電子產(chǎn)品可靠性高低溫存儲(chǔ)測(cè)試的時(shí)間是多久

一、高低溫測(cè)試介紹

高低溫測(cè)試又叫作高低溫循環(huán)測(cè)試，是環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)?；旧纤械?a target="_blank">產(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存，或者工作運(yùn)行。有些環(huán)境下的溫度會(huì)不斷變化，時(shí)高時(shí)低。這種不斷變化的溫度環(huán)境會(huì)造成產(chǎn)品的功能、性能、質(zhì)量及壽命等受到影響，會(huì)加速產(chǎn)品的老化，縮短產(chǎn)品的使用壽命。如果產(chǎn)品長(zhǎng)期處于這種大幅度交替變化的高溫、低溫環(huán)境下，則需要具備足夠的抗高低溫循環(huán)的能力。這樣我們就需要模擬一定的環(huán)境條件，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫測(cè)試。

高低溫測(cè)試是高溫試驗(yàn)和低溫試驗(yàn)的的簡(jiǎn)稱，試驗(yàn)?zāi)康氖窃u(píng)價(jià)高低溫條件對(duì)裝備在存儲(chǔ)和工作期間的性能影響。

高溫測(cè)試：是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。等。

低溫測(cè)試：是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

可靠性測(cè)試項(xiàng)目

氣候環(huán)境——高低溫試驗(yàn)、恒定濕熱、交變高低溫濕熱、鹽霧測(cè)試、氣體腐蝕、UV老化、溫度沖擊、快速溫變、溫濕度三綜合等等。

機(jī)械環(huán)境——跌落、壓力、模擬跑車

二、高低溫檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

高溫測(cè)試檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2,IEC60068-2-2,IEIA 364,MIL-STD-810F

低溫測(cè)試檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.1,IEC60068-2-1,EIA 364,MIL-STD-810F

溫度范圍：-70℃~150℃，溫差：±0.5℃

濕度范圍：20~98%RH，濕差：±2.5%RH

高低溫試驗(yàn)是電子產(chǎn)品常見的一種安全測(cè)試。我們?cè)趯?shí)驗(yàn)室有多年的經(jīng)驗(yàn)和方法。不僅能提供可靠的解決方案，還能提供高質(zhì)量的檢測(cè)服務(wù)。深圳全球通檢測(cè)機(jī)構(gòu)擁有豐富的高低溫檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)和成功案例。如需申請(qǐng)相關(guān)產(chǎn)品的高低溫測(cè)試，可直接聯(lián)系我司。