LED的漏電流過(guò)大造成PN結(jié)失效，使LED燈點(diǎn)不亮，這種情況一般不會(huì)影響其它的LED燈的工作
2024-03-19 10:36:17
46 、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測(cè)、漏電位置檢測(cè)、彈坑檢測(cè)、粗細(xì)撿漏、ESD 測(cè)試（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過(guò)電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29
服務(wù)范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅(qū)動(dòng)電源。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件
2024-03-15 09:23:03
服務(wù)范圍大規(guī)模集成電路芯片檢測(cè)項(xiàng)目（1）無(wú)損分析：X-Ray、SAT、OM 外觀檢查。（2）電特性/電性定位分析：IV 曲線量測(cè)、Photon Emission、OBIRCH
2024-03-14 16:12:31
開(kāi)封以及機(jī)械開(kāi)封等檢測(cè)方法。結(jié)合OM,X-RAY等設(shè)備分析判斷樣品的異常點(diǎn)位和失效的可能原因。服務(wù)范圍IC芯片半導(dǎo)體檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 37045-2018 信息技
2024-03-14 10:03:35
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測(cè)試無(wú)法評(píng)估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計(jì)量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)
2024-03-13 16:26:07
MOS管瞬態(tài)熱阻測(cè)試（DVDS）失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因，有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57
共讀好書(shū) 吳彩峰 王修壘 謝立松 北京中電華大電子設(shè)計(jì)有限責(zé)任公司，射頻識(shí)別芯片檢測(cè)技術(shù)北京市重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 摘要： 在智能卡三輪測(cè)試中，失效表現(xiàn)為芯片受損，本文基于有限元模型來(lái)研究智能 IC
2024-02-25 17:10:20115 
雖然表面缺陷檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)不斷從學(xué)術(shù)研究走向成熟的工業(yè)應(yīng)用，但是依然有一些需要解決的問(wèn)題?；谝陨?b class="flag-6" style="color: red">分析可以發(fā)現(xiàn)，由于芯片表面缺陷的獨(dú)特性質(zhì)，通用目標(biāo)檢測(cè)算法不適合直接應(yīng)用于芯片表面缺陷檢測(cè)任務(wù)，需要提出新的解決方法。
2024-02-25 14:30:18165 
經(jīng)過(guò)電參數(shù)測(cè)試合格的產(chǎn)品2N**經(jīng)過(guò)客戶SMT（無(wú)鉛工藝260±5℃）生產(chǎn)線貼裝后，發(fā)現(xiàn)大量產(chǎn)品電參數(shù)失效，出現(xiàn)的現(xiàn)象是D、S間漏電，產(chǎn)品短路，失效比例超過(guò)50%。
2024-02-25 10:35:42429 
變頻器的漏電，變頻器在使用過(guò)程中存在較大的漏電，請(qǐng)問(wèn)這是什么原因造成的？是電源進(jìn)入的主拓?fù)浠芈返?b class="flag-6" style="color: red">漏電還是開(kāi)關(guān)電源高頻漏電？再者，這種漏電是變頻器帶電部分對(duì)不帶電的金屬u部分導(dǎo)致的直接漏電，就是電源
2024-02-21 20:31:02
漏電保護(hù)器是一種用于電路檢測(cè)和保護(hù)的裝置，可以有效地防止因電氣設(shè)備漏電導(dǎo)致的觸電事故和火災(zāi)。 漏電保護(hù)器的工作原理是基于電流平衡檢測(cè)的。在正常情況下，電流在電路的進(jìn)出口應(yīng)該是平衡的，即進(jìn)入電路的電流
2024-02-18 14:57:38224 漏電保護(hù)開(kāi)關(guān)的漏電動(dòng)作電流為多少? 漏電保護(hù)開(kāi)關(guān)是一種用于監(jiān)測(cè)和保護(hù)電氣設(shè)備和人身安全的重要電器設(shè)備。當(dāng)電氣系統(tǒng)發(fā)生漏電故障時(shí)，漏電保護(hù)開(kāi)關(guān)能夠及時(shí)檢測(cè)到漏電電流，并迅速切斷電路，以避免漏電電流
2024-02-03 09:13:15781 勝科納米（蘇州）股份有限公司（以下簡(jiǎn)稱“勝科納米”）作為一家半導(dǎo)體檢測(cè)分析廠商，近日在科創(chuàng)板上市的申請(qǐng)獲得了上交所的受理，并已回復(fù)審核問(wèn)詢函。據(jù)上交所發(fā)行上市審核官網(wǎng)顯示，勝科納米主要的服務(wù)內(nèi)容包括失效分析、材料分析與可靠性分析，其目標(biāo)是成為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的“芯片全科醫(yī)院”。
2024-02-02 15:52:55573 LED燈珠漏電原因有哪些？LED燈珠使用事項(xiàng)? LED燈珠的漏電問(wèn)題可能由以下幾個(gè)方面原因引起： 1. 材料質(zhì)量問(wèn)題：當(dāng)LED燈珠的材料質(zhì)量不達(dá)標(biāo)時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致燈珠表面存在裂紋或缺陷，從而造成漏電
2024-01-31 14:48:11717 ; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測(cè)項(xiàng)目試驗(yàn)類型試驗(yàn)項(xiàng)??損分析X 射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數(shù)測(cè)試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
服務(wù)范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅(qū)動(dòng)電源。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件
2024-01-29 22:04:38
，我將詳細(xì)介紹電纜漏電檢測(cè)儀器的原理和使用方法。 一、電纜漏電檢測(cè)儀器的原理 電纜漏電檢測(cè)儀器的工作原理基于漏電電流的檢測(cè)和分析。當(dāng)電纜發(fā)生漏電時(shí)，電流將通過(guò)漏電路徑流向地面或其他介質(zhì)，形成了一個(gè)漏電回路。
2024-01-25 14:39:16444 芯片直連的嚴(yán)重后果。 漏電流是指電器設(shè)備或電子設(shè)備中的電流從電源回路偏離，并通過(guò)其他路徑進(jìn)入地面或其他介質(zhì)中的電流。在正常情況下，電流應(yīng)該正常通過(guò)設(shè)備的電源回路，但由于設(shè)備設(shè)計(jì)不合理、材料老化、絕緣失效等原
2024-01-22 13:48:45159 什么是鋰離子電池失效？鋰離子電池失效如何有效分析檢測(cè)？ 鋰離子電池失效是指電池容量的顯著下降或功能完全喪失，導(dǎo)致電池?zé)o法提供持久且穩(wěn)定的電能輸出。鋰離子電池失效是由多種因素引起的，包括電池化學(xué)反應(yīng)
2024-01-10 14:32:18216 去除表面鈍化層、金屬化層和層間介質(zhì)后有時(shí)依然無(wú)法觀察到失效點(diǎn)，這時(shí)候就需要對(duì)芯片進(jìn)行進(jìn)一步處理，對(duì)于多層布線的芯片干法腐蝕或者濕法腐蝕來(lái)逐一去除，直至最后一層金屬化和介質(zhì)層。
2024-01-09 15:17:27108 熔點(diǎn)檢測(cè)是化學(xué)和材料科學(xué)中一種常用的技術(shù)，用于確定物質(zhì)在特定溫度下的物理狀態(tài)變化。通過(guò)熔點(diǎn)檢測(cè)，科學(xué)家可以了解物質(zhì)的性質(zhì)、純度以及其可能的用途。本文將深入探討熔點(diǎn)檢測(cè)的重要性、方法以及其在實(shí)際
2024-01-04 11:13:38133 
在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會(huì)很容易地找到市場(chǎng)失效的原因了呢？答案是否定的。不管是對(duì)收集到的市場(chǎng)失效信息還是對(duì)故障解析報(bào)告的解讀、分析都需要相應(yīng)的專業(yè)技能作為背景，對(duì)整機(jī)進(jìn)行的測(cè)試也需要相應(yīng)的測(cè)試技能。
2023-12-27 15:41:37278 
BGA（Ball Grid Array）是一種高密度的表面貼裝封裝技術(shù)，它將芯片的引腳用焊球代替，并以網(wǎng)格狀排列在芯片的底部，通過(guò)回流焊與印刷電路板（PCB）上的焊盤連接。然而，BGA也存在一些可靠性問(wèn)題，其中最常見(jiàn)的就是焊點(diǎn)失效。本文主要介紹兩種典型的BGA焊點(diǎn)失效模式：冷焊和葡萄球效應(yīng)。
2023-12-27 09:10:47233 DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡(jiǎn)稱，由三菱電機(jī)于1997年正式推向市場(chǎng)，迄今已在家電、工業(yè)和汽車空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-12-22 15:15:27241 
▼關(guān)注公眾號(hào)：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個(gè)芯片產(chǎn)業(yè)鏈，復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問(wèn)題都會(huì)帶來(lái)芯片的失效問(wèn)題。芯片從工藝到應(yīng)用都會(huì)面臨各種失效風(fēng)險(xiǎn)，筆者平時(shí)也會(huì)參與到失效分析中，這一期就對(duì)失效
2023-12-20 08:41:04530 
的使用對(duì)于保障人身財(cái)產(chǎn)安全具有非常重要的意義。下面就是我們幾款漏電保護(hù)芯片的具體描述。
它適用于交流110V~220V(50~60Hz)供電系統(tǒng)，用于檢測(cè)AC型剩余漏電信號(hào)，可直接驅(qū)動(dòng)SCR（可控硅），當(dāng)
2023-12-18 10:16:19
計(jì)失效模式和影響分析（DFMEA，Design Failure Mode and Effects Analysis）在汽車工業(yè)中扮演著非常重要的角色。
2023-12-14 18:21:402297 
成分發(fā)現(xiàn)，須莊狀質(zhì)是硫化銀晶體。原來(lái)電阻被來(lái)自空氣中的硫給腐蝕了。 失效分析發(fā)現(xiàn)，主因是電路板上含銀電子元件如貼片電阻、觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)、繼電器和LED等被硫化腐蝕而失效。銀由于優(yōu)質(zhì)的導(dǎo)電特性，會(huì)被使用作為電極、焊接材料
2023-12-12 15:18:171020 
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因?yàn)殂~腐蝕。據(jù)此情況，對(duì)失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測(cè)手段，明確失效原因。 2、分析過(guò)程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188 
門電路的輸入端懸空，有可能導(dǎo)致PMOS和NMOS同時(shí)導(dǎo)通，存在短路電流，如果MOS管的尺寸越大表現(xiàn)出來(lái)的漏電流就越大.
2023-12-08 11:11:17916 
DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡(jiǎn)稱，由三菱電機(jī)于1997年正式推向市場(chǎng)，迄今已在家電、工業(yè)和汽車空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-11-29 15:16:24414 
~15V，精度達(dá)0.5%，端子采用JK2EDG-5.08-4P，典型應(yīng)用為剩余電流檢測(cè)、光伏逆變器漏電流檢測(cè)、光伏陣列的漏電保護(hù)、堆疊直流電源的漏電檢測(cè)、寬范圍的單向或三相電流檢測(cè)、電流源的失效模式檢測(cè)、對(duì)稱的故障檢測(cè)等。 FR5V H00電流傳感器工作原理： 原邊導(dǎo)線插
2023-11-29 09:07:49250 
損壞的器件不要丟，要做失效分析！
2023-11-23 09:04:42181 
壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機(jī)理的不同，如表1所示。本文針對(duì)兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機(jī)理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ)，尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07721 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《一種可靠的峰值和起始點(diǎn)檢測(cè)算法.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-11-22 10:27:53
0 FPC在后續(xù)組裝過(guò)程中，連接器發(fā)生脫落。在對(duì)同批次的樣品進(jìn)行推力測(cè)試后，發(fā)現(xiàn)連接器推力有偏小的現(xiàn)象。據(jù)此進(jìn)行失效分析，明確FPC連接器脫落原因。
2023-11-20 16:32:22312 
將詳細(xì)分析光耦失效的幾種常見(jiàn)原因。 首先，常見(jiàn)的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件，它會(huì)發(fā)出光信號(hào)。常見(jiàn)的LED失效原因有兩種：老化和損壞。LED的使用壽命是有限的，長(zhǎng)時(shí)間使用后會(huì)逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445 漏電繼電器的工作原理：如何檢測(cè)和消除電網(wǎng)漏電? 漏電繼電器是一種用于檢測(cè)和防止電網(wǎng)漏電的保護(hù)設(shè)備。在理解漏電繼電器的工作原理之前，先了解一下什么是漏電。 漏電是指電流在電路之外錯(cuò)誤流向地或其他非預(yù)期
2023-11-17 14:04:19409 那么就要用到一些常用的失效分析技術(shù)。介于PCB的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與失效的主要模式，其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術(shù)，一旦使用了這兩種技術(shù)，樣品就破壞了，且無(wú)法恢復(fù)；另外由于制樣的要求，可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時(shí)也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115 介紹LGA器件焊接失效分析及對(duì)策
2023-11-15 09:22:14349 
有效的對(duì)失效的主板進(jìn)行FA分析。 在進(jìn)行FA分析時(shí)的時(shí)候，是要遵守一定的流程的。 從外觀檢查，電測(cè)，信號(hào)檢測(cè)，其他驗(yàn)證等一步步進(jìn)行分析驗(yàn)證。 外觀檢查 外觀檢查是一片fail板子必須會(huì)經(jīng)過(guò)的過(guò)程，向一些元件被燒毀，燒焦或者撞
2023-11-07 11:46:52386 異常品暗電流值 正常品暗電流值 異常品阻值 正常品阻值 測(cè)試結(jié)果 異常品暗電流為4.9989mA，偏離要求范圍（1mA 以內(nèi)），且針對(duì)關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)的分析未見(jiàn)異常。 2、外觀及X-RAY分析 X-RAY 外觀 測(cè)試結(jié)果 X-RAY 及外觀檢測(cè)，未見(jiàn)異常。 3、針對(duì)失效現(xiàn)象的初步
2023-11-03 11:24:22279 
差示掃描量熱儀（DSC）是一種熱分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、藥品研發(fā)、食品分析等領(lǐng)域。通過(guò)DSC可以研究物質(zhì)的熱性質(zhì)，如熔點(diǎn)、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等。本文將介紹DSC熔點(diǎn)檢測(cè)的實(shí)驗(yàn)步驟、結(jié)果及分析。上海
2023-11-02 17:00:37348 
等問(wèn)題，分析其失效原因，通過(guò)試驗(yàn)，確認(rèn)鍵合點(diǎn)間距是弧形狀態(tài)的重要影響因素。據(jù)此，基于鍵合設(shè)備的能力特點(diǎn)，在芯片設(shè)計(jì)符合鍵合工藝規(guī)則的前提下，提出鍵合工藝的優(yōu)化。深入探討在設(shè)計(jì)芯片和制定封裝工藝方案時(shí)，保證鍵合點(diǎn)與周圍金屬化區(qū)域的合理間距以及考慮芯片PAD與管殼鍵合指的距離的重要性。
2023-11-02 09:34:05378 
怎么用MCU去檢測(cè)一個(gè)模塊是否漏電
2023-10-24 06:19:40
變頻器可以接漏電開(kāi)關(guān)嗎？在漏電開(kāi)關(guān)的下端可以接變頻器嗎？ 變頻器可以接漏電開(kāi)關(guān)嗎？這個(gè)問(wèn)題涉及到電氣方面的知識(shí)，需要我們從電氣原理、設(shè)備特性等方面逐一分析，最終得出結(jié)論。 首先，我們來(lái)了解一下漏電
2023-10-22 14:38:13927 芯片粘接質(zhì)量是電路封裝質(zhì)量的一個(gè)關(guān)鍵方面，它直接影響電路的質(zhì)量和壽命。文章從芯片粘接強(qiáng)度的失效模式出發(fā)，分析了芯片粘接失效的幾種類型，并從失效原因出發(fā)對(duì)如何在芯片粘接過(guò)程中提高其粘接強(qiáng)度提出了四種
2023-10-18 18:24:02395 
本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對(duì)策及實(shí)戰(zhàn)案例。希望您在閱讀本文后有所收獲，歡迎在評(píng)論區(qū)發(fā)表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299 
漏電斷路器是配電線路中非常常見(jiàn)的低壓電氣之一，本文所講針對(duì)終端配電線路或者小型漏電斷路器，漏電斷路器的作用可想而知，是被動(dòng)型保護(hù)人身安全。目前市場(chǎng)上漏電斷路器的電子原理按照是否采用專用漏電集成芯片
2023-10-12 10:24:53
漏電保護(hù)開(kāi)關(guān)故障跳閘后，萬(wàn)萬(wàn)不可將漏電保護(hù)開(kāi)關(guān)的漏電流檢測(cè)環(huán)節(jié)摘掉。應(yīng)根據(jù)故障跳閘現(xiàn)象，分析故障跳閘原因，找出解決故障方法。漏電開(kāi)關(guān)故障跳閘現(xiàn)象大致有6種。
2023-10-09 11:42:35776 
漏電保護(hù)器是從泄漏電流、人體觸電等非金屬性單相接地故障考慮，用來(lái)保護(hù)人身及設(shè)備安全的一種保護(hù)電器。 一、漏電保護(hù)器的結(jié)構(gòu) 漏電保護(hù)器是由檢測(cè)元件、脫扣機(jī)構(gòu)、放大器及主開(kāi)關(guān)等元件組成。 1、檢測(cè)元件
2023-10-08 16:38:551619 
本文主要設(shè)計(jì)了用于封裝可靠性測(cè)試的菊花鏈結(jié)構(gòu)，研究了基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法，針對(duì)芯片偏移、ＲDL 分層兩個(gè)主要失效問(wèn)題進(jìn)行了相應(yīng)的工藝改善。經(jīng)過(guò)可靠性試驗(yàn)對(duì)封裝的工藝進(jìn)行了驗(yàn)證，通過(guò)菊花鏈的通斷測(cè)試和阻值變化，對(duì)失效位置定位進(jìn)行了相應(yīng)的失效分析。
2023-10-07 11:29:02410 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《基于Delaunay三角剖分的空間離群點(diǎn)檢測(cè)算法研究.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-10-07 11:15:490 NO.1 案例背景 某攝像頭模組，在生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中發(fā)生功能不良失效，經(jīng)過(guò)初步的分析，判斷可能是LGA封裝主芯片異常。 NO.2 分析過(guò)程 #1 X-ray分析 樣品#1 樣品#2 測(cè)試結(jié)果：兩個(gè)失效
2023-09-28 11:42:21399 
芯片漏電跟哪些因素有關(guān)？? 漏電是指電器設(shè)備中的電流從預(yù)定的電路中流出，而進(jìn)入地面或其他非預(yù)定的路徑中。芯片漏電的原因非常多，通常情況下，芯片漏電會(huì)導(dǎo)致設(shè)備故障、電擊危險(xiǎn)甚至火災(zāi)等危險(xiǎn)。因此，有效地
2023-09-17 11:48:142067 漏電跳閘是指由于電路中存在漏電現(xiàn)象，當(dāng)漏電電流超過(guò)設(shè)定值時(shí)，保護(hù)裝置會(huì)介入跳閘，避免電氣設(shè)備和人員遭受損失。但是，漏電跳閘的根本原因是什么呢?具體哪里漏電?怎么檢測(cè)?下面就來(lái)詳細(xì)解答。 一、漏電跳閘
2023-09-13 14:50:141724 漏電怎么查出哪里漏電。 線路漏電的檢測(cè)方法 如何檢測(cè)線路漏電?下面將介紹一些常用的線路漏電檢測(cè)方法。 1.指示燈法 指示燈法是一種簡(jiǎn)單易行的線路漏電檢測(cè)方法，我們可以使用線路漏電器，將線路漏電器接在要檢測(cè)的線路上，然
2023-09-13 14:45:383405 失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
2023-09-12 09:51:47291 
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051331 
IC。然而，IC在使用過(guò)程中也可能出現(xiàn)失效的情況，從而影響到整個(gè)設(shè)備的使用效果。因此，對(duì)IC失效分析的研究變得越來(lái)越重要。 IC失效的原因有很多，例如因?yàn)楣に囘^(guò)程中的不良導(dǎo)致芯片內(nèi)部有缺陷，或者長(zhǎng)時(shí)間使用導(dǎo)致老化而出現(xiàn)失效等。為了找出IC失效的原因，在
2023-08-29 16:35:13627 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過(guò)程中，芯片的失效是非常常見(jiàn)的問(wèn)題。芯片失效分析是解決這個(gè)問(wèn)題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800 半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736 電子元器件的主要失效模式包括但不限于開(kāi)路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對(duì)于硬件工程師來(lái)講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情，比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效
2023-08-29 10:47:313729 
近日某院校送修安捷倫頻譜分析儀E4404B，客戶反饋頻譜分析儀漏電，3G以上超差，對(duì)儀器進(jìn)行初步檢測(cè)，確定與客戶描述故障基本一致。本期將為大家分享本維修案例。 下面就是安捷倫-E4404B維修情況
2023-08-25 16:46:43247 
鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133 電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等)，部分功能失效
2023-08-23 11:23:17749 本文通過(guò)對(duì)典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過(guò)對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對(duì)各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930 隨著市場(chǎng)需求的不斷增加，近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長(zhǎng)。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術(shù)水平參 差不齊，研發(fā)出來(lái)的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生，阻礙了LED照明的市場(chǎng)推廣。
2023-07-25 09:12:046864 
摘 要：在介紹人臉特征點(diǎn)檢測(cè)的理論知識(shí)的基礎(chǔ)上，提出了一種基于深層卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)（Deep ConvolutionalNeural Network，DCNN）解決人臉5點(diǎn)特征點(diǎn)（眼角、鼻子、嘴角）預(yù)測(cè)
2023-07-20 14:30:220 LED芯片是一種固態(tài)的半導(dǎo)體器件，
LED的心臟是一個(gè)半導(dǎo)體的晶片，晶片的一端附在一個(gè)支架上，一端是負(fù)極，另一端連接電源的正極，使整個(gè)晶片被環(huán)氧樹(shù)脂封裝起來(lái)。
LED芯片因?yàn)榇笮∫话愣荚诖笮?/div>
2023-07-09 09:55:581494 與開(kāi)封前測(cè)試結(jié)果加以比較，是否有改變，管殼內(nèi)是否有水汽的影響。進(jìn)一步可將表面氧化層、鋁條去掉，用機(jī)械探針扎在有關(guān)節(jié)點(diǎn)上進(jìn)行靜態(tài)（動(dòng)態(tài)）測(cè)試、判斷被隔離部分是否性能正常，分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317 
與外界的連接。然而，在使用過(guò)程中，封裝也會(huì)出現(xiàn)失效的情況，給產(chǎn)品的可靠性帶來(lái)一定的影響。因此，對(duì)于封裝失效的分析和解決方法具有很重要的意義。
2023-06-28 17:32:001779 芯片檢測(cè)中的非破壞分析有哪些？
2023-06-27 15:20:08
BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-06-26 10:47:41438 
為了防止在失效分析過(guò)程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315 
集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學(xué)過(guò)程（失效機(jī)理），為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生，提升
2023-06-21 08:53:40572 漏電開(kāi)關(guān)是用于在電路或電器絕緣受損或人生觸電的保護(hù)器，一般裝在每戶配電箱的插座回路上。
漏電開(kāi)關(guān)在反應(yīng)觸電或漏電保護(hù)方面具有高靈敏度性和動(dòng)作快速性。
2023-06-15 17:30:131019 
電流傳感器能夠檢測(cè)電流，并利用傳感器測(cè)量出過(guò)電流和欠電流的狀況。那么對(duì)于漏電流，電流傳感器是怎么檢測(cè)到的呢？具體是怎么實(shí)現(xiàn)的？ 電流傳感器如何檢測(cè)漏電流 漏電流傳感器是一種依據(jù)互感器電磁隔離、磁調(diào)制
2023-06-13 08:20:11624 
漏電繼電器是一種用于檢測(cè)電氣系統(tǒng)中漏電故障的電器裝置。它能夠在電路中檢測(cè)到漏電流，當(dāng)漏電流達(dá)到設(shè)定值時(shí)，漏電繼電器會(huì)自動(dòng)切斷電源，以避免漏電造成的危險(xiǎn)。
2023-05-31 11:33:041044 LED驅(qū)動(dòng)電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對(duì)其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能，同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動(dòng)電源的使用中，導(dǎo)致LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來(lái)看看吧!
2023-05-18 11:21:19851 紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu)，它兩個(gè)電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍(lán)綠光LED不一樣，所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423 
失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365 露點(diǎn)檢測(cè)儀的維護(hù)。在線式露點(diǎn)儀，便攜式露點(diǎn)儀的維護(hù)保養(yǎng)
2023-05-13 14:00:54923 
。
通過(guò)對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678 
芯片對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來(lái)越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來(lái)，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548 為了將制程問(wèn)題降至最低，環(huán)旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置，利用激光去層和重植球技術(shù)提取SiP 模組中的主芯片。同時(shí)，利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機(jī)污染物的源頭，持續(xù)強(qiáng)化SiP模組失效分析領(lǐng)域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357 也越來(lái)越復(fù)雜。為了保證LED質(zhì)量，保障產(chǎn)品安全，X-ray檢測(cè)設(shè)備在LED生產(chǎn)中應(yīng)用越來(lái)越廣泛。 X-ray檢測(cè)設(shè)備是一種應(yīng)用X射線技術(shù)的檢測(cè)儀器，可對(duì)LED芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和外部尺寸進(jìn)行檢測(cè)，特別是可以檢測(cè)LED芯片的封裝層是否存在缺陷，檢測(cè)LED芯片的外形及內(nèi)部
2023-04-21 14:05:28452 失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)
2023-04-18 09:11:211360 
X-Ray檢測(cè)用于LED芯片封裝的無(wú)損檢測(cè)的實(shí)施步驟如下： 1、準(zhǔn)備檢測(cè)設(shè)備：首先準(zhǔn)備X射線檢測(cè)設(shè)備，包括X射線攝像機(jī)、X射線儀器、X射線照相機(jī)等設(shè)備。 2、設(shè)置檢測(cè)參數(shù)：其次，設(shè)置檢測(cè)參數(shù)，包括
2023-04-14 14:48:24480 X-Ray檢測(cè)是一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，其應(yīng)用于LED芯片封裝的無(wú)損檢測(cè)尤為重要。本文主要介紹X-Ray檢測(cè)用于LED芯片封裝的無(wú)損檢測(cè)的原理、優(yōu)勢(shì)、實(shí)施步驟及其有效性等問(wèn)題，以期為LED芯片封裝的無(wú)損
2023-04-13 14:04:58975 BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-04-11 10:55:48577 程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。 對(duì)于這種失效問(wèn)題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來(lái)使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749 X-ray在線檢測(cè)是一種非常有效的電子元件檢測(cè)技術(shù)，它可以用來(lái)檢測(cè)LED燈條。X-ray在線檢測(cè)可以實(shí)現(xiàn)快速和準(zhǔn)確的檢測(cè)，而且它也可以檢測(cè)出LED燈條中隱藏的缺陷。 X-ray在線檢測(cè)通過(guò)將X射線
2023-04-10 12:00:00396 凱迪正大KDZD8600漏電開(kāi)關(guān)檢測(cè)儀是針對(duì)漏電保護(hù)器檢測(cè)工作而專門設(shè)計(jì)生產(chǎn)的一種高效、便攜式產(chǎn)品。按照GB16917-1997的要求，可在線、離線測(cè)試漏電保護(hù)器的動(dòng)作電流和動(dòng)作時(shí)間。具有操作簡(jiǎn)便、自動(dòng)檢測(cè)、數(shù)據(jù)保留等特點(diǎn)，適合于用電安檢部門和各級(jí)供電所的使用和推廣。
2023-03-31 08:59:13596 
由于T507有漏電保護(hù)功能，在T507核心板未上電工作時(shí)，如果檢測(cè)到存在漏電現(xiàn)象則DCDC1就輸出異常。在復(fù)位重啟的時(shí)候底板有器件未完全斷電會(huì)導(dǎo)致核心板的GPIO有漏電，致使核心板存在因漏電保護(hù)而無(wú)
2023-03-23 16:47:59
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