專家支招：如何快速解決隔離FPGA設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤

　　如果您的FPGA設(shè)計(jì)無法綜合或者沒能按預(yù)期在開發(fā)板上正常工作，原因往往不明，要想在數(shù)以千計(jì)的RTL和約束源文件中找出故障根源相當(dāng)困難，而且很多這些文件還可能是其他設(shè)計(jì)人員編寫的?？紤]到FPGA設(shè)計(jì)迭代和運(yùn)行時(shí)間的延長，設(shè)計(jì)人員應(yīng)該在設(shè)計(jì)流程的早期階段就找出可能存在的諸多錯(cuò)誤，并想方設(shè)法重點(diǎn)對(duì)設(shè)計(jì)在開發(fā)板上進(jìn)行驗(yàn)證。

　　在特定條件下采用更智能的技術(shù)來隔離特定錯(cuò)誤，找到問題電路的源頭并漸進(jìn)式修復(fù)錯(cuò)誤，這很重要。為了節(jié)省時(shí)間，您可以對(duì)時(shí)鐘、約束和模塊級(jí)接口進(jìn)行初步設(shè)置檢查以確保符合設(shè)計(jì)規(guī)范，這樣就不必在綜合與布局布線（P&R）時(shí)浪費(fèi)大量時(shí)間。

　　Synopsys 公司的Synplify Premier 和Synplify Pro FPGA設(shè)計(jì)工具以及Identify RTLDebugger 等產(chǎn)品能幫助設(shè)計(jì)人員完成上述工作。這些工具的特性使得設(shè)計(jì)人員能快速隔離錯(cuò)誤，有效縮短運(yùn)行時(shí)間，并減少開發(fā)板啟動(dòng)所需的迭代次數(shù)。

　　精確找到開發(fā)板上的問題

　　如果開發(fā)板出現(xiàn)明顯的功能性錯(cuò)誤，要縮小查找問題根源的范圍可能會(huì)相當(dāng)困難。為了進(jìn)行設(shè)計(jì)調(diào)試，我們應(yīng)當(dāng)創(chuàng)建附加電路并保留某些節(jié)點(diǎn)，以便我們對(duì)設(shè)計(jì)運(yùn)行時(shí)得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行探測、檢查和分析。下面我們就看看如何用板級(jí)調(diào)試軟件來查找錯(cuò)誤。

　　按下列四步法并利用RTL調(diào)試器，您能精確查找問題，并對(duì)信號(hào)和關(guān)注的條件采樣，然后將觀察結(jié)果關(guān)聯(lián)至原始RTL，從而將問題鎖定在RTL規(guī)范或約束設(shè)置范圍內(nèi)。

　　第一步：指定探測。在RTL中明確要監(jiān)控哪些信號(hào)和條件。在此要聲明您所感興趣的觀察點(diǎn)（要觀察的信號(hào)或節(jié)點(diǎn)）和斷點(diǎn)（RTL控制流程聲明，如IF、THEN 和CASE 等）。

　　第二步：通過探測構(gòu)建設(shè)計(jì)。利用附加的監(jiān)控電路——即用于根據(jù)您的監(jiān)控要求捕捉并導(dǎo)出調(diào)試數(shù)據(jù)的智能內(nèi)部電路仿真器（IICE）——對(duì)FPGA設(shè)計(jì)進(jìn)行綜合。

　　第三步：分析和調(diào)試。設(shè)計(jì)綜合完成之后，運(yùn)行設(shè)計(jì)并用RTL調(diào)試器觀察數(shù)據(jù)。在開發(fā)板上運(yùn)行測試時(shí)，觀察點(diǎn)和斷點(diǎn)共同觸發(fā)數(shù)據(jù)采樣，使您能在您所關(guān)注的非常明確的條件下觀察并調(diào)試特定節(jié)點(diǎn)的電路的行為。您可將觀察到的采樣數(shù)據(jù)寫入VCD 文件并將其關(guān)聯(lián)到RTL。

　　第四步：漸進(jìn)性修復(fù)錯(cuò)誤（incrementaLfix）。一旦找到了錯(cuò)誤所在，就可以通過分級(jí)、漸進(jìn)式流程在RTL或約束中漸進(jìn)地進(jìn)行修復(fù)。

　　時(shí)序和功能性錯(cuò)誤的可視檢查

　　FPGA設(shè)計(jì)和調(diào)試工具還有一大優(yōu)點(diǎn)，就是能顯示RTL和網(wǎng)表級(jí)原理圖。舉例來說，具有互動(dòng)調(diào)試功能的原理圖查看器能夠顯示設(shè)計(jì)的RTL和網(wǎng)表原理圖，便于您進(jìn)行觀察并將時(shí)序報(bào)告和VCD 數(shù)據(jù)（設(shè)計(jì)在開發(fā)板上運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生）關(guān)聯(lián)至RTL源文件。查看器包含一個(gè)RTL視圖，用來以圖示的方式描述設(shè)計(jì)。該視圖在綜合RTL編譯階段后提供，由技術(shù)獨(dú)立的加法器、寄存器、大型多路選擇器和狀態(tài)機(jī)等組件構(gòu)成。通過RTL原理圖，您可以交叉探測原始RTL，對(duì)不符合預(yù)定規(guī)范的設(shè)計(jì)進(jìn)行調(diào)整，同時(shí)也可以探測到約束編輯器，從而更簡便地更新和指定約束（圖1）。

　　要將錯(cuò)誤操作的源頭追溯到RTL，您可以利用RTL調(diào)試器在RTL原理圖上方實(shí)時(shí)插入觀察到的操作數(shù)據(jù)。

　　原理圖查看器包括一個(gè)網(wǎng)表級(jí)技術(shù)視圖，用于顯示綜合后的實(shí)際設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)情況。在HDLAnalyst 原理圖查看器中，該視圖基于查找表、寄存器和DSP slice 等基本的賽靈思器件原語。您可在原理圖中對(duì)路徑進(jìn)行交叉探測，追溯到原始的RTL以及綜合后和布局布線后的最終時(shí)序報(bào)告，以便分析和提高整體性能。

　　在FPGA中原型設(shè)計(jì)的ASIC 門控時(shí)鐘結(jié)構(gòu)并非FPGA實(shí)現(xiàn)中的必要環(huán)節(jié)，這會(huì)導(dǎo)致FPGA資源使用效率低下。解決該問題的有效辦法就是用FPGA綜合軟件轉(zhuǎn)換時(shí)鐘。

　　大型設(shè)計(jì)的調(diào)試

　　在大型設(shè)計(jì)中探測所有信號(hào)是不可能，因?yàn)樯傻臄?shù)據(jù)量極為龐大，而且探測數(shù)據(jù)所需的額外調(diào)試邏輯也太大。片上調(diào)試方法的一個(gè)常見弊病是難以提前預(yù)測需要對(duì)哪些信號(hào)進(jìn)行探測和監(jiān)控。

　　一些調(diào)試軟件通過分治法能夠在一定程度上解決這個(gè)問題。利用多路復(fù)用的采樣組，設(shè)計(jì)人員可以有選擇性地進(jìn)行采樣并通過多路復(fù)用的路徑和共享的IICE 在信號(hào)組之間切換。這種方法增加了可觀察的信號(hào)和條件，而且不會(huì)增加數(shù)據(jù)存儲(chǔ)要求。您可以即時(shí)切換感興趣的信號(hào)組，不必花時(shí)間進(jìn)行重新調(diào)整或重新綜合新的設(shè)計(jì)。

　　不幸的是，在探測和采樣數(shù)據(jù)時(shí)用使的調(diào)試IICE 邏輯會(huì)占用包括存儲(chǔ)器BRAM 在內(nèi)的芯片資源。您可在SRAM 存儲(chǔ)卡中對(duì)IICE 采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行片外存儲(chǔ)，以減少片上BRAM 的使用。這種方法的另一個(gè)好處是能增加采樣數(shù)據(jù)的深度。