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電子發(fā)燒友網(wǎng)>控制/MCU>MCU芯片設(shè)計(jì)添加mbist、scan chain之后仿真失敗如何解決

MCU芯片設(shè)計(jì)添加mbist、scan chain之后仿真失敗如何解決

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芯片設(shè)計(jì)測試中scan和bist的區(qū)別

Scan stitching 是把上一步中得到的Scan DFF的Q和SI連接在一起形成scan chain。在芯片的頂層有全局的SE信號,以及scan chain的輸入輸出信號:SI 和 SO。通過scan chain的連續(xù)動作,就可以把問題從對復(fù)雜時序電路的測試轉(zhuǎn)化成測試組合電路。
2023-10-09 16:53:171402

debug這個問題,貫通了DC、DFT、P&R

當(dāng)PR工具導(dǎo)入scan chain的scandef,用于reorder,但是報(bào)錯說scan chain里面的cell在db數(shù)據(jù)庫里面沒有?難道是scandef和網(wǎng)表版本對不上?
2023-10-10 15:53:20845

汽車芯片何解.zip

汽車芯片何解
2023-01-13 09:07:272

數(shù)?;旌?b class="flag-6" style="color: red">芯片scan chain問題解析

模擬到數(shù)字的信號不可控,需要和數(shù)字registered outputs mux一下提高test coverage。關(guān)鍵詞是registered output! 這個技巧俗稱scan loopback。
2023-12-08 11:24:40533

GD32 MCU ISP失敗的原因

玩過GD32的小伙伴們都知道,GD32 MCU支持ISP,即在系統(tǒng)編程,前面的常見問題也給大家講過什么是ISP,什么是IAP?那有沒有小伙伴遇到過ISP失敗的情況,失敗的原因是什么呢?
2024-02-28 09:23:52221

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