--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 品牌 Pfeiffer
- 型號(hào) ASM 306S
- 產(chǎn)地 法國(guó)
--- 產(chǎn)品詳情 ---
價(jià)格貨期電議
上海伯東德國(guó)普發(fā) Pfeiffer 氫氦雙檢吸槍檢漏儀 ASM 306 S, 高流量吸槍探頭, 各種長(zhǎng)度可選, 不易受到粉塵和水汽的影響, 氦氣檢測(cè)漏率 1X10-7 mbar l/s. 高靈敏度 0.2 g/y. 檢漏儀配置符合人體工學(xué)設(shè)計(jì)的高流量吸槍探頭, 更方便操作員的使用, 占地面積小, 重量?jī)H有 22 kg, 方便攜帶.
氫氦雙檢吸槍檢漏儀 ASM 306 S 優(yōu)勢(shì)
具有氦氣和氫氣測(cè)試能力
高靈敏度 (10-7 mbar l/s 范圍), 靈敏度 0.2 g/y, 實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量
快速檢漏測(cè)試, 并且在污染情況下易于恢復(fù)
高流量吸槍探頭, 各種長(zhǎng)度可選, 不易受到粉塵和水汽的影響
大觸摸屏, 菜單直觀, 易于操作
設(shè)計(jì)緊湊, 占地面積小, 便于集成到生產(chǎn)線中
氫氦雙檢吸槍檢漏儀 ASM 306 S 規(guī)格
檢測(cè)氣體 | 氫氣和氦氣 |
最小可檢測(cè)泄漏率, 4He | 1X10-7 mbar l/s |
最小可檢測(cè)泄漏率, H2 | 5X10-7 mbar l/s * |
啟動(dòng)時(shí)間 | 2 min |
響應(yīng)時(shí)間 | < 1 s |
吸槍流量 | 300 sccm ± 10% |
噪音值 | 55 dB (A) |
網(wǎng)絡(luò)接口 | RS-232, I/O, Fieldbus options |
操作溫度 | 10 - 40 °C |
電源 | 100 - 240 V, 50/60 Hz |
最大電力消耗 | 300 VA |
重量 | 22 KG |
尺寸(L x W x H) | 350 x 305 x 421 |
* 最好的靈敏度是在脫氣后達(dá)到的
在售型號(hào)
ASM 306 S (RSAS00A0MM9A)
ASM 306 S, 可配置的 I/O 接口板 (RSAS00A2MM9A)
ASM 306 S, 可配置的 I/O 接口板, 以太網(wǎng) (RSAS00A4MM9A)
氫氦雙檢吸槍檢漏儀 ASM 306 S 在空調(diào)制冷相關(guān)應(yīng)用
制冷和冷卻系統(tǒng)的密封性是通過(guò)一定時(shí)間內(nèi)發(fā)生的質(zhì)量損失來(lái)描述的. 在制冷和空調(diào)技術(shù)中, 系統(tǒng)制冷劑損失是以克/年 (g/y) 為單位衡量的. 在家庭和小型餐館和商店, 可以容忍 2 到 5 g/y 的制冷劑損失. 如果將制冷劑損失轉(zhuǎn)換為示蹤氣體濃度為 100% 的等效泄漏率, 這相當(dāng)于 1-5X10-5 mbar l/s 的泄漏率. 生產(chǎn)中泄漏測(cè)試流程的泄漏率限值就是如此規(guī)定的. 在酒店, 辦公大樓和醫(yī)院等商業(yè)應(yīng)用中, 系統(tǒng)的規(guī)模和復(fù)雜性與住宅應(yīng)用不同. 因此, 這些系統(tǒng)對(duì)泄漏的敏感度更高. 總之, 這些場(chǎng)合允許的最大制冷劑損失為 5 到 15 g/y. 在工業(yè)領(lǐng)域, 制冷劑損失的潛在泄漏總和為 15 到 30 g/y. 這與使用大規(guī)模工藝制冷的化學(xué)工藝有關(guān).
吸槍式檢漏儀 ASM 306 S 在此用于測(cè)試上述各個(gè)釬焊和焊接點(diǎn)以及閥門(mén)和接頭. 使用氦氣或氫氣吸槍探頭進(jìn)行泄漏測(cè)試, 在響應(yīng)時(shí)間, 準(zhǔn)確性和靈敏度方面遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于傳統(tǒng)的泄漏檢測(cè)方法(如水浴法或升壓試驗(yàn)), 針對(duì)此類應(yīng)用, 吸槍檢漏儀 ASM 306S 設(shè)計(jì)用于 24 小時(shí)不間斷使用, 即使在苛刻環(huán)境下也不受影響. 憑借其 0.2 g/y 的高靈敏度, 它可以進(jìn)行精確且無(wú)誤差的測(cè)量, 滿足空調(diào)和制冷應(yīng)用的嚴(yán)格要求. 該儀器設(shè)計(jì)適用于快速且可重復(fù)的測(cè)量, 即使在發(fā)生大量泄漏的情況下也能在較短時(shí)間內(nèi)恢復(fù), 確保最高運(yùn)營(yíng)可用性, 同時(shí)降低維護(hù)和服務(wù)成本. 由于維護(hù)間隔較長(zhǎng)且磨損部件較易更換, 用戶將會(huì)獲得更高效益.
若您需要進(jìn)一步的了解氦質(zhì)譜檢漏儀詳細(xì)信息或討論, 請(qǐng)聯(lián)絡(luò)上海伯東葉女士
現(xiàn)部分品牌誠(chéng)招合作代理商, 有意向者歡迎聯(lián)絡(luò)上海伯東 葉女士
上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究!
為你推薦
-
inTEST 芯片高低溫沖擊熱流儀2024-10-18 13:59
產(chǎn)品型號(hào):ATS-535 產(chǎn)地:美國(guó) 溫度范圍:-60 至+ 225°C 特點(diǎn):集成空壓機(jī) -
inTEST BT28 桌面型高低溫沖擊熱流儀2024-09-12 13:56
產(chǎn)品型號(hào):inTEST BT28 溫度范圍:-28° 至 +225°C 溫度顯示和分辨率:+/- 0.1°C -
離子束刻蝕機(jī) 20 IBE-J2024-09-12 13:51
產(chǎn)品型號(hào):20 IBE-J 特點(diǎn):干法物理納米級(jí)刻蝕 射頻角度:可以任意調(diào)整 -
inTEST Sigma M256 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:58
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M256 產(chǎn)地:美國(guó) 腔室體積:255 L -
inTEST Sigma M170 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:55
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M170 產(chǎn)地:美國(guó) 溫度范圍:-185°C 至 400°C 腔室體積:165 L -
inTEST Sigma M58 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:19
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M58 產(chǎn)地:美國(guó) 寬溫度范圍:-185 °C 至 500°C 腔室體積:59 L -
inTEST Sigma M10 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:06
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M10 產(chǎn)地:美國(guó) 寬溫度范圍:-185°C 至 500°C 腔室體積:10 L -
inTEST Sigma 高低溫試驗(yàn)箱, 溫度環(huán)境試驗(yàn)箱2023-12-01 09:39
產(chǎn)品型號(hào):Sigma 品牌:inTEST 產(chǎn)地:美國(guó) 溫度范圍:-185°至 +500°C -
普發(fā)分流式分子泵 SplitFlow2023-07-11 10:13
產(chǎn)品型號(hào):SplitFlow 產(chǎn)地:德國(guó) -
普發(fā)分子泵 HiPace 80 Neo2023-07-11 10:09
產(chǎn)品型號(hào):HiPace 80 Neo 產(chǎn)地:德國(guó)
-
Gel-Pak VRP 可變黏度防靜電真空釋放盒2024-10-18 14:19
-
氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340W 鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏系統(tǒng)2024-09-13 10:53
上海伯東氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340W 適用于動(dòng)力電池行業(yè)和汽車(chē)行業(yè)的檢漏系統(tǒng), 提供鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏, 汽車(chē)壓縮機(jī)真空檢漏解決方案.193瀏覽量 -
KRi 霍爾離子源 EH 2000 望遠(yuǎn)鏡鏡片光學(xué)鍍膜應(yīng)用2024-09-13 10:38
-
美國(guó) inTEST 高低溫沖擊熱流儀助力半導(dǎo)體芯片研發(fā)2024-09-13 10:19
上海伯東代理美國(guó) inTEST 高低溫沖擊熱流儀兼容各品牌半導(dǎo)體測(cè)試機(jī), 可正確評(píng)估與參數(shù)標(biāo)定芯片開(kāi)發(fā), 器件或模塊研發(fā), 品質(zhì)檢查, 第三方認(rèn)證, 失效分析, FAE 等幾乎所有流程, 高低溫沖擊測(cè)試作為一種常見(jiàn)的測(cè)試手段, 適用于 IGBT, MOSFET, 三極管, 二極管等各類半導(dǎo)體特性測(cè)試.298瀏覽量 -
離子束刻蝕機(jī)物理量傳感器 MEMS 刻蝕應(yīng)用2024-09-12 13:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于半導(dǎo)體新材料和設(shè)備管道檢漏2023-11-09 15:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于真空鍍膜生產(chǎn)線2023-08-07 14:35
-
Gel-Pak VR真空釋放盒應(yīng)用于50V GaN HEMT 芯片2023-08-07 14:28
-
inTEST熱流儀邏輯芯片 FPGA高低溫沖擊測(cè)試2023-08-07 14:21
FPGA 芯片需要按照 JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn)做溫度循環(huán) TC 測(cè)試, 讓其經(jīng)受極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換. 一般在?-55℃~150℃ 進(jìn)行測(cè)試, 傳統(tǒng)的環(huán)境箱因?yàn)樯禍厮俣仁芟? 無(wú)法滿足研發(fā)的快速循環(huán)測(cè)試需求. 上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀 ATS-710E 變溫速率約 10 s, 實(shí)現(xiàn) FPGA 芯片極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換測(cè)839瀏覽量 -
上海伯東分子泵應(yīng)用于 LED 芯片退火合金爐2023-08-07 14:14
-
Aston Impact 高靈敏度質(zhì)譜分析儀 CVD 清洗終點(diǎn)優(yōu)化2024-10-18 13:42
-
Aston 質(zhì)譜儀等離子體刻蝕過(guò)程及終點(diǎn)監(jiān)測(cè)2024-10-18 13:33
刻蝕是半導(dǎo)體制造中最常用的工藝之一, 上海伯東日本 Atonarp Aston 質(zhì)譜儀適用于等離子體刻蝕過(guò)程及終點(diǎn)監(jiān)測(cè) (干法刻蝕終點(diǎn)檢測(cè)), 通過(guò)持續(xù)監(jiān)控腔室工藝化學(xué)氣體, 確保半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)的高產(chǎn)量和最大吞吐量.35瀏覽量 -
Aston 質(zhì)譜分析儀搭配 Scrubber 半導(dǎo)體尾氣處理設(shè)備進(jìn)行氣體檢測(cè)2024-10-18 13:24
-
鈮酸鋰 LiNbO3 薄膜 IBE 離子束刻蝕2024-09-13 10:59
-
美國(guó) Gel-Pak 應(yīng)用于 VCSEL 芯片生產(chǎn)2024-09-13 10:28
-
美國(guó)進(jìn)口 KRi 考夫曼離子源 KDC 160 硅片刻蝕清潔案例2024-09-13 10:10
-
inTEST 熱流儀車(chē)載顯示器高低溫光學(xué)測(cè)量應(yīng)用2024-09-12 14:17
通過(guò)美國(guó) inTEST ATS-545 熱流儀給車(chē)載顯示器升溫或降溫, 測(cè)量其在不同溫度下任意點(diǎn)的光學(xué)特性, 實(shí)現(xiàn)高低溫環(huán)境 -40 至 100℃ 下產(chǎn)品的亮度, 色度, 響應(yīng)時(shí)間和可視角度測(cè)試.90瀏覽量 -
HiCube 80 Eco 分子泵組搭配低溫阻抗測(cè)試儀應(yīng)用2023-12-08 14:29
-
SF6 密度繼電器氦質(zhì)譜檢漏法2023-12-08 14:21
-
新能源汽車(chē) IGBT 功率器件高低溫沖擊測(cè)試2023-12-01 15:48
車(chē)用 IGBT 模塊對(duì)產(chǎn)品性能和質(zhì)量的要求要明顯高于消費(fèi)和工控領(lǐng)域, 需要通過(guò)嚴(yán)格的車(chē)規(guī)認(rèn)證, 汽車(chē) IGBT 模塊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)主要參照 AEC-Q101 和 AQG-324, 其中溫度沖擊, 功率循環(huán), 溫度循環(huán), 結(jié)溫等是其中重要的測(cè)試要求, 功率循環(huán)和溫度循環(huán)作為代表的耐久測(cè)試, 測(cè)試循環(huán)次數(shù)可能從幾萬(wàn)次到十萬(wàn)次不等.421瀏覽量