娜行覆蓋情況的功能,來檢測代碼中未執(zhí)行覆蓋情況。在覆蓋率分析時需要分析嵌入式軟件的指令覆蓋率、指令函數(shù)覆蓋率、指令函數(shù)分支覆蓋率、源代碼行覆蓋率、源代碼函數(shù)覆蓋率、源代碼函數(shù)分支覆蓋率。通過覆蓋率
2021-12-17 07:27:44
怎么提高非隨機圖形設(shè)計的故障覆蓋率?為LBIST設(shè)計提高故障檢測能力的技術(shù)是什么?
2021-05-08 07:11:55
評估功能測試的故障覆蓋率推廣邊界掃描技術(shù)電路板的彎曲方式
2021-04-23 07:15:39
藍(lán)橋杯單片機比賽系列3按鍵掃描按鍵掃描原理及實現(xiàn)在獨立鍵盤模式時,要將J5跳在BTN模式。也就是J5中2,3短路。此時S7,S6,S5,S4一端直接接地,一端連接P30,P31,P32,P33。按鍵
2022-02-17 06:10:41
實際產(chǎn)品的測試需要,提出了基于JTAG接口的,包括了上述四中測試手段的可測性設(shè)計方案。該方案經(jīng)過SMIC 0.18微米工藝流片驗證,不僅證明功能正確,而且在保證了一定的覆蓋率的條件下實現(xiàn)了較低的測試成本,是‘項非常實用的測試設(shè)計方案。數(shù)?;旌蟂OC芯片的可測性方案的實現(xiàn)[hide][/hide]
2011-12-12 17:58:16
`木雕的掃描建模如何實現(xiàn)?隨著3D雕刻設(shè)備在木雕行業(yè)的普及,一臺數(shù)控立體雕刻機可以同時制作數(shù)個立體或平面木雕工藝品,大大簡化傳統(tǒng)木雕行業(yè)的雕刻周期與難度。而3D雕刻工作前提是要有完整的木雕3D模型
2017-07-31 11:49:49
本文討論了LED大屏幕視頻控制器單元中的灰度掃描方法,提出了256級灰度掃描時的實現(xiàn)方案,并用CPLD器件實現(xiàn)其控制電路。
2021-05-06 09:29:54
求大佬分享按鍵掃描的新方法
2022-01-17 06:50:00
電腦硬件故障速排方法(掃描儀篇)掃描儀 掃描儀的普及率越來越高了,但是這類外設(shè)的故障也比較多,而且故障的原因也比較復(fù)雜。以往的手持式掃描儀、滾筒式掃描儀現(xiàn)在都不是市場的主流了,而平板掃描儀才是最受
2011-02-25 15:01:07
故障現(xiàn)象分析認(rèn)識場掃描電路的常見故障現(xiàn)象了解場掃描電路故障產(chǎn)生的原因3、場掃描電路故障檢修方法掌握場掃描檢修方法與要點掌握場掃描檢修的流程4、掌握場掃描電路檢修注意事項任務(wù)二 行掃描
2010-09-11 18:02:37
百分之百的覆蓋率。另外,結(jié)構(gòu)測試向量在DFT應(yīng)用過程中起著至關(guān)重要的作用,為了得到高效率的此類測試向量,需要在設(shè)計階段實現(xiàn)特定的輔助性設(shè)計;通過增加一定的硬件開銷,獲得最大可測試性。而此類的輔助性設(shè)計就包括掃描鏈
2016-05-25 15:32:58
實現(xiàn)高覆蓋率的診斷效果,具備對incorrect frequency和period jitter兩種故障類型的診斷能力?2. 如果問題1的答案是肯定的,請描述一下具體實現(xiàn)方案。3. 如果問題1的答案是否定的,是否可以提供一些參考建議。
2018-05-22 01:58:19
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-5-22 14:58 編輯
最近有RM48芯片做的產(chǎn)品,需要對它的可靠性進(jìn)行評估,但是如何獲得它的失效率λ故障覆蓋率呢?只知道這個芯片滿足SIL3等級,SIL3PFD 10-4~10-3PFH10-8~10-7
2018-05-22 07:30:38
一、生產(chǎn)制造業(yè)選擇固定式掃描器的方法 工業(yè)環(huán)境有著其獨特的特殊性,對于固定式掃描器的分辨率和讀碼率的要求非常高,同時對防塵、防水濺等級和跌落等級也都有著非常高的要求,需要能在較大的溫度范圍里
2020-12-07 17:18:22
測試,從而利用JTAG邊界掃描架構(gòu)測試高速系統(tǒng)級芯片(SoC)的互連上發(fā)生的時延破壞。ALT="圖1:信號完整性故障模型。"> 互連中的信號完整性損耗對于數(shù)千兆赫茲高度
2009-10-13 17:17:59
的。只不過,100%的驗證覆蓋率,可以讓工程團(tuán)隊對即將tape out的芯片增添不少信心。01 覆蓋率概述要完成一項工程,需要從市場需求、產(chǎn)品計劃、工程流程、技術(shù)手段、監(jiān)管機制、資源調(diào)配、評審體系等多個維度做
2022-09-14 11:57:52
/s幀畫面的刷新率為25/s,仍然存在著“行間閃爍”和“大面積閃爍”,對于場頻為60/s的1920×1080i隔行掃描模式,情況要好得多,其“大面積閃爍”基本上被克服,“行間閃爍”由于幀頻提高到30
2011-03-01 15:24:22
單片機鍵盤掃描之狀態(tài)機實現(xiàn):在編寫單片機程序的過程中,鍵盤作為一種人機接口的實現(xiàn)方式,是很常用的。而一般的實現(xiàn)方法大概有:1、外接鍵盤掃描芯片(例如8279,7279 等
2009-09-26 10:37:49205 介紹了支持JTAG 標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)字集成電路(IC)芯片結(jié)構(gòu)、故障測試模式和運用邊界掃描故障測試的原理。實驗中分析了數(shù)字IC 互連故障類型、一般故障診斷流程和互連故障的
2009-11-14 09:01:5112 針對功能覆蓋率的驗證過程神州龍芯集成電路設(shè)計公司徐偉俊 楊鑫 陳先勇 夏宇聞[摘要]:本文在介紹傳統(tǒng)驗證過程及其局限性的基礎(chǔ)上,闡述了針對功能覆蓋率驗證(co
2009-12-23 16:12:4413 介紹了自行設(shè)計的生物芯片掃描儀的硬件電路及其配套軟件的設(shè)計。該電路以DSP為核心處理器,以單片機為從處理器,并結(jié)合CPLD、USB、A/D、D/A等各種芯片構(gòu)成。生物芯片掃描儀的研
2010-06-25 18:01:0524
隔行掃描光柵的形成過程及其掃描電流的波形
2009-07-31 11:58:541300 掃描儀的掃描速度
文檔掃描儀——HP
2009-12-29 11:11:14736 掃描儀的掃描介質(zhì)
掃描介質(zhì)為掃描儀所能掃描的介質(zhì)類型,一般掃描儀可以處理的介質(zhì)為照片、印刷品、文稿、正負(fù)底
2009-12-29 11:29:26726 掃描儀的網(wǎng)絡(luò)掃描功能 支持網(wǎng)絡(luò)掃描顧名思義也是通過網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行掃描的,目前,擁有網(wǎng)絡(luò)掃描功能的掃
2009-12-29 11:32:39805 基于組掃描的PLC開關(guān)量采集方法設(shè)計策略
概 述:針對大量開關(guān)量信號輸入的問題,以日本三菱公司的fx系列plc為例,本文設(shè)計了一種基于組掃描輸入的plc開關(guān)量
2010-04-21 10:59:25935 本文通過對一種控制芯片的測試,證明通過采用插入掃描鏈和自動測試向量生成(ATPG)技術(shù),可有效地簡化電路的測試,提高芯片的測試覆蓋率,大大減少測試向量的數(shù)量,縮
2010-09-02 10:22:522024 1 .找不到掃描儀。2 .掃描時發(fā)出的噪音很大。3 .掃描時斷斷續(xù)續(xù)。4 .開啟掃描儀時出現(xiàn)“ SCSICard not found” 提示
2011-01-29 18:12:1011043 掃描設(shè)計是一種廣泛采用的可測性設(shè)計方法。在采用掃描設(shè)計的電路中,掃描單元及其控制電路芯片面積可能占到30%,引起的故障總數(shù)可能占到50%。因此掃描鏈的診斷對于邏輯診斷具有
2011-05-28 16:27:510 隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,驗證已經(jīng)逐漸成為大規(guī)模集成電路設(shè)計的主要瓶頸。首先介紹傳統(tǒng)的功能驗證方法并剖析其優(yōu)缺點,然后引入傳統(tǒng)方法的一種改進(jìn)基于覆蓋率的驗證方法,最后
2011-06-29 10:46:0622 介紹了支持JTAG 標(biāo)準(zhǔn)的IC 芯片結(jié)構(gòu)和故障測試的4-wire 串行總線,以及運用 邊界掃描 故障診斷的原理。實驗中分析了IC 故障類型、一般故障診斷流程和進(jìn)行掃描鏈本身完整性測試的方案
2011-07-04 15:08:4730 現(xiàn)今流行的可測試性設(shè)計(DFT:Design For Testability)為保證芯片的良品率擔(dān)任著越來越重要的角色。
2012-04-20 09:39:056249 Verilog代碼覆蓋率檢查是檢查驗證工作是否完全的重要方法,代碼覆蓋率(codecoverge)可以指示Verilog代碼描述的功能有多少在仿真過程中被驗證過了,代碼覆蓋率分析包括以下分析內(nèi)容。
2012-04-29 12:35:037899 LED 顯示屏的設(shè)計一般采用單片機控制,文章介紹了應(yīng)用可編程器件實現(xiàn)顯示部分硬件掃描控制的一種方法,從而能夠?qū)④浖幚砼c硬件掃描分離開來,使得軟件設(shè)計更為方便靈活.
2012-05-02 14:49:1860 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《[隨機過程論].錢敏平.掃描版.txt》資料免費下載
2012-06-08 19:44:480 介紹一種新穎的掃描方法只用一半的I/O口就可以實現(xiàn)16個按鍵的識別,為敘述簡便,稱之為“階梯式鍵盤”。
2016-03-30 17:02:147 慢掃描示波器電路故障檢修方法。
2016-05-05 11:01:3011 電工書架:電工常見故障檢修方法與技巧.王建.掃描版
2017-03-01 21:43:200 功能覆蓋率是保證驗證過程整體完整性的關(guān)鍵指標(biāo),然而有很多證據(jù)表明覆蓋率模型往往不準(zhǔn)確,不完整和具有誤導(dǎo)性。作者這種覆蓋缺陷是非常常見的,并且覆蓋分析往往集中于沒有覆蓋到的點而不是已經(jīng)覆蓋
2017-09-15 10:49:136 差示掃描量熱法是在程序溫度控制下測量物質(zhì)與參比物之間單位時間的能量差(或功率差)隨溫度變化的一種技術(shù)。
2017-11-29 16:42:5320009 傳感器節(jié)點進(jìn)行路徑規(guī)劃,一方面使節(jié)點的覆蓋面最大化,另一方面使掃描覆蓋的路徑最短。仿真實驗在含有障礙物和不合障礙物的情況下進(jìn)行,與多節(jié)點的編隊覆蓋算法相比,所提算法在適度降低覆蓋率的情況下,可大幅降低移動能耗。
2017-12-07 16:41:380 安捷倫邊界掃描軟件包支持符合IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1的數(shù)字設(shè)備的測試。測試開發(fā)人員可以有效和高效地測試數(shù)字設(shè)備,同時顯著減少測試開發(fā)時間。當(dāng)邊界掃描被實現(xiàn)時,故障覆蓋和診斷可以增加。本章提供了關(guān)于邊界掃描和IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1的概述和背景信息。
2018-12-04 08:00:000 邊界掃描技術(shù)的基本思想是在芯片管腳和內(nèi)部邏輯之間增加了串聯(lián)在一起的移位寄存器組,在邊界掃描測試模式下,寄存器單元在相應(yīng)的指令下控制引腳狀態(tài),從而對外部互連及內(nèi)部邏輯進(jìn)行測試。邊界掃描結(jié)構(gòu)定義了4個基本硬件單元:測試存取口(TAP)、TAP控制器、指令寄存器和測試數(shù)據(jù)寄存器組。
2019-04-25 15:09:571202 基于架構(gòu)和基于流的DFT方法 ASIC設(shè)計平均門數(shù)的增加迫使設(shè)計團(tuán)隊花費20%到50%的ASIC開發(fā)工作量測試相關(guān)的問題,以實現(xiàn)良好的測試覆蓋率。雖然遵循設(shè)計測試規(guī)則被認(rèn)為是一種良好的做法,但是
2023-11-10 17:01:04190 基于掃描路徑法的可測性設(shè)計技術(shù)是可測性設(shè)計(DFT)技術(shù)的一個重要的方法,這種方法能夠從芯片外部設(shè)定電路中各個觸發(fā)器的狀態(tài),并通過簡單的掃描鏈的設(shè)計,掃描觀測觸發(fā)器是否工作在正常狀態(tài),以此來檢測電路
2020-08-12 16:15:241026 以串行掃描的方式輸入,對相應(yīng)的引腳狀態(tài)進(jìn)行設(shè)定,實現(xiàn)測試矢量的加載;通過掃描輸出端將系統(tǒng)的測試響應(yīng)串行輸出,進(jìn)行數(shù)據(jù)分析與處理,完成電路系統(tǒng)的故障診斷及定位,邊界掃描測試原理示意圖如圖1所示。
2020-08-23 10:56:42703 學(xué)習(xí)PLC必須要深刻理解PLC的掃描過程和執(zhí)行原理,才能可靠無誤的編寫程序。通俗的講PLC程序是從上往下,從左往右順序循環(huán)掃描執(zhí)行,它需要三個過程才真正輸出實現(xiàn)外部動作。 第一步,先把外接的開關(guān)信號
2021-04-08 17:20:057492 代碼覆蓋率是衡量軟件測試完成情況的指標(biāo),通?;跍y試過程中已檢查的程序源代碼比例計算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測試代碼的程序被發(fā)布。 1. 問題背景 代碼覆蓋(Code coverage
2021-01-06 15:06:532784 文主要探討了用全掃描結(jié)構(gòu)(FULL SCAN METHOD)來實現(xiàn)數(shù)字電路可測性設(shè)計(DESIGN FOR TEST)的原理與方法。其中涉及到掃描結(jié)構(gòu)(SCAN)的算法依據(jù)、電路的基本結(jié)構(gòu)、測試矢量
2021-03-26 14:48:1822 開發(fā)成本高,技術(shù)難度大,故障覆蓋率低的缺陷。該測試系統(tǒng)現(xiàn)已成功擔(dān)負(fù)新型雷達(dá)裝備數(shù)字電路的維修保障任務(wù),應(yīng)用表明,系統(tǒng)具有設(shè)計合理,性能穩(wěn)定、可靠,故障隔離準(zhǔn)確等優(yōu)點。
2021-03-29 11:31:122110 代碼覆蓋率是衡量軟件測試完成情況的指標(biāo),通?;跍y試過程中已檢查的程序源代碼比例計算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測試代碼的程序被發(fā)布。 1. 問題背景 代碼覆蓋(Code coverage
2021-03-29 11:58:511575 針對含DSP電路板的測試與診斷問題,本文提出一種利用邊界掃描技術(shù)和傳統(tǒng)的外部輸入矢量測試相結(jié)合的方法,對含DSP電路板中的邊界掃描器件的器件及非邊界掃描器件進(jìn)行了測試。較大的改善了含DSP電路板的測試覆蓋率和定位精度,具有非常重要的實用價值。
2021-04-13 16:35:039 芯片前端工程中,測試驗證的核心理念:以提高覆蓋率為核心。設(shè)計工程師需要關(guān)心的主要有行覆蓋率(Block),條件覆蓋率(Expression),翻轉(zhuǎn)覆蓋率(Toggle),狀態(tài)機覆蓋率。本文從ASIC
2021-06-01 10:13:432351 圖1 LED芯片(掃描電鏡SEM) 圖2 LED芯片(掃描電鏡SEM) 圖3 LED芯片(掃描電鏡SEM) ? ymf
2021-11-24 11:02:491649 前言最近做單片機的課程設(shè)計用到矩陣鍵盤,在此做個記錄。1 矩陣鍵盤的掃描方式使用矩陣鍵盤時,首先要判斷是否有按鍵按下,這個過程稱為矩陣鍵盤的全局掃描。單片機對于鍵盤按下的響應(yīng)方式一般有三種
2021-11-26 12:21:049 新的從通道0到通道n掃描轉(zhuǎn)換會自動開始。如果某個數(shù)據(jù)緩存寄存器在被讀走之前被覆蓋,OVR標(biāo)志將置1。 連續(xù)掃描模式是在當(dāng)SCAN位和CONT位已被置時,通過置位ADON位來啟動的。 在轉(zhuǎn)換序列正在進(jìn)行過程中不要清零SCAN位。 連續(xù)掃描模...
2021-12-27 18:34:2611 設(shè)計工程師需要關(guān)心的主要有行覆蓋率(Block),條件覆蓋率(Expression),翻轉(zhuǎn)覆蓋率(Toggle),狀態(tài)機覆蓋率。本文從ASIC設(shè)計的角度上來討論,如何寫出高覆蓋率的Verilog代碼。
2022-05-26 17:30:213632 測量代碼覆蓋率對于嵌入式系統(tǒng)來說越來越重要,但需要一些經(jīng)驗。這是因為有一些障礙需要克服,尤其是小目標(biāo)。但是,使用正確的方法和合適的工具,無需過多努力即可測量測試覆蓋率。九個實用技巧可幫助您入門
2022-07-14 15:58:122301 DFT是確保芯片在制造過程中具有可測試性的一種技術(shù)。DFT友好的ECO是指在進(jìn)行ECO時, 不會破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設(shè)計方法。
2023-03-06 14:47:071371 PLC的工作過程可分為三部分: 1. 上電處理 2. 掃描過程 3. 出錯處理
其中最為核心的工作過程為掃描過程。 PLC是按集中輸入、集中輸出,周期性循環(huán)掃描的方式進(jìn)行工作的。每一次掃描所用
2023-04-17 15:58:400 DFT是確保芯片在制造過程中具有可測試性的一種技術(shù)。DFT友好的ECO是指在進(jìn)行ECO時, 不會破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設(shè)計方法。DFT不友好的ECO會對芯片的測試和調(diào)試帶來很大的困難,可能導(dǎo)致芯片測試效率降低甚至無法測試。
2023-05-05 15:06:371262 量熱儀(differentialscanningcalorimeter,DSC)。掃描是指試樣經(jīng)歷程序設(shè)定的溫度過程。以一個在測試溫度或時間范圍內(nèi)無任何熱效應(yīng)的惰性物質(zhì)為參比,將試樣的熱流與參比比較而測定出
2022-10-12 11:24:56796 這個單鍵啟停之所以能成功實現(xiàn),主要原因是上升沿的應(yīng)用,每次接通只能掃描一個周期,如果去掉上升沿P,則該功能動作會亂輸出,不能實現(xiàn)交替輸出與關(guān)斷。
2023-06-30 12:48:022527 3D三維掃描儀測量測技術(shù)采用三角測量原理準(zhǔn)確獲取工件表面完整三維數(shù)據(jù)的高性能光學(xué)掃描量測系統(tǒng)是一款先進(jìn)的的解決方案。與傳統(tǒng)接觸式測量方法相比,非接觸式蔡司光學(xué)掃描測量方法更快,獲取的數(shù)據(jù)信息量更多
2023-07-11 15:11:391175 參數(shù)掃描工具在電路的設(shè)計和驗證階段非常有用,通過掃描某個變量的一組值可以輕松找到此參數(shù)的最佳值,減少手動優(yōu)化的次數(shù)。以下將介紹在Cadence IC中兩種參數(shù)掃描的方法。
2023-09-11 15:52:403008 差示掃描量熱法(DSC)是一種熱分析方法,在程序控制溫度下,輸入到試樣和參比物的功率差與溫度的關(guān)系。而差示掃描量熱儀是利用這種方法,來測量材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熔點、比熱容和氧化誘導(dǎo)期,來對材料
2023-11-21 13:37:56374
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