Demo板 UI-X6920是個(gè)高密度高速100MHz的PXI數(shù)字板， 是個(gè)特有的專(zhuān)業(yè)性板卡，專(zhuān)業(yè)面對(duì)數(shù)字類(lèi)的測(cè)試, 能用來(lái)測(cè)試大量的數(shù)字混合芯片. 板卡有一個(gè)Sequencer Pattern Generator ，功能上類(lèi)似于一個(gè)32通道的ATE測(cè)試機(jī). 它可以通過(guò)擴(kuò)展的方式擴(kuò)展到512通道. 每個(gè)pin有1ns的沿精度，每個(gè)pin都有pmu，能夠進(jìn)行DC/AC參數(shù)測(cè)試。
Each每個(gè)數(shù)字通道都是獨(dú)立可編程的，支持 drive hi, drive lo, sense hi, sense lo, and load value. 另外，每個(gè)通道的PMU功能，可以支持DUT (device under test)的DC并測(cè) UI-X6920支持大容量的pattern memory，每個(gè)pin有64 Mb的容量，可以用于動(dòng)態(tài)采集. 板卡支持激勵(lì)/響應(yīng)和實(shí)時(shí)比較模式的工作模式，可以通過(guò)自帶的大容量test pattern完成最大的測(cè)試效率 。
UI-X6920的timing generator支持4個(gè)timing phases和 4個(gè)windows，可以獨(dú)立進(jìn)行drive和sense. 每個(gè)phase和 window包括2個(gè)timing沿assert/deassert和一個(gè)獨(dú)立的open window/close window. 這4個(gè)phases和windows能用于指定通道的edge timing功能. 每個(gè)phase/window有64個(gè)獨(dú)立的time set ，每個(gè)sequence都可以獨(dú)立自定義. 另外，支持多種數(shù)據(jù)格式, 包括NRZ,R0, RZ,RC ,SBC. 這些數(shù)據(jù)格式可以指定不同的通道.
板卡采用per pin per site的架構(gòu), 具有ATE的功能測(cè)試能力,同時(shí)支持豐富的軟件開(kāi)發(fā),UI-X6920數(shù)字IO板卡能給大部分用戶(hù)在芯片測(cè)試上帶來(lái)的成本優(yōu)勢(shì)，該板卡可以和其他PXI板卡一起配合使用，組成PXI的測(cè)試解決方案，例如RF，SMU和Mixed-signal cards等，能夠針對(duì)大量的芯片測(cè)試應(yīng)用，例如 MCU, Sensors, RF ICs, PMICs,和多功能IC等 。
特點(diǎn)：標(biāo)準(zhǔn)PXI總線產(chǎn)品； 100MHz 測(cè)試速率 32個(gè)I/O通道，每通道PMU 系統(tǒng)可擴(kuò)展至512通道 drive/sense量程從-1.5V到+6.5V 任意pin可設(shè)任意site 每通道Per-pin timing功能，輸入輸出雙向功能 通道DC功能和PMU功能 64個(gè)timing sets具有timing動(dòng)態(tài)變換功能 每通道64Mb內(nèi)存 支持Windows7/10操作系統(tǒng) 支持LabView和LabWindows 支持主/從架構(gòu)通信模式
目標(biāo)應(yīng)用： 半導(dǎo)體測(cè)試 ASIC測(cè)試 高速測(cè)試/發(fā)送期望對(duì)比測(cè)試/ 仿真測(cè)試 ATE 數(shù)字測(cè)試 LED/激光二極管 太陽(yáng)能電池 晶體管 汽車(chē)測(cè)試 航空航天 功率器件
