ATECLOUD-IC智能云測試平臺如何測試電源芯片的振蕩頻率？

芯片振蕩頻率是指芯片內部的工作頻率，常用于數(shù)字電路和模擬電路中。芯片的振蕩頻率直接關系到芯片的運行速度，其大小與內部電容器、電感、晶體等元件的特性有關，所以一款芯片在生產出來之后它的振蕩頻率的大小總是會在固定的范圍之內。因此，芯片的振蕩測試不僅需要抓取頻率的波形，還需要記錄波形的頻率數(shù)值與標準數(shù)值進行閾值判斷。

芯片振蕩頻率

納米軟件ATECLOUD-IC系統(tǒng)測試電源芯片的振蕩頻率步驟

在系統(tǒng)測試電源芯片的振蕩頻率前，我們需要準備一臺多通道電源、一臺電子負載、一臺示波器以及邊緣計算設備（納米BOX），納米BOX是執(zhí)行軟件運行與計算的重要設備。

1.將電源連接到電源芯片的VIN和EN端，電子負載連接到芯片VOUT端，示波器接連接到電源芯片的SW端。

2.將電源、示波器、電子負載通過USB/LAN/RS232接口與納米BOX相連，再通過網線與計算機連接，使得儀器、BOX和計算機處于同一網段下。

3.打開瀏覽器，登陸ATECLOUD-IC系統(tǒng)，在系統(tǒng)內部搭建振蕩頻率的測試項目，將搭建好的項目組建成電源芯片振蕩頻率測試方案，之后直接啟動測試即可。

4.等待2-3秒即可完成測試，在系統(tǒng)指標展示界面可直接查看到測試中的振蕩頻率波形和參數(shù)。

5.測試中的指標數(shù)據(jù)和歷史數(shù)據(jù)都可以在數(shù)據(jù)報告界面查看，同時可以直接一鍵導出數(shù)據(jù)和波形圖，自動生成word或excel文檔。

6.特有的數(shù)據(jù)洞察模塊可以將所有測試數(shù)據(jù)集中分析處理，系統(tǒng)會從產品合格率，人員功效率，產品指標圖等多個維度對采集到的數(shù)據(jù)進行分析，也可以將這些分析結果集中在大數(shù)據(jù)看板上展示，為管理者的決策提供真實有效的數(shù)據(jù)支撐。

ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)

ATECLOUD-IC智能云測試平臺的優(yōu)勢

1.相對手動測試項目需要2-3分鐘來說，系統(tǒng)測試僅需2-3秒就可以得到測試結果，可以有效提升研發(fā)測試效率。

2.針對某些需要采樣率高的測試項目，手動測試只能目測估值，而系統(tǒng)測試則可以達到毫秒級的采樣頻率，優(yōu)化產品測試工藝，使得測試數(shù)據(jù)更加精準。

3.測試系統(tǒng)可以根據(jù)用戶的需求添加或刪減測試項目和儀器，后續(xù)可更加靈活的適配各類測試項目，無需重新開發(fā)軟件和項目。

4.大數(shù)據(jù)分析，數(shù)據(jù)洞察模塊免去了用戶需要購買分析模塊或人工數(shù)據(jù)分析的煩惱，可以更直觀的反饋給用戶數(shù)據(jù)的各項對比以及分析圖表。

審核編輯：湯梓紅