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電子發(fā)燒友網(wǎng)>制造/封裝>制造新聞>硬件失效的問題研究

硬件失效的問題研究

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電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對(duì)于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情,比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效
2023-08-29 10:47:313742

什么是失效分析

失效分析是指研究產(chǎn)品潛在的或顯在的失效機(jī)理,失效概率及失效的影響等,為確定產(chǎn)品的改進(jìn)措施進(jìn)行系統(tǒng)的調(diào)查研究工作,是可靠性設(shè)計(jì)的重要組成部分。失效
2009-07-03 14:33:233510

什么是電阻器的失效模式?失效機(jī)理深度分析必看

失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。1、電阻器的主要
2017-10-11 06:11:0012633

電阻器常見的失效模式有哪些?

失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。 失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。 1、電阻器的主要失效模式與失效機(jī)理為 1) 開路:主要失效機(jī)理為電阻膜燒毀或大面積脫落,基體斷裂,引線
2018-01-16 08:47:1129569

集成電路為什么要做失效分析?失效分析流程?

失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051332

78% 的硬件失效是由于焊接問題導(dǎo)致??

你是否長(zhǎng)時(shí)間糾纏于線路板的失效分析?你是否花費(fèi)大量精力在樣板調(diào)試過程中?你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計(jì)?也許許多硬件工程師都有過類似的心理對(duì)話。有數(shù)據(jù)顯示,78%的硬件失效原因是由于不良的焊接
2012-12-17 12:31:00

78%的硬件失效是由PCB焊接不當(dāng)導(dǎo)致的

請(qǐng)問造成硬件失效的主要原因是什么?
2021-04-25 06:09:26

78%的硬件失效罪魁禍?zhǔn)资鞘裁矗?/a>

失效分析分類有哪些?

失效的分類  2.1 按功能分類   由失效的定義可知,失效的判據(jù)是看規(guī)定的功能是否喪失。因此,失效的分類可以按功能進(jìn)行分類。例如,按不同材料的規(guī)定功能可以用各種材料缺陷(包括成分、性能、組織、表面
2011-11-29 16:46:42

失效分析常用的設(shè)備及功能

研究,即對(duì)釀成失效的必然性和規(guī)律性的研究。例如在功率器件的EAS失效中,就可能存在著過電壓導(dǎo)致寄生三極管開啟,導(dǎo)致器件失效。也可能存在著電路板系統(tǒng)溫度過高,致使器件寄生三極管開啟電壓下降,隨即導(dǎo)致寄生
2020-08-07 15:34:07

失效分析方法---PCB失效分析

③步是針對(duì)失效模式展開分析,根據(jù)失效根因故障樹來逐一排查根因,倘若在已有的故障樹中還無法確認(rèn)原因,則需要通過專題立項(xiàng)等方式研究這類失效問題,并將研究結(jié)論加入到原有故障樹中,使故障樹不斷豐富完善,窮盡根因
2020-03-10 10:42:44

失效分析方法流程

內(nèi)容包含失效分析方法,失效分析步驟,失效分析案例,失效分析實(shí)驗(yàn)室
2020-04-02 15:08:20

失效分析的重要性

`一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)
2016-05-04 15:39:25

硬件失效原因之:PCB焊接

`硬件失效原因之:PCB焊接 有數(shù)據(jù)顯示,78%的硬件失效原因是由于不良的PCB焊接加工造成的。 遇到硬件失效的情況,工程師愿意花費(fèi)大量時(shí)間和精力在樣板調(diào)試和分析中,耽誤了項(xiàng)目進(jìn)度。如果找不出不良
2012-11-21 15:41:50

IC智能卡失效的機(jī)理研究

丟失、數(shù)據(jù)寫入出錯(cuò)、亂碼、全“0”全“F”等諸多失效問題,嚴(yán)重影響了IC卡的廣泛應(yīng)用。因此,有必要結(jié)合IC卡的制作工藝及使用環(huán)境對(duì)失效的IC卡進(jìn)行分析,深入研究失效模式及失效機(jī)理,探索引起失效
2018-11-05 15:57:30

IGBT傳統(tǒng)防失效機(jī)理是什么?

IGBT傳統(tǒng)防失效機(jī)理是什么IGBT失效防護(hù)電路
2021-03-29 07:17:06

LED芯片失效分析

分析對(duì)象的背景,確認(rèn)失效現(xiàn)象,接著制定LED失效分析方案,研究LED失效原因與機(jī)理,最后提出后續(xù)預(yù)防與改進(jìn)措施。 金鑒實(shí)驗(yàn)室綜合數(shù)千個(gè)失效分析案例,將LED芯片失效原因歸納為以下幾類: 1.封裝
2020-10-22 09:40:09

LED芯片失效分析

分析對(duì)象的背景,確認(rèn)失效現(xiàn)象,接著制定LED失效分析方案,研究LED失效原因與機(jī)理,最后提出后續(xù)預(yù)防與改進(jìn)措施。 金鑒實(shí)驗(yàn)室綜合數(shù)千個(gè)失效分析案例,將LED芯片失效原因歸納為以下幾類: 1.封裝
2020-10-22 15:06:06

MOSFET的失效機(jī)理 —總結(jié)—

MOSFET的失效機(jī)理至此,我們已經(jīng)介紹了MOSFET的SOA失效、MOSFET的雪崩失效和MOSFET的dV/dt失效。要想安全使用MOSFET,首先不能超過MOSFET規(guī)格書中的絕對(duì)最大
2022-07-26 18:06:41

PCB失效可能是這些原因?qū)е碌?/a>

【轉(zhuǎn)帖】LED芯片失效和封裝失效的原因分析

、濕度和電壓。 目前,研究的最為深入和廣泛的是溫度對(duì)LED封裝可靠性的影響。溫度使LED模塊及系統(tǒng)失效的原因在于以下幾個(gè)方面:(1)高溫會(huì)使封裝材料降解加快、性能下降;(2)結(jié)溫對(duì)LED的性能會(huì)產(chǎn)生很大
2018-02-05 11:51:41

不同種類電容的失效模式

熱擊失效模式扭曲破裂失效
2021-03-03 06:23:05

中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院電子元器件失效分析

電子元器件的可靠性是電子裝備可靠性的基礎(chǔ),通過電子元器件的失效分析確定其失效機(jī)理,找出失效原因,反饋給客戶,研究糾正措施,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件和整機(jī)的可靠性
2017-06-01 10:42:29

為什么說78%的硬件失效是由于焊接問題導(dǎo)致?

關(guān)于78%的硬件失效是由于焊接問題導(dǎo)致看完你就懂了
2021-04-23 06:38:07

什么是失效分析?失效分析原理是什么?

科技名詞定義中文名稱:失效分析 英文名稱:failure analysis 其他名稱:損壞分析 定義:對(duì)運(yùn)行中喪失原有功能的金屬構(gòu)件或設(shè)備進(jìn)行損壞原因分析研究的技術(shù)。 所屬學(xué)科:簡(jiǎn)介  失效分析
2011-11-29 16:39:42

元器件失效了怎么分析? 如何找到失效原因?

本帖最后由 24不可說 于 2016-10-26 17:31 編輯 社會(huì)的發(fā)展就是一個(gè)發(fā)現(xiàn)問題解決問題的過程,出現(xiàn)問題不可怕,但頻繁出現(xiàn)同一類問題是非??膳碌?。失效分析基本概念定義:對(duì)失效電子
2016-10-26 16:26:27

單片機(jī)、ARM的失效激活能?

有沒有大神做過單片機(jī)或ARM的加速壽命試驗(yàn)研究的?請(qǐng)教一下它們的失效激活能E大概是多少eV?
2015-01-06 12:59:59

可靠性與失效分析

和電子輔料等可靠性應(yīng)用場(chǎng)景方面具有專業(yè)的檢測(cè)、分析和試驗(yàn)?zāi)芰Γ蔀楦?b class="flag-6" style="color: red">研究院所、高校、企業(yè)提供產(chǎn)品的可靠性檢測(cè)、失效分析、老化測(cè)試等一體化服務(wù)。本中心目前擁有各類可靠性檢測(cè)分析儀器,其中包括
2018-06-04 16:13:50

大功率白光LED壽命試驗(yàn)及失效分析

為了進(jìn)行大功率白光LED可靠性研究,對(duì)大功率白光LED進(jìn)行電流庇力加速壽命試驗(yàn),分析研究光通量、發(fā)光效率、峰值波長(zhǎng)、主波長(zhǎng)和電壓等參數(shù)隨老化時(shí)問的變化情況,通過對(duì)試驗(yàn)出現(xiàn)的結(jié)果和失效現(xiàn)象進(jìn)行分析比較,表明衰變退化的主要原因是熒光粉的退化、封裝材料的熱退化,以及散熱問題導(dǎo)致的退化等。
2012-12-12 16:05:02

指紋識(shí)別算法的研究及基于FPGA的硬件實(shí)現(xiàn)

本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 10:04 編輯 指紋識(shí)別算法的研究及基于FPGA的硬件實(shí)現(xiàn)
2012-05-23 20:14:46

智能電表失效現(xiàn)象和失效原因有哪些?

有沒有智能電表方面的高手?。课蚁胝?qǐng)教下,智能電表中的電子元器件一般會(huì)出現(xiàn)一些什么樣的失效現(xiàn)象?失效原因一般是什么?非常感謝。
2013-03-08 10:11:21

有哪些因素可造成焊接連接失效呢?焊接球失效的電信號(hào)表現(xiàn)有哪些?

有哪些因素可造成焊接連接失效呢?焊接失效分為哪幾種類型?焊接球失效的電信號(hào)表現(xiàn)有哪些?
2021-04-28 07:28:05

焊接知識(shí) 78%的硬件失效是由于焊接問題導(dǎo)致

焊接知識(shí) 78%的硬件失效是由于焊接問題導(dǎo)致你是否長(zhǎng)時(shí)間糾纏于線路板的失效分析?你是否花費(fèi)大量精力在樣板調(diào)試過程中?你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計(jì)?也許許多硬件工程師都有過類似的心理對(duì)話。有數(shù)
2012-09-08 10:03:26

電子產(chǎn)品的失效原因分析

﹐通過分析確定失效機(jī)理﹐找出失效原因﹐反饋給元器件的設(shè)計(jì)﹑制造和使用者﹐共同研究實(shí)施糾正措施﹐提高電子元器件的可靠性。[size=17.1429px]電子元器件失效的目的是借助各種測(cè)試分析技朮和分析程序
2019-07-16 02:03:44

電子元器件的失效原理

  電子元器件由靜電放電引發(fā)的失效可分為突發(fā)性失效和潛在性失效兩種模式。 突發(fā)性失效是指元器件受到靜電放電損傷后,突然完全喪失其規(guī)定的功能,主要表現(xiàn)為開路、短路或參數(shù)嚴(yán)重漂移,具體模式如:雙極型器件
2013-03-25 12:55:30

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`電容器的常見失效模式和失效機(jī)理【上】電容器的常見失效模式有――擊穿短路;致命失效――開路;致命失效――電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等;部分功能失效――漏液
2011-11-18 13:16:54

電容的失效模式和失效機(jī)理

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2011-12-03 21:29:22

超全面PCB失效分析

關(guān)系,可研究分析材料的物理化學(xué)及熱力學(xué)性能。在PCB的分析方面,主要用于測(cè)量PCB材料的熱穩(wěn)定性或熱分解溫度,如果基材的熱分解溫度太低,PCB在經(jīng)過焊接過程的高溫時(shí)將會(huì)發(fā)生爆板或分層失效現(xiàn)象。
2018-09-20 10:59:15

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微機(jī)械失效研究現(xiàn)狀分析

隨著微機(jī)電系統(tǒng) (MEMS) 在信息通信、航空航天、醫(yī)療生物、國(guó)防安全等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,與其性能和壽命相關(guān)的失效研究顯得越來越重要。
2018-05-22 15:46:344872

匯總常見的電容器失效原理與電感失效分析 電阻失效分析

電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對(duì)于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情,比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效
2018-06-07 15:18:137239

關(guān)于LED失效的兩種失效模式分析

LED燈珠是一個(gè)由多個(gè)模塊組成的系統(tǒng)。每個(gè)組成部分的失效都會(huì)引起LED燈珠失效。 從發(fā)光芯片到LED燈珠,失效模式有將近三十種,如表1,LED燈珠的失效模式表所示。這里將LED從組成結(jié)構(gòu)上分為芯片和外部封裝兩部分。 那么, LED失效的模式和物理機(jī)制也分為芯片失效和封裝失效兩種來進(jìn)行討論。
2018-07-12 14:34:007820

電子封裝缺陷與失效研究方法論

電子器件是一個(gè)非常復(fù)雜的系統(tǒng),其封裝過程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此,研究封裝缺陷和失效需要對(duì)封裝過程有一個(gè)系統(tǒng)性的了解,這樣才能從多個(gè)角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。
2018-07-05 15:17:543836

VDmosSOA失效原因?該怎么解決VDmosSOA失效?

1:雪崩失效(電壓失效),也就是我們常說的漏源間的BVdss電壓超越MOSFET的額定電壓,并且超越到達(dá)了一定的才能從而招致MOSFET失效。 2:SOA失效(電流失效),既超出MOSFET平安工作
2023-03-20 16:15:37231

為什么LED芯片失效和封裝失效

LED燈珠是一個(gè)由多個(gè)模塊組成的系統(tǒng)。每個(gè)組成部分的失效都會(huì)引起LED燈珠失效
2020-03-22 23:13:001910

常見的電子元器件的失效機(jī)理及其分析

電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對(duì)于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情,比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效
2020-06-29 11:15:216642

電池的失效它分“正常失效”和“非正常因素失效

再說維護(hù)問題吧,電池的失效分正常失效(電池壽命終結(jié))和非正常因素失效。正常失效就購(gòu)買新電池更換! 電瓶修復(fù), 非正常因素失效都是電池使用不當(dāng)造成的,比如充電、放電、保存等,對(duì)用戶而言有可控和不可
2020-09-08 15:35:501998

硬件元素的失效模式可以分類?

注1在分析中可以省略沒有顯著增加違反安全目標(biāo)概率的失效元素,其失效模式可歸類為安全失效,例如。硬件元件,其失效只導(dǎo)致多點(diǎn)失效的順序n,與n>2,被認(rèn)為是安全失效,除非顯示與技術(shù)安全概念相關(guān)。
2020-08-25 15:35:552885

硬件失效的主要原因是什么

你是否長(zhǎng)時(shí)間糾纏于線路板的失效分析?你是否花費(fèi)大量精力在樣板調(diào)試過程中?你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計(jì)?也許許多硬件工程師都有過類似的心理對(duì)話。有數(shù)據(jù)顯示,78%的硬件失效原因是由于不良的焊接和錯(cuò)誤的物料貼片造成的。
2020-10-17 11:00:232124

電子器件封裝缺陷和失效的形式是怎樣的

? 簡(jiǎn)介:電子器件是一個(gè)非常復(fù)雜的系統(tǒng),其封裝過程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此,研究封裝缺陷和失效需要對(duì)封裝過程有一個(gè)系統(tǒng)性的了解,這樣才能從多個(gè)角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。 1. 封裝缺陷與失效
2021-01-12 11:36:083657

封裝缺陷與失效研究方法論資料下載

電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供封裝缺陷與失效研究方法論資料下載的電子資料下載,更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-03-29 16:47:0111

電容失效模式和失效機(jī)理分析

電容器的常見失效模式有: ――擊穿短路;致命失效 ――開路;致命失效 ――電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等;部分功能失效 ――漏液;部分功能失效 ――引線腐蝕
2021-12-11 10:13:532688

電阻器常見的失效模式與失效機(jī)理

失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。 失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。
2022-02-10 09:49:0618

電子器件的封裝缺陷和失效

電子器件是一個(gè)非常復(fù)雜的系統(tǒng),其封裝過程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此,研究封裝缺陷和失效需要對(duì)封裝過程有一個(gè)系統(tǒng)性的了解,這樣才能從多個(gè)角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。
2022-02-10 11:09:3713

TVS的失效模式和失效機(jī)理

摘要:常用電路保護(hù)器件的主要失效模式為短路,瞬變電壓抑制器(TvS)亦不例外。TvS 一旦發(fā)生短路失效,釋放出的高能量常常會(huì)將保護(hù)的電子設(shè)備損壞.這是 TvS 生產(chǎn)廠家和使用方都想極力減少或避免
2022-10-11 10:05:014603

常用的芯片失效分析方法

失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:484175

如何查找PCB失效的原因呢?

PCB失效的機(jī)理,必須遵守基本的原則及分析流程。一般的基本流程是,首先必須基于失效現(xiàn)象,通過信息收集、功能測(cè)試、電性能測(cè)試以及簡(jiǎn)單的外觀檢查,確定失效部位與失效模式,即失效定位或故障定位。
2022-11-09 14:35:48691

電阻器的失效模式和失效機(jī)理

失去原有的效力。在各種工程中,部件失去原有設(shè)計(jì)所規(guī)定的功能稱為失效失效簡(jiǎn)單地說就是“壞了”,但是“壞了”也有很多種情況。
2022-11-30 10:47:53268

MOSFET的失效機(jī)理:什么是dV/dt失效

MOSFET的失效機(jī)理本文的關(guān)鍵要點(diǎn)?dV/dt失效是MOSFET關(guān)斷時(shí)流經(jīng)寄生電容Cds的充電電流流過基極電阻RB,使寄生雙極晶體管導(dǎo)通而引起短路從而造成失效的現(xiàn)象。
2023-02-13 09:30:08829

IGBT失效模式和失效現(xiàn)象

、線路短路等,但最終的失效都可歸結(jié)為電擊穿和熱擊穿兩種,其中電擊穿失效的本質(zhì)也是溫度過高的熱擊穿失效。目前對(duì)IGBT芯片失效研究主要集中在對(duì)引起失效的各種外部因素,如過電壓、過電流、過溫等進(jìn)行分析上,
2023-02-22 15:05:4319

壓接型與焊接式IGBT的失效模式與失效機(jī)理

失效率是可靠性最重要的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn),所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對(duì)提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041119

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析

失效包括硬件失效和軟件失效。硬件失效是由于電路板需要長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行而導(dǎo)致的,而軟件失效是由于軟件設(shè)計(jì)的缺陷或者系統(tǒng)運(yùn)行的安裝過程中的問題引起的。 硬件失效是由于多種原因引起的。這些原因包括質(zhì)量問題、環(huán)境變化、基礎(chǔ)材料
2023-08-29 16:29:112805

肖特基二極管失效機(jī)理

,極易出現(xiàn)失效問題。因此,深入研究SBD失效機(jī)理,對(duì)于促進(jìn)SBD的性能和壽命提高,具有重要的意義。 SBD失效機(jī)理可以從電學(xué)和物理兩個(gè)方面討論。首先,SBD失效機(jī)理包括電學(xué)性失效和物理性失效。 電學(xué)性失效: 1.反向擊穿失效 SBD在反向電場(chǎng)下受到電子滲出現(xiàn)象(即逆向電子穿透
2023-08-29 16:35:08971

集成電路失效分析

IC。然而,IC在使用過程中也可能出現(xiàn)失效的情況,從而影響到整個(gè)設(shè)備的使用效果。因此,對(duì)IC失效分析的研究變得越來越重要。 IC失效的原因有很多,例如因?yàn)楣に囘^程中的不良導(dǎo)致芯片內(nèi)部有缺陷,或者長(zhǎng)時(shí)間使用導(dǎo)致老化而出現(xiàn)失效等。為了找出IC失效的原因,在
2023-08-29 16:35:13628

晶振失效了?怎么解決?

晶振失效了?怎么解決?
2023-12-05 17:22:26230

保護(hù)器件過電應(yīng)力失效機(jī)理和失效現(xiàn)象淺析

保護(hù)器件過電應(yīng)力失效機(jī)理和失效現(xiàn)象淺析
2023-12-14 17:06:45267

淺談失效分析—失效分析流程

▼關(guān)注公眾號(hào):工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個(gè)芯片產(chǎn)業(yè)鏈,復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會(huì)帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會(huì)面臨各種失效風(fēng)險(xiǎn),筆者平時(shí)也會(huì)參與到失效分析中,這一期就對(duì)失效
2023-12-20 08:41:04531

ESD失效和EOS失效的區(qū)別

ESD失效和EOS失效的區(qū)別 ESD(電靜電放電)失效和EOS(電壓過沖)失效是在電子設(shè)備和電路中經(jīng)常遇到的兩種失效問題。盡管它們都涉及電氣問題,但其具體產(chǎn)生的原因、影響、預(yù)防方法以及解決方法
2023-12-20 11:37:023071

常見的齒輪失效有哪些形式?失效的原因是什么?如何解決?

常見的齒輪失效有哪些形式?失效的原因是什么?可采用哪些措施來減緩失效的發(fā)生? 齒輪是機(jī)械傳動(dòng)中常用的一種傳動(dòng)方式,它能夠?qū)?dòng)力從一個(gè)軸傳遞到另一個(gè)軸上。然而,在長(zhǎng)時(shí)間使用過程中,齒輪也會(huì)出現(xiàn)各種失效
2023-12-20 11:37:151057

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