液晶ITO薄膜失效分析

1 譜圖處理:
?

元素	重量	原子
?	百分比	百分比
C K	61.33	77.38
O K	17.20	16.29
Al K	0.65	0.37
Si K	3.80	2.05
Cr K	0.91	0.27
Zn K	15.26	3.54
In L	0.84	0.11
?	?	?
總量	100.00	?

2 譜圖處理:

元素	重量	原子
?	百分比	百分比
C K	8.59	17.21
O K	21.36	32.13
Mg K	0.87	0.87
Al K	12.60	11.23
Si K	38.22	32.75
Cr K	7.74	3.58
In L	10.63	2.23
?	?	?
總量	100.00	?

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TFT彩色液晶屏的基礎(chǔ)知識詳情！

層、玻璃襯底、薄膜晶體管(TFT)陣列等組成。 2、工作原理：通過控制每個(gè)像素點(diǎn)處的液晶分子取向來調(diào)節(jié)透光度，從而實(shí)現(xiàn)圖像顯示。

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怎么區(qū)分電阻是薄膜還是厚膜

要區(qū)分電阻是薄膜還是厚膜，可以從以下幾個(gè)方面進(jìn)行判斷：外觀：觀察電阻的外觀，如果看到電阻表面有一層薄膜涂層，則可能為薄膜電阻；如果電阻表面較為粗糙，沒有明顯的涂層，則可能為厚膜電阻。尺寸：薄膜

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2023-12-20 08:41:04

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計(jì)失效模式和影響分析（DFMEA，Design Failure Mode and Effects Analysis）在汽車工業(yè)中扮演著非常重要的角色。

2023-12-14 18:21:40

2297

保護(hù)器件過電應(yīng)力失效機(jī)理和失效現(xiàn)象淺析

2023-12-14 17:06:45

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阻容感失效分析

有一批現(xiàn)場儀表在某化工廠使用一年后，儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了，甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察，可以發(fā)現(xiàn)電阻電極邊緣出現(xiàn)了黑色結(jié)晶物質(zhì)，進(jìn)一步分析

2023-12-12 15:18:17

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臺階儀測試薄膜厚度

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2023-12-07 14:27:01

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PCB失效分析技術(shù)概述

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2023-11-16 17:33:05

115

北方最大ITO靶材基地？淄博先導(dǎo)薄膜項(xiàng)目一期投產(chǎn)

據(jù)淄博高新技術(shù)消息，目前淄博創(chuàng)區(qū)規(guī)劃建設(shè)新能源、新材料、智能微系統(tǒng)c區(qū)三大產(chǎn)業(yè)園區(qū)。智能型微系統(tǒng)產(chǎn)業(yè)區(qū)c區(qū)年產(chǎn)值35億元的先導(dǎo)項(xiàng)目是北方最大的新型顯示器用ito靶材及其他薄膜材料生產(chǎn)基地。一期工程于6月底投產(chǎn)，目前已實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)能力50噸，產(chǎn)值約5億元。

2023-11-16 17:09:58

773

LGA器件焊接失效分析及對策

介紹LGA器件焊接失效分析及對策

2023-11-15 09:22:14

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如何對失效的電子主板進(jìn)行FA分析

在電子主板生產(chǎn)的過程中，一般都會出現(xiàn)失效不良的主板，因?yàn)槭且驗(yàn)楦鞣N各樣的原因所導(dǎo)致的，比如短路，開路，本身元件的問題或者是認(rèn)為操作不當(dāng)?shù)鹊人鸬摹?所以在電子故障的分析中，需要考慮這些因素，從而

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386

DIPIPM的失效解析流程

2023-11-03 16:23:40

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車門控制板暗電流失效分析

一、案例背景車門控制板發(fā)生暗電流偏大異常的現(xiàn)象，有持續(xù)發(fā)生的情況，初步判斷發(fā)生原因?yàn)镃3 MLCC電容開裂。據(jù)此情況，結(jié)合本次失效樣品，對失效件進(jìn)行分析，明確失效原因。二、分析過程 1、失效復(fù)現(xiàn)

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2023-11-02 09:34:05

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大功率固態(tài)高功放功率合成失效分析

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液晶屏ITO玻璃外觀檢測特殊復(fù)合光源照明系統(tǒng)設(shè)計(jì)

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2023-10-20 14:40:41

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本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對策及實(shí)戰(zhàn)案例。希望您在閱讀本文后有所收獲，歡迎在評論區(qū)發(fā)表您的想法。

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本文主要設(shè)計(jì)了用于封裝可靠性測試的菊花鏈結(jié)構(gòu)，研究了基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法，針對芯片偏移、ＲDL 分層兩個(gè)主要失效問題進(jìn)行了相應(yīng)的工藝改善。經(jīng)過可靠性試驗(yàn)對封裝的工藝進(jìn)行了驗(yàn)證，通過菊花鏈的通斷測試和阻值變化，對失效位置定位進(jìn)行了相應(yīng)的失效分析。

2023-10-07 11:29:02

410

LGA封裝芯片焊接失效

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2023-09-28 11:42:21

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美能探針式臺階儀 | 賦予ITO薄膜高精度檢測的數(shù)據(jù)處理功能

的數(shù)據(jù)處理功能，并使用不同位置的多點(diǎn)自動(dòng)測量確認(rèn)ITO薄膜等各種類型薄膜的高度、薄膜應(yīng)力等一系列參數(shù)信息，通過這些參數(shù)信息的反饋，更好的幫助電池廠商進(jìn)行太陽能電池性

2023-09-28 08:35:52

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異質(zhì)結(jié)電池的ITO薄膜沉積

由于異質(zhì)結(jié)電池不同于傳統(tǒng)的熱擴(kuò)散型晶體硅太陽能電池，因此在完成對其發(fā)射極以及BSF的注入后，下一個(gè)步驟就是在異質(zhì)結(jié)電池的正反面沉積ITO薄膜，ITO薄膜能夠彌補(bǔ)異質(zhì)結(jié)電池在注入發(fā)射極后的低導(dǎo)電性

2023-09-21 08:36:22

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滾動(dòng)軸承的失效原因及措施

滾動(dòng)軸承的可靠性與滾動(dòng)軸承的失效形式有著密切的關(guān)系，要提高軸承的可靠性，就必須從軸承的失效形式著手，仔細(xì)分析滾動(dòng)軸承的失效原因，才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過PPT來了解一下軸承失效。

2023-09-15 11:28:51

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各種材料失效分析檢測方法

失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。

2023-09-12 09:51:47

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集成電路為什么要做失效分析？失效分析流程？

失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。

2023-09-06 10:28:05

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集成電路失效分析

集成電路失效分析隨著現(xiàn)代社會的快速發(fā)展，人們對集成電路（Integrated Circuit，簡稱IC）的需求越來越大，IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位，如手機(jī)、電腦、汽車等都需要使用到

2023-08-29 16:35:13

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肖特基二極管失效機(jī)理

肖特基二極管失效機(jī)理? 肖特基二極管（Schottky Barrier Diode, SBD）作為一種快速開關(guān)元件，在電子設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。但是，隨著SBD所承受的工作壓力和工作溫度不斷升高

2023-08-29 16:35:08

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芯片失效分析方法芯片失效原因分析

芯片失效分析方法芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過程中，芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個(gè)問題的關(guān)鍵。芯片

2023-08-29 16:29:11

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半導(dǎo)體失效分析

半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化

2023-08-29 16:29:08

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鉭電容失效分析鉭電容失效原因分析鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實(shí)、細(xì)致的最少1500字的文

鉭電容失效分析鉭電容失效原因分析鉭電容燒壞的幾種原因鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場儲存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而

2023-08-25 14:27:56

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半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析

本文通過對典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。

2023-07-26 11:23:15

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薄膜電容的容量誤差分析，薄膜電容的容量誤差如何控制

一般薄膜電容生產(chǎn)出來以后，它的實(shí)際容量會有些偏大、有些偏小，生產(chǎn)好的電容最后會過一遍分選機(jī)，機(jī)器可以自動(dòng)識別薄膜電容的容量誤差大小，如果想要容量誤差更小的薄膜電容，就可以用分選機(jī)把符合要求的電容自動(dòng)挑選出來，這樣廠家的成本就會變高，電容的價(jià)格自然也會變貴。

2023-07-19 09:40:38

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芯片失效分析程序的基本原則

與開封前測試結(jié)果加以比較，是否有改變，管殼內(nèi)是否有水汽的影響。進(jìn)一步可將表面氧化層、鋁條去掉，用機(jī)械探針扎在有關(guān)節(jié)點(diǎn)上進(jìn)行靜態(tài)（動(dòng)態(tài)）測試、判斷被隔離部分是否性能正常，分析失效原因。

2023-07-05 09:43:04

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液晶屏靜電失效怎么辦

液晶屏

leiditechsh發(fā)布于 2023-06-30 15:49:33

集成電路封裝失效的原因、分類和分析方法

與外界的連接。然而，在使用過程中，封裝也會出現(xiàn)失效的情況，給產(chǎn)品的可靠性帶來一定的影響。因此，對于封裝失效的分析和解決方法具有很重要的意義。

2023-06-28 17:32:00

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測量ITO導(dǎo)電薄膜，CP200臺階儀了解一下？

針對測量ITO導(dǎo)電薄膜的應(yīng)用場景，CP200臺階儀能夠快速定位到測量標(biāo)志位；輕松實(shí)現(xiàn)一鍵多點(diǎn)位測量；能直觀測量數(shù)值變化趨勢。

2023-06-27 10:49:44

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CP系列臺階儀測量ITO導(dǎo)電薄膜厚度

由于ITO膜具有一定的透光性，而硅基板具有較強(qiáng)的反射率，會對依賴反射光信號進(jìn)行圖像重建的光學(xué)輪廓儀造成信號干擾導(dǎo)致ITO膜厚圖像重建失真，因此考慮采用接觸式輪廓儀對ITO膜厚進(jìn)行測量，由于其厚度范圍

2023-06-27 10:47:07

BGA失效分析與改善對策

2023-06-26 10:47:41

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集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。

2023-06-25 09:02:30

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集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學(xué)過程（失效機(jī)理），為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生，提升

2023-06-21 08:53:40

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講一下失效分析中最常用的輔助實(shí)驗(yàn)手段：亮點(diǎn)分析（EMMI）

EMMI：Emission microscopy 。與SEM，F(xiàn)IB，EB等一起作為最常用的失效分析手段。

2023-06-12 18:21:18

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【條形智能】條形液晶屏的特點(diǎn)與應(yīng)用分析

【條形智能】條形液晶屏的特點(diǎn)與應(yīng)用分析科技發(fā)展日新月異，液晶屏的應(yīng)用環(huán)繞著我們生活的每一個(gè)角落，而條形屏正是其中的一個(gè)新產(chǎn)物。比如公交站臺、商場廣告、地鐵站臺等，都可以看到條形液晶屏?，F(xiàn)在越來越多

2023-06-12 17:40:13

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LCP薄膜的拉伸試驗(yàn)方法解析——探究薄膜材料拉力試驗(yàn)機(jī)工作原理

最近，小編收到了來自山東朋友的咨詢，關(guān)于LCP薄膜的拉伸試驗(yàn)方法和所需儀器的問題。液晶高分子聚合物（LCP）薄膜是一種具有令人印象深刻的特性和性能的材料。它具有自增強(qiáng)性、優(yōu)異的力學(xué)性能、耐高溫

2023-06-01 10:16:36

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怎樣進(jìn)行芯片失效分析？

失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。

2023-05-13 17:16:25

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TVS二極管失效機(jī)理與失效分析

。通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。

2023-05-12 17:25:48

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電阻、電容、電感的常見失效分析

失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。

2023-05-11 14:39:11

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進(jìn)口芯片失效怎么辦？做個(gè)失效分析查找源頭

芯片對于電子設(shè)備來說非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。

2023-05-10 17:46:31

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液晶屏驅(qū)動(dòng)板的原理分析

液晶屏驅(qū)動(dòng)板常被稱為A/D<模擬/數(shù)字）板，這從某種意義上反應(yīng)出驅(qū)動(dòng)板實(shí)現(xiàn)的主要功能所在。液晶屏要顯示圖像需要數(shù)字化過的視頻信號，液晶屏驅(qū)動(dòng)板正是完成從模擬信號到數(shù)字信號<或者從一種數(shù)字信號到另外一種數(shù)字信號）轉(zhuǎn)換的功能模塊，并同時(shí)在圖像控制單元的控制下去驅(qū)動(dòng)液晶屏顯示圖像。

2023-05-09 14:48:53

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ABAQUS中的損壞與失效模型

ABAQUS為材料失效提供了一個(gè)通用建?？蚣?，其中允許同一種材料應(yīng)用多種失效機(jī)制。

2023-05-02 18:12:00

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環(huán)旭電子發(fā)展先進(jìn)失效分析技術(shù)

為了將制程問題降至最低，環(huán)旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置，利用激光去層和重植球技術(shù)提取SiP 模組中的主芯片。同時(shí)，利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機(jī)污染物的源頭，持續(xù)強(qiáng)化SiP模組失效分析領(lǐng)域分析能力。

2023-04-24 11:31:41

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介紹薄膜開關(guān)薄膜按鍵

薄膜按鍵都是“按鍵+薄膜”的基本結(jié)構(gòu)，所以，按鍵的手感、特色等很大方面都取決于薄膜按鍵的設(shè)計(jì)。考慮到開關(guān)觸點(diǎn)的分離和回彈的可靠性，薄膜的厚度一般選擇在為佳,過薄回彈無力，觸點(diǎn)分離不靈敏。薄膜按鍵

2023-04-21 11:02:19

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壓接型與焊接式IGBT的失效模式與失效機(jī)理

失效率是可靠性最重要的評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)，所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。

2023-04-20 10:27:04

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半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹！

失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)

2023-04-18 09:11:21

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